JPH03219452A - 光磁気記録媒体 - Google Patents

光磁気記録媒体

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JPH03219452A
JPH03219452A JP30453390A JP30453390A JPH03219452A JP H03219452 A JPH03219452 A JP H03219452A JP 30453390 A JP30453390 A JP 30453390A JP 30453390 A JP30453390 A JP 30453390A JP H03219452 A JPH03219452 A JP H03219452A
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magneto
thermal conductivity
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Kenichi Uchino
内野 健一
Toshifumi Kawano
敏史 川野
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Mitsubishi Kasei Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野] 本発明は光学的記録が可能な光磁気記録媒体に関する。
詳しくは高感度で高C/N比を持つ光磁気記録媒体に関
する。
〔従来の技術及びその課題] 光磁気記録媒体は高密度、低コストの書き換え可能な情
報記録媒体として実用化が進められている。
特に希土類と遷移金属のアモルファス合金の記録層を用
いた媒体は非常に優れた特性を示している。
光磁気記録媒体の残された大きな欠点としては重ね書き
(オーバーライド)ができないことである。すなわぢ、
従来の光磁気記録媒体は記録する前に消去のプロセスを
必要とする為、1回の記録に2回転を要し、データの転
送速度を低下させていた。
近年、光磁気記録媒体においてこの重ね書きを行う方法
がいくつか提唱されている。
1つの有望な方法として多層膜を用いた光変調オーバー
ライド法がある。この方式は第34回応用物理学関係連
合講演会予稿集28 P−ZL−3P721  (19
87)で論じられているもので、低キユリー温度と高保
磁力を持った垂直磁化層(記録層)と相対的に高キュリ
ー温度と低保磁力を持った垂直磁化層(補助層)から成
る。オーバーライドの手段は初めに補助層の磁化の向き
をそろえるのに十分でかつ記録層には影響を与えない大
きさの磁界(初期化磁界)を印加した後バイアス磁界を
印加しながら高パワー(Pl+)および低パワー(pt
 )の2値に変調された光ビームを照射する。
P工照射のときは補助層の反転はなく記録層は補助層と
の交換結合によって安定化する方向に向き、PH照射の
場合は補助層が、バイアス磁界によって反転を起こし、
それに従って記録層もPLの場合と逆方向を向くことに
より、オーバーライドが可能となる。
この方式での問題点の1つは、PLとP、のパワーの差
(間隔)を十分にとって媒体を設計しなければならない
点にある。この差が十分でないとPLで記録を行ってい
るときにビームスポット中心の高温部分で高パワー的な
記録が行われてしまうことがある。これはビームスポッ
ト内での温度分布が原因であり、特にバイアス磁界を強
くした場合に問題となってくる。
その上、P、からの熱拡散によってPt1l域中に熱勾
配が起るという問題も生じ、この為、PLのパワーマー
ジンが小さ(なってしまう。ここで言うパワーマージン
は、記録信号で用いる全周波数領域において充分なC/
N比と消去比を得られるパワー範囲を示す。
PLとP□の間隔を十分にとらなければならないという
ことはPl+を低下さセられないことを意味する。すな
わち高パワーのレーザーが必要となることを意味する。
一方ディスクを高速で回転させる為にはレーザーパワー
の制限からこのPHを低(する必要があり、T、2の低
い補助層を用いるのが望ましいのであるが上記の問題か
らそれは不可能であった。
〔課題を解決するための手段〕
本発明者等は上記の問題に関して検討した結果、媒体に
ヒートシンク層を設けることで低いPl+による記録を
行えることを見出した。
本発明の要旨は基板上にキュリー温度Tc+、室温での
保磁力Hc1を持った光磁気記録層および、キュリー温
度Tc2、室温での保磁力HC2を持った記録補助層が
この順に形成され、前記Tct、 Te3、Hc1およ
びHc2が T c+ < T C2 Hc+>Hcz を満足する重ね書き可能な光磁気記録媒体において、記
録補助層の基板に面する側でない側に記録補助層よりも
熱伝導度の大きい物質からなるヒートシンク層を設けた
ことを特徴とする光磁気記録媒体に存する。
〔発明の構成〕
本発明に用いられる基板としては、ガラスや、アクリル
樹脂、ポリカーボネート樹脂等のプラスチック等の透明
基板が挙げられる。
基板の厚みは1.2mm程度が一般的である。
本発明では基板上に光磁気記録層及び記録補助層を設け
る。
記録層としてはキュリー温度TcIが低く保磁力(VS
Mにより測定した値)Hc+が大きいもの、特に希土類
と遷移金属のアモルファス合金が好ましく用いられる。
例えば、TbFe、TbFeC01DyFe、DyFe
Co、TbDyFeC。
等が挙げられる。TcIとしては120°C以上200
°C以下が好ましくまた1(c+とじては10kOe以
上が好ましい。膜厚は300〜1000人程度が好まし
い。熱伝導度は通常15〜20Wm−IK”である。
補助層は前記記録層と同様に希土類と遷移金属のアモル
ファス合金等からなる磁性層からなるが、キュリー温度
Tc2が高く、保磁力HC2が小さいものが用いられる
。例えば、TbFeCo、DyFeCoXDyCo、T
bDyFeCo、TbCo。
GdDyFe、、GdDyFeCo、CdTbFe。
GdTbFeCo等が挙げられる。To2としては18
0°C以上250°C以下が好ましいが当然T0より大
きい必要がある。またHO2としては小さい方が初期化
磁界(Hi、i )を低減させる為に好ましいが、記録
層との交換結合の為、補助層は実効的バイアス磁界(H
w)を受け、初期化した状態を安定に存在させる為には Hc2> Hw なる条件を満たず必要がある。HC2としては一般的に
1kOe以上3kOe以下程度が好ましい。
補助層の熱伝導度は通常、記録層の熱伝導度とほぼ同程
度である。
補助層の膜厚は500Å以上2500Å以下、好ましく
は600Å以上1500Å以下である。
補助層は記録層の厚さの1.0〜3.0倍、好ましくは
1.2〜2.5倍の厚さとされているのが良い。後述す
る中間層を設けた場合は、記録層の厚さの1゜0〜2倍
程度が良い。
記録層と補助層の間に磁壁エネルギーを調節する為の中
間層を設けても良い。中間層としてはGdFeCo、F
eCo等の磁性体や金属等の窒化物、金属等の酸化物等
の誘電体が用いられる。この中間層としては、記録層及
び補助層より垂直磁気異方性が小さいものであるのが好
ましく、厚さは30〜100人程度が良い。この中間層
は、記録層を形成後、該記録層の表面をN2や0□で処
理して形成することもできる。
本発明においては補助層の上にヒートシンク層を設ける
。このヒートシンク層の目的は記録ビームによる熱を拡
散させて、ビームスポット内の熱分布を小さくすること
にある。ヒートシンク層によって、PLによる記録時に
、光スポットの中心がpo状態になるという現象が改善
される為、TcIとT。2の差が小さい媒体を用いるこ
とができ、結果としてpHの低下をはかることができる
。又、ヒートシンク層を設けた場合、PHによる熱を拡
散することができる為、P tへの影響が小さくなり、
P tのパワーマージンを広くとれる。
ヒートシンク層としては、Au、Ag、Cu、A1等の
補助層より熱伝導度の高い金属又はそれらにTa、Ti
XMgX5t、Pt等を添加した合金等が好ましく用い
られる。これらのうち、AI又はAIを主体とする合金
が好ましい。ヒートシンク層の熱伝導度は、記録補助層
の熱伝導度の2倍以上であることが好ましく、更に好ま
しくは40〜300 Wm−’ K−’である。
ヒートシンク層の膜厚は100〜2000人、好ましく
は200〜1000人である。AIからなるヒートシン
ク層の場合、好ましくは100〜500人、更に好まし
くは200〜500人である。
ヒートシンク層は熱伝導度が高い程、また膜厚が厚いほ
どパワーマージンを大きくする効果があるが、同時に感
度も悪化する。従って、ヒートシンク層の熱伝導度をk
 (Wm−’に一’) 、膜厚をd(m)とすると、ヒ
ートシンク層の熱伝導度及び膜厚は 1、6 X1o−6< k x d < 1.2 Xl
0−5好ましくは、2.4 Xl0−6< k X d
 < 7.2 Xl0−’の関係を満たすのが好ましい
(kXdは単位時間にヒートシンク層を熱が伝わる量を
示す)。
基板と記録層との間に干渉層を設けても良い。
干渉層は入射光の反射率を落として感度やC/N比を向
上させる為のものである。干渉層としては屈折率の高い
透明誘電体、例えば、Si3N、、AI N、、Taz
 o9、T i○z、ZnS等が用いられる。
ヒートシンク層の上に保護層を設けても良い。
保護層としては、313N4 、AI NXTa205
、A1203 、’rio□等の安定な誘電体が好まし
く用いられる。
基板上に各層を形成する方法には、スパッタリング等の
物理蒸着法(PVD)、プラズマCVDのような化学蒸
着法(CVD)等が適用される。
PVD法にて光磁気記録層、補助層、ヒートシンク層及
び保護層を成膜形成するには、所定の組成をもったター
ゲットを用いて電子ビーム蒸着またはスパッタリングに
より基板上に各層を堆積するのが通常の方法である。ま
た、イオンブレーティングを用いる方法も考えられる。
膜の堆積速度は早すぎると膜応力を増加させ、遅すぎれ
ば生産性に影響するので通常0.1〜100久/ s 
e c程度とされる。
〔実施例〕
以下、実施例をもって本発明をさらに詳細に説0 明するが、本発明はその要旨を越えない限り以下の実施
例に限定されるものではない。
実施例1 130mmφのポリカーボネート基板を2つの成膜チャ
ンバーを持つスパッタリング装置に導入し、先ず3X1
0−’Torr以下まで排気し、Arと02の混合ガス
を用いてTaターゲットの反応性スパッタを行い’pa
20sからなる800人の干渉層を形成した。
基板を2X10”’To r r以下の真空度である別
のチャンバーに移動した後、Arを100 secm。
4mTorrの圧力に導入し、TbとFe95CO5(
原子%、以下同じ)のターゲットを同時にスパッタリン
グを行い、T bI9(F e、sc Os ) e+
 (キュリー温度:175°C1室温での保磁カニ15
koeより大、熱伝導度: 18Wm−’に一’)の組
成を持つ記録層500人を形成した。引続きDyトF 
C7゜C03゜のターゲットを同時にスパッタリングを
行い、Dy30 (F C7oco3o) 70 (キ
ュリー温度=230°C1室温での保磁カニ 2.2 
k Oe、熱伝導度: 16Wm−’に一’)の組成を
持つ補助層を1500人形成した。
基板を初めのチャンバーに移動した後、A1ターゲット
を用いて500Aのヒートシンク層(熱伝導度: 24
0 Wm−’に一’)を設けた。コノティスフの特性を
調べその結果を第1表に示す。測定条件はHtn+−6
kOeXHb =3000e。
PL、、PMは7.4MHz、3600rpm、Tw(
記録パルス幅)−60nS、測定位置(ディスクの中心
からの距離)R=30mmで行ない、CZN比が最大に
なるときの各パワー(Pl、、PM)を求めた。
実施例2 補助層までは実施例1と同様に形成した後、補助層の上
に誘電体層として300人のTa205を干渉層と同様
にして形成し、続いて、500人のA1のヒートシンク
層(熱伝導度:240WmK −1)を設けた。Ta2
05はヒートシンク層への熱伝導速度を調節する役をな
す。ディスクの特性を第1表に示す。
1 2 比較例1 補助層までを実施例1と同様に形成した後、ヒートシン
ク層は設けず、酸化防止の為に熱伝導度が補助層よりも
小さいTazOsを800人保護層として形成した。デ
ィスクの特性を第1表に示す。
比較例2 補助層として1500人のTb3z(Fe7eC030
) 68 (キュリー温度:275°C1室温での保磁
カニ 2.0 k Oe、熱伝導度: 18Wm−’に
一’)を用いた他は実施例1と同様にディスクを形成し
た。ディスクの特性を第1表に示す。
3 4 第1表に示すようにこの補助層を用いた場合、3600
rpmでも比較例2を除く全てのディスクが、R=30
mmでは10mW以下のP、で記録可能であったが、比
較例1ではP、のスポットの中央部が高温になりすぎC
/N比が低い。また比較例2では、PMに11mW以上
のパワーが必要であった。
これに対して、実施例1及び2では低いPi+で実用十
分なC/N比が得られている。
比較例3.実施例3〜6 補助層までは実施例1と同様に作成した後、保護層のT
ag O,を300人形成した。(比較例3)。
この状態で測定を行なった後、再びスパッタリング装置
に導入しAlを100人成膜した。(実施例3) この状態で測定を行ない、以下同様にAIが30OA、
500人、1000人の膜厚について各々成膜と測定を
行なった。(実施例4〜6)結果を表2に示す。比較例
3ではCIN>45dBは得られているが、1.4 M
 Hzと3.7 M HzでCINが高いPLにずれが
ある為、画周波数でCIN>45dB、八〇IN<20
dBを満たすP、は存在しなかった。これに対し、実施
例3〜5では条件を満足するPLの範囲が存在する。特
にAIの膜厚が厚い状態では大きなマージンが得られる
実施例6では3.8〜6.6mWが得られる。
5 6 実施例7 Ta、、0.、の保護層の形成までは実施例3と同様に
作成した後、厚さ1000人のA1.、Ta3合金から
なるヒートシンク層を保護層の上に形成し光磁気ディス
クを得た。ヒートシンク層の熱伝導度は55Wm−’に
一’であった。このディスクを実施例3と同一の条件で
測定したところ、1.4MHz及び3.7MHzの画記
録周波数において、45dB以上のC/N比及び20d
B以下のへCZN比の両条件を満たすP、及びPt、は
、それぞれ9mW及び3.4〜4.2mWであった。
(発明の効果〕 本発明によれば、高感度で、高C/N比を持つ重ね書き
可能な光磁気記録媒体を得ることができる。
似 東 ■ −

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)基板上に設けられたキュリー温度T_c_1、室
    温での保磁力H_c_1を持った光磁気記録層および、
    キュリー温度T_c_2、室温での保磁力H_c_2を
    持った記録補助層がこの順に形成され、前記T_c_1
    、T_c_2、H_c_1、H_c_2が T_c_1<T_c_2、H_c_1>H_c_2を満
    足する重ね書き可能な光磁気記録媒体において、記録補
    助層の基板に面する側ではない側に記録補助層よりも熱
    伝導度の大きい物質からなるヒートシンク層を設けたこ
    とを特徴とする光磁気記録媒体。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03119540A (ja) * 1989-09-29 1991-05-21 Kuraray Co Ltd 光磁気記録媒体

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH03119540A (ja) * 1989-09-29 1991-05-21 Kuraray Co Ltd 光磁気記録媒体

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