JP2706539B2 - ボンディングワイヤー - Google Patents
ボンディングワイヤーInfo
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Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Wire Bonding (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は半導体素子のチップ電極と外部リードを接続
するために用いるボンディングワイヤーに関する。
するために用いるボンディングワイヤーに関する。
[従来の技術] トランジスター、IC、LSIなどの半導体素子のチップ
電極と外部リードとのボンディングワイヤーとしての金
の細線が用いられている。
電極と外部リードとのボンディングワイヤーとしての金
の細線が用いられている。
近年、ワイヤーボンディングの高速度化、半導体デバ
イスの高集積度化に伴ない、これに使用されるワイヤー
の機械的特性やボンディング特性に関する要素が厳しく
なっている。
イスの高集積度化に伴ない、これに使用されるワイヤー
の機械的特性やボンディング特性に関する要素が厳しく
なっている。
特にリード数が多くなると必要なボンディングピッチ
を確保するためにリード先端が後退し、それに伴なって
チップ電極と外部リード間の距離が長くなり、ワイヤー
ループが垂れやすくなる。このためそのような長距離化
による長ループボンディングにも対応し得る(即ち電極
からリードまでの間でワイヤーが垂れ下らない)ワイヤ
ーが要求されている。
を確保するためにリード先端が後退し、それに伴なって
チップ電極と外部リード間の距離が長くなり、ワイヤー
ループが垂れやすくなる。このためそのような長距離化
による長ループボンディングにも対応し得る(即ち電極
からリードまでの間でワイヤーが垂れ下らない)ワイヤ
ーが要求されている。
従来このような要求を満たすために、高純度金(99.9
9%以上)に他の金属元素を添加して、金線の機械的強
度を高め、ルーピング特性を向上させる方法が取られて
きた。実用されている添加元素中では特にBeがルーピン
グ特性向上に効果がある事が知られている(例えば特公
昭57−35577号公報)。
9%以上)に他の金属元素を添加して、金線の機械的強
度を高め、ルーピング特性を向上させる方法が取られて
きた。実用されている添加元素中では特にBeがルーピン
グ特性向上に効果がある事が知られている(例えば特公
昭57−35577号公報)。
[発明が解決しようとする課題] しかしながら高純度金にBeを添加したワイヤーにおい
ては、ボンディング工程で水素炎またはアーク放電によ
ってワイヤー先端を加熱溶融し、ボールを形成した際、
結晶粒界にBeが析出し、このためボールネック部で粒界
破断を起こしたり、更にチップ電極との接合性を阻害す
るという欠点を有していた。
ては、ボンディング工程で水素炎またはアーク放電によ
ってワイヤー先端を加熱溶融し、ボールを形成した際、
結晶粒界にBeが析出し、このためボールネック部で粒界
破断を起こしたり、更にチップ電極との接合性を阻害す
るという欠点を有していた。
本発明の目的は従来のワイヤーの欠点を解消し、ネッ
ク強度が強く、チップ電極との接合性を阻害する事がな
く、しかも秀れたルーピング特性を有するボンディング
ワイヤーを提供することにある。
ク強度が強く、チップ電極との接合性を阻害する事がな
く、しかも秀れたルーピング特性を有するボンディング
ワイヤーを提供することにある。
[課題を解決するための手段] 上記目的を達成するため本発明のボンディングワイヤ
ーは、純度99.99重量%以上の高純度金にリンを0.0001
〜0.01重量%含有せしめて金合金線とした点に特徴があ
る。
ーは、純度99.99重量%以上の高純度金にリンを0.0001
〜0.01重量%含有せしめて金合金線とした点に特徴があ
る。
[作用] リンの含有率は、0.0001重量%未満ではあまり効果が
なく、その含有率が高い程ワイヤーの機械的強度を高め
ルーピング特性を向上させるが、0.01重量%を超えると
ボールが真球にならなかったり、チップ電極との接合性
が悪くなるので、0.0001〜0.01重量%とする必要があ
る。又、金地金中には不可避不純物としてFe、Si、Pb、
Mg、Cu、Ag等が含まれており、これら不純物の含有率が
高いとワイヤーにした際に機械的特性にバラツキを生
じ、ボンディング工程でのボール形状、ループ形状、チ
ップ電極との接合性等のボンディング特性を低下するの
で、純度99.99重量%以上の高純度金を用いる必要があ
り、99.999重量%以上の純度の金が一層好ましい。ボン
ディングワイヤーの直径は用途によって種々であり、0.
015〜0.2mmと多様であるが、0.020〜0.035mmが一般的な
線径になっている。本発明のボンディングワイヤーは次
のようにして製造できる。先ず純度99.99重量%以上の
高純度金と、添加元素リンとで先ず母合金を作成しその
含有率を分析する。これはリンが蒸発し易く、添加した
リンが全て合金化する訳ではないからである。次に該母
合金と高純度金の配合比を所望のリン含有率になるよう
に決め、秤量して不活性雰囲気中で熔解鋳造し鋳塊を得
る。リン含有率は接合強度、ルーピング特性を左右する
ので、用途に応じて実験の上適宜に決める必要がある。
得られた鋳塊を溝ロール又はスウェジ加工で、ある程度
の線径まで圧延した後、途中1〜2回焼きなまし処理を
施し、順次口径の小さいダイスを用いて伸線加工し、所
望の直径の金線を得る。
なく、その含有率が高い程ワイヤーの機械的強度を高め
ルーピング特性を向上させるが、0.01重量%を超えると
ボールが真球にならなかったり、チップ電極との接合性
が悪くなるので、0.0001〜0.01重量%とする必要があ
る。又、金地金中には不可避不純物としてFe、Si、Pb、
Mg、Cu、Ag等が含まれており、これら不純物の含有率が
高いとワイヤーにした際に機械的特性にバラツキを生
じ、ボンディング工程でのボール形状、ループ形状、チ
ップ電極との接合性等のボンディング特性を低下するの
で、純度99.99重量%以上の高純度金を用いる必要があ
り、99.999重量%以上の純度の金が一層好ましい。ボン
ディングワイヤーの直径は用途によって種々であり、0.
015〜0.2mmと多様であるが、0.020〜0.035mmが一般的な
線径になっている。本発明のボンディングワイヤーは次
のようにして製造できる。先ず純度99.99重量%以上の
高純度金と、添加元素リンとで先ず母合金を作成しその
含有率を分析する。これはリンが蒸発し易く、添加した
リンが全て合金化する訳ではないからである。次に該母
合金と高純度金の配合比を所望のリン含有率になるよう
に決め、秤量して不活性雰囲気中で熔解鋳造し鋳塊を得
る。リン含有率は接合強度、ルーピング特性を左右する
ので、用途に応じて実験の上適宜に決める必要がある。
得られた鋳塊を溝ロール又はスウェジ加工で、ある程度
の線径まで圧延した後、途中1〜2回焼きなまし処理を
施し、順次口径の小さいダイスを用いて伸線加工し、所
望の直径の金線を得る。
そして、最後に破断強度と伸び率が所望の範囲に入る
ように熱処理を施してボンディングワイヤーとする。
ように熱処理を施してボンディングワイヤーとする。
[実施例] 純度99.999重量%の高純度金を原料とし、これにリン
を種々の割合で添加熔解して先ず母合金を得、この母合
金と高純度金を配合して第1表に示す組成の金合金を溶
解鋳造し、次に溝ロール加工を施した後、線引き加工で
直径0.03mmまで、伸線を行った。このワイヤーを室温に
おける破断伸び率が6%になるように熱処理し、常温で
の引張り試験を行った。合金組成と引張り試験の結果を
第1表に示す。
を種々の割合で添加熔解して先ず母合金を得、この母合
金と高純度金を配合して第1表に示す組成の金合金を溶
解鋳造し、次に溝ロール加工を施した後、線引き加工で
直径0.03mmまで、伸線を行った。このワイヤーを室温に
おける破断伸び率が6%になるように熱処理し、常温で
の引張り試験を行った。合金組成と引張り試験の結果を
第1表に示す。
次に第1表に示す組成と強度のワイヤーを用いてボン
ディングマシンにて半導体素子とリードフレームとのボ
ンディング(距離3.5mm)を行ない、ボール形状及びル
ープ変形を調査した。
ディングマシンにて半導体素子とリードフレームとのボ
ンディング(距離3.5mm)を行ない、ボール形状及びル
ープ変形を調査した。
次いでボンディング後のワイヤー引張り強度を、その
ままで及び200℃100時間の熱処理を施した後にプルテス
ターを用いて測定した。またチップ電極と金ボールとの
接合強度を、そのままで及び200℃、100時間の熱処理を
施した後にボールシェアテスターを用いて測定した。
ままで及び200℃100時間の熱処理を施した後にプルテス
ターを用いて測定した。またチップ電極と金ボールとの
接合強度を、そのままで及び200℃、100時間の熱処理を
施した後にボールシェアテスターを用いて測定した。
200℃、100時間の熱処理は、プラスチックモールド時
の温度環境でどのような変化が起こるかを見るために行
われる。結果を第2表にまとめて示す。
の温度環境でどのような変化が起こるかを見るために行
われる。結果を第2表にまとめて示す。
第1表及び第2表から本発明のボンディングワイヤー
は高速ワイヤーボンディングに充分耐えうる機械的強度
を有し、ボンディング時のループ変形もなく、更にボン
ディング後のワイヤー引張り強度及び接合強度が共に充
分に強く、熱処理後においてもその強度低下が認められ
ず安定しているのが判る。
は高速ワイヤーボンディングに充分耐えうる機械的強度
を有し、ボンディング時のループ変形もなく、更にボン
ディング後のワイヤー引張り強度及び接合強度が共に充
分に強く、熱処理後においてもその強度低下が認められ
ず安定しているのが判る。
[発明の効果] 本発明によりボンディングワイヤーのネック強度、チ
ップ電極との接合性が改善され、長ループボンディング
に適したワイヤーを提供することができた。
ップ電極との接合性が改善され、長ループボンディング
に適したワイヤーを提供することができた。
Claims (1)
- 【請求項1】純度99.99重量%以上の高純度金にリンを
0.0001〜0.01重量%含有せしめた金合金線からなるボン
ディングワイヤー。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1294833A JP2706539B2 (ja) | 1989-11-15 | 1989-11-15 | ボンディングワイヤー |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1294833A JP2706539B2 (ja) | 1989-11-15 | 1989-11-15 | ボンディングワイヤー |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03156936A JPH03156936A (ja) | 1991-07-04 |
JP2706539B2 true JP2706539B2 (ja) | 1998-01-28 |
Family
ID=17812846
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1294833A Expired - Lifetime JP2706539B2 (ja) | 1989-11-15 | 1989-11-15 | ボンディングワイヤー |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2706539B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5298219A (en) * | 1990-06-04 | 1994-03-29 | Tanaka Denshi Kogyo Kabushiki Kaisha | High purity gold bonding wire for semiconductor device |
-
1989
- 1989-11-15 JP JP1294833A patent/JP2706539B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH03156936A (ja) | 1991-07-04 |
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