JPH0322657A - 電子交換機の試験方式 - Google Patents

電子交換機の試験方式

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Publication number
JPH0322657A
JPH0322657A JP1157591A JP15759189A JPH0322657A JP H0322657 A JPH0322657 A JP H0322657A JP 1157591 A JP1157591 A JP 1157591A JP 15759189 A JP15759189 A JP 15759189A JP H0322657 A JPH0322657 A JP H0322657A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electronic exchange
fault
test
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detailed information
Prior art date
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Pending
Application number
JP1157591A
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English (en)
Inventor
Norio Yamaguchi
山口 紀夫
Yasuo Kobayashi
小林 靖男
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Publication of JPH0322657A publication Critical patent/JPH0322657A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は電子交換機の試験方式に関し、特に試験運転中
のシステムダウン時の障害情報収集とシステムを再起動
する電子交換機の試験方式に関する. 〔従来の技術〕 従来の電子交換機の試験方式は、試験運転中にシステム
ダウンを生ずると、システムコンソールに表示される障
害情報を人間が知ることによりシステムダウンを確認し
、次に障害情報を得るためシステムコンソールからコマ
ンドを入力し、電子交換機の記憶装置内の障害情報の格
納されているエリアの情報を求め、障害解析の為に必要
な詳細情報をプリンタ等(こ出力し、出力内容を人間が
解析し障害分析を行い、以後システムを再起動していた
. 〔発明が解決しようとする課題〕 従来の電子交換機の試験方式では、試験中にシステムコ
ンソールの確認ができない場所で作業中に、システムダ
ウンが発生した場合には、システムダウン発生に気がつ
くのが遅れてしまうという問題点がある.又、人手によ
り障害情報を解析した後、さらに詳細情報をコマンド入
力で収集する場合に、入力ミス等で情報収集に時間が費
されたり、解析ミス等により、有効なデータの収集がで
きずにバグの原因究明が困難になる危険性があるという
問題点もあり、さらに深夜等に行う長時間連続試験にお
いては、人手が少ないため、障害発生時に詳細情報の収
集ができないまま、システムを即時に再起動することが
多く、結果として障害の解析に時間がより多くかかると
いう問題点もある. 〔課題を解決するための手段J 本発明の電子交換機の試験方式は、システムダウンが発
生したかを試験項目の終了ごとに検出する検出手段と、
前記システムダウンを検出するとシステムコンソールか
らコマンドを出力し、前記電子交換機に対し障害情報を
読取る要求を行う要求手段と、前記電子交換機から送ら
れてきた情報を解析して障害発生箇所を検出する情報解
析手段と、検出した前記障害発生個所の障害の詳細情報
であるプロセッサ番号と障害のあった機能モジュール名
と前記障害のあった機能モジュールのワークエリアのデ
ータを前記電子交換機に要求するコマンドを発生する詳
細情報読取手段と、前記詳細情報読取手段の読取った詳
細情報をフレキシブルディスクや磁気ディスクあるいは
プリンタに記録する収集データ出力手段と、前記詳細情
報のすべてを収集終了した後に前記電子交換機の立上げ
のための再起動を実行する再起動手段とを有する構成で
ある. 〔実施例〕 次に本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例のブロック図である. 試験開始でシステムコンソール1の試験実行部12は、
試験項目の実行処理を入出力制御部14を通して電子交
換機2に要求する.そして試験結果を待っている時にシ
ステムダウンが発生した場合には、直ちに主制御部11
から障害情報収集部13に共通障害情報の読取り要求処
理を行い、入出力制御部14を通してデータを収集する
.この収集したデータを主制御部11で解析し、障害の
発生したプロセッサNO.,実行モジュール,及び実行
セクションを見つける.又、この収集データをあらかじ
め指定しておいた出力装置である磁気ディスク3やプリ
ンタ4あるいはフレキシブルディスク5のいずれかに出
力する. 第3図はプリンタ出力リストの一例を示すプリンタ出力
パターン図である. 次に解析したデータに基づき障害発生モジュールやセク
ションのワークエリアや局データ等を詳細障害データと
して読取る為の編集処理を主制御部11で行う.次に主
制御部11は入出力制御部14を通じて電子交換機2か
ら詳細情報の読取り処理を実行する.次に電子交換機2
から読取った詳細データを出力装置の一つの出力する.
その後、電子交換機2を初期設定の状態とし、次に電子
交換機2を立上げ、次に試験を実行する.負荷試験ある
いは擬似呼試験等、呼処理のみでコンソール1からの試
験実行がない場合は、主制御部11から入出力制御部1
4を通じて電子交換機2からのメッセージを待ち、メッ
セージがシステムダウンであるならば、上記と同じ処理
を実行し、システムダウン以外ならば、メッセージをそ
のままプリンタに出力する. 第2図は本発明の一実施例の流れ図である.第1図の説
明との重複を避け動作について説明する. 例えば、夜間に無人試験を行う場合につき説明する.試
験を開始するとステップ(以下Sと記す)1で試験項目
が有ることを確認する.次に82で試験の実行処理を行
う.次に83で試験結果を確認すると同時にシステムダ
ウンが発生したか否かを判定し、無しであれば再度S1
に戻り試験を実行する.システムダウンが発生している
場合は、S4で共通障害情報の読取り要求を行い、以後
途中の説明を略すが、前述の説明のように85で詳細デ
ータを指示された出力装置に出力し、S6で電子交換機
を初期設定状態とした後立上げる.電子交換機の立上げ
が完了後再度S1に戻り、S1で試験項目が無しと判定
されるまで同一の動作を繰返し、無しの判定された時点
で終了する. 〔発明の効果〕 以上説明したような本発明は、障害詳細情報を自動的に
収集することにより、短時間に間違いのない情報を得ら
れ、障害の解析を効率良く行なうことができる様になり
、今後開発するプログラムに対する試験工数及び障害解
析工数が短縮できる効果がある.
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例のブロック図、第2図は本発
明の一実施例の流れ図、第3図はプリンタ出力パターン
図である.

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 電子交換機の試験方式において、システムダウンが発生
    したかを試験項目の終了ごとに検出する検出手段と、前
    記システムダウンを検出するとシステムコンソールから
    コマンドを出力し、前記電子交換機に対し障害情報を読
    取る要求を行う要求手段と、前記電子交換機から送られ
    てきた情報を解析して障害発生箇所を検出する情報解析
    手段と、検出した前記障害発生個所の障害の詳細情報で
    あるプロセッサ番号と障害のあつた機能モジュール名と
    前記障害のあつた機能モジュールのワークエリアのデー
    タを前記電子交換機に要求するコマンドを発生する詳細
    情報読取手段と、前記詳細情報読取手段の読取った詳細
    情報をフレキシブルディスクや磁気ディスクあるいはプ
    リンタに記録する収集データ出力手段と、前記詳細情報
    のすべてを収集終了した後に前記電子交換機の立上げの
    ための再起動を実行する再起動手段とを有することを特
    徴とする電子交換機の試験方式。
JP1157591A 1989-06-19 1989-06-19 電子交換機の試験方式 Pending JPH0322657A (ja)

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JP1157591A JPH0322657A (ja) 1989-06-19 1989-06-19 電子交換機の試験方式

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JPH0322657A true JPH0322657A (ja) 1991-01-31

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