JPH03250751A - ウエハエキスパンド装置 - Google Patents

ウエハエキスパンド装置

Info

Publication number
JPH03250751A
JPH03250751A JP2048163A JP4816390A JPH03250751A JP H03250751 A JPH03250751 A JP H03250751A JP 2048163 A JP2048163 A JP 2048163A JP 4816390 A JP4816390 A JP 4816390A JP H03250751 A JPH03250751 A JP H03250751A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wafer
ring
wafer sheet
flange
expander
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2048163A
Other languages
English (en)
Inventor
Hisatoshi Aida
合田 久利
Masaharu Yoshida
吉田 正治
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP2048163A priority Critical patent/JPH03250751A/ja
Publication of JPH03250751A publication Critical patent/JPH03250751A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Dicing (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野] 本発明は、半導体製造プロセスで使用するウェハエキス
パンド装置に関するものである。
〔従来の技術〕
−aに、この種のウェハエキスパンド装置は、ダイシン
グラインに沿ってダイシングした後の半導体ウェハを多
数のチップに分割する装置として広く用いられている。
従来、この種のウェハエキスパンド装置は例えば第2図
に示すように構成されている。これを同図に基づいて説
明すると、同図において、符号1で示すものは下側開口
端部にフランジ2を有しこのフランジ2の一部を含み上
側開口部がウェハシート3によって覆われるエキスパン
ドリング、4はこのエキスパンドリング1内にその一部
が臨む昇降用のエキスバンド台、5はこのエキスバンド
台4の上方に設けられ前記フランジ2と共にウェハシー
ト3を挟持するX−Yテーブルである。なお、このX−
Yテーブル5は各々が互いに直交する2軸方向にNC制
御してチップを位置決めし得るように構成されており、
前記ウェハシート3は加熱によって伸縮性が良好になる
材料が使用されている。このウェハシート3は周縁がエ
キスバンド時にウェハリング6によって接着される。ま
た、前記エキスバンド台4上には前記ウェハシート3を
加熱するプレートヒータ7が断熱材8を介して設けられ
ており、前記エキスパンドリング1には伸張時に前記ウ
ェハシート3の滑りを良好にするための表面処理が施さ
れており、前記ウェハシート3上には第3図に示すよう
にダイシング済みの半導体ウェハ9が貼付されている。
次に、このように構成されたウェハエキスパンド装置に
よるチップ分割方法につき、第4図を用いて説明する。
先ず、ウェハリング6にダイシング済みの半導体ウェハ
9が予め貼付されたウェハシート3を接着する。このと
き、X−Yテーブル5とエキスパンドリング1が離間し
ている。次いで、プレートヒータ7によってウェハシー
ト3を加熱して伸縮性を高める。しかる後、同図に示す
ようにエキスバンド台4を上昇させることによりウェハ
リング6をx−Yテーブル5上に押圧してウェハシート
3を伸張する。
このようにして、半導体ウェハ9を多数のチップに分割
することができる。
この後、第5図に示すようにエキスバンド台4を下降さ
せてチップを順次取り出す。そして、再度エキスバンド
台4を上昇させてエキスパンドリング1の押圧状態を解
除して第6図に示すようにエキスバンド台4を下降させ
てから、エキスパンドリング1とウェハリング6をX−
Yテーブル5から取り外し、他の専用装置(図示せず)
によってウェハリング6を取り出す。
ここで、第7図はエキスバンド後のウェハリング6を示
す。
〔発明が解決しようとする課題〕
ところで、従来のウェハエキスパンド装置においては、
プレートヒータ7の周囲にエキスパンドリング1が配設
される構造であるため、プレートヒータ7による熱がエ
キスパンドリング1に十分に伝達されず、エキスパンド
リング1近傍にあるウェハシート3の伸縮性が低下して
いた。この結果、ウェハシー1−3に対するエキスバン
ドが均一に行われず、エキスバンド上の信軌性が低下す
るという問題があった。また、エキスバンド時にエキス
パンドリング6への熱伝達が不十分であることは、ウェ
ハシート3の一部が塑性変形してウェハシー1−3の搬
送を困難なものにするという問題もあった。
本発明はこのような事情に鑑みてなされたもので、エキ
スバンド上の信転性を向上させることができると共に、
エキスパンドリングの搬送を簡単に行うことができるウ
ェハエキスパンド装置を提供するものである。
〔課題を解決するための手段〕
本発明に係るウェハエキスパンド装置は、下側開口端部
にフランジを有しこのフランジの一部を含み上側開口部
がウェハシートによって覆われるエキスパンドリングと
、このエキスパンドリング内に臨みウェハシートを加熱
するヒートブロックと、このヒートブロックの上方に設
けられフランジと共にウェハシートを挟持するテーブル
とを備え、このテーブルとエキスパンドリングとの間に
第1の断熱材を設け、フランジの下側端面に対向する周
縁部を有する第2の断熱材をヒートブロックの下端面に
設けたものである。
〔作 用〕
本発明においては、エキスバンド時にヒートブロックか
ら発生する熱の放散を第1の断熱材および第2の断熱材
によって阻止し、エキスパンドリングを間接的に加熱す
ることができる。
〔実施例〕
以下、本発明の構成等を図に示す実施例によって詳細に
説明する。
第1図(a)および(b)は本発明に係るウェハエキス
パンド装置の使用状態を示す断面図で、同図において第
2図〜第7図と同一の部材については同一の符号を付し
、詳細な説明は省略する。同図において、符号11で示
すものは上下方向に進退するエキスバンド台で、プレー
ト12上に固定されており、前記エキスパンドリング1
内に臨み前記ウェハシート3を加熱するヒータ13を内
蔵し熱容量が比較的大きいブロックによって形成されて
いる。14は前記エキスパンドリング1の外周面に適合
する段部15を有する第1の断熱材で、前記X−Yテー
ブル5に設けられており、全体がリング状に形成されて
いる。16は前記フランジ2の端面に対向する周縁部1
7を有する第2の断熱材で、前記エキスバンド台11の
下端面に設けられており、全体が円板状に形成されてい
る。
このように構成されたウェハエキスパンド装置において
は、ウェハエキスパンド時にエキスバンド台11内のヒ
ータ13から発生する熱の放散を第1の断熱材14およ
び第2の断熱材16によって阻止してエキスパンドリン
グ1を間接的に加熱することができる。
したがって、本実施例においては、ウェハシート3の伸
縮性の低下を防止することができ、ウェハシー+−3に
対するエキスバンドが均一に行うことができる。
また、本実施例において、エキスバンド時にエキスパン
ドリング1に対する熱伝達が十分であることは、ウェハ
シート3の良復元性を得ることができる。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明によれば、下側開口端部にフ
ランジを有しこのフランジの一部を含み上側開口部がウ
ェハシートによって覆われるエキスパンドリングと、こ
のエキスパンドリング内に臨みウェハシートを加熱する
ヒートブロックと、このヒートブロックの上方に設けら
れフランジと共にウェハシートを挟持するテーブルとを
備え、このテーブルとエキスパンドリングとの間に第1
の断熱材を設け、フランジの下側端面に対向する周縁部
を有する第2の断熱材をヒートブロックの下端面に設け
たので、エキスバンド時に昇降台から発生する熱の放散
を断熱フランジおよび断熱材によって阻止してエキスパ
ンドリングを間接的に加熱することができる。したがっ
て、ウェハシートの伸縮性の低下を防止することができ
るから、ウェハシートに対するエキスバンドが均一に行
うことができ、エキスバンド上の信頼性を向トさせるこ
とができる。また、エキスバンド時にエキスパン1゛リ
ングへの熱伝達が十分であることは、ウェハシートの良
復元性を得ることができるから、ウェハシートの塑性変
形を防止することができ、エキスパンドリングの搬送を
節単に行うこともできる。
【図面の簡単な説明】
第1図(a)および(b)は本発明に係るウェハエキス
パンド装置の使用状態を示す断面図、第2図は従来のエ
キスバンド装置を示す断面図、第3図はエキスバンド前
のウェハシートを示す斜視図、第4図〜第6図は従来の
ウェハエキスパンド装置による千ノブ分割を説明するた
めの断面図、第7図はエキスバンド後のウェハシートを
示す斜視図である。 1 ・ ・ ・ ジ1.3・・ フル、6・ バンド台、 断熱材、1 エキスパンドリング、2・・・フラン ・ウェハシート、5・・・X−Yテ ・・ウェハリング、1j・・・エキス 13・・・ヒータ、14・・・第1の 6・・・第2の断熱材。 代 理 人 大君 増 餅。 (a) 第 図 4 .6 ]t:l Tzのyrf1 第 2 図 第 図 を 第 図 第 図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  下側開口端部にフランジを有しこのフランジの一部を
    含み上側開口部がウェハシートによって覆われるエキス
    パンドリングと、このエキスパンドリング内に臨みウェ
    ハシートを加熱するヒートブロックと、このヒートブロ
    ックの上方に設けられ前記フランジと共にウェハシート
    を挟持するテーブルとを備え、このテーブルと前記エキ
    スパンドリングとの間に第1の断熱材を設け、前記フラ
    ンジの下側端面に対向する周縁部を有する第2の断熱材
    を前記ヒートブロックの下端面に設けたことを特徴とす
    るウェハエキスパンド装置。
JP2048163A 1990-02-28 1990-02-28 ウエハエキスパンド装置 Pending JPH03250751A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2048163A JPH03250751A (ja) 1990-02-28 1990-02-28 ウエハエキスパンド装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2048163A JPH03250751A (ja) 1990-02-28 1990-02-28 ウエハエキスパンド装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH03250751A true JPH03250751A (ja) 1991-11-08

Family

ID=12795716

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2048163A Pending JPH03250751A (ja) 1990-02-28 1990-02-28 ウエハエキスパンド装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH03250751A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005286003A (ja) * 2004-03-29 2005-10-13 Nitto Denko Corp 半導体ウエハの小片化方法
JP2013125809A (ja) * 2011-12-14 2013-06-24 Murata Mfg Co Ltd エキスパンド装置及び部品の製造方法
JP2017045898A (ja) * 2015-08-27 2017-03-02 株式会社村田製作所 フィルム拡張装置およびそれを用いた電子部品の製造方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005286003A (ja) * 2004-03-29 2005-10-13 Nitto Denko Corp 半導体ウエハの小片化方法
JP2013125809A (ja) * 2011-12-14 2013-06-24 Murata Mfg Co Ltd エキスパンド装置及び部品の製造方法
JP2017045898A (ja) * 2015-08-27 2017-03-02 株式会社村田製作所 フィルム拡張装置およびそれを用いた電子部品の製造方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5842690A (en) Semiconductor wafer anchoring device
KR102759515B1 (ko) 웨이퍼의 가공 방법
US4854986A (en) Bonding technique to join two or more silicon wafers
US4445271A (en) Ceramic chip carrier with removable lead frame support and preforated ground pad
US6777310B2 (en) Method of fabricating semiconductor devices on a semiconductor wafer using a carrier plate during grinding and dicing steps
US3858721A (en) Loading of compliant tape
JPH03250751A (ja) ウエハエキスパンド装置
JPH04284648A (ja) ウエーハ支持用ドライチャックラバー
US6744119B2 (en) Leadframe having slots in a die pad
JP3390409B2 (ja) サポートフレーム貼付装置
JP4830740B2 (ja) 半導体チップの製造方法
US4781775A (en) Coplanar die to substrate bond method
JPH11163102A (ja) 半導体製造装置用サセプタ
JP2014107292A (ja) チップ間隔維持装置
JPH0917756A (ja) 半導体用保護テープおよびその使用方法
HK1000613B (en) Coplanar die to a silicon substrate bond method
JP2680935B2 (ja) シート拡大機
JPH07321070A (ja) ウェハのエキスパンド方法
JPH07111275A (ja) 樹脂ダイボンディング方法
JPH0376139A (ja) 半導体素子突上げ方法
JP3678561B2 (ja) 熱膨張/収縮キャリアテープ及びテーピング方法
JPH11151661A (ja) 接着テープ付き研磨パッド及び研磨パッド接着方法
JPH01154712A (ja) 半導体ウェハ・マウンタ
JPS5847857B2 (ja) 拡張装置
JPH0666392B2 (ja) 半導体装置の製造方法