JPH03240017A - 光走査装置 - Google Patents

光走査装置

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JPH03240017A
JPH03240017A JP3757890A JP3757890A JPH03240017A JP H03240017 A JPH03240017 A JP H03240017A JP 3757890 A JP3757890 A JP 3757890A JP 3757890 A JP3757890 A JP 3757890A JP H03240017 A JPH03240017 A JP H03240017A
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JP
Japan
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mirror
scanning
stage
direction switching
scanning direction
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JP3757890A
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Inventor
Masahito Nakajima
雅人 中島
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 X−Yステージ上で2方向に光ビームを走査することに
より、光学的な物体計測や外観検査などを行なうのに適
した光走査装置に関し、X−Y2方向の光走査を行なう
装置を、安価でかつ容易に組立て製造できるようにする
ことを目的とし、 X−Yステージの上方において、 光源から入射して来た光を、X−Yステージ上に導き、
高速振動によって走査を行うための単一の振動鏡と、 該振動鏡で反射された光の向きを複数の方向に切り換え
ることで、走査方向を切り換える、走査方向切換え鏡を
有し、 該走査方向切換え鏡は、鉛直軸の回りに回動し、複数の
位置に固定するアクチュエータに連結されていること、 該走査方向切換え鏡が回動して固定される第一の位置に
おいて、該走査方向切換え鏡に対向して配置され、該走
査方向切換え鏡から入射した光をX−Yステージに向け
て反射する第一走査鏡が固設されていること、 該走査方向切換え鏡が回動して固定される第二の位置に
おいて、該走査方向切換え鏡から入射した光を第二走査
鏡に向けて反射する中継鏡が、該走査方向切換え鏡に角
度をなして対向し、かつ鉛直方向に立てて固定され、第
二走査鏡は、該中継鏡から入射した光をX−Yステージ
に向けて反射するように固設されていること、 を特徴とする構成とする。
〔産業上の利用分野〕
本発明は、X−Yステージ上で2方向に光ビームを走査
することにより、光学的な物体計測や外観検査などを行
なうのに適した光走査装置に関する。
〔従来の技術〕
第5図は、光走査による三次元計測の原理を説明する斜
視図である。測定対象物lの上方に、走査レンズ2を介
して振動鏡(ガルバノメータミラー)3が配設されてい
る。振動鏡3は、駆動モータ4の軸に連結され、X方向
の面内に有る矢印a1方向に高速で往復回動する。そし
て、振動鏡3に向けてレーザ光を出射するレーザ光源5
が配設されている。
対象物lに対しY方向の位置において、斜め上方に、結
像レンズ6を介して、光位置検出器すなわちPSD(P
hoto 5ensitive Detector) 
 7が配設されている。
振動鏡3が高速で振動すると、レーザ光源5がら出射し
た光ビームは、走査レンズ2を通して対象物1上に反射
されると共に、対象物1上をX方向に走査する。同時に
、走査方向と直角方向(Y方向)からPSD 7で検出
すると、三角測量の原理で、対象物1のχ方向面内にお
ける高さHや長さしを測定できる。
しかしながら、この装置では、X方向だけしが走査でき
ないため、Y方向の面内における高さや幅Wは測定でき
ない。また、PSDは一方向にしか無いので、対象物1
の一方向の形状しか測定できない。
そこで実際には、第6図に示すように、X−Yステージ
8の上方において、PSD 7と結像レンズ6から成る
センサーユニットが、St、 S2、S3、s4のよう
に、四方から対象物lに向けて配設され、四方から形状
測定できるようになっている。また、X方向走査用の振
動鏡3x、駆動モータ4xのほかに、X方向走査用の振
動鏡3y、駆動モータ4yを有している。
この装置で、レーザ光源5から出射した光ビームが、X
方向走査用の振動鏡3yでX方向走査用の振動鏡3xに
反射され、該振動鏡3×で、対象物1上に反射されるも
のとする。いま、X方向走査用の振動鏡3yを止めて、
X方向走査用の振動鏡3にのみを高速振動させたとする
と、第5図と全く同じ原理で、X方向の走査が行なわれ
る。その結果、第5図で説明したように、対象物1の、
X方向の面内における高さHや長さしを測定できる。
しかしながら、実際には、X方向走査用の振動鏡3yを
徐々に回転させて、X方向走の走査ビームをY方向に移
動させる。第5図の測定では、走査ビームの通過する位
置は一定なため、対象物lのY方向の測定位置は、1個
所に限られたが、第6図の装置では、走査ビームがY方
向に徐々に移動長さを測定できる。
そして、この状況をセンサーSlと33で両側から形状
測定できる。
次にX方向走査用の振動鏡3yを高速振動させると、X
方向の走査が行なわれ、かつX方向走査用の振動鏡3x
を徐々に回転させると、走査位置が徐々にX方向に移動
する。そのため、センサーs2、S4によって、X方向
の両面を検出測定できる。
[発明が解決しようとする課題] ところで、振動鏡3x、3yは、高い精度で高速かつ定
速回動することが必要なため、非常に高価な装置となっ
ている。そのため、このような高価な振動鏡(ガルバノ
メータミラー)を2組用いて光走査する従来の三次元計
測装置は、装置全体が非常に高価となる。
また、光走査は回転多面鏡(ポリゴンミラー)で行ない
、走査位置の移動を振動鏡で行なう装置も知られている
が、回転多面鏡も高価なため、同様にコスト高の問題は
避けられない。
しかも、いずれの装置も、2組の走査鏡を、空間的に精
度良く位置決めしなければならないため、組立てや調整
の作業が困難である。
本発明の技術的課題は、このような問題に着目し、X−
Y2方向の光走査を行なう装置を、安価でかつ容易に組
立て製造できるようにすることにある。
〔課題を解決するための手段〕
第1図は本発明による光走査装置の基本原理を説明する
斜視図である。本発明では、1組の振動鏡3とX−Yス
テージ8上の対象物lとの間に、走査方向切換え鏡9の
第一の位置においては、走査方向切換え鏡9と第一走査
鏡Mxを有している。
また走査方向切換え鏡9の第二の位置においては、走査
方向切換え鏡9に対向配置された中継鏡lOと第二走査
鏡Myを有している。
走査方向切換え鏡9は、振動鏡3で反射された走査光の
向きを切り換えることで、走査方向を切り換える鏡であ
り、モータなどのアクチュエータによって、鉛直軸の回
りに例えば90度回転される。
該走査方向切換え鏡(9)が回動して固定される第一の
位置においては、該走査方向切換え鏡(9)に対向して
配置され、該走査方向切換え鏡(9)から入射した光を
X−Yステージ(8)に向けて反射する第一走査鏡Mx
が固設されている。
また、該走査方向切換え鏡(9)が回動して固定される
第二の位置においては、該走査方向切換え鏡(9)から
入射した光を第二走査鏡MFに向けて反射する中継鏡(
10)が、該走査方向切換え鏡(9)と角度をなして対
向し、かつ鉛直方向に立てて固定されている。そして、
該第二走査鏡Myは、該中継鏡(10)から入射した光
をX−Yステージ(8)に向けて反射するように固定さ
れている。
図においては、振動鏡3、第一走査鏡Mx、第二走査鏡
Myおよび中継鏡10は背面が現れており、走査方向切
換え鏡9のみミラー面が現れている。
なお、走査方向切換え鏡9が、例えば3方向に回動固定
される場合は、第三の位置においても、前記の第二の位
置における中継鏡10と第二走査鏡M3Fに対応する鏡
が固設される。
〔作用〕
図示の装置が、X−Yの2方向に光ビームを走査する装
置であると仮定すると、走査方向切換えtIL9は90
度往復回動され、かつそれぞれの位置に固定される。
図のような配置では、振動鏡3は、駆動モータ4によっ
て、軸心12を中心にして、矢印a、方向すなわちX方
向に往復振動する。そのため、実線で示すように、走査
方向切換え鏡9が第一走査鏡Mxに向かっている場合は
、振動鏡3によってX方向に振られた走査光は、走査方
向切換え鏡9および第一走査鏡Mxにおいても、X方向
に振られるため、X−Yステージ8上の対象物1におい
ても、X方向に走査される。
このようにしてX方向に走査しながら、X−Yステージ
8をX方向に微小ピッチで移動させると、対象物1の全
面をX方向に走査できる。
こうしてX方向の走査が全面にわたって終了した後に、
アクチュエータによって走査方向切換え鏡9を90度回
転させて、中継鏡10に向けると、走査方向切換え鏡9
で反射された光は、中継鏡10を介して第二走査鏡My
に導かれる。
そのため、振動鏡3が振動すると、その反射光は、X方
向の鉛直面内において、走査方向切換え鏡9の斜面を上
下方向に走査し、かつ中継鏡10に向けて反射される。
中継鏡10においては、X方向の鉛直面内において上下
方向に走査される。そして、該中継鏡10で反射された
光ビームは、向きを90度変えて、X方向の垂直面内に
おいて、第二走査鏡Myに向けて導かれる。その結果、
第二走査鏡Malの斜面を上下方向に走査した光は、対
象物1上に反射され、該対象物1上をX方向に走査する
ことになる。
このようにしてX方向に走査しながら、X−Yステージ
をX方向に微小ピッチで移動させると、対象物lの全面
をX方向に走査できる。なお、走査方向切換え鏡9を中
継鏡10側に回動させる際に、X−Yステージ8を駆動
して、対象物lを、破線で示すように第二走査鏡Myの
下に移動させておく。
〔実施例] 次に本発明による光走査装置が実際上どのように具体化
されるかを実施例で説明する。第2図〜第4図は本発明
による光走査装置の実施例を示す図で、第2図は平面図
、第3図は第2図の[1−I11方向の正面図、第4図
は正面図である。
図示例はX方向とX方向の2方向に光走査する装置であ
り、MxがX方向の走査鏡、MyがX方向の走査鏡であ
る。図示例では、X方向の走査鏡MxもX方向の走査鏡
MYも、X−Yステージ8に対し、45度の角度をおい
て対向し、かつ両走査鏡は互いに平行にな、っている。
また振動鏡3も、X−Yステージ8の面に対し45度の
角度をおいて下向きに配設され、走査方向切換え鏡9は
、45度の角度をおいて上向きに、かつX−Yステージ
8の面と垂直の軸Aを中心に回動可能になっている。
そして、振動鏡3の真下に配設された走査方向切換え鏡
9に対向して、X方向の走査鏡門×が配設されている。
この走査方向切換え鏡9は、X方向の走査を行なうとき
は、第3図に示すように、X方向を向いていて、X方向
の走査鏡詠に対向している。X方向に走査するときは、
走査方向切換え鏡9は、アクチュエータ11によって、
鉛直軸Aの回りに90度何回転れ、第4図のように、X
方向に向く。このようにX方向に向いた状態において、
走査方向切換え鏡9の正面位置に、中継鏡10が鉛直に
立っている。しかも、第2図に示すように、X軸に対し
45度傾いており、かつ中継鏡10からの反射光が入射
する位置に、前記のX方向の走査鏡Myが配設されてい
る。
そのため、第3図に示すように、走査方向切換え鏡9が
X方向の走査鏡Mxに向いているときは、振動鏡3で紙
面と垂直方向(X方向)に振られた光ビームは、X方向
の走査lIM xに向けて反射され、かつ該X方向の走
査鏡Mxによって、X−Yステージ8上の対象物1に反
射され、X方向に走査される。その結果、X−Yステー
ジ8をX方向に微小ピッチで送ることにより、対象物l
の全体をX方向に走査できる。
次にX−Yステージ8を駆動して、第4図のように、対
象物lをX方向の走査鏡MYの真下に移動すると共に、
アクチュエータ11によって、走査方向切換え鏡9を9
0度何回転せ、中継鏡10に向ける。
この状態で、振動鏡3を駆動すると、紙面と垂直方向に
振られた光ビームは、走査方向切換え鏡9の斜面を上下
方向に走査するため、その反射光は、鉛直方向の中継鏡
10に対し、上下方向に走査することになる。その結果
、中継鏡10による反射光は、第4図に示すように、紙
面内においてX方向の走査鏡Myを上下方向に走査し、
その反射光が、XYステージ8上の対象物1をX方向(
紙面内方向)に走査することになる。
そして、X−Yステージ8をX方向(紙面と垂直方向)
に微小ピッチで送ることにより、対象物lの全体をX方
向に走査できる。
このように、走査方向切換え鏡9を90度何回転るとと
もに、X−Yステージ8によって、対象物1を走査鏡M
x、 Myの真下に移動するのみで、対象物lの全体を
X−Yの2方向に走査できるため、第6図に示したよう
に、センサーユニット5ISS2、S3、S4を、四方
から対象物lに向けて配設することにより、四方から対
象物lの形状測定を行なうことができる。
2つの走査鏡Mx、Myとx−yステージ8の間隔が同
等であるとすると、走査方向切換え鏡9〜第一走査鏡M
x間の光路長と走査方向切換え鏡9〜中継鏡10〜第二
走査鏡Myの光路長を等しくすることにより、X方向の
走査範囲とX方向の走査範囲が等しくなり、かつ走査ビ
ームのスポット径も等しくなる。
なお、実施例では、互いに直交する2方向に走査する装
置を示したが、第一走査鏡Mxによる走査方向と第二走
査鏡Myによる走査方向は、X方・向とX方向のみに限
定されるものではない。走査方向切換え鏡9の回転角度
を選定することで、任意の方向に走査できる。
〔発明の効果] 以上のように本発明によれば、走査方向を切り換えるた
めに鉛直方向の軸の回りに回動・固定される走査方向切
換え鏡9を有し、2枚の走査鏡Mx、Myおよび1枚の
中継鏡lOが固設されるのみであって、高価な振動鏡は
1組で足りる。そのため、極めて安価に実現でき、また
組立てや調整も簡単である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による光走査装置の基本原理を説明する
斜視図、 第2図〜第4図は本発明の実施例を示す図で、第2図は
平面図、第3図は第2図の■−■方向の正面図、第4図
は正面図、 第5図は光走査による三次元計測の原理を説明する斜視
図、 第6図は従来の三次元計測装置を示す斜視図である。 図において、1は対象物、3は振動鏡、5は光源(半導
体レーザ)、8はX−Yステージ、9は走査方向切換え
鏡、10は中継鏡、11はアクチュエータ、Aは鉛直軸
、Mxは第一走査鏡、Myは第二走査鏡、をそれぞれ示
す。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 X−Yステージ(8)の上方において、 光源(5)から入射して来た光を、X−Yステージ(8
    )上に導き、高速振動によって走査を行うための単一の
    振動鏡(3)と、 該振動鏡(3)で反射された光の向きを複数の方向に切
    り換えることで、走査方向を切り換える、走査方向切換
    え鏡(9)を有し、 該走査方向切換え鏡(9)は、鉛直軸の回りに回動し、
    複数の位置に固定するアクチュエータに連結されている
    こと、 該走査方向切換え鏡(9)が回動して固定される第一の
    位置において、該走査方向切換え鏡(9)に対向して配
    置され、該走査方向切換え鏡(9)から入射した光をX
    −Yステージ(8)に向けて反射する第一走査鏡(Mx
    )が固設されていること、 該走査方向切換え鏡(9)が回動して固定される第二の
    位置において、該走査方向切換え鏡(9)から入射した
    光を第二走査鏡(My)に向けて反射する中継鏡(10
    )が、該走査方向切換え鏡(9)に角度をなして対向し
    、かつ鉛直方向に立てて固定され、第二走査鏡(My)
    は、該中継鏡(10)から入射した光をX−Yステージ
    (8)に向けて反射するように固設されていること、 を特徴とする光走査装置。
JP3757890A 1990-02-19 1990-02-19 光走査装置 Pending JPH03240017A (ja)

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