JPH03200038A - 力の作用体を有するセンサの試験方法およびこの方法を実施しうるセンサ - Google Patents
力の作用体を有するセンサの試験方法およびこの方法を実施しうるセンサInfo
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Abstract
め要約のデータは記録されません。
Description
この方法を実施しうるセンサに関し、特に加速度センサ
、磁気センサ、あるいは力センサについて、実際に加速
度、磁力、あるいは力を作用させることなしに行うこと
のできる製品試験に関する。
エゾ抵抗効果の性質を備えた抵抗素子を、半導体基板上
に配列し、この抵抗素子の抵抗値の変化から力を検出す
る力センサが提案されている。
気センサも提案されている。いずれの装置においても、
部分的に可撓性をもった起歪体が用いられ、この起歪体
に生じる機械的変形を抵抗素子の電気抵抗の変化として
検出している。起歪体に力を作用させるために作用体が
設けられる。この作用体として、加速度に反応する重錘
体を用いれば加速度センサとなり、磁気に反応する磁性
体を用いれば磁気センサとなる。たとえば、特許協力条
約に基づく国際出願の国際公開第WO38108522
号公報には、本願発明者と同一人の発明による抵抗素子
を用いた力・加速度・磁気のセンサが開示されている。
135539号明細書に開示されている。
場に出すためには、製造工程の最後に試験を行う必要が
ある。力センサについての試験は比較的容易に行うこと
ができる。すなわち、力検田子に所定の大きさの力を所
定の方向に作用させ、このときの検出出力をチエツクす
ればよい。ところが、加速度センサや磁気センサについ
ての試験はより複雑になる。センサ本体は密封された状
態となっているため、実際に外部から加速度あるいは磁
気を作用させながら、検出出力をチエツクする必要があ
る。特に、加速度センサでは、振動発生装置を用いてセ
ンサ本体に振動を与えて試験を行っているのが現状であ
り、試験装置が大掛かりになる上、振動という動的な加
速度についての試験しか行うことができないという問題
もある。
の作用体を有するセンサについて、より簡単に試験を行
うことができる試験方法を提供するとともに、この試験
方法を直ちに実施しうる機能をもったセンサを提供する
ことを目的とする。
部、およびこれらの間に形成され可撓性をもった可撓部
、を有する起歪体と、 作用した力を作用部に伝達させるための作用体と、 伝達された力によって起歪体に生じる機械的変形を、電
気信号に変換することにより、作用体に作用した力を電
気信号として検出する検出手段と、を備えるセンサを試
験する方法において、互いに対向した位置にあり、力の
作用により両者間に変位を生じる第1の部位および第2
の部位を定め、両者間にクーロン力を作用させ、この作
用させたクーロン力と検出手段による検出結果とに基づ
いて、センサの試験を行うようにしたものである。
おいて、 第1の部位に第1の電極層を形成し、第2の部位に第2
の電極層を形成し、第1の電極層および第2の電極層に
、それぞれ同じ極性の電圧を印加することにより両者間
に斥力を作用させながら行う試験と、それぞれ異なる極
性の電圧を印加することにより両者間に引力を作用させ
ながら行う試験と、を行うようにしたものである。
部、およびこれらの間に形成され可撓性を持った可撓部
、を有する起歪体と、 作用した力を作用部に伝達させるための作用体と、 伝達された力によって起歪体に生じる機械的変形を、電
気信号に変換することにより、作用体に作用した力を電
気信号として検出する検出手段と、を備えるセンサを試
験する方法において、互いに対向した位置にあり、力の
作用により両者間に変位を生じる第1の面および第2の
面を定め、第1の面上に電気的に単一の電極層を形成し
、第2の面上の複数箇所にそれぞれ電気的に独立した複
数の電極層を形成し、 第1の面上の電極層には第1の極性の電圧を印加し、第
2の面上の各電極層には第1の極性の電圧またはこれと
は逆の第2の極性の電圧を各電極層ごとに選択的に印加
し、第1の面上の電極層と第2の面上の電極層との間に
斥力または引力からなるクーロン力を作用させ、この作
用させたクーロン力と検出手段による検出結果とに基づ
いて、センサの試験を行うようにしたものである。
部、およびこれらの間に形成され可撓性をもった可撓部
、を有する起歪体と、 センサ本体に加わる加速度によって力の作用を受け、こ
の作用した力を作用部に伝達して起歪体に機械的変形を
生じさせるための重錘体と、起歪体に生じる機械的変形
によって抵抗値が変化する性質をもった抵抗素子と、 加速度の作用により変位を生じる第1の面に形成された
第1の電極層と、 第1の面に対向した第2の面に形成された第2の電極層
と、 抵抗素子、第1の電極層、および第2の電極層を、外部
の電気回路と接続させるための配線手段と、 を設け、第1の電極層および第2の電極層に所定の電圧
を印加して両電極層間にクーロン力を作用させることに
より、加速度が作用していない状態であっても起歪体に
機械的変形を生じさせることができるように構成したも
のである。
の作用を受ける作用部、センサ本体に固定される固定部
、およびこれらの間に形成され可撓性をもった可撓部、
を有する起歪体と、 センサ本体が置かれた磁界によって力の作用を受け、こ
の作用した力を作用部に伝達して起歪体に機械的変形を
生じさせるための磁性体と、起歪体に生じる機械的変形
によって抵抗値が変化する性質をもった抵抗素子と、 磁力の作用により変位を生じる第1の面に形成された第
1の電極層と、 第1の面に対向した第2の面に形成された第2の電極層
と、 抵抗素子、第1の電極層、および第2の電極層を、外部
の電気回路と接続させるための配線手段と、 を設け、第1の電極層および第2の電極層に所定の電圧
を印加して両電極層間にクーロン力を作用させることに
より、磁力が作用していない状態であっても起歪体に機
械的変形を生じさせることができるように構成したもの
である。
発明のセンサにおいて、第1の電極層と第2の電極層の
うち、一方の電極層を電気的に単一の電極層で構成し、
他方の電極層を電気的に独立した複数の副電極層で構成
し、各副電極層に印加する電圧の極性を選択することに
より、起歪体に生じる機械的変形に方向性をもたせうる
ようにしたものである。
サにおいて、他方の電極層を電気的に独立した2枚の副
電極層で構成し、各副電極層に印加する電圧の極性を選
択することにより、2枚の副電極層の中心を結ぶ線方向
に関する機械的変形と、2枚の副電極層の層面に対して
垂直な方向に関する機械的変形と、を起歪体に生じさせ
るようにしたものである。
サにおいて、他方の電極層を電気的に独立した4枚の副
電極層で構成し、これらの副電極層を直交する2線分の
各端点位置に配置し、各副電極層に印加する電圧の極性
を選択することにより、2線分のうち第1の線分方向に
関する機械的変形と、第2の線分方向に関する機械的変
形と、4枚の副電極層の層面に対して垂直な方向に関す
る機械的変形と、を起歪体に生じさせるようにしたもの
である。
の部位との間にクーロン力が働く。このクーロン力によ
り、第1の部位が第2の部位に対して変位を生じること
になり、起歪体に機械的変形を誘起させる。したがって
、作用体に外力を作用させたのと同じ状態を創り出すこ
とができ、実際に外力を作用させることなしにセンサの
試験を行うことができるようになる。
において、対向する2つの電極層間に電圧を印加するこ
とにより、クーロン力を作用させることができる。しか
も、印加する電圧の極性を選択することにより、クーロ
ン力を斥力としても引力としても作用させることができ
るようになり、より自由度をもった試験が可能になる。
B−の電極層とし、他方の電極層を複数の副電極層とし
たため、印加する電圧の極性を選択することにより、種
々の方向にクーロン力を作用させた試験を行うことがで
きるようになる。
、上述の第2の発明に係る試験を実施するための2つの
電極層が形成され、これに対する配線がなされる。した
がって、この加速度センサに所定の電気回路を接続する
だけで試験を行うことができる。
上述の第2の発明に係る試験を実施するための2つの電
極層が形成され、これに対する配線がなされる。したが
って、この磁気センサに所定の電気回路を接続するだけ
で試験を行うことができる。
第5の発明のセンサにおいて、一方の電極層を単一の電
極層で構成し、他方の電極層を複数の副電極層で構成す
るようにしたため、印加する電極の極性を選択すること
により、種々の方向にクーロン力を作用させた試験を行
うことができるようになる。
のセンサにおいて、副電極層を2枚設けるようにしたた
め、互いに垂直な2とおりの方向に関してクーロン力を
作用させた試験を行うことができるようになる。
のセンサにおいて、副電極層を十字状に4枚設けるよう
にしたため、互いに垂直な3とおりの方向に関してクー
ロン力を作用させた試験を行うことができるようになる
。
サの構造を簡単に説明する。第1図は加速度センサの一
例を示す構造断面図である。このセンサの中枢ユニット
となるのは、半導体ベレット10である。この半導体ベ
レット10の上面図を第2図に示す。第1図の中央部分
に示されている半導体ベレット10の断面は、第2図を
X軸に沿って切断した断面に相当する。この半導体ベレ
ット10は、内側から外側に向かって順に、作用部11
、可撓部12、固定部13の3つの領域に分けられる。
には、環状に溝が形成されている。この溝によって、可
撓部12は肉厚が薄くなり、可撓性をもつことになる。
を作用させると、可撓部12が撓んで機械的変形を生じ
る。
つ。可撓部12の上面には、第2図に示すように、抵抗
素子Rx1−Rx4. Ryl−Ry4. Rzl〜R
z4が所定の向きに形成されている。
が接合されており、固定部13の下方には台座21.2
2が接続されている。また、第1図には示されていない
が、紙面垂直方向に、更に台座23.24が配置されて
おり、斜め方向には台座21a〜24aが配置されてい
る。この様子は、重錘体20と台座21〜24.21a
〜24aのみの上面を示す第3図に明瞭に示されている
。第1図に示されている断面は、第3図を切断線AAに
沿って切断した断面に相当する。なお、台座が第3図に
示すような状態で配されているのは、特願〒1−135
539号明細書に開示されている製造工程を実施したた
めであり、詳細は同明細書を参照されたい。台座21〜
24の下方には、制御部材30が接続されている。この
制御部材30の上面を第4図に示す。制御部材30の上
面には、矩形の溝31(第4図でハツチングを施す部分
)が形成されている。第1図に示されている断面は、第
4図を切断線BBに沿って切断した断面に相当する。ま
た、半導体ペレット10の上面には、制御部材40が被
さっている。この制御部材40の下面を第5図に示す。
チングを施す部分)が形成されている。第1図に示され
ている断面は、第5図を切断線CCに沿って切断した断
面に相当する。
されており、半導体ペレット10および重錘体20は台
座21〜24および21a〜24aによって支持される
。重錘体20は内部で宙吊りの状態となっている。パッ
ケージ50には、蓋51が被せられる。半導体ペレット
10に設けられたポンディングパッド14は、各抵抗素
子に対してベレット内で電気的に接続されており、この
ポンディングパッド14とパッケージ側方に設けられた
リード52とは、ボンディングワイヤ15によって接続
されている。
用することになる。この外力は作用部11に伝達され、
可撓部12に機械的変形が生じる。
変化はボンディングワイヤ15およびリード52を介し
て外部に取り出すことができる。作用部11に加わった
力のX方向成分は抵抗素子RxL〜Rx4の電気抵抗の
変化により、Y方向成分は抵抗素子Ry1−Ry4の電
気抵抗の変化により、Z方向成分は抵抗素子Rzl −
Rz4の電気抵抗の変化により、それぞれ検出される。
こでは説明を省略する。詳細は特許協力条約に基づく国
際出願の国際公開第WO38108522号公報などを
参照されたい。
ると、重錘体20に過度な外力が作用することになる。
体ペレット10が破損する可能性がある。このような破
損を防ぐため、第1図に示すセンサでは、制御部材30
および40が設けられている。制御部材30は、重錘体
20の下方向の変位が許容値を越えないように制御する
ものであり、制御部材40は、重錘体20(実際には作
用部11)の上方向の変位が許容値を越えないように制
御するものである。また、台座21〜24は、重錘体の
横方向の変位が許容値を越えないように制御する役割を
果たす。重錘体20に過度の外力が作用して、上述の許
容値を越えて動こうとしても、重錘体20はこれらの部
材に衝突してその移動が阻まれることになる。結局、半
導体ペレット10には、許容値以上の機械的変形が加え
られることはなく、破損から保護される。
、特願平1−135539号明細書に開示されているが
、これを製品として出荷する前に、加速度センサとして
の機能に支障がないか試験を行う必要がある。この試験
方法として、振動発生装置によってこの加速度センサに
振動を与え、そのときのセンサからの引力を検査するこ
とによって試験を行うことは可能であるが、前述のよう
に、試験装置が大掛かりとなり、動的特性しか得ること
ができない。特に、このセンサは3次元座標系における
XYZのすべての方向についての加速度を検出すること
ができるため、3次元の方向を考慮して振動を与える必
要があり、試験装置はかなり複雑なものとなってしまう
。
なしに、このセンサを加速度が作用したのと同じ環境に
おくことかできるのである。その基本原理は次のとおり
である。まず、センサ内部の所定箇所に、いくつかの電
極層を形成する。この電極層は導電性の材質からなる層
であればどのようなものでもかまわない。実際には、所
定箇所にアルミニウムのような金属を蒸着あるいはスパ
ッタリングによって薄く形成するようにすればよい。な
お、アルミニウムの上面は、表面保護のために、S I
O2膜あるいはSiN膜で覆うのが好ましい。電極層
は次のような各部に形成する。まず第4図に示すように
、制御部材30に設けられた溝31内に電極層E1を、
そして第5図に示すように、制御部材40に設けられた
溝41内に電極層E2を、それぞれ形成する。更に、第
6図に示すように、重錘体20の全側面および底面に電
極層E3(5而に渡って形成されるが、電気的には導通
している1枚の電極層である)を形成し、台座21〜2
4の各内側面に電極層E4〜E7を形成する。また、半
導体ペレット10の上面には、第7図に示すように、抵
抗素子Rを避けるように電極層E8を形成する。こうし
て、第4図〜第7図において、ハツチングを施す各領域
にそれぞれ電極層を形成する。すると、パッケージ内の
センサ中枢部の断面図は第8図のようになる(なお、以
下の各図においては、ハツチングを施した部分は電極層
を示し、断面を示すハツチングは図が繁雑になるため省
略する)。第8図によって、各電極層E1〜E8の相対
的な位置関係が理解できよう。なお、第8図における波
線は、各電極層に対する配線を示す。このような配線は
、更にボンディングワイヤによって、パッケージ外部の
リード52(第1図参照)に接続することができる。ま
た、重錘体20の表面に形成された電極層E3に対して
は、ボンディングワイヤ25によって配線がなされてい
る。
れぞれ対となる電極層ごとに対向した位置に形成されて
いる点である。すなわち、第8図に示すように、E2
: E8、E3:E4、E3:E5、E3 : E6、
E3 : E7、E3:El、がそれぞれ対向した位置
に形成されている(電極層E3は、5面がそれぞれ別な
電極層に対向している)。このように対向した電極層に
、それぞれ電圧を印加すると両者間にクーロン力が作用
する。
作用し、異なる極性の電圧を印加すれば引力が作用する
。そこで、E3 : E4間に斥力、E3:E5間に引
力、が作用するように電圧を印加したとすると、重錘体
20に+X方向の力が作用したのと同じ現象が起こる。
いるのと同じ環境下にこのセンサを置くことができる(
センサ本体に加速度が作用すると、重錘体にはこれと逆
方向の慣性力が作用する)。この環境下において、抵抗
素子の抵抗値の変化を示す出力4<−X方向の加速度を
検出したことを示しているか否かを調べれば、−X方向
の加速度に関する試験を行うことができる。引力と斥力
とを逆に作用させれば、+X方向の加速度に関する試験
を行うこともできる。
間に斥力が作用するように電圧を印加すれば、Y方向(
第8図の紙面に垂直上方向)の加速度に関する試験を行
、うことかでき、引力と斥力を逆に作用させれば、+Y
力方向第8図の紙面に垂直下方向)の加速度に関する試
験を行うことができる。更に、E2 : E8間に引力
、E3:E1間に斥力が作用するように電圧を印加すれ
ば、−2方向の加速度に関する試験を行うことができ、
引力と斥力を逆に作用させれば、+2方向の加速度に関
する試験を行うことができる。前述のように各電極層も
、加速度検出用の各抵抗素子も、いずれもボンディング
ワイヤによってパッケージ外部のリード52(第1図参
照)に電気的に接続されているので、上述の試験は、単
に所定のリード端子に所定の電圧を印加しながら、所定
のリード端子から出力される加速度検出信号をモニター
するだけの操作ですむ。このように、本発明による試験
方法によれば、非常に簡単に、3次元のすべての方向に
関する加速度検出試験を行うことが可能になる。
形成する必要があるため、あまり実用的ではない。でき
れば、必要最小限の箇所に設けた電極層によって、3次
元のすべての方向に関する加速度検出試験を行うのが好
ましい。そこで、次のようなモデルを考える。第9図は
、この加速度センサの中枢部の断面図である。いま、半
導体ペレット10上の2か所に点P1およびP2をとり
、制ga部材40の内側の2か所に点Q1およびQ2を
とる。点P1とQlとが対向し、点P2とQ2とが対向
する。ここで、点P1:Q1間に引力を作用させ、点P
2 : 02間に斥力を作用させると、点PL、P2は
点Q1.Q2に対して変位し、第10図に示すように半
導体ペレット1oが機械的変形を生じる。この状態は、
重錘体2oに+X方向の力Fxが作用したのと同じ状態
である。別言すれば、センサ本体に−X方向の加速度が
作用したのと同じ状態である。また、引力と斥力とを逆
に作用させれば、+X方向の加速度が作用したのと同じ
状態になる。これで、半導体ペレット1゜の上面の所定
箇所と、制御部材4oの下面の所定箇所と、に電極層を
形成しておけば、±X方向の加速度検出試験が可能なこ
とがわかる。±Y力方向加速度検出試験も、電極層の位
置を90’変えれば同様に行うことができる。次に、点
P1:Q1間に斥力を作用させ、点P2 : 02間に
も斥力を作用させると、第11図に示すように、重錘体
20に−Z力方向カーFzが作用したのと同じ状態にな
る。別言すれば、センサ本体に+Z力方向加速度が作用
したのと同じ状態になる。また、両者ともに引力を作用
させれば、−2方向の加速度が作用したのと同じ状態に
なる。これで、半導体ペレット10の上面の所定箇所と
、制御部材40の下面の所定箇所と、に電極層を形成し
ておけば、±Z力方向加速度検出試験も可能なことがわ
かる。
定箇所と、制御部材40の下面の所定箇所と、に電極層
を形成しておけば、3次元のすべての方向に関する加速
度検出試験を行うことが可能である。更に具体的な電極
層配置の例を以下に説明してみる。まず、半導体ペレッ
ト10の上面には、第12図にハツチングを施して示す
ように、4つの電極層E9〜E12を形成する。各電極
層は、抵抗素子Rの形成領域を避けるようにして形成さ
れており、それぞれ配線層W9〜W12によってポンデ
ィングパッド89〜B12に接続されている。ポンディ
ングパッド89〜B12には、ボンディングワイヤ(図
示されていない)が接続され、最終的にはパッケージ外
部のリードに対する電気的接続がなされる。なお、第1
2図には図示されていないが、各抵抗素子Rも各ポンデ
ィングパッド14に対して接続されており、パッケージ
外部のリードに対して電気的に接続されている。
を行うために、アルミニウムなどによる配線層が形成さ
れているが、電極層E9〜E12や配線層W9〜W12
を形成するには、このアルミニウムなどによる配線層と
同じマスクを用いるようにするのが好ましい。こうすれ
ば、従来のマスクパターンを変更するだけの作業を追加
するだけで、試験用の付加的な電極層E9〜E12や配
線層W9〜W12を形成することができる。もちろん配
線層W9〜W12は、ゲージ抵抗等を形成するための拡
散工程を利用して拡散層として形成してもよい。半導体
ペレット10の製造プロセスは従来と全く同じプロセス
ですむ。一方、制御部材40の下面には、第5図に示す
電極層E2を形成しておけばよい。これは、アルミニウ
ムなどを蒸着あるいはスパッタリングによって表面に付
着させればよい。以上のような電極層を形成したときの
断面図を第1−3図に示す。電極層E2については、図
の波線で示すような配線がなされ、更に外部のリードへ
と接続される。このように、一方の電極層として単一の
電極層E2を形成し、これに対向する他方の電極層とし
て4枚の副電極層E9〜E12を形成したことになる。
層E2に+Vなる電圧を印加しておき、次のようにすれ
ば、3次元のすべての方向についての加速度検出試験が
可能である。
体20に力+Fxを作用させることができ、X方向の加
速度検出試験を行うことができる。
レハ、重錘体20にカーFxを作用させることができ、
+X方向の加速度検出試験を行うことができる。
t−ErJ加tしlf、重錘体20に力+Fyを作用さ
せることができ、Y方向の加速度検出試験を行うことが
できる。
重錘体20にカーFyを作用させることができ、+Y力
方向加速度検出試験を行うことができる。
体20に力+Fzを作用させることができ、−2方向の
加速度検出試験を行うことができる。
体20にカーFzを作用させることかでき、+ZZnO
加速度検出試験を行うことができる。
が、x、y、z軸上にない方向の加速度についても、電
極層E9〜E12に所定の電圧を印加することにより検
出試験を行うことができる。
抗値の変化が十分検出できるような電圧値にする。この
値は環状のダイヤフラムを形成している可撓部12の厚
さや径に依存する。
々の実施例が考えられる。以下にそのいくつかを説明す
る。第14図に断面を示す実施例は、上述の実施例の電
極層E2の代わりに、電極層E ]、 3を形成したも
のである。電極層E13は制御部材40の上面に形成さ
れているため、外部への配線が容易になる。ただし、電
極間に作用するクーロン力は前述の実施例よりもやや弱
くなる。
E12の代わりに、電極層E14〜E17を形成し、こ
れに対する配線層W14〜W17およびポンディングパ
ッド814〜B17を形成したものである。このような
配置は、抵抗素子Rに対する配線の妨げになることが少
ないという利点はあるが、半導体ペレット10のもっと
も可撓性をもった位置よりも内側に電極層が配置されて
おり、また電極の面積が小さくなるため、力の作用効率
は低下する。
てきた実施例の電極層の上下の関係を逆にしたものであ
る。すなわち、制御部材40の下面の溝41内に、4つ
の電極層E18〜E21およびその配線層W18〜W2
1が形成されている。
導体ペレット10上に形成された中−の電極E8でよい
。
は、力の作用により変位を生じる第1の部位と、この第
1の部位に対向した位置にある第2の部位と、の間にク
ーロン力を作用させるようにできれば、どのような構成
をとってもかまわない。
のものであるが、重錘体の代わりに磁性体を用いた磁気
センサについても、あるいは力センサについても、全く
同様に本発明を適用することが可能である。更に、3次
元のセンサだけでなく、2次元あるいは1次元のセンサ
についても適用可能である。たとえば、XおよびX軸方
向の加速度や磁気を検出する2次元のセンサやX軸方向
の加速度や磁気を検出する1次元のセンサでは、第12
図に示す4つの電極E9〜E12のうち、EIO,E1
2の2つの電極を設けるだけですむ。
れに対向した第2の部位との間にクーロン力を作用させ
て起歪体に機械的変形を誘起させ、作用体に外力を作用
させたのと同じ状態を創り出すようにしたため、実際に
外力を作用させることなしにセンサの試験を行うことが
できるようになる。
において、対向する2つの電極層間に所定の極性の電圧
を印加することによりクーロン力を作用させるようにし
たため、より自由度をもった試験が可能になる。
一の電極層とし、他方の電極層を複数の副電極層とした
ため、印加する電圧の極性を選択することにより、種々
の方向にクーロン力を作用させた試験を行うことができ
るようになる。
、上述の第2の発明に係る試験を実施するための電極層
を形成し、これに対する配線を施すようにしたため、こ
の加速度センサに所定の電気回路を接続するだけで試験
を行うことができる。
上述の第2の発明に係る試験を実施するための電極層を
形成し、これに対する配線を施すようにしたため、この
磁気センサに所定の電気回路を接続するだけで試験を行
うことができる。
第5の発明のセンサにおいて、一方の電極層を単一の電
極層で構成し、他方の電極層を複数の副電極層で構成す
るようにしたため、印加する電極の極性を選択すること
により、種々の方向にクーロン力を作用させた試験を行
うことができるようになる。
のセンサにおいて、副電極層を2枚設けるようにしたた
め、互いに垂直な2とおりの方向に関してクーロン力を
作用させた試験を行うことができるようになる。
のセンサにおいて副電極層を十字状に4枚設けるように
したため、互いに垂直な3とおりの方向に関してクーロ
ン力を作用させた試験を行うことができるようになる。
サの断面図、第2図は第1図のセンサの中枢となる半導
体ベレットの上面図、第3図は第1図のセンサの重錘体
および台座の上面図、第4図は第1図のセンサの下部制
御部材の上面図、第5図は第1図のセンサの上部制御部
材の下面図、第6図は第1図のセンサの重錘体および台
座に電極層を形成した状態を示す斜視図、第7図は第1
図のセンサの半導体ベレットに電極層を形成した状態を
示す上面図、第8図は第1図のセンサの中枢部の各部に
電極層を形成した状態を示す断面図、第9図〜第11図
は第1図のセンサの中枢部の変位状態を示す断面図、第
12図は第1図のセンサの半導体ベレットに実用的な電
極層を形成した状態を示す上面図、第13図は第1図の
センサの中枢部の所定箇所に実用的な電極層を形成した
状態を示す断面図、第14図は第1図のセンサの中枢部
の所定箇所に別な実施例に係る電極層を形成した状態を
示す断面図、第15図は第1図のセンサの半導体ベレッ
トに更に別な実施例に係る電極層を形成した状態を示す
上面図、第16図は第1図のセンサの上部制御部材にま
た別な実施例に係る電極層を形成した状態を示す下面図
、第17図は第1図のセンサの中枢部の所定箇所にまた
別な実施例に係る電極層を形成した状態を示す断面図で
ある。 10・・・半導体ベレット、11・・・作用部、12・
・・可撓部、13・・・固定部、14・・・ボンディン
グパッド、15・・ボンディングワイヤ、20・・・重
錘体、21〜24・・・台座、25・ボンディングワイ
ヤ、30・・制御部材、31・・溝、40・・・制御部
材、41・・溝、50・・・パッケージ、5]・・・蓋
、52・・・リード、R・・・抵抗素子、E1〜E2]
・・・電極層、W9〜W21・・配線層、89〜B21
・・ボンディングパット。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 (1)力の作用を受ける作用部、センサ本体に固定され
る固定部、およびこれらの間に形成され可撓性をもった
可撓部、を有する起歪体と、作用した力を前記作用部に
伝達させるための作用体と、 伝達された力によって前記起歪体に生じる機械的変形を
、電気信号に変換することにより、前記作用体に作用し
た力を電気信号として検出する検出手段と、 を備えるセンサを試験する方法において、 互いに対向した位置にあり、力の作用により両者間に変
位を生じる第1の部位および第2の部位を定め、両者間
にクーロン力を作用させ、この作用させたクーロン力と
前記検出手段による検出結果とに基づいて、センサの試
験を行うことを特徴とする力の作用体を有するセンサの
試験方法。 (2)請求項1に記載の試験方法において、第1の部位
に第1の電極層を形成し、第2の部位に第2の電極層を
形成し、前記第1の電極層および前記第2の電極層に、
それぞれ同じ極性の電圧を印加することにより両者間に
斥力を作用させながら行う試験と、それぞれ異なる極性
の電圧を印加することにより両者間に引力を作用させな
がら行う試験と、を行うようにしたことを特徴とする力
の作用体を有するセンサの試験方法。 (3)力の作用を受ける作用部、センサ本体に固定され
る固定部、およびこれらの間に形成され可撓性をもった
可撓部、を有する起歪体と、作用した力を前記作用部に
伝達させるための作用体と、 伝達された力によって前記起歪体に生じる機械的変形を
、電気信号に変換することにより、前記作用体に作用し
た力を電気信号として検出する検出手段と、 を備えるセンサを試験する方法において、 互いに対向した位置にあり、力の作用により両者間に変
位を生じる第1の面および第2の面を定め、前記第1の
面上に電気的に単一の電極層を形成し、前記第2の面上
の複数箇所にそれぞれ電気的に独立した複数の電極層を
形成し、 前記第1の面上の電極層には第1の極性の電圧を印加し
、前記第2の面上の各電極層には前記第1の極性の電圧
またはこれとは逆の第2の極性の電圧を各電極層ごとに
選択的に印加し、前記第1の面上の電極層と前記第2の
面上の電極層との間に斥力または引力からなるクーロン
力を作用させ、この作用させたクーロン力と前記検出手
段による検出結果とに基づいて、センサの試験を行うこ
とを特徴とする力の作用体を有するセンサの試験方法。 (4)力の作用を受ける作用部、センサ本体に固定され
る固定部、およびこれらの間に形成され可撓性をもった
可撓部、を有する起歪体と、センサ本体に加わる加速度
によって力の作用を受け、この作用した力を前記作用部
に伝達して前記起歪体に機械的変形を生じさせるための
重錘体と、 前記起歪体に生じる機械的変形によって抵抗値が変化す
る性質を持った抵抗素子と、 加速度の作用により変位を生じる第1の面に形成された
第1の電極層と、 前記第1の面に対向した第2の面に形成された第2の電
極層と、 前記抵抗素子、前記第1の電極層、および前記第2の電
極層を、外部の電気回路と接続させるための配線手段と
、 を備え、前記第1の電極層および前記第2の電極層に所
定の電圧を印加して両電極層間にクーロン力を作用させ
ることにより、加速度が作用していない状態であっても
前記起歪体に機械的変形を生じさせることができるよう
に構成したことを特徴とする加速度センサ。(5)力の
作用を受ける作用部、センサ本体に固定される固定部、
およびこれらの間に形成され可撓性をもった可撓部、を
有する起歪体と、センサ本体が置かれた磁界によって力
の作用を受け、この作用した力を前記作用部に伝達して
前記起歪体に機械的変形を生じさせるための磁性体と、 前記起歪体に生じる機械的変形によって抵抗値が変化す
る性質をもった抵抗素子と、 磁力の作用により変位を生じる第1の面に形成された第
1の電極層と、 前記第1の面に対向した第2の面に形成された第2の電
極層と、 前記抵抗素子、前記第1の電極層、および前記第2の電
極層を、外部の電気回路と接続させるための配線手段と
、 を備え、前記第1の電極層および前記第2の電極層に所
定の電圧を印加して両電極層間にクーロン力を作用させ
ることにより、磁力が作用していない状態であっても前
記起歪体に機械的変形を生じさせることができるように
構成したことを特徴とする磁気センサ。 (6)請求項4または5に記載のセンサにおいて、第1
の電極層と第2の電極層のうち、一方の電極層を電気的
に単一の電極層で構成し、他方の電極層を電気的に独立
した複数の副電極層で構成し、各副電極層に印加する電
圧の極性を選択することにより、起歪体に生じる機械的
変形に方向性をもたせうるようにしたことを特徴とする
センサ。 (7)請求項6に記載のセンサにおいて、他方の電極層
を電気的に独立した2枚の副電極層で構成し、各副電極
層に印加する電圧の極性を選択することにより、前記2
枚の副電極層の中心を結ぶ線方向に関する機械的変形と
、前記2枚の副電極層の層面に対して垂直な方向に関す
る機械的変形と、を起歪体に生じさせるようにしたこと
を特徴とするセンサ。(8)請求項6に記載のセンサに
おいて、他方の電極層を電気的に独立した4枚の副電極
層で構成し、これらの副電極層を直交する2線分の各端
点位置に配置し、各副電極層に印加する電圧の極性を選
択することにより、前記2線分のうちの第1の線分方向
に関する機械的変形と、第2の線分方向に関する機械的
変形と、前記4枚の副電極層の層面に対して垂直な方向
に関する機械的変形と、を起歪体に生じさせるようにし
たことを特徴とするセンサ。
Priority Applications (13)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1343354A JP2802954B2 (ja) | 1989-12-28 | 1989-12-28 | 力の作用体を有するセンサの試験方法およびこの方法を実施しうるセンサ |
PCT/JP1990/001688 WO1991010118A1 (en) | 1989-12-28 | 1990-12-26 | Apparatus for detecting physical quantity that acts as external force and method of testing and producing this apparatus |
DE69019343T DE69019343T2 (de) | 1989-12-28 | 1990-12-26 | Beschleunigungssensoren. |
EP91900948A EP0461265B1 (en) | 1989-12-28 | 1990-12-26 | Acceleration sensors |
US07/761,771 US5295386A (en) | 1989-12-28 | 1990-12-26 | Apparatus for detecting acceleration and method for testing this apparatus |
US08/168,024 US6474133B1 (en) | 1989-12-28 | 1993-12-15 | Apparatus for detecting a physical quantity acting as an external force and method for testing and manufacturing this apparatus |
US08/393,801 US5531092A (en) | 1989-12-28 | 1995-02-24 | Device for moving a suspended weight body |
US08/641,078 US5744718A (en) | 1989-12-28 | 1996-04-26 | Sensor using a resistance element |
US09/019,978 US6185814B1 (en) | 1989-12-28 | 1998-02-06 | Method of manufacturing a sensor detecting a physical action as an applied force |
US09/716,773 US6512364B1 (en) | 1989-12-28 | 2000-11-20 | Testing sensor |
US10/816,548 US6894482B2 (en) | 1989-12-28 | 2004-04-01 | Apparatus for detecting a physical quantity acting as an external force and method for testing and manufacturing this apparatus |
US11/042,614 US7231802B2 (en) | 1989-12-28 | 2005-01-25 | Apparatus for detecting a physical quantity acting as an external force and method for testing and manufacturing the apparatus |
US11/788,849 US7578162B2 (en) | 1989-12-28 | 2007-04-20 | Apparatus for detecting a physical quantity acting as an external force and method for testing and manufacturing this apparatus |
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1994023272A1 (en) * | 1993-03-30 | 1994-10-13 | Kazuhiro Okada | Multishaft angular velocity sensor |
US6865943B2 (en) | 1994-12-29 | 2005-03-15 | Kazuhiro Okada | Angular velocity sensor |
JPWO2008149821A1 (ja) * | 2007-05-30 | 2010-08-26 | 京セラ株式会社 | センサ装置 |
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JPH01263576A (ja) * | 1988-04-14 | 1989-10-20 | Wako:Kk | 磁気検出装置 |
-
1989
- 1989-12-28 JP JP1343354A patent/JP2802954B2/ja not_active Expired - Lifetime
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JPWO2008149821A1 (ja) * | 2007-05-30 | 2010-08-26 | 京セラ株式会社 | センサ装置 |
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