JPH03218056A - 半導体装置 - Google Patents
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- H01L2924/13091—Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor [MOSFET]
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- H01L2924/19—Details of hybrid assemblies other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/191—Disposition
- H01L2924/19101—Disposition of discrete passive components
- H01L2924/19107—Disposition of discrete passive components off-chip wires
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
(産業上の利用分野)
本発明は半導体装置に関するもので、特に電力用半導体
とそれを駆動するICとの複合半導体装置に係る。
とそれを駆動するICとの複合半導体装置に係る。
(従来の技術)
バイポーラトランジスタ・パワーMOSFETを初めと
した電力用半導体製品は、高耐圧化・大電力化・高速化
・低損失化が進行中である。そしてこれらの製品は、電
力用半導体とそれを駆動するICとを1つの外囲器内に
収納することにより電力用半導体の高機能化・高付加価
値化が高まっている。電力用半導体は発熱の処理上、高
熱伝導材料に搭載されなくてはならない。第2図及び第
3図は従来技術における半導体装置の断面図であり、第
2図は銅板上に電力用半導体を搭載したもの、第3図は
A1203配線基板を使用したものである。
した電力用半導体製品は、高耐圧化・大電力化・高速化
・低損失化が進行中である。そしてこれらの製品は、電
力用半導体とそれを駆動するICとを1つの外囲器内に
収納することにより電力用半導体の高機能化・高付加価
値化が高まっている。電力用半導体は発熱の処理上、高
熱伝導材料に搭載されなくてはならない。第2図及び第
3図は従来技術における半導体装置の断面図であり、第
2図は銅板上に電力用半導体を搭載したもの、第3図は
A1203配線基板を使用したものである。
すなわち、前者の構造は、銅基板21上に電力用半導体
22と絶縁基板23を載置し、この絶縁基板23上には
配線用金属24、及び配線用金属25を介してICチッ
プ26が載置されている。
22と絶縁基板23を載置し、この絶縁基板23上には
配線用金属24、及び配線用金属25を介してICチッ
プ26が載置されている。
そしてICチップ26と配線用金属24と電力用半導体
22は金ワイヤー27で電気的に接続されたものである
。
22は金ワイヤー27で電気的に接続されたものである
。
また、後者の構造は、A I 2 0 3基板上31に
配線用金属34、配線用金属33を介して電力用半導体
32、及び配線用金属35を介してICチップ36が載
置されている。そしてICチップ36と配線用金属34
と電力用半導体32は金ワイヤー37で電気的に接続さ
れたものである。
配線用金属34、配線用金属33を介して電力用半導体
32、及び配線用金属35を介してICチップ36が載
置されている。そしてICチップ36と配線用金属34
と電力用半導体32は金ワイヤー37で電気的に接続さ
れたものである。
このように電力用半導体とそれを駆動するICチップの
接続はワイヤーボンディング方式が従来、用いられてい
た。しかし、この方式による場合、トランスファーモー
ルドにおいて、樹脂などを用いて封止する際、注入され
る樹脂に押され、ボンディングワイヤーが倒れ、基板配
線と接触しショートを起こしてしまうという問題点があ
った。
接続はワイヤーボンディング方式が従来、用いられてい
た。しかし、この方式による場合、トランスファーモー
ルドにおいて、樹脂などを用いて封止する際、注入され
る樹脂に押され、ボンディングワイヤーが倒れ、基板配
線と接触しショートを起こしてしまうという問題点があ
った。
このようなワイヤー倒れを防止する手段としては、使用
する金ワイヤーの径を太くする方法、又はワイヤー長を
短くする方法等がある。しかしながら前者は、ボンディ
ングバット面積を必要以上に大きくしチップサイズの増
大を招く。また後者においては、必然的に、電力半導体
側のバットをチップ端に設ける必要がある。しかし、電
力半導体は大電流を取り扱う関係上、このような設置は
電流のアンバランスを生じ、局部的に大電流が流れるた
め加熱し、装置の破損を招くおそれがあった。
する金ワイヤーの径を太くする方法、又はワイヤー長を
短くする方法等がある。しかしながら前者は、ボンディ
ングバット面積を必要以上に大きくしチップサイズの増
大を招く。また後者においては、必然的に、電力半導体
側のバットをチップ端に設ける必要がある。しかし、電
力半導体は大電流を取り扱う関係上、このような設置は
電流のアンバランスを生じ、局部的に大電流が流れるた
め加熱し、装置の破損を招くおそれがあった。
(発明が解決しようとする課題)
このように従来技術においては、ボンディングワイヤー
が倒れ、基板配線と接触しショートを起こしてしまうと
いう問題があった。本発明は電力用半導体とICの複合
半導体製品において、がかる問題を生じさせることなく
電気的接続を可能にするものである。
が倒れ、基板配線と接触しショートを起こしてしまうと
いう問題があった。本発明は電力用半導体とICの複合
半導体製品において、がかる問題を生じさせることなく
電気的接続を可能にするものである。
[発明の構成]
(課題を解決するための手段)
上記課題を解決するために、本発明においては、基板と
、この基板上にある第一の半導体装置と、この第一の半
導体装置上にあり、穿孔を有する絶縁基板と、この絶縁
基板上にある第二の半導体装置と、一端が第一の半導体
装置に、他端が第二の半導体装置とに電気的に接続され
、かつ絶縁基板の穿孔に貫設された導電性の中継端子と
を有する半導体装置子を提供する。
、この基板上にある第一の半導体装置と、この第一の半
導体装置上にあり、穿孔を有する絶縁基板と、この絶縁
基板上にある第二の半導体装置と、一端が第一の半導体
装置に、他端が第二の半導体装置とに電気的に接続され
、かつ絶縁基板の穿孔に貫設された導電性の中継端子と
を有する半導体装置子を提供する。
(作用)
このように構成されたものにおいては、基板上にある第
一の半導体装置と、絶縁基板上にある第二の半導体装置
とが、絶縁基板中に貫設させた導電性の中継端子を介し
て電気的に接続された構成となっている。従って、ボン
ディングワイヤーを用いることなく、第一の半導体装置
と第二の半導体装置とを電気的に接続することが可能と
なる。
一の半導体装置と、絶縁基板上にある第二の半導体装置
とが、絶縁基板中に貫設させた導電性の中継端子を介し
て電気的に接続された構成となっている。従って、ボン
ディングワイヤーを用いることなく、第一の半導体装置
と第二の半導体装置とを電気的に接続することが可能と
なる。
(実施例)
本発明の実施例を以下に説明する。第1図は、本実施例
における半導体装置の断面図である。
における半導体装置の断面図である。
同図に示すように、穿孔を有するガラスエポキシ系の絶
縁基板3に半田6bによりICチップ1がマウントされ
、配線用金属たる銅配線7は、金ボンディングワイヤー
5により接続されている。
縁基板3に半田6bによりICチップ1がマウントされ
、配線用金属たる銅配線7は、金ボンディングワイヤー
5により接続されている。
また、中継端子8は、前記銅配線7と電気的に接続され
ており、かつ前記絶縁基板3の穿孔に貫設され、絶縁基
板3の裏面に取り出されている(A部)。一方、電力用
半導体2は、半田6aにより銅基板4にマウントされ、
ベース、電極としてべース半田バンブ9が、エミッタ電
極としてエミッタ半田バンプ10が電力用半導体2上に
形成されている(B部)(第1図(a))。そして、絶
縁基板3の裏面に取り出された中継端子8が、べ−ス半
田バンプ9及びエミッタ半田バンプ10上にくるように
絶縁基板3の位置をあわせ、電力用半導体2上に載置し
、加熱することにより、ベース半田バンブ9及びエミッ
タ半田バンプ10を溶接せしめ電力用半導体2とICチ
ップ1の接続を行う(第1図(b))。
ており、かつ前記絶縁基板3の穿孔に貫設され、絶縁基
板3の裏面に取り出されている(A部)。一方、電力用
半導体2は、半田6aにより銅基板4にマウントされ、
ベース、電極としてべース半田バンブ9が、エミッタ電
極としてエミッタ半田バンプ10が電力用半導体2上に
形成されている(B部)(第1図(a))。そして、絶
縁基板3の裏面に取り出された中継端子8が、べ−ス半
田バンプ9及びエミッタ半田バンプ10上にくるように
絶縁基板3の位置をあわせ、電力用半導体2上に載置し
、加熱することにより、ベース半田バンブ9及びエミッ
タ半田バンプ10を溶接せしめ電力用半導体2とICチ
ップ1の接続を行う(第1図(b))。
このようにして構成された半導体装置においては、絶縁
基板3中に貫設された中継端子8は一端が銅配線7と電
気的に接続され、他端は、同基板3の裏面に露出してい
る。そしてその露出部分は、電力用半導体2上に形成さ
れたベーズ半田バンブ9及びエミッタ半田バンブ10と
電気的に接続されているため金ボンディングワイヤーを
用いることな<ICチップ1と電力用半導体2の電気的
な接続が可能となる。
基板3中に貫設された中継端子8は一端が銅配線7と電
気的に接続され、他端は、同基板3の裏面に露出してい
る。そしてその露出部分は、電力用半導体2上に形成さ
れたベーズ半田バンブ9及びエミッタ半田バンブ10と
電気的に接続されているため金ボンディングワイヤーを
用いることな<ICチップ1と電力用半導体2の電気的
な接続が可能となる。
このように、電力用半導体とICチップの電気的接続を
絶縁基板に貫設された中継端子を介して行うため、長い
金ボンディングワイヤーの引き回しが要らないためモー
ルド樹脂によるワイヤー倒れを有効に防止できる。また
、電力用半導体上にICチップを載置するためデバイス
自身の寸法を縮小でき、コストダウンにも役立つ。さら
に、電力用半導体とICチップとを複合化する場合に電
力用半導体のパッド位置を変更する必要性もなくなるた
め、電流のアンバランスを生じされることなく電力用半
導体の個々の特性をそのまま維持することができる。
絶縁基板に貫設された中継端子を介して行うため、長い
金ボンディングワイヤーの引き回しが要らないためモー
ルド樹脂によるワイヤー倒れを有効に防止できる。また
、電力用半導体上にICチップを載置するためデバイス
自身の寸法を縮小でき、コストダウンにも役立つ。さら
に、電力用半導体とICチップとを複合化する場合に電
力用半導体のパッド位置を変更する必要性もなくなるた
め、電流のアンバランスを生じされることなく電力用半
導体の個々の特性をそのまま維持することができる。
なお、ICチップ絶縁基板は、両面プリント基板、Af
f20i基板、フレキシブル配線基板等でも良い。また
、電力用半導体を搭載する基板は、Ag20g基板を用
いても良い。
f20i基板、フレキシブル配線基板等でも良い。また
、電力用半導体を搭載する基板は、Ag20g基板を用
いても良い。
[発明の効果コ
上述のごとく本発明によれば、モールド樹脂によるワイ
ヤー倒れの問題を解決することができる。
ヤー倒れの問題を解決することができる。
また、電力用半導体とICチップの組み合わせに対する
自由度が増すため多種機能の半導体装置が?現可能とな
る。さらに、半導体装置自身も縮小化することができる
。
自由度が増すため多種機能の半導体装置が?現可能とな
る。さらに、半導体装置自身も縮小化することができる
。
第1図は、本発明の実施例における半導体装置の断面図
、第2図は、銅板を用いた従来の半導体装置の断面図、
第3図はA1■03を用いた従来の半導体装置の断面図
である。 ■・・・・・・ICチップ、2・・・・・・電力用半導
体、3・・・・・・絶縁基板、4・・・・・・銅基板、
5・・・・・・金ボンディングワイヤー、6a.6b・
・・・・・半田、7・・・・・・銅配線、8・・・・・
・中継端子、9・・・・・・ベース半田バンブ、10・
・・・・・エミッタ半田バンプ。
、第2図は、銅板を用いた従来の半導体装置の断面図、
第3図はA1■03を用いた従来の半導体装置の断面図
である。 ■・・・・・・ICチップ、2・・・・・・電力用半導
体、3・・・・・・絶縁基板、4・・・・・・銅基板、
5・・・・・・金ボンディングワイヤー、6a.6b・
・・・・・半田、7・・・・・・銅配線、8・・・・・
・中継端子、9・・・・・・ベース半田バンブ、10・
・・・・・エミッタ半田バンプ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 基板と、 この基板上にある第一の半導体装置と、 この第一の半導体装置上にあり、穿孔を有する絶縁基板
と、 この絶縁基板上にある第二の半導体装置と、一端が前記
第一の半導体装置に、他端が前記第二の半導体装置とに
電気的に接続され、かつ前記絶縁基板の穿孔に貫設され
た導電性の中継端子とを有することを特徴とする半導体
装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012467A JPH03218056A (ja) | 1990-01-24 | 1990-01-24 | 半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012467A JPH03218056A (ja) | 1990-01-24 | 1990-01-24 | 半導体装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03218056A true JPH03218056A (ja) | 1991-09-25 |
Family
ID=11806168
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012467A Pending JPH03218056A (ja) | 1990-01-24 | 1990-01-24 | 半導体装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03218056A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0654818A1 (en) * | 1993-11-19 | 1995-05-24 | Citizen Watch Co., Ltd. | Semiconductor device with solder bump and process for manufacturing the same |
-
1990
- 1990-01-24 JP JP2012467A patent/JPH03218056A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0654818A1 (en) * | 1993-11-19 | 1995-05-24 | Citizen Watch Co., Ltd. | Semiconductor device with solder bump and process for manufacturing the same |
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