JPH0325238U - - Google Patents

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JPH0325238U
JPH0325238U JP8587489U JP8587489U JPH0325238U JP H0325238 U JPH0325238 U JP H0325238U JP 8587489 U JP8587489 U JP 8587489U JP 8587489 U JP8587489 U JP 8587489U JP H0325238 U JPH0325238 U JP H0325238U
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JP
Japan
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inspection device
semiconductor wafer
semiconductor
section
semiconductor inspection
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JP8587489U
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  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の一実施例の正面図、第2図は
本考案の該一実施例で試料搭載台にウエハーを搭
載するための機構を表わす概略図、第3図は本考
案の他の実施例の試料搭載台と駆動部の機構を表
わす概略図である。 1……ICテスター、2……プローブカード、
3……ウエハー、4……試料搭載台、5……Xモ
ータ、6……Yモータ、7……カメラ、8……Z
モータ、9……操作盤、10……制御部、11…
…電源部、12……真空溝、13……ベルト、1
4……ガイドA、15……ガイドB、16……ス
プリング、17……ガイドモータ。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 半導体ウエハーを搭載するための試料搭載台と
    駆動部と制御部と操作盤と電源部とを有する半導
    体検査装置において、前記半導体ウエハーを縦に
    移動させる機構を有することを特徴とする半導体
    検査装置。
JP8587489U 1989-07-20 1989-07-20 Pending JPH0325238U (ja)

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JP8587489U JPH0325238U (ja) 1989-07-20 1989-07-20

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JPH0325238U true JPH0325238U (ja) 1991-03-15

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