JPH0323085A - 電縫管の溶接欠陥検出方法 - Google Patents
電縫管の溶接欠陥検出方法Info
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- JPH0323085A JPH0323085A JP15415289A JP15415289A JPH0323085A JP H0323085 A JPH0323085 A JP H0323085A JP 15415289 A JP15415289 A JP 15415289A JP 15415289 A JP15415289 A JP 15415289A JP H0323085 A JPH0323085 A JP H0323085A
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は高周波電縫管溶接に於ける溶接欠陥の検出方法
に関し、特に、冷接欠陥の検出に関する．〔従来技術〕 従来，電縫管溶接部の溶接欠陥状態の検査方法として、
溶接を終えた電縫管よりサンプルを採集して、このサン
プルの断面マクロ写真，扁平テスト，破面検査等により
溶接欠陥を検査する方法があるが、これではリアルタイ
ムで検査データを得ることができない． 〔発明が解決しようとする課題〕 リアルタイムの検査には、電縫溶接中の溶接部の温度監
視，ビード形状監視あるいは例えば特開昭６２−１３３
３５１号公報に開示の如く、ＡＥ発生状況を監視する方
法があるが，表面状態や材料の性状及び水蒸気等によっ
て正しく判定出来なかったり、又、ＡＥ法では外乱ノイ
ズやセンサを進退駆動する退避装置が必要等の欠点があ
る。すなわち実用上、リアルタイムで、かつ格別な設備
付加や変更を行なうことなく，確実に検査可能な装置が
なかった． 本発明は、水蒸気，振動，外乱ノイズ等のまわりの環境
に影響されず，かつ，検出部がパイプ近傍になく退逃機
構等のない完全非接触で、冷接欠陥を、リアルタイムで
信頼性高く確実に検出することを目的とする。
に関し、特に、冷接欠陥の検出に関する．〔従来技術〕 従来，電縫管溶接部の溶接欠陥状態の検査方法として、
溶接を終えた電縫管よりサンプルを採集して、このサン
プルの断面マクロ写真，扁平テスト，破面検査等により
溶接欠陥を検査する方法があるが、これではリアルタイ
ムで検査データを得ることができない． 〔発明が解決しようとする課題〕 リアルタイムの検査には、電縫溶接中の溶接部の温度監
視，ビード形状監視あるいは例えば特開昭６２−１３３
３５１号公報に開示の如く、ＡＥ発生状況を監視する方
法があるが，表面状態や材料の性状及び水蒸気等によっ
て正しく判定出来なかったり、又、ＡＥ法では外乱ノイ
ズやセンサを進退駆動する退避装置が必要等の欠点があ
る。すなわち実用上、リアルタイムで、かつ格別な設備
付加や変更を行なうことなく，確実に検査可能な装置が
なかった． 本発明は、水蒸気，振動，外乱ノイズ等のまわりの環境
に影響されず，かつ，検出部がパイプ近傍になく退逃機
構等のない完全非接触で、冷接欠陥を、リアルタイムで
信頼性高く確実に検出することを目的とする。
電縫管ラインに於ける溶接プロセスは、第１図に示すよ
うに、溶接電源の主発振装置１とＣＴ（変流器）２と給
電用コンタクトチップＰＳｉ，ＰＳ２ （又は誘導コイ
ル）で実施される。スクイズロールＳＱＲで成形された
管体３の突合せ面（継目）が、高周波電流によってスク
イズロールの所で溶接される。
うに、溶接電源の主発振装置１とＣＴ（変流器）２と給
電用コンタクトチップＰＳｉ，ＰＳ２ （又は誘導コイ
ル）で実施される。スクイズロールＳＱＲで成形された
管体３の突合せ面（継目）が、高周波電流によってスク
イズロールの所で溶接される。
溶接現象は、■収束点Ｐｖｃと溶接点Ｐｗの間（ｄｌ２
）のストリップエッジの加熱→溶融→加圧の一連のプロ
セスであり、高速度カメラでのＩｉｌ！察によると、■
収束点Ｐｖｃと溶接点Ｐｗ間のエッジ間隙部（ｄＱ）の
溶鋼の動きは第２図のように、入熱が大きくなるに従い
振巾が大きくなり、かつ、周期が長くなって行くことが
確認されている．又、この状態変化が主発振装置１のイ
ンピーダンスを変化させ，その発振周波数が微少な変化
を生ずるので，これを計測して、溶接電力のコントロー
ルに使用している（例えば、特開昭５８−１７７１１号
公報および特願昭５９ − ２５７９１６号）。
）のストリップエッジの加熱→溶融→加圧の一連のプロ
セスであり、高速度カメラでのＩｉｌ！察によると、■
収束点Ｐｖｃと溶接点Ｐｗ間のエッジ間隙部（ｄＱ）の
溶鋼の動きは第２図のように、入熱が大きくなるに従い
振巾が大きくなり、かつ、周期が長くなって行くことが
確認されている．又、この状態変化が主発振装置１のイ
ンピーダンスを変化させ，その発振周波数が微少な変化
を生ずるので，これを計測して、溶接電力のコントロー
ルに使用している（例えば、特開昭５８−１７７１１号
公報および特願昭５９ − ２５７９１６号）。
即ち、電縫管の溶接中の部分は、いわゆるＶ字溝になり
、Ｖ字溝先端が溶接点になるが、この溶接点の位置は必
らずしも一定ではなく、溶接条件によって大きく又は小
さく変動する．具体的には、入熱レベルが低い場合には
溶接点の変動がほとんどなく、主発振装置１の発振周波
数の変動はほとんどないが、入熱レベルが高いと溶接点
位置はある振幅および周期で変動し、主発振装置１の発
振周波数が変動する。そこで溶接点の位置変動の小さい
ものを第１種溶接現象と、位置変動の振幅及び周期が中
位のものを第２種溶接現象と、それが大きく荒々しても
のを第３種溶接現象と呼ぶことができる．上述の区分の
大略を第２図に示し、区分対応の周波数変動（ｆｖ）を
第４図に示す。第１種の溶接現象では冷接欠陥を生ずる
。第２種の溶接現象が適切である。第３種の溶接現象で
は、過入熱でスパークを発生するおそれがある．本発明
では、第４図に示すように、冷接を生ずる第１種では周
波数ｆｖの変動が小さく、第２種および第３種で周波数
ｆｖの変動が大きい点に着目して、高周波電縫溶接にお
いて，高周波電縫溶接用高周波発振周波数の変化率（ｄ
ｆ ｖ）を検出し、該変化率（ｄｆｖ）が設定値（Ｖ
ｓｌ）以上となる時系列頻度（ＳＰＬ）を検出して，該
頻度（ｓ ｐ Ｌ）が設定値（Ｖ．ｓ２）以下のとき冷
接欠陥を報知する情報を発生する。
、Ｖ字溝先端が溶接点になるが、この溶接点の位置は必
らずしも一定ではなく、溶接条件によって大きく又は小
さく変動する．具体的には、入熱レベルが低い場合には
溶接点の変動がほとんどなく、主発振装置１の発振周波
数の変動はほとんどないが、入熱レベルが高いと溶接点
位置はある振幅および周期で変動し、主発振装置１の発
振周波数が変動する。そこで溶接点の位置変動の小さい
ものを第１種溶接現象と、位置変動の振幅及び周期が中
位のものを第２種溶接現象と、それが大きく荒々しても
のを第３種溶接現象と呼ぶことができる．上述の区分の
大略を第２図に示し、区分対応の周波数変動（ｆｖ）を
第４図に示す。第１種の溶接現象では冷接欠陥を生ずる
。第２種の溶接現象が適切である。第３種の溶接現象で
は、過入熱でスパークを発生するおそれがある．本発明
では、第４図に示すように、冷接を生ずる第１種では周
波数ｆｖの変動が小さく、第２種および第３種で周波数
ｆｖの変動が大きい点に着目して、高周波電縫溶接にお
いて，高周波電縫溶接用高周波発振周波数の変化率（ｄ
ｆ ｖ）を検出し、該変化率（ｄｆｖ）が設定値（Ｖ
ｓｌ）以上となる時系列頻度（ＳＰＬ）を検出して，該
頻度（ｓ ｐ Ｌ）が設定値（Ｖ．ｓ２）以下のとき冷
接欠陥を報知する情報を発生する。
リアルタイム（溶接中）において、溶接人熱が適正な第
２種の溶接現象又は過入熱の第３種の溶接現象の間は、
主発振装置１の発振周波数（ ｆ ｖ）の変動が比較的
に大きく、変化率（ｄｆｖ）が設定値（Ｖｓｌ）以上と
なる時系列頻度（ＳＰＬ）が高く、該頻度（ＳＰＩ−）
が設定値（Ｖｓ２）を越えているので、冷接欠陥存在を
意味する情報は発生しない。
２種の溶接現象又は過入熱の第３種の溶接現象の間は、
主発振装置１の発振周波数（ ｆ ｖ）の変動が比較的
に大きく、変化率（ｄｆｖ）が設定値（Ｖｓｌ）以上と
なる時系列頻度（ＳＰＬ）が高く、該頻度（ＳＰＩ−）
が設定値（Ｖｓ２）を越えているので、冷接欠陥存在を
意味する情報は発生しない。
溶接現象が冷接を生ずる第１種になると、主発振装置１
の発振周波数（ ｆ ｖ）の変動が小さくなりその変化
率（ｄｆｖ）が設定値（Ｖｓｌ）以下となるので，該変
化率（ｄ ｆ Ｖ）が設定値（Ｖｓ １ ）以上となる
時系列頻度（ＳＰＬ）が低くなって設定値（Ｖｓ２）以
下となる．このとき冷接欠陥存在を意味する情報を発生
する． このように、高周波電縫溶接において，高周波電縫溶接
用高周波発振周波数の変化率（ｄ ｆ ｖ）を検出して
冷接の発生有無を自動検出するので，溶接管周りには、
格別に設備を付加する必要がなく溶接管周りの環境の影
響を受けない検出が行なわれる．したがって、水蒸気，
振動，外乱ノイズ等のまわりの環境に影響されず、かつ
、検出部がパイプ近傍になく退逃機構等のない完全非接
触で、冷接欠陥を，リアルタイムで信頼性高く確実に検
出できる。
の発振周波数（ ｆ ｖ）の変動が小さくなりその変化
率（ｄｆｖ）が設定値（Ｖｓｌ）以下となるので，該変
化率（ｄ ｆ Ｖ）が設定値（Ｖｓ １ ）以上となる
時系列頻度（ＳＰＬ）が低くなって設定値（Ｖｓ２）以
下となる．このとき冷接欠陥存在を意味する情報を発生
する． このように、高周波電縫溶接において，高周波電縫溶接
用高周波発振周波数の変化率（ｄ ｆ ｖ）を検出して
冷接の発生有無を自動検出するので，溶接管周りには、
格別に設備を付加する必要がなく溶接管周りの環境の影
響を受けない検出が行なわれる．したがって、水蒸気，
振動，外乱ノイズ等のまわりの環境に影響されず、かつ
、検出部がパイプ近傍になく退逃機構等のない完全非接
触で、冷接欠陥を，リアルタイムで信頼性高く確実に検
出できる。
第３図に本発明を一態様で実施する電気回路の構成概要
を示す。溶接電源の高周波発振装置１の出力電力が．Ｃ
Ｔ２および電極Ｐｓｉ，ＰＳ２を通してパイプ３に供給
されている。一方、周波数センサ４ （この実施例では
変圧器）が、高周波発振装霞１の出力周波数信号を発生
する。この周波数信号は絶縁カプラ回路５を径由し波形
整形回路６に与えられて、そこで増幅されかつ一定パル
ス高および幅の、周波数がセンサ４の出力信号周波数と
同じパルス信号に整形される．このパルス信号は、周波
数／電圧コンバータ７で、レベルが周波数に比例するア
ナログ電圧に変換される。すなわち周波数信号ｆνに変
換される。この信号ｆｖのレベルは、高周波発振装Ｗ１
の出力周波数（これはｄＱの大きさに対応）に対応し，
信号ｆｖの変動周期はｄＱの変動周期と同期している．
周波数信号ｆｖは、微分器８で微分され、微分器８が信
号ｆｖの微分信号ｄｆｖを発生する。微分信号ｄｆｖの
レベルはｄＱの変化速度に比例し、微分信号ｄｆｖの周
波数はｄｆｌの変動周波数に比例する。比較器９が、微
分信号ｄｆｖを、スレッシュレベルＶｓ１でパルス整形
する。得られたパルス信号ｆｐの周波数は、ｄＱが設定
値（Ｖｓｌ）以上の変化速度で変化した頻度を表わす。
を示す。溶接電源の高周波発振装置１の出力電力が．Ｃ
Ｔ２および電極Ｐｓｉ，ＰＳ２を通してパイプ３に供給
されている。一方、周波数センサ４ （この実施例では
変圧器）が、高周波発振装霞１の出力周波数信号を発生
する。この周波数信号は絶縁カプラ回路５を径由し波形
整形回路６に与えられて、そこで増幅されかつ一定パル
ス高および幅の、周波数がセンサ４の出力信号周波数と
同じパルス信号に整形される．このパルス信号は、周波
数／電圧コンバータ７で、レベルが周波数に比例するア
ナログ電圧に変換される。すなわち周波数信号ｆνに変
換される。この信号ｆｖのレベルは、高周波発振装Ｗ１
の出力周波数（これはｄＱの大きさに対応）に対応し，
信号ｆｖの変動周期はｄＱの変動周期と同期している．
周波数信号ｆｖは、微分器８で微分され、微分器８が信
号ｆｖの微分信号ｄｆｖを発生する。微分信号ｄｆｖの
レベルはｄＱの変化速度に比例し、微分信号ｄｆｖの周
波数はｄｆｌの変動周波数に比例する。比較器９が、微
分信号ｄｆｖを、スレッシュレベルＶｓ１でパルス整形
する。得られたパルス信号ｆｐの周波数は、ｄＱが設定
値（Ｖｓｌ）以上の変化速度で変化した頻度を表わす。
このパルス信号ｆｐは周波数／電圧コンバータ１０でア
ナログ信ＳＰＬに変換される．この信号ＳＰＬのレベル
が、ｄＱ（装置１の周波数）が設定値（Ｖｓｌ）以上の
速度で変化した時系列頻度を表わす。比較器１２がこの
信号ＳＰＬのレベルを設定値Ｖｓ２と比較して、該レベ
ルがＶｓ２未満のとき，冷接警報器ｌ３を付勢する警報
信号（冷接欠陥を報知する情報）を発生し、これに応答
して冷接警報器ｌ３が付勢されて警報を発する。警報信
号はマーカドライバ１４にも与えられ、マーカドライバ
１４がマーカ１５を付勢し，冷接欠陥を表わすマークを
パイプ３に付与する． 再に、スパーク検出では、ピークホールド回路１６が、
主発振装置１の周波数を示す周波数信号ｆｖの谷ピーク
と山ピークをホールドし、両ピークの差（周波数変動幅
：ｄＱ）を示す周波数変動幅信号Δｆを発生する。この
信号Δｆが設定値Ｖｓ３以上のとき比較器ｌ７が高レベ
ルＨの信号を発生する．また，微分器ｌ９が信号Δｆの
変化率を示す信号を発生し、比較器２０が侶号Δｆの変
化率が設定値Ｖｓ４以上のとき高レベルＨの信号を発生
する．アンドゲート２ｌは，比較器１７および２０の出
力が共に高レベルＨのとき、すなわち、周波数変動幅信
号Δｆ（ｄＱ）が設定値Ｖｓ３以上でしかもΔｆの変化
速度が設定値Ｖｓ４以上のとき、高レベルＨの信号をス
パーク欠陥信号として警報器ｌ８に与えてけい報すると
共に、マーカドライバ１４にも与えて，パイプ３にスパ
ーク欠陥マークを付与する。
ナログ信ＳＰＬに変換される．この信号ＳＰＬのレベル
が、ｄＱ（装置１の周波数）が設定値（Ｖｓｌ）以上の
速度で変化した時系列頻度を表わす。比較器１２がこの
信号ＳＰＬのレベルを設定値Ｖｓ２と比較して、該レベ
ルがＶｓ２未満のとき，冷接警報器ｌ３を付勢する警報
信号（冷接欠陥を報知する情報）を発生し、これに応答
して冷接警報器ｌ３が付勢されて警報を発する。警報信
号はマーカドライバ１４にも与えられ、マーカドライバ
１４がマーカ１５を付勢し，冷接欠陥を表わすマークを
パイプ３に付与する． 再に、スパーク検出では、ピークホールド回路１６が、
主発振装置１の周波数を示す周波数信号ｆｖの谷ピーク
と山ピークをホールドし、両ピークの差（周波数変動幅
：ｄＱ）を示す周波数変動幅信号Δｆを発生する。この
信号Δｆが設定値Ｖｓ３以上のとき比較器ｌ７が高レベ
ルＨの信号を発生する．また，微分器ｌ９が信号Δｆの
変化率を示す信号を発生し、比較器２０が侶号Δｆの変
化率が設定値Ｖｓ４以上のとき高レベルＨの信号を発生
する．アンドゲート２ｌは，比較器１７および２０の出
力が共に高レベルＨのとき、すなわち、周波数変動幅信
号Δｆ（ｄＱ）が設定値Ｖｓ３以上でしかもΔｆの変化
速度が設定値Ｖｓ４以上のとき、高レベルＨの信号をス
パーク欠陥信号として警報器ｌ８に与えてけい報すると
共に、マーカドライバ１４にも与えて，パイプ３にスパ
ーク欠陥マークを付与する。
主な波形の関係を第４図に示す。この第３図に示す装置
構或において、強制的に供給電力Ｅｐ・Ｉｐを変動させ
た時のΔｆとＳＰＬの信号を第５図に示す。この中で、
パワー不足の所のＳＰＬ信号（Δ印）が大巾に低下し、
最適パワーの時はＳＰＬ信号がピークになっている。再
１こ、過入熱にするとＳＰＬが低下している．ＳＰＬの
レベルはレベルメータ１ｌで表示され、この表示に基づ
いて、それが前述のピーク値になるよう、主発振装置１
の入力ＥＰ・Ｉｐが設定又は調整される。
構或において、強制的に供給電力Ｅｐ・Ｉｐを変動させ
た時のΔｆとＳＰＬの信号を第５図に示す。この中で、
パワー不足の所のＳＰＬ信号（Δ印）が大巾に低下し、
最適パワーの時はＳＰＬ信号がピークになっている。再
１こ、過入熱にするとＳＰＬが低下している．ＳＰＬの
レベルはレベルメータ１ｌで表示され、この表示に基づ
いて、それが前述のピーク値になるよう、主発振装置１
の入力ＥＰ・Ｉｐが設定又は調整される。
一方、スパークは一時的にΔｆ信号が急上昇するのでΔ
ｆ信号が設定値Ｖｓ３を瞬間的に（Ｖｓ４以上の速度で
）超えた時にスパークと判断する（アンドゲート２ｌの
出力＝Ｈとする゛）。
ｆ信号が設定値Ｖｓ３を瞬間的に（Ｖｓ４以上の速度で
）超えた時にスパークと判断する（アンドゲート２ｌの
出力＝Ｈとする゛）。
次に、第６図に、ΔｆおよびＳＰＬと欠陥面積率との関
係を示す。Ｓ Ｐ Ｌｏ＋ａｘ（上ピーク）点で、欠陥
面積率が最低で品質が最高となり、パワーＥＰ−ＩＰが
低下するに従い冷接ぎみに近づいてゆき．ＳＰＬ信号が
零に接近した時に冷接危険領域になる事が明確であり、
これは冷接欠陥を正確に判定出来ることを示している． 〔発明の効果〕 第７図にテスト時のサンプル材によるデータを示す．標
準電力（第７図の横軸のＯ ，ａ ）から，−３０〜＋
２０に変化しながらデータを採集したもので、ＳＰＬ信
号と欠陥面積率及びヘン平テストと検鏡による冷接判定
の結果を示すもので、電力が標準電力より−１０％以下
は冷接と判定され、ＳＰＬ信号とよく一致している。
係を示す。Ｓ Ｐ Ｌｏ＋ａｘ（上ピーク）点で、欠陥
面積率が最低で品質が最高となり、パワーＥＰ−ＩＰが
低下するに従い冷接ぎみに近づいてゆき．ＳＰＬ信号が
零に接近した時に冷接危険領域になる事が明確であり、
これは冷接欠陥を正確に判定出来ることを示している． 〔発明の効果〕 第７図にテスト時のサンプル材によるデータを示す．標
準電力（第７図の横軸のＯ ，ａ ）から，−３０〜＋
２０に変化しながらデータを採集したもので、ＳＰＬ信
号と欠陥面積率及びヘン平テストと検鏡による冷接判定
の結果を示すもので、電力が標準電力より−１０％以下
は冷接と判定され、ＳＰＬ信号とよく一致している。
更に、第８図に運転中にエッジ不良部があって冷接欠陥
が発生した時のデータを示す。Ｃ煮の所で、冷接欠陥リ
ゼクト信号（ＳＰＬ＜Ｖｇ２を示す比較器１２の出力）
を発生した例であり、このように溶接中に（リアルタイ
ムで）冷接欠陥を確実に検出するので冷接欠陥による不
良成品の検査に大巾に役立つ．
が発生した時のデータを示す。Ｃ煮の所で、冷接欠陥リ
ゼクト信号（ＳＰＬ＜Ｖｇ２を示す比較器１２の出力）
を発生した例であり、このように溶接中に（リアルタイ
ムで）冷接欠陥を確実に検出するので冷接欠陥による不
良成品の検査に大巾に役立つ．
第１図は、ｆｌａ管溶接装置の主機構部を示す斜視図で
ある。 第２図は，電縫管溶接時の溶接現象パターンを示すグラ
フである． 第３図は、本発明を一態様で実施する装置構或を示すブ
ロック図である。 第４図は、第３図中に示す信号の時系列変化を示すグラ
フであり、横方向は時間経過を、縦方向は信号レベルを
示す． 第５図は、第３図に示す主発振装置１への投入電力ＥＰ
−ＩＰとΔｆおよびＳＰＬとの関係を示すグラフである
。 第６図は、第３図の回路の信号ΔｆおよびＳＰＬと欠陥
面積率との関係を示すグラフである．第７図は、第３図
に示す回路の信号ＳＰＬと，欠陥面積率および欠陥判定
との対応関係を示すグラフである． 第８図は、電縫溶接中の、第３図に示す回路の信号の時
系列変化を示すグラフである．１：主発振装置
２：ＣＴ ３：バイプ ４：センサ５：絶縁カプラ
回路 ６：波形整形回路７．１０：周波数／電圧
コンバータ ８，１９：微分器
ある。 第２図は，電縫管溶接時の溶接現象パターンを示すグラ
フである． 第３図は、本発明を一態様で実施する装置構或を示すブ
ロック図である。 第４図は、第３図中に示す信号の時系列変化を示すグラ
フであり、横方向は時間経過を、縦方向は信号レベルを
示す． 第５図は、第３図に示す主発振装置１への投入電力ＥＰ
−ＩＰとΔｆおよびＳＰＬとの関係を示すグラフである
。 第６図は、第３図の回路の信号ΔｆおよびＳＰＬと欠陥
面積率との関係を示すグラフである．第７図は、第３図
に示す回路の信号ＳＰＬと，欠陥面積率および欠陥判定
との対応関係を示すグラフである． 第８図は、電縫溶接中の、第３図に示す回路の信号の時
系列変化を示すグラフである．１：主発振装置
２：ＣＴ ３：バイプ ４：センサ５：絶縁カプラ
回路 ６：波形整形回路７．１０：周波数／電圧
コンバータ ８，１９：微分器
Claims (1)
- 高周波電縫溶接において、高周波電縫溶接用高周波発振
周波数の変化率を検出し、該変化率が設定値以上となる
時系列頻度を検出して、該頻度が設定値以下のとき冷接
欠陥を報知する情報を発生する、電縫管の溶接欠陥検出
方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15415289A JPH0323085A (ja) | 1989-06-16 | 1989-06-16 | 電縫管の溶接欠陥検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15415289A JPH0323085A (ja) | 1989-06-16 | 1989-06-16 | 電縫管の溶接欠陥検出方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0323085A true JPH0323085A (ja) | 1991-01-31 |
Family
ID=15577998
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15415289A Pending JPH0323085A (ja) | 1989-06-16 | 1989-06-16 | 電縫管の溶接欠陥検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0323085A (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61135490A (ja) * | 1984-12-06 | 1986-06-23 | Nippon Steel Corp | 高周波溶接入熱自動制御装置 |
-
1989
- 1989-06-16 JP JP15415289A patent/JPH0323085A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61135490A (ja) * | 1984-12-06 | 1986-06-23 | Nippon Steel Corp | 高周波溶接入熱自動制御装置 |
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