JPH03235361A - 半導体メモリ装置 - Google Patents
半導体メモリ装置Info
- Publication number
- JPH03235361A JPH03235361A JP2031817A JP3181790A JPH03235361A JP H03235361 A JPH03235361 A JP H03235361A JP 2031817 A JP2031817 A JP 2031817A JP 3181790 A JP3181790 A JP 3181790A JP H03235361 A JPH03235361 A JP H03235361A
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- substrate voltage
- circuit
- voltage
- substrate
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Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 15
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 108
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 claims description 13
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000005728 strengthening Methods 0.000 description 1
- 230000003313 weakening effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Semiconductor Memories (AREA)
- Dram (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
この発明は、半導体メモリ装置に関する。
〈従来の技術〉
半導体メモリ装置は一般に基板電圧と基準電圧とを比較
して基板電圧を調整する回路を備えている。
して基板電圧を調整する回路を備えている。
第3図は従来の半導体メモリ装置における基板電圧を調
整するための回路を示した図である。
整するための回路を示した図である。
この第3図において、lは基板電圧を発生する基板電圧
発生回路、3は上記基板電圧発生回路lが発生した基板
電圧と基準電圧とを作動増幅回路等で比較して上記基板
電圧か上記基準電圧よりも大きい場合には上記基板電圧
を弱めるための信号を出力する一方、上記基板電圧が上
記基準電圧よりも小さい場合には上記基板電圧を強める
ための信号を出力する基板電圧監視回路、2は上記基板
電圧監視回路3から出力された信号(A)をうけて上記
基板電圧発生回路lの基板電圧発生能力を調整する基板
電圧発生能力調整回路である。
発生回路、3は上記基板電圧発生回路lが発生した基板
電圧と基準電圧とを作動増幅回路等で比較して上記基板
電圧か上記基準電圧よりも大きい場合には上記基板電圧
を弱めるための信号を出力する一方、上記基板電圧が上
記基準電圧よりも小さい場合には上記基板電圧を強める
ための信号を出力する基板電圧監視回路、2は上記基板
電圧監視回路3から出力された信号(A)をうけて上記
基板電圧発生回路lの基板電圧発生能力を調整する基板
電圧発生能力調整回路である。
上記構成からなる回路により、基板電圧が基準電圧より
小さくなった場合には基板電圧発生回路の能力を強め、
基板電圧が基準電圧より大きくなると基板電圧発生回路
の能力を弱めるあるいは基板電圧発生回路を停止し、基
板電圧発生回路で消費される電流を減少させるようにな
っている。
小さくなった場合には基板電圧発生回路の能力を強め、
基板電圧が基準電圧より大きくなると基板電圧発生回路
の能力を弱めるあるいは基板電圧発生回路を停止し、基
板電圧発生回路で消費される電流を減少させるようにな
っている。
〈発明が解決しようとする課題〉
ところで、近年DRAMのような半導体メモリ装置では
、CMOSプロセスが採用されるに至って、電源投入時
のラッチアップを防止するために、電源投入後できるだ
け早く基板電圧を下げる必要が生じてきた。
、CMOSプロセスが採用されるに至って、電源投入時
のラッチアップを防止するために、電源投入後できるだ
け早く基板電圧を下げる必要が生じてきた。
しかしながら、上記従来の半導体装置では、第4図に示
すように、電源電圧(Vcc)が十分立ち上がった状態
では、基準電圧が安定しているため基板電圧監視回路3
が作動して信号(A)を出力(−1従って、基板電圧が
所定電圧まで到達するようになっているが、電源投入初
期において電源電圧(Vcc)が十分立ち上がっていな
い状態では、基準電圧か安定していないため基板電圧監
視回路3が作動せず、従って、基板電圧が下がらずラッ
チアップを引き起こす可能性があった。
すように、電源電圧(Vcc)が十分立ち上がった状態
では、基準電圧が安定しているため基板電圧監視回路3
が作動して信号(A)を出力(−1従って、基板電圧が
所定電圧まで到達するようになっているが、電源投入初
期において電源電圧(Vcc)が十分立ち上がっていな
い状態では、基準電圧か安定していないため基板電圧監
視回路3が作動せず、従って、基板電圧が下がらずラッ
チアップを引き起こす可能性があった。
そこで、この発明の目的は、電源投入初期において電源
電圧(V cc)が十分立ち上がっていない状態におい
ても、基板電圧発生回路の基板電圧発生能力を強めるよ
うにして、基板電圧を早期に所定電圧まで到達させ、電
源投入時のラッチアップを防止するようにした半導体メ
モリ装置を提供することにある。
電圧(V cc)が十分立ち上がっていない状態におい
ても、基板電圧発生回路の基板電圧発生能力を強めるよ
うにして、基板電圧を早期に所定電圧まで到達させ、電
源投入時のラッチアップを防止するようにした半導体メ
モリ装置を提供することにある。
〈課題を解決するための手段〉
上記目的を達成するため、この発明は、基板電圧を発生
する基板電圧発生回路と、上記基板電圧発生回路が発生
した基板電圧と基準電圧とを比較して上記基板電圧が上
記基準電圧よりも大きいか小さいかを表す信号を出力す
る基板電圧監視回路と、上記基板電圧監視回路から出力
された信号をうけて、上記基板電圧が上記基準電圧より
も大きいか小さいかに応して上記基板電圧発生回路の基
板電圧発生能力を弱めるか強めるように調整する基板電
圧発生能力調整回路とを備えた半導体メモリ装置におい
て、電源投入時に上記基板電圧発生能力調整回路に基板
電圧を強めさせるためのりセットパルスを出力するリセ
ットパルス発生回路を備えたことを特徴としている。
する基板電圧発生回路と、上記基板電圧発生回路が発生
した基板電圧と基準電圧とを比較して上記基板電圧が上
記基準電圧よりも大きいか小さいかを表す信号を出力す
る基板電圧監視回路と、上記基板電圧監視回路から出力
された信号をうけて、上記基板電圧が上記基準電圧より
も大きいか小さいかに応して上記基板電圧発生回路の基
板電圧発生能力を弱めるか強めるように調整する基板電
圧発生能力調整回路とを備えた半導体メモリ装置におい
て、電源投入時に上記基板電圧発生能力調整回路に基板
電圧を強めさせるためのりセットパルスを出力するリセ
ットパルス発生回路を備えたことを特徴としている。
〈作用〉
電源を投入すると、まず、リセットパルス発生回路がリ
セットパルスを発生し、基板電圧発生能力調整回路がこ
のリセットパルスをうけて基板電圧発生回路の基板電圧
発生能力を強める。そして、電源電圧が安定すると基準
電圧も安定するため、基板電圧監視回路が基板電圧と基
準電圧とを比較して基板電圧を強めるための信号を出力
し、上記基板電圧発生能力調整回路がこの信号をうけて
上記基板電圧発生回路の基板電圧発生能力を強め、基板
電圧が早期に所定電圧まで到達する。
セットパルスを発生し、基板電圧発生能力調整回路がこ
のリセットパルスをうけて基板電圧発生回路の基板電圧
発生能力を強める。そして、電源電圧が安定すると基準
電圧も安定するため、基板電圧監視回路が基板電圧と基
準電圧とを比較して基板電圧を強めるための信号を出力
し、上記基板電圧発生能力調整回路がこの信号をうけて
上記基板電圧発生回路の基板電圧発生能力を強め、基板
電圧が早期に所定電圧まで到達する。
〈実施例〉
以下、この発明を図示の実施例により詳細に説明する。
第1図はこの発明の一実施例の半導体メモリ装置におけ
る基板電圧を調整するための回路を示すブロック図であ
る。
る基板電圧を調整するための回路を示すブロック図であ
る。
この回路は、第3図に示す従来の回路に、電源投入時に
リセットパルス(B)を発生するリセットパルス発生回
路4と、基板電圧監視回路3が発生した信号(A)と上
記リセットパルス(B)との論理和をとるオアゲート5
を追加したものであり、その他の構成は従来の回路と同
じである。
リセットパルス(B)を発生するリセットパルス発生回
路4と、基板電圧監視回路3が発生した信号(A)と上
記リセットパルス(B)との論理和をとるオアゲート5
を追加したものであり、その他の構成は従来の回路と同
じである。
上記リセットパルス発生回路4はインバータ等の簡単な
素子で構成することができるため、電源投入時初期の状
態でも素早く安定してリセットパルス(B)を発生する
ことができる。
素子で構成することができるため、電源投入時初期の状
態でも素早く安定してリセットパルス(B)を発生する
ことができる。
第2図は本実施例における動作波形を示す図である。
この第2図に示すように、電源投入時の電源の安定して
いないときは、リセットパルス発生回路4がリセットパ
ルス(B)を発生し、基板電圧発生能力調整回路2が上
記リセットパルス(B)をうけて基板電圧発生回路1の
基板電圧発生能力を強める。電源が安定しリセットパル
ス(B)が切れた後は、基準電圧も安定している、基板
電圧監視回路が基板電圧と基準電圧とを比較して基板電
圧を強めるための信号(A)を出力し、上記基板電圧発
生能力調整回路2がこの信号(A)をうけて上記基板電
圧発生回路lの基板電圧発生能力を強める。従って、基
板電圧が早期に所定電圧まで到達する。
いないときは、リセットパルス発生回路4がリセットパ
ルス(B)を発生し、基板電圧発生能力調整回路2が上
記リセットパルス(B)をうけて基板電圧発生回路1の
基板電圧発生能力を強める。電源が安定しリセットパル
ス(B)が切れた後は、基準電圧も安定している、基板
電圧監視回路が基板電圧と基準電圧とを比較して基板電
圧を強めるための信号(A)を出力し、上記基板電圧発
生能力調整回路2がこの信号(A)をうけて上記基板電
圧発生回路lの基板電圧発生能力を強める。従って、基
板電圧が早期に所定電圧まで到達する。
このように、電源投入時に基板電圧を早期に所定電圧ま
で到達させることができるので、ラッチアップを生じる
ことがない。
で到達させることができるので、ラッチアップを生じる
ことがない。
〈発明の効果〉
以上より明らかなように、この発明の半導体メモリ装置
は、電源が投入されると、まず、リセットパルス発生回
路がリセットパルスを発生し、基板電圧発生能力調整回
路がこのリセットパルスをうけて基板電圧発生回路の基
板電圧発生能力を強め、電源電圧が安定すると基準電圧
も安定するため、基板電圧監視回路が基板電圧と基準電
圧とを比較して基板電圧を強めるための信号を出力し、
上記基板電圧発生能力調整回路がこの信号をうけて上記
基板電圧発生回路の基板電圧発生能力を強めるようにな
っているので、基板電圧が早期に所定電圧まで到達し、
電源投入時のラッチアップを防止することができる。
は、電源が投入されると、まず、リセットパルス発生回
路がリセットパルスを発生し、基板電圧発生能力調整回
路がこのリセットパルスをうけて基板電圧発生回路の基
板電圧発生能力を強め、電源電圧が安定すると基準電圧
も安定するため、基板電圧監視回路が基板電圧と基準電
圧とを比較して基板電圧を強めるための信号を出力し、
上記基板電圧発生能力調整回路がこの信号をうけて上記
基板電圧発生回路の基板電圧発生能力を強めるようにな
っているので、基板電圧が早期に所定電圧まで到達し、
電源投入時のラッチアップを防止することができる。
第1図はこの発明の一実施例の半導体メモリ装置におけ
る基板電圧を調整するた、めの回路を示すブロック図、
第2図は上記実施例における動作波形を示す図、第3図
は従来の半導体メモリ装置における基板電圧を調整する
ための回路を示すブロック図、第4図は上記従来例にお
ける動作波形を示す図である。 l・・・基板電圧発生回路、 2・・・基板電圧発生能力調整回路、 3・・・基板電圧監視回路、 4・・リセットパルス発生回路、訃・・オアゲート。
る基板電圧を調整するた、めの回路を示すブロック図、
第2図は上記実施例における動作波形を示す図、第3図
は従来の半導体メモリ装置における基板電圧を調整する
ための回路を示すブロック図、第4図は上記従来例にお
ける動作波形を示す図である。 l・・・基板電圧発生回路、 2・・・基板電圧発生能力調整回路、 3・・・基板電圧監視回路、 4・・リセットパルス発生回路、訃・・オアゲート。
Claims (1)
- (1)基板電圧を発生する基板電圧発生回路と、上記基
板電圧発生回路が発生した基板電圧と基準電圧とを比較
して上記基板電圧が上記基準電圧よりも大きいか小さい
かを表す信号を出力する基板電圧監視回路と、上記基板
電圧監視回路から出力された信号をうけて、上記基板電
圧が上記基準電圧よりも大きいか小さいかに応じて上記
基板電圧発生回路の基板電圧発生能力を弱めるか強める
ように調整する基板電圧発生能力調整回路とを備えた半
導体メモリ装置において、 電源投入時に上記基板電圧発生能力調整回路に基板電圧
を強めさせるためのリセットパルスを出力するリセット
パルス発生回路を備えたことを特徴とする半導体メモリ
装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2031817A JPH03235361A (ja) | 1990-02-13 | 1990-02-13 | 半導体メモリ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2031817A JPH03235361A (ja) | 1990-02-13 | 1990-02-13 | 半導体メモリ装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03235361A true JPH03235361A (ja) | 1991-10-21 |
Family
ID=12341647
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2031817A Pending JPH03235361A (ja) | 1990-02-13 | 1990-02-13 | 半導体メモリ装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03235361A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100290889B1 (ko) * | 1998-05-29 | 2001-07-12 | 김영환 | 기준 전압 발생기의 기준 전압 발생방법 |
-
1990
- 1990-02-13 JP JP2031817A patent/JPH03235361A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100290889B1 (ko) * | 1998-05-29 | 2001-07-12 | 김영환 | 기준 전압 발생기의 기준 전압 발생방법 |
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