JPH03241314A - 液晶パネルの試験治具 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概　要〕 対向する電極基板間に液晶体を封入してなる液晶パネル
の試験治具に関し、 試験工数の削減によって生産性の向上を図ることを目的
とし、 片面に形成した線状電極が液晶体と絶縁膜を介して直交
して対面するように２個の電極基板を該線状電極の端部
を露出させて一体化した液晶パネルの露出する上記端部
電極に、制御回路部に繋がる棒状電極を該端部電極を横
断するように接触させて該液晶パネルを試験する液晶パ
ネルの試験治具であって、少なくとも前記絶縁膜が被着
形成された電極基板の露出する端部電極に接触させる棒
状電極が、絶縁層の両面に電極が形成された棒状複合電
極で、且つ該両面の電極間隔が上記端部電極の露出長と
ほぼ等しくなるように構成する。

〔産業上の利用分野〕

本発明は液晶パネルの試験工程に係り、特に二つの異な
る試験モードを試験治具を固定したままで行うことで試
験工数の削減を実現し生産性の向上を図った液晶パネル
の試験治具に関する。

液晶パネルの試験工程の一つに端子部試験がある。

通常この試験では端子部の断線と接続性の２モードをチ
エツクしているが、両者の試験箇所が数ｍｍの間隔で離
れているため従来は同一の試験治具を位置をずらして二
回に分けて試験している現状にあり、工数が掛かって生
産性の向上が期待できないためその解決が望まれている
。

〔従来の技術〕

第２図は従来の液晶パネルの試験方法を説明する概念図
であり、（１）は被検パネルを示す図、（２）は試験治
具を示す図、（３）は試験方法を説明する図である。

また第３図は試験時の状態を示す図である。

第２図（１）で、液晶パネル（以下単にパネルとする）
１は数μｍのギャップを保って配置された例えばセグメ
ント側の電極基板２とコモン側の電極基板３との間に液
晶体４が封入された構成になっている。

特にこの場合の電極基板２と３は、その片面の長手方向
に沿って等間隔平行に形成されている線状電極２ａと３
ａが互いに直交して対面し且つ線状電極２ａの両側端部
と線状電極３ａの片側端部がそれぞれ露出するように配
置固定されているものであるが、特にセグメント側の電
極基板２の線状電極２ａは図示のようにＡ領域、Ｂ領域
にグルーピング化されており例えばＡ領域側の線状電極
２ａ’は端部電極２ｂ’となって露出しまたＢ領域側の
線状電極２ａ“°は端部電極２ｂ”となって露出するよ
うになっており、更にコモン側の電極基板３の線状電極
３ａは端部電極３ａ’として露出するようになっており
、また該線状電極３ａ形成面の端部電極３ａ’を除くＣ
領域には絶縁膜３ｂが被着されている。

かかるパネルｌでは、電極基板３の端部電極３ａ７部分
と電極基板２の両端部電極２ｂ’、２ｂ’“の間に所定
の電位を印加することで該パネルｌの全面を点灯させる
ことができる。

また電極基板３の各線状電極３ａと例えば電極基板２の
Ａ領域側の線状電極２ａ’との間に所定の電位を印加す
ると該パネルｌのＡ領域のみを点灯させることができる
。

従って、上記電極基板２の各端部電極２ｂ’、２ｂ′°
と電極基板３の端部電極３ａ１こ外部回路に繋がる電極
を接触させて該パネルｌを点灯させることで端部電極す
なわち端子部分での接続性や断線をチエツクすることが
できる。

この場合、上記接続性をチエツクするには各端部電極領
域内に電極を接触させてチエツクすることになるが、特
に絶縁膜３ｂが形成されているコモン側電極基板３では
該絶縁膜３ｂが端部電極３ａ’の領域まで被着されてい
ることがあるため該端部電極３ａ’の露出最奥部すなわ
ち図示の■に示す位置で行う必要があり、また断線をチ
エツクするには各端部電極の端部近傍すなわち図示の■
に示す位置に上記電極を接触させる必要がある。

（２）に示す試験治具はかかるパネルｌを試験するため
のものである。

すなわち該試験治具１０は、パネルｌが載置できる大き
さの絶縁材料からなる基盤１１ａとその周辺３箇所の所
定位置に複数のヒンジ１２で該基盤１１ａに対して開閉
可能に取付けた同様の材料からなるパネル抑え板１１ｂ
、　ｌｌｃ、　ｌｉｄとで構成される筐体１１と、該基
盤１１ａ上の所定位置に装着した導電ゴムからなる棒状
電極１３ａ、　１３ｂおよびパネル抑え板１１ｄ上の所
定位置に装着した同じ材料からなる棒状電極１３ｃと、
該各棒状電極１３ａ〜１３ｃに繋がる制御回路部１４と
で構成されている。

この内筐体１１は、上記基盤１１ａの所定位置にパネル
ｌを載置した後上述した各パネル抑え板１１ｂ。

１１ｃ、Ｉｌｄを内側に倒すように閉じると、該パネル
ｌが基盤１１ａと各パネル抑え板１１ｂ、　ｌｌｃ、　
ｌｉｄとの間で挟まれて固定され（３）で示す状態とな
る。

更に（２）で示す各棒状電極１３ａ−１３ｃの内の電極
１３ａ、　１３ｂは、パネルｌを該筐体１１上の所定位
置に位置せしめたときの電極基板２の各端部電極２ｂ、
２ｂ°“と対応する位置に装着されており、また電極１
３ｃは上記パネル抑え板ｌｉｄを閉じたときに電極基板
３の端部電極３１と対応するような位置に装着されてい
る。

一方上記基盤１１ａの電極基盤２と対応する部分の幅ｗ
１は該電極基盤２の幅ｗ２よりも上記■と■の間隔ｌだ
け大きくなっており、更に該幅方向の端部にはパネルｌ
を該幅方向に位置決めする４個のストッパ１４ａ、　１
４ｂ、　１４ｃ、　１４ｄが固定されている。

従って（２）に示すように各パネル抑え板１１ｂ〜１１
ｄを開いた筐体Ｉｌ上に、（１）で説明したパネルｌを
その電極基板２の長手方向に沿う一辺がストッパ１４ａ
と１４ｄに接触するように載置し各パネル抑え板１１ｂ
〜Ｉｌｄを閉じて（３）で示す状態とすると、棒状電極
１３ａと１３ｂは電極基板２の端部電極２ｂ’、２ｂ“
°とそれぞれ接触し、また棒状電極１３ｃは電極基板３
の端部電極３ａ’と接触するが、この場合の棒状電極１
３ｃの該端部電極３１との接触位置は（１）で説明した
■の位置となるため、該パネル１の端子部の接触性をチ
エツクすることができる。

また電極基板２の長手方向に沿う一辺がストッパ１４ｂ
　（！：１４Ｃに接触するように上記パネルｌを載置し
各パネル抑え板１１ｂ〜ｌｉｄを閉じると、棒状電極１
３ａと１３ｂは上記同様に電極基板２の端部電極２ｂ’
、２ｂ“′とそれぞれ接触し、また棒状電極１３Ｃは■
で示す位置で電極基板３の端部電極３ａ’と接触するこ
とになり、該パネルｌの端子部の断線状態をチエツクす
ることができる。

第３図で、（ａ）は端子部の接触性をチエツクするとき
の状態を示す図であり、（ｂ）は端子部の断線をチエツ
クするときの状態を示す図である。

なお図では理解し易くするため、第２図の電極基板３の
端部電極部を拡大して表わしている。

図（ａ）、（ｂ）で、２．３が電極基板を示し、また端
部電極３１の最奥部に位置するのが上述した端子部の接
触性をチエツクする領域をまた■が端子部の断線をチエ
ツクする領域を表わしていることは第２図と同様である
。

なお図のｌｌａは棒状電極１３ｃが装着されているパネ
ル抑え板ｌｉｄが図示されないヒンジで連結されている
基盤である。

そこで、パネルｌを第２図で説明したように位置せしめ
て（ａ）の状態としパネル抑え板ｌｉｄを閉じて棒状電
極１３ｃを■の領域に接触させて端子部の接触性をチエ
ツクした後、該パネル抑え板ｌｉｄを開いてパネルｌを
矢印り方向に移動して（ｂ）の状態とし、再度パネル抑
え板１１ｄを閉じて棒状電極１３ｃを■の領域に接触さ
せて端子部の断線をチエツクするようにしている。

〔発明が解決しようとする課題〕

従来の液晶パネルの試験治具では、端子部の接触性と断
線の２モードをチエツクするのに各パネル抑え板を開閉
してパネルを移動させなければならず、工数が掛かった
り接続が不安定になることから生産性の向上が期待でき
ないと言う問題があった。

〔課題を解決するための手段〕

上記問題点は、片面に形成した線状電極が液晶体と絶縁
膜を介して直交して対面するように２個の電極基板を該
線状電極の端部を露出させて一体化した液晶パネルの露
出する上記端部電極に、制御回路部に繋がる棒状電極を
該端部電極を横断するように接触させて該液晶パネルを
試験する液晶パネルの試験治具であって、少なくとも前
記絶縁膜が被着形成された電極基板の露出する端部電極
に接触させる棒状電極が、絶縁層の両面に電極が形成さ
れた棒状複合電極で、且つ該両面の電極間隔が上記端部
電極の露出長とほぼ等しくなるように構成されている液
晶パネルの試験治具によって解決される。

〔作　用〕

電極基板の端部電極に接触させる電極を２回路の複合電
極で構成し、該電極を端部電極に接触させたときに該電
極の２個の電極面が端部電極の２箇所の所定位置に同時
に接触するようにすると、パネルを移動させることなく
２モードのチエツクを行うことかできる。

本発明では、絶縁膜が被着されているコモン側電極基板
の端部電極に接触させる電極を２回路の棒状複合電極で
構成している。

従って、該電極に繋がる制御回路部で該棒状複合電極の
回路を切り換えることでパネルの端子部分の接触性と断
線の２モードのチエツクを行うことが可能となり、効率
的にパネル端子のチエツク作業を行うことができる。

〔実施例〕

第１図は本発明になる液晶パネルの試験治具を説明する
構成図であり、（Ａ）は構成斜視図、（Ｂ）は（Ａ）の
主要電極部を矢印Ｅ方向から見た拡大図である。

第１図で、１は第２図で説明した液晶パネル（以下単に
パネルとする）である。

また１５は本発明になる試験治具を表わしているが、特
に該試験治具１５は第２図における試験治具１０の棒状
電極１３ｃの代わりに（Ｂ）で示すような棒状複合電極
１８を装着して構成したもので、その他の構成は第２図
の試験治具ｌＯと同様である。

すなわち該試験治具１５は、基盤１６ａとパネル抑え板
１６ｂ、　１６ｃ、　１６ｄとからなる第２図の筐体１
１と同様の筐体１６と、該基盤１６ａ上の第２図で説明
した所定位置に装着した導電ゴムからなる棒状電極１７
ａ、１７ｂおよびパネル抑え板１６ｄ上の所定位置に装
着した棒状複合電極１８と、該各電極１７ａ、　１７ｂ
と１８に繋がる制御回路部１９とで構成されている。

なお図の２０は該各パネル抑え板１６ｂ−１６ｄを基盤
１６ａの面に対して開閉するヒンジを表わしている。

なお各棒状電極１７ａ、１７ｂは上述した如く、パネル
ｌを該筐体１６上の所定位置に位置せしめたときの電極
基板２の各端部電極２ｂ’、２ｂ’“と対応する位置に
装着され、また棒状複合電極１８は上記パネル抑え板１
６ｄを閉じたときの電極基板３の端部電極３ａ’と対応
する位置に装着されているが、特に該棒状複合電極１８
はシリコンゴム等からなる絶縁層１８ａの両面に導電ゴ
ムからなる電極層１８ｂと１８Ｃを張り付けて一体化し
たものであり、該各電極層１８ｂ、　１８ｃ間の隔たり
ｄは第２図および第３図で説明した電極基板３の端部電
極３ａ’の先端領域■と露出最奥領域■間の距離ｌと等
しくなるようになっている。

このことは、該棒状複合電極１８を上記パネル抑え板１
６ｄの上述した位置に装着し該パネル抑え板１６ｄを閉
じると、該パネル抑え板１６ｄの外側に位置する電極層
１８ｂは電極基板３の上記露出最奥領域■部分と接触す
ると共に、該パネル抑え板１６ｄの内側に位置する電極
層１８ｃは上記先端領域■と接触することを意味してい
る。

従ってパネル１を筐体１６の所定位置に載置し上記各パ
ネル抑え板１６ｂ−１６−ｄを閉じるだけで、棒状電極
１７ａと１７ｂは電極基板２の端部電極２ｂ’２ｂ′°
とそれぞれ接触し、また棒状複合電極１８の電極層１８
ｂは電極基板３の端部電極３ａ’の最奥領域のと更に電
極層１８ｃが先端領域■とそれぞれ接触することになる
。

そこで該棒状複合電極１８に繋がる制御回路部１９で該
電極層１８ｂと１８ｃを切り換えることで、該パネル１
の端子部の接触性と断線状態とを連続してチエツクする
ことができる。

なお該棒状複合電極１８は、該パネル抑え板１６ｄの所
定位置に設けた例えば該棒状複合電極１８より幅の狭い
溝１６ｄ′に該棒状複合電極１８を挿入することで容易
に装着することができる。

〔発明の効果〕

上述の如く本発明により、液晶パネルを移動させること
なく二つの異なる試験モードを試験することで試験工数
の削減を実現し生産性の向上を図った液晶パネルの試験
治具を提供することができる。

なお本発明の説明にあたってはコモン側の電極基板に絶
縁膜が形成されている場合について行っているが、セグ
メント側の電極基板に絶縁膜が形成されている場合でも
同等の効果を得ることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明になる液晶パネルの試験治具を説明する
構成図、 第２図は従来の液晶パネルの試験方法を説明する概念図
、 第３図は試験時の状態を示す図。 である。 図において、 １は液晶パネル、　　２，３は電極基板、２ａ’　、　
２ｂ’　、　３ａ’は端部電極、１５は試験治具、　　
　１６は筐体、 １６ａは基盤、　１６ｂ、　１６ｃ、　１６ｄはパネル
抑え板、１６ｄ′は溝、 １７ａ、　１７ｂは棒状電極、１８は棒状複合電極、１
８ａは絶縁層、　　　　１８ｂ、　１８ｃは電極層、１
９は制御回路部、 をそれぞれ表わす。 従来の液晶パネルの試に力源１詫明Ｊる概念図第　２　
図 本発明にノよる液晶バネ）しの試７験治具を説明する４
真代図第３図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 片面に形成した線状電極が液晶体と絶縁膜を介して直交
   して対面するように２個の電極基板を該線状電極の端部
   を露出させて一体化した液晶パネルの露出する上記端部
   電極に、制御回路部に繋がる棒状電極を該端部電極を横
   断するように接触させて該液晶パネルを試験する液晶パ
   ネルの試験治具であって、 少なくとも前記絶縁膜が被着形成された電極基板（３）
   の露出する端部電極（３ａ′）に接触させる棒状電極が
   、絶縁層（１８ａ）の両面に電極層（１８ｂ、１８ｃ）
   が形成された棒状複合電極（１８）で、且つ該両面の電
   極間隔が上記端部電極（３ａ′）の露出長とほぼ等しく
   なるように構成されていることを特徴とした液晶パネル
   の試験治具。