JPH03204225A - アナログ・スイッチ - Google Patents
アナログ・スイッチInfo
- Publication number
- JPH03204225A JPH03204225A JP2000251A JP25190A JPH03204225A JP H03204225 A JPH03204225 A JP H03204225A JP 2000251 A JP2000251 A JP 2000251A JP 25190 A JP25190 A JP 25190A JP H03204225 A JPH03204225 A JP H03204225A
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- Japan
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- gate electrode
- side gate
- fet
- electrode
- signal
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- Pending
Links
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 2
- 238000002955 isolation Methods 0.000 abstract description 4
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract 1
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 9
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 5
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- KRKNYBCHXYNGOX-UHFFFAOYSA-K Citrate Chemical compound [O-]C(=O)CC(O)(CC([O-])=O)C([O-])=O KRKNYBCHXYNGOX-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 1
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Landscapes
- Junction Field-Effect Transistors (AREA)
- Electronic Switches (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、電子交換機のクロスバ−スイッチやビデオ
スイッチなどの電子スイッチとして用いられるアナログ
・スイッチに関するものである。
スイッチなどの電子スイッチとして用いられるアナログ
・スイッチに関するものである。
この種のスイッチとして、従来よりFET (電界効果
トランジスタ)を用いたものがある。第3図にその基本
構成を示す。
トランジスタ)を用いたものがある。第3図にその基本
構成を示す。
同図において、FETは信号路に直列に挿入され、その
ゲートに印加されるドライブ電圧Voにより、ソース・
ドレイン間電流が導通もしくはしゃ断状態となる。導通
時において付加への出力電圧V はチャネル抵抗をr。
ゲートに印加されるドライブ電圧Voにより、ソース・
ドレイン間電流が導通もしくはしゃ断状態となる。導通
時において付加への出力電圧V はチャネル抵抗をr。
5(ON)、負荷抵抗をn
Ro、入力信号をE、とじて、
n
となる。一方、しゃ断時においては零となり、ドライブ
信号によってアナログ信号のオン・オフ制御が行なえる
こととなる。
信号によってアナログ信号のオン・オフ制御が行なえる
こととなる。
上述したようなアナログ・スイッチでは、FETのゲー
トに直接ドライブ信号を印加することから、入出力端と
のアイソレーションが問題となる。
トに直接ドライブ信号を印加することから、入出力端と
のアイソレーションが問題となる。
すなわち、入出力端のバイアス電圧のレベルとゲ−トに
印加するドライブ信号のレベルとの関係次第では、ゲー
トに電流が流れ込む危険がある。
印加するドライブ信号のレベルとの関係次第では、ゲー
トに電流が流れ込む危険がある。
この発明は、FETとして、ゲート電極近傍の同一半導
体基板上にオーミック電極からなるサイドゲート電極を
配置したFETを用い、ドライブ信号はサイドゲート電
極に印加するようにしたものである。
体基板上にオーミック電極からなるサイドゲート電極を
配置したFETを用い、ドライブ信号はサイドゲート電
極に印加するようにしたものである。
FETにおいて、ゲート電極近傍に配置したサイドゲー
ト電極に印加する電圧V によりしきい値電圧が第2図
に示すように変動する現象が知られている。このような
現象は、従来例えばFETをIC化する場合に高密度化
の妨げになるものとして、その抑制がひとつの技術的課
題となっているものであるが、ここではこのサイドゲー
ト効果を逆に積極的に利用する。すなわち、サイドゲー
ト電極に印加するドライブ電圧のオフレベルがvsl、
オンレベルが■s2であるものとすれば、しきい値電圧
はそれぞれの場合にvthl th2と、 V なる。したがってFETのゲートバイアス電圧Vbia
sを・ 〈 V vth2 bias<vthl となるように設定しておくことにより、ドライブ電圧に
応じてFETの導通・しゃ断状態が変化する。
ト電極に印加する電圧V によりしきい値電圧が第2図
に示すように変動する現象が知られている。このような
現象は、従来例えばFETをIC化する場合に高密度化
の妨げになるものとして、その抑制がひとつの技術的課
題となっているものであるが、ここではこのサイドゲー
ト効果を逆に積極的に利用する。すなわち、サイドゲー
ト電極に印加するドライブ電圧のオフレベルがvsl、
オンレベルが■s2であるものとすれば、しきい値電圧
はそれぞれの場合にvthl th2と、 V なる。したがってFETのゲートバイアス電圧Vbia
sを・ 〈 V vth2 bias<vthl となるように設定しておくことにより、ドライブ電圧に
応じてFETの導通・しゃ断状態が変化する。
以下、添付図面の第1図を参照してこの発明の一実施例
を説明する。
を説明する。
本実施例は、この発明をアナログ・ゲートに適用した例
で、同図(a)はその構成を示す回路図である。同図に
おいてFETIは、後述するようなサイドゲート電極5
0をもち、このサイドゲート電極50に対してドライブ
信号としてのサンプリング・パルス電圧■ が印加され
る。その振幅をvS1〜vs2とすると、FETIのし
きい値電圧は第2図に示したようにV とV との
間でthl th2 変化する。ここで、バイアス用電源2によりゲート・ソ
ース間のバイアス電圧V をv くbias
th2 vbias thlとなるように設定しておく。
で、同図(a)はその構成を示す回路図である。同図に
おいてFETIは、後述するようなサイドゲート電極5
0をもち、このサイドゲート電極50に対してドライブ
信号としてのサンプリング・パルス電圧■ が印加され
る。その振幅をvS1〜vs2とすると、FETIのし
きい値電圧は第2図に示したようにV とV との
間でthl th2 変化する。ここで、バイアス用電源2によりゲート・ソ
ース間のバイアス電圧V をv くbias
th2 vbias thlとなるように設定しておく。
これにより、サンプリング・パルス電圧がvsルベルの
ときにはV <V となる結果、FEbias
th T1はしゃ断状態となり、入力信号Elnにかかわらず
負荷(抵抗RL)3への出力は零となる。他方、サンプ
リング・パルス電圧が■82レベルのときはv >
v となる結果FETIは導通状態bias t
h となり、負荷3にサンプリング信号■lnが得られる。
ときにはV <V となる結果、FEbias
th T1はしゃ断状態となり、入力信号Elnにかかわらず
負荷(抵抗RL)3への出力は零となる。他方、サンプ
リング・パルス電圧が■82レベルのときはv >
v となる結果FETIは導通状態bias t
h となり、負荷3にサンプリング信号■lnが得られる。
したがってFETIはサンプリング・パルス電圧のレベ
ルに応じ、入力信号をある時はカットし、ある時は負荷
3に対して通過させるゲートとして作用する。
ルに応じ、入力信号をある時はカットし、ある時は負荷
3に対して通過させるゲートとして作用する。
第1図(b)に、FETIの構造を示す。同図は、各電
極および配線パターン等の平面的な配置のみを示したも
ので、層間絶縁膜などは省略しである。符号10はGa
Asからなる半絶縁性の基板を示し、その基板10の
上にゲート幅方向に長いゲート電極20、ソース電極・
配線層30、ドレイン電極・配線層40およびサイトレ
ート電極50が配置しである。
極および配線パターン等の平面的な配置のみを示したも
ので、層間絶縁膜などは省略しである。符号10はGa
Asからなる半絶縁性の基板を示し、その基板10の
上にゲート幅方向に長いゲート電極20、ソース電極・
配線層30、ドレイン電極・配線層40およびサイトレ
ート電極50が配置しである。
本実施例のFETは低雑音指向のマイクロ波FETであ
り、雑音指数を最小にするため、ゲート電極20は3個
の給電点(A、B、C)において引き出し配線21を通
してゲート入力用端子(バッド)22に接続しである。
り、雑音指数を最小にするため、ゲート電極20は3個
の給電点(A、B、C)において引き出し配線21を通
してゲート入力用端子(バッド)22に接続しである。
それに対応してサイドゲート電極も、上記各給電点部分
および両端部の計5箇所に分散して配置されている。各
サイドゲート電極50a〜50eは、基板10に形成し
たn+領領域オーミック接触する金属電極からなり、ゲ
ート電極20との交叉部においては、ゲート電極がサイ
ドゲート電極の上をまたぐようなエアブリッジ構造とす
ることによりゲート容量の低減を図っている。
および両端部の計5箇所に分散して配置されている。各
サイドゲート電極50a〜50eは、基板10に形成し
たn+領領域オーミック接触する金属電極からなり、ゲ
ート電極20との交叉部においては、ゲート電極がサイ
ドゲート電極の上をまたぐようなエアブリッジ構造とす
ることによりゲート容量の低減を図っている。
ゲート電極20は、図中鎖線で示した活性層11に対し
、ショットキー接合を形成している。
、ショットキー接合を形成している。
一方、ソースおよびドレイン電極はゲート電極20の両
側に形成されたn 領域にオーミック接触するように形
成されている。したがってこれらソースおよびドレイン
電極は下層配線層により形成され、コンタクトホールを
介して上層の端子31.41へと接続されている。なお
、サイドゲ−ト電極50の引き出し配線51と交叉する
部分のドレイン配線層、またドレイン配線層と交叉する
部分のソース配線層は、それぞれ上層配線層により形成
されている。
側に形成されたn 領域にオーミック接触するように形
成されている。したがってこれらソースおよびドレイン
電極は下層配線層により形成され、コンタクトホールを
介して上層の端子31.41へと接続されている。なお
、サイドゲ−ト電極50の引き出し配線51と交叉する
部分のドレイン配線層、またドレイン配線層と交叉する
部分のソース配線層は、それぞれ上層配線層により形成
されている。
ゲート、ドレインおよびサイドゲートの各端子(パッド
)は、例えばカスケードマイクロチック社のマイクロ波
つェハーブローバによってブロービングできるような寸
法に配置され、ネットワークアナライザ等を用いて容易
に回路設計に必要なモデリングが行なえるようにしてあ
り、最高26.5GHzまで可能となっている。
)は、例えばカスケードマイクロチック社のマイクロ波
つェハーブローバによってブロービングできるような寸
法に配置され、ネットワークアナライザ等を用いて容易
に回路設計に必要なモデリングが行なえるようにしてあ
り、最高26.5GHzまで可能となっている。
ドレインへの引き出し配線の幅Wは、その特性インピー
ダンスが50Ωとなる大きさ(厚さ100μmのGa
Asを基板10とした場合で約70μm)とし、測定系
との整合をとりやすくしている。
ダンスが50Ωとなる大きさ(厚さ100μmのGa
Asを基板10とした場合で約70μm)とし、測定系
との整合をとりやすくしている。
ここで、サイドゲート入力用端子52と各サイドゲート
電極50a〜50eおよびこ糺らを接続する引き出し配
線51は、各サイドゲート電極50a〜50eからサイ
ドゲート入力用端子52までの電気長相互の差が、サイ
ドゲート入力信号として使用する周波数における波長の
4分の1に対して十分無視できる大きさとなるように形
成しである。本実施例では、サイドゲート電極50はゲ
ート電極20をゲート幅方向中央で2分する中心線に関
して対称形に配置され、サイドゲート電極50aと50
e、50bと50dについては、それぞれサイドゲート
入力用端子52までの電気長は全く等しくなっている。
電極50a〜50eおよびこ糺らを接続する引き出し配
線51は、各サイドゲート電極50a〜50eからサイ
ドゲート入力用端子52までの電気長相互の差が、サイ
ドゲート入力信号として使用する周波数における波長の
4分の1に対して十分無視できる大きさとなるように形
成しである。本実施例では、サイドゲート電極50はゲ
ート電極20をゲート幅方向中央で2分する中心線に関
して対称形に配置され、サイドゲート電極50aと50
e、50bと50dについては、それぞれサイドゲート
入力用端子52までの電気長は全く等しくなっている。
この電気長は両端のサイドゲート電極50a、50eの
場合が最も大きく、中央のサイドゲート電極50cの場
合が最も小さいが、これらの差が本実施例では10GH
zの信号の4分の1波長の10分の1(200μm程度
)以下となるようにしである。
場合が最も大きく、中央のサイドゲート電極50cの場
合が最も小さいが、これらの差が本実施例では10GH
zの信号の4分の1波長の10分の1(200μm程度
)以下となるようにしである。
これにより、サイドゲート入力用端子52に印加したマ
イクロ波信号が各サイドゲート電極50a〜50eに到
達したときの位相差を無視できる。したがってこのFE
Tにおいては、サイドゲート電極50に対し、局部発振
信号としてマイクロ波を印加することも可能である。
イクロ波信号が各サイドゲート電極50a〜50eに到
達したときの位相差を無視できる。したがってこのFE
Tにおいては、サイドゲート電極50に対し、局部発振
信号としてマイクロ波を印加することも可能である。
以上説明したようにこの発明は、サイドゲート電極を有
するFETを利用することにより、信号のアイソレーシ
ョンに不安のないアナログ串スイッチを構成できる効果
を有する。
するFETを利用することにより、信号のアイソレーシ
ョンに不安のないアナログ串スイッチを構成できる効果
を有する。
第1図(a)はこの発明の一実施例を示すアナログ・ゲ
ートの回路図、同図(b)はそれに用いたFETを示す
平面図、第2図はサイドゲート効果を示す図、第3図は
従来例を示す図である。 1・・・FET、10・・・基板、20・・・ゲート電
極、50・・・サイドゲート電極。 (0) 策施頁(絶艷 第 l 図C1)
ートの回路図、同図(b)はそれに用いたFETを示す
平面図、第2図はサイドゲート効果を示す図、第3図は
従来例を示す図である。 1・・・FET、10・・・基板、20・・・ゲート電
極、50・・・サイドゲート電極。 (0) 策施頁(絶艷 第 l 図C1)
Claims (1)
- ドライブ信号でFETを駆動しそのソース・ドレイン間
電流を導通・しゃ断させることによりアナログ信号をオ
ン・オフ制御するアナログ・スイッチにおいて、FET
として、そのゲート電極近傍の同一半導体基板上にオー
ミック電極からなるサイドゲート電極を配置したFET
を用い、サイドゲート電極にドライブ信号を印加してな
るアナログ・スイッチ。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000251A JPH03204225A (ja) | 1990-01-05 | 1990-01-05 | アナログ・スイッチ |
US07/631,909 US5070376A (en) | 1990-01-05 | 1990-12-21 | Semiconductor device |
EP19910100004 EP0437194A3 (en) | 1990-01-05 | 1991-01-02 | Schottky barrier field effect transistor |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000251A JPH03204225A (ja) | 1990-01-05 | 1990-01-05 | アナログ・スイッチ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03204225A true JPH03204225A (ja) | 1991-09-05 |
Family
ID=11468723
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000251A Pending JPH03204225A (ja) | 1990-01-05 | 1990-01-05 | アナログ・スイッチ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03204225A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7804151B2 (en) | 2008-08-07 | 2010-09-28 | International Business Machines Corporation | Integrated circuit structure, design structure, and method having improved isolation and harmonics |
US7927963B2 (en) | 2008-08-07 | 2011-04-19 | International Business Machines Corporation | Integrated circuit structure, design structure, and method having improved isolation and harmonics |
-
1990
- 1990-01-05 JP JP2000251A patent/JPH03204225A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7804151B2 (en) | 2008-08-07 | 2010-09-28 | International Business Machines Corporation | Integrated circuit structure, design structure, and method having improved isolation and harmonics |
US7927963B2 (en) | 2008-08-07 | 2011-04-19 | International Business Machines Corporation | Integrated circuit structure, design structure, and method having improved isolation and harmonics |
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