JPH03198218A - 磁気記録媒体 - Google Patents

磁気記録媒体

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JPH03198218A
JPH03198218A JP1337281A JP33728189A JPH03198218A JP H03198218 A JPH03198218 A JP H03198218A JP 1337281 A JP1337281 A JP 1337281A JP 33728189 A JP33728189 A JP 33728189A JP H03198218 A JPH03198218 A JP H03198218A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は塗布型磁気記録媒体に関するものである。
[従来の技術] 塗布型磁気記録媒体としては、ポリエステルフィルムに
塗布型磁性層を設けてなる磁気記録媒体が知られている
(たとえば特開昭60−66319号公報)。
[発明が解決しようとする課題] 磁気記録媒体は高密度記録におけるS/N (シグナル
/ノイズの比であり高いほど画質が良好となる)を高く
するため磁性層表面はますます平滑化されている。しか
し、磁性層の表面が平滑になると走行時の摩擦係数が大
きくなりその耐久性が不良となり、使用時の繰返し走行
によるS/Nの低下が大きくなるという問題点があった
。また磁性層の表面を粗くして耐久性を向上させようと
するとS/Nが低くなるというジレンマを抱えていた。
本発明はかかる課題を改善し、S/Nが高くかつ繰返し
走行によるS/Nの低下の小さい磁気記録媒体を提供す
ることを目的とする。
[課題を解決するための手段] 本発明は、基材フィルムの少な(とも片面に塗布型磁性
層を設けてなる磁気記録媒体であって、該磁性層の表面
の凸凹のピーク数(S P c)が100以上、かつ、
10点平均粗さSRzが500nm以下であることを特
徴とする磁気記録媒体としたものである。
本発明の基材フィルムを構成する熱可塑性樹脂はポリエ
ステル、ポリオレフィン、ポリアミド、ポリフェニレン
スルフィドなど特に限定されることはないが、特に、ポ
リエステル、中でも、エチレンテレフタレート、エチレ
ンα、β−ビス(2クロルフエノキシ)エタン−4,4
′−ジカルボキシレート、エチレン2,6−ナフタレー
ト単位から選ばれた少なくとも一種の構造単位を主要構
成成分とする場合に走行性がより一層良好となるので望
ましい。
また、上記の基材フィルムが下記特徴を有している場合
に、本発明の磁性層表面を得るのにきわめて有効であり
、また、S/Nを一層高く、S/N低下を一層小さくで
きるので望ましい。すなわち、 ■ 基材フィルムが、その少なくとも片側表層に熱可塑
性樹脂Aと粒子を主成分とする厚さ0゜005〜3μm
1好ましくは0.01〜2μm、さらに好ましくは0.
03〜0.8μmのフィルム層A (A層の表面が特徴
面)を有する二軸配向熱可塑性樹脂フィルムであって、
該フィルム層A中に含有される粒子の平均粒径がフィル
ム層Aの厚さの0.1〜10倍、好ましくは0.4〜5
倍、さらに好ましくは1.1〜3倍、該粒子の含有量が
1〜30重量%、好ましくは2〜20重量%、さらに好
ましくは3〜15重量%である場合、■ 基材フィルム
が二軸配向熱可塑性樹脂フィルムであり、その少なくと
も片面(特徴面)の表面突起の平均高さがフィルム中の
粒子の平均粒径の1/4以上、好ましくは1/3.5以
上、さらに好ましくは1/3以上であり、かつ、突起個
数が1万個/mm2以上、好ましくは5万個/ m m
2以上、さらに好ましくは10万個/mm2以上である
場合、 ■ 基材フィルムが二軸配向熱可塑性樹脂フィルムであ
り、その少なくとも片面の表面(特徴面)について、フ
ィルム中の粒子の平均粒径の1/3以下の高さの突起数
が全突起数の70%以下、好ましくは65%以下、さら
に好ましくは60%以下である場合、 ■ 基材フィルムが二軸配向熱可塑性樹脂フィルムであ
り、その少なくとも片面(特徴面)の表面突起高さ分布
の相対標準偏差が0.60以下、好ましくは0.55以
下、さらに好ましくは0゜50以下である場合、 ■ 基材フィルムが二軸配向熱可塑性樹脂フィルムであ
り、その長手方向のF5値が15kg/mm2以上、好
ましくは18kg、/mm2以上である場合である。
ここで上記■の場合の熱可塑性樹脂Aの種類は特に限定
されないが、ポリエステル、ポリオレフィン、ポリアミ
ド、ポリフェニレンスルフィドなど結晶性の熱可塑性樹
脂、中でもポリエステル、ポリフェニレンスルフィド、
特にポリエステルが好ましく用いられる。また、ポリエ
ステルの中でも、エチレンテレフタレート、エチレンα
、β−ビス(2−クロルフェノキシ)エタン−4,4′
〜ジカルボキシレート、エチレン2.6−ナフタレート
単位から選ばれた少なくとも一種の構造単位を主要構成
成分とするものが本発明範囲の表面形態を得るのに望ま
しい。ここでいう結晶性とはいわゆる非晶質ではないこ
とを示すものであり、定量的には示差走査熱量計(D 
S C)による昇温速度10℃/分の熱分析によって融
点が検出され、好ましくは結晶化パラメータΔTcgが
150℃以下のものである。さらに、示差走査熱量計で
測定された融解熱(融解エンタルピー変化)が7.5c
al/g以上の結晶性を示す場合にS/Nがより一層良
好となるのできわめて望ましい。
またフィルム層A中の粒子は、特に限定されないが、粒
径比(粒子の長径/短径)が1.0〜1゜3の球形状の
粒子の場合に本発明の磁性層表面形態が得られやすく、
また、S/Nを一層高く、S/N低下を一層小さ(でき
るので望ましい。
またフィルム層A中の粒子の相対標準偏差が0゜6以下
、好ましくは0.5以下の場合に本発明の磁性層表面形
態が得られやすく、また、S/Nを一層高く、S/N低
下を一層小さくできるので望ましい。
粒子の種類として、上記の望ましい特性を満足するには
コロイダルシリカに起因する実質的に球形のシリカ粒子
、架橋高分子による粒子(たとえば架橋ポリスチレン、
シリコーン、ポリイミド等)などがあるが、これらに限
定されるわけではなく、製膜方法の工夫により他の粒子
、例えば二酸化チタン、アルミナ、炭酸カルシウム、カ
オリナイトなど従来公知の粒子でも使いこなし得るもの
である。
粒子の大きさは、特に限定されないが平均粒径(直径)
が5〜2000nm、特に10〜1500nm、さらに
10〜500nmの場合に本発明の磁性層表面形態が得
られやすく、また、S/Nを一層高く、S/N低下を一
層小さくできるので望ましい。
またフィルム層A以外の熱可塑性樹脂部分にも本発明に
支障のない範囲で、好ましくは1重量%以下の範囲で、
フィルム層Aの粒子より大きい粒子、同じ大きさの粒子
、小さい粒子、あるいはそれらの混合物を含有していて
も良い。
また本発明の基材フィルムは熱可塑性樹脂と粒子からな
る組成物を主要成分とするが、本発明の目的を阻害しな
い範囲内で、他種ポリマをブレンドしてもよいし、また
酸化防止剤、熱安定剤、滑剤、紫外線吸収剤などの有機
添加剤が通常添加される程度添加されていてもよい。
また本発明を構成する基材フィルムの特徴面(フィルム
層A面、あるいは表面形態が本願発明で規定する特定の
特性を有する面)の全反射ラマン結晶化指数は、20c
m−’以下の場合に本発明の磁性層表面形態が得られや
すく、また、S/Nを一層高く、S/N低下を一層小さ
くできるので望ましい。
本発明を構成する基材フィルムの上記特徴面の2次イオ
ンマススペクトルによって測定される表層粒子濃度比は
特に限定されないが、表層粒子濃度比が1/10以下、
特に115o以下である場合に走行性、出力特性がより
一層良好となるので特に望ましい。この表層粒子濃度比
は従来の塗布法あるいは塗布・延伸法によっては得られ
ないものであり、表層粒子濃度比をこの範囲にしておく
ことにより本発明の磁性層表面形態が得られやすく、ま
た、S/Nを一層高く、S/N低下を一層小さくできる
ので望ましく、また、フィルム表面の耐削れ性が向上し
、製膜工程、磁性層塗布やカレンダー等の加工工程での
粒子脱落によるトラブルが大きく改善されるものである
本発明は上記の二軸配向熱可塑性樹脂フィルムの少なく
とも片面に塗布型磁性層を設けてなる磁気記録媒体であ
る。用いられる磁性粉末は特に限定されないが、酸化鉄
、酸化クロム、Co被着酸化鉄などの酸化物、あるいは
、FeXCo、Fe−Co、Fe−Co−Ni、Co−
Ni等の金属または合金、これらとA3 Cr、Si等
との合金等が用いられるが、特に実質的に酸化物ではな
い金属単体(合金も含む)、すなわち磁性層がメタル塗
布型である場合に本発明の磁性層表面形態が得られやす
(、また、S/Nを一層高く、S/N低下を一層小さく
できるので望ましい。
磁性粉は各種バインダーを用いて磁性塗料とすることが
できるが、一般には熱硬化性樹脂系バインダーおよび放
射線硬化系バインダーが好ましく、その他添加剤として
分散剤、潤滑剤、帯電防止剤を常法に従って用いてもよ
い。例えば塩化ビニル・酢酸ビニル・ビニルアルコール
共重合体、ポリウレタンプレポリマおよびポリイソシア
ネートよりなるバインダーなどを用いることができる。
磁性層の厚さは特に限定されないが、0.5〜5μmの
範囲としておくことが本発明の磁性層表面形態が得られ
やすく、また、S/Nを一層高く、S/N低下を一層小
さくできるので望ましい。
本発明の磁気記録媒体の磁性層の表面のピークカウント
SPcは100以上、好ましくは150以上、さらに好
ましくは200以上であることが必要である。SPcが
上記の範囲より小さいと繰り返し走行によるS/Nの低
下が大きくなり耐久性が不良となるので好ましくない。
SPcの上限は特に限定されないが通常5000程度が
製造上の限界である。
また磁性層の表面のSRzは500nm以下、好ましく
は400nm以下、さらに好ましくは200nm以下で
あることが必要である。SRzが上記の範囲より大きい
とS/Nが低くなり画質が不良となり、またS/N低下
も大きくなりやすいので好ましくない。SRzの下限は
特に限定されないが通常5nm程度が製造上の限界であ
る。
また本発明の磁気記録媒体は、磁性層が片面のみの場合
にはその反対側にいわゆるバックコート処理が施されて
いてもよい。この場合のバックコート層の厚さは0.1
〜1.5μm1表面平均粗さRaは5〜200nm1好
ましくは10〜10Qnmの範囲の場合に本発明の磁性
層表面形態が得られやすく、また、S/Nを一層高く、
S/N低下を一層小さ(できるので望ましい。
次に本発明の磁気記録媒体の製造方法について説明する
まず、基材に望ましい、特徴面を有する二軸配向熱可塑
性樹脂フィルムの製法を説明する。
熱可塑性樹脂に粒子を含有せしめる方法としては、粒子
をエチレングリコールのスラリーとし、重合時に添加す
るかまたはベント方式の2軸混練押出機を用いて熱可塑
性樹脂に添加する方法が、延伸破れなく、本発明に望ま
しい基材フィルムを得るのにきわめて有効である。
粒子の含有量を調節する方法としては、上記方法で高濃
度マスターを作っておき、それを製膜時に粒子を実質的
に含有しない熱可塑性樹脂で希釈して粒子の含有量を調
節する方法が有効である。
次に、粒子を含有する熱可塑性樹脂Aのペレットを必要
に応じて乾燥したのち、公知の溶融積層用押出装置に供
給し、スリット状のダイからシート状に押出し、キャス
ティングロール上で冷却固化せしめて、A層の厚さがA
層に含有される粒子の平均粒径の0.8〜80倍である
未延伸フィルムを作る。すなわち、2または3台の押出
し機、2または3層のマニホールドまたは合流ブロック
を用いて、熱可塑性樹脂A、、Bを積層し、口金から2
または3層のシートを押し出し、キャスティングロール
で冷却して未延伸フィルムを作る。この場合、熱可塑性
樹脂Aのポリマ流路に、スタティックミキサー、ギヤポ
ンプを設置する方法は延伸破れなく、本発明に望ましい
基材フィルムを得るのにきわめて有効である。
また、合流ブロックとして合流部所面が矩形のフィード
ブロックを用いるのが本発明に望ましい基材フィルムを
得るのにきわめて有効である。
上記の説明は構成として、主としてA/BXA/B/A
について述べたが(A層面が特徴面)、A/B/Cの構
成の場合は3台の押出機を用いて同様に、3層のマニホ
ールドまたは合流ブロックを用いて、熱可塑性樹脂A、
BSCを積層し、口金から3層のシートを押し出し、キ
ャスティングロールで冷却して未延伸フィルムを作る。
いずれの場合もA、B、Cは同じ熱可塑性樹脂でも異な
っていてもよい(A、C層の面が特徴面)。
次にこの未延伸フィルムを二軸延伸し、二軸配向せしめ
る。延伸方法としては、公知の縦→横または横→縦の順
で行なう逐次二軸延伸法または同時二軸延伸法を用いる
ことができる。延伸条件は熱可塑性樹脂の種類により一
層には言えないが、延伸倍率としては縦倍率と横倍率の
積を8倍以上にすることが望ましい粒径と積層厚さの関
係を得て表面形態を最適化し、特徴面近傍のポリマ分子
を二軸配向させ、かつフィルム全体の望ましい機械特性
を得るのに有効である。特徴面近傍のポリマ分子が二軸
配向していることが本フィルムが塗布法あるいは塗布・
延伸法によって作られるフィルムと大きく異なる点であ
り、本発明の磁性層表面形態が得られやす(、また、S
/Nを一層高く、S/N低下を一層小さくできるので望
ましく、また、フィルム表面の耐削れ性が向上し、製膜
工程、磁性層塗布やカレンダー等の加工工程での粒子脱
落によるトラブルが大きく改善されるものである。
また上記二軸配向フィルムをさらに少なくとも一方向に
再延伸する方法が望ましい機械特性を得るのに有効であ
る。次にこの延伸フィルムを熱可塑性樹脂樹脂の融点〜
融点−100℃の温度範囲で0.5〜60秒行なうのが
好適である。
次に、この基材フィルムに所定の磁性層を塗布する。磁
性層を塗布する方法は公知の方法で行なうことができる
が、グラビヤロールやギーサで塗布する方法が本発明の
磁性層表面形態が得られやすく、また、S/Nを一層高
く、S/N低下を一層小さくできるので望ましい。
塗布後の乾燥工程は、温度を90〜120℃とするのが
好ましい。
また、カレンダー工程は、ポリアミド系樹脂またはポリ
エステル系樹脂を弾性ロールに用い、25〜90℃の温
度範囲で行なうのが本発明の磁性層表面形態が得られや
すく、また、S/Nを一層高く、S/N低下を一層小さ
くできるので望ましい。またカレンダー時の圧力は10
0〜500kg/cmの範囲が本発明の磁性層表面形態
が得られやすく、また、S/Nを一層高く、S/N低下
を一層小さくできるので望ましい。
次に磁性層が塗布された原反を巻とってロールの形で磁
性層硬化のためにキュアする。キュアの温度条件は40
〜100℃の範囲が本発明の磁性層表面形態が得られや
すく、また、S/Nを一層高く、S/N低下を一層小さ
くできるので望ましい。
このような磁気記録媒体の製造条件の微調整でも本発明
の磁性層表面は得られるが、本発明に記載の好ましい基
材フィルムを用いて下記条件で製造した磁気記録媒体は
本発明の磁性層表面形態が得られやすく、また、S/N
を一層高く、S/N低下を一層小さくできるので特に望
ましい。
すなわち、 ■ 基材フィルムの特徴面に磁性層塗布(特徴面に接着
性付与などのアンダーコート等の前処理をする場合も含
めて)する場合:基材フィルムの両面とも特徴面、塗布
面が特徴面、反対面が通常面に相当 ・カレンダー温度=75〜90℃ ・カレンダー圧カニ 170〜500kg/cm・キュ
ア温度  =40〜70℃ ◎ 基材フィルムの特徴面の反対側に磁性層塗布する場
合:基材フィルムの塗布面が通常面、反対面が特徴面に
相当 ・カレンダー温度=20〜80℃ ・カレンダー圧カニ 100〜300kg/cm・キュ
ア温度  =55〜90℃ さらに、この磁気記録媒体の原反(広幅)をスリットし
て磁気記録媒体を得る。また磁性層と反対側にバックコ
ートをする場合の時期は特に限定されず、磁性層塗布の
前、カレンダーの前、カレンダー後キユア前、キュア後
のいずれでも良い。
[物性の測定方法ならびに効果の評価方法]本発明の特
性値の測定方法並びに効果の評価方法は次の通りである
(1)粒子の平均粒径 フィルム表面から熱可塑性樹脂をプラズマ低温灰化処理
法で除去し粒子を露出させる。処理条件は熱可塑性樹脂
は灰化されるが粒子はダメージを受けない条件を選択す
る。これを走査型電子顕微鏡(SEM)で観察し、粒子
の画像をイメージアナライザーで処理する。観察箇所を
変えて粒子数5.000個以上で次の数値処理を行ない
、それによって求めた数平均径りを平均粒径とする。
D=ΣDi/N ここで、Diは粒子の円相光径、Nは粒子数である。
(2)粒径比 上記(1)の測定において個々の粒子の(長径の平均値
)/(短径の平均値)の比である。すなわち、下式で求
められる。
長径=ΣDli/N 短径=ΣD2i/N Dli、 D2iはそれぞれ個々の粒子の長径(最大径
)、短径(最短径)、Nは粒子数である。
(3)粒径の相対標準偏差 上記(1)の方法で測定された個々の粒径Di1平均平
均径0干 (=(Σ(Di −D) 2/N) ”’ )を平均径
りで割った値(σ/D)で表わした。
(4)粒子の含有量 熱可塑性樹脂は溶解し粒子は溶解させない溶媒を選択し
、粒子を熱可塑性樹脂から遠心分離し、粒子の全体重量
に対する比率(重量%)をもって粒子含有量とする。
(5)結晶化パラメータΔTag,融解熱示差走査熱量
計(D S C)を用いて測定した。
DSCの測定条件は次の通りである。すなわち、試料1
0mgをDSC装置にセットし、300℃の温度で5分
間溶融した後、液体窒素中に急冷する。
この急冷試料を10℃/分で昇温し、ガラス転移点Tg
を検知する。ざらに昇温を続け、ガラス状態からの結晶
化発熱ピーク温度をもって冷結晶化温度Tccとした。
さらに昇温を続け、融解ピークから融解熱を求めた。こ
こでTccとTgの差(Tcc−Tg)を結晶化パラメ
ータΔTcgと定義する。
(6)F5値 J I 5−Z−1702に規定された方法にしたがっ
て、インストロンタイプの引っ張り試験機を用いて、2
5℃、65%R Hにて測定した。
(7)全反射ラマン結晶化指数 全反射ラマンスペクトルを測定し、カルボニル基の伸縮
振動である1 7 3 0cm−”の半価幅をもって表
面の全反射ラマン結晶化指数とした。測定条件は次の通
りである。但し測定深さは、表面から500〜1,0O
OA程度とした。
■光源 アルゴンイオンレーザ−(5, 145人)■試料のセ
ツティング レーザー偏光方向(S偏光)とフィルム長手方向が平行
となるようにフィルム表面を全反射プリズムに圧着させ
、レーザーのプリズムへの入射角(フィルム厚さ方向と
の角度)は60° とした。
■検出器 PM : RCA31034/Photon Coun
ting System(Hamamalsu C12
30)  (supp17 1,600V)■測定条件 5LIT        1,000 ttmLASE
R       100mW GATE TIMEl. 0sec SCAN 5PEED     12cm−1/min
SAMPLING INTERVAL O. 2cm 
−”REPEAT TIME    6 (8)表面の分子配向(屈折率) ナトリウムD線(589nm)を光源として、アツベ屈
折率計を用いて測定した。マウント液にはヨウ化メチレ
ンを用い、25℃、65%RHにて測定した。ポリマの
二軸配向性は長手方向、幅方向、厚さ方向の屈折率をN
1、N2、N3とした時、(Nl −N2 ’)の絶対
値が0.07以下、かつ、N3 / [ (Nl +N
2 )/2]が0.95以下であることをひとつの基準
とできる。また、レーザー型屈折率計を用いて屈折率を
測定しても良い。さらに、この方法では測定が難しい場
合は全反射レーザーラマン法を用いることもできる。
レーザー全反射ラマンの測定は、Jobin−Yvon
社製Ramanor U −1000ラマンシステムに
より、全反射ラマンスペクトルを測定し、例えばポリエ
チレンテレフタレートの場合では、1615 c m 
−”(ベンゼン環の骨格振動)と1730cm−’(カ
ルボニル基の伸縮振動)のバンド強度比の偏光測定比(
YY/XX比など。ここでYY:レーザーの偏光方向を
YにしてYに対して平行なうマン光検出、XX:レーザ
ーの偏光方向をXにしてXに対して平行なうマン光検出
)が分子配向と対応することを利用できる。ポリマの二
軸配向性はラマン測定から得られたパラメータを長手方
向、幅方向の屈折率に換算して、その絶対値、差などか
ら判定できる。この場合の測定条件は次のとおりである
■光源 アルゴンイオンレーザ−(5145A)■試料のセツテ
ィング フィルム表面を全反射プリズムに圧着させ、レーザのプ
リズムへの入射角(フィルム厚さ方向との角度)は60
°とした。
■検出器 PM : RCA31034/Photon Coun
ting System(Hamamatsu C12
30)  (supp171600V)■測定条件 5LIT        1000μmLASER10
0mW GATE TIME     1.0secSCAN 
5PEED     12cm”/minSAMPLI
NG INTERVAL O,2cm −’REPEA
T TIME    6 (9)表層粒子濃度比 2次イオンマススペクトル(SXMS)を用いて、フィ
ルム中の粒子に起因する元素のうち最も高濃度の元素と
熱可塑性樹脂の炭素元素の濃度比を粒子濃度とし、厚さ
方向の分析を行なう。SIMSによって測定される最表
層粒子濃度(深さOの点)における粒子濃度Aとさらに
深さ方向の分析を続けて得られる最高濃度Bの比、A/
Bを表層粒子濃度比と定義した。測定装置、条件は下記
のとおりである。
1次イオン種   =02 1次イオン加速電圧+12KV 1次イオン電流  :200n^ ラスター領域   :400μm口 分析領域     :ゲート30% 測定真空度    : 6.  OX 10−9Tor
rE−GUN     : 0.5KV−3,0A(1
0)表面突起の高さ、高さ分布、個数2検出器方式の走
査型電子顕微鏡[ESM−3200、エリオニクス(株
)製]と断面測定装置[PMS−1、エリオニクス(株
)製]においてフィルム表面の平坦面の高さを0として
走査した時の突起の高さ測定値を画像処理装置[I B
AS2000、カールツアイス(株)製]に送り、画像
処理装置上にフィルム表面突起画像を再構築する。次に
、この表面突起画像で突起部分を2値化して得られた個
々の突起の面積から円相光径を求めこれをその突起の平
均径とする。また、この2値化された個々の突起部分の
中で最も高い値をその突起の高さとし、これを個々の突
起について求める。この測定を場所をかえて500回繰
返し、突起個数を求め、測定された全突起についてその
高さの平均値を平均高さとした。また個々の突起の高さ
データをもとに、高さ分布の標準偏差を求めた。相対標
準偏差はこの標準偏差を平均高さで割った値である。ま
た走査型電子顕微鏡の倍率は、1000〜8000倍の
間の値を選択する。なお、場合によっては、高精度光干
渉式3次元表面解析装置(WYKO社製TOPO−3D
、対物レンズ:40〜200倍、高解像度カメラ使用が
有効)を用いて得られる高さ情報を上記SEMの値に読
み替えて用いてもよい。
(11)磁性層の表面形態 小板研究所の非接触表面粗さ計HIPO8S(型式ET
−30HK)を用いて3次元粗さを測定した。条件は下
記のとおりであり、20回の測定の平均値をもって値と
した。
・縦倍率=2万倍 ・横倍率=500倍 拳カットオフ:0.08mm ・送りピッチ=0.5μm ・測定長  :500μm ・測定面積 :0.0194mm2 ・走査速度 :100μm/秒 −HY S T  、±5nm 平均表面粗さSRzは上記測定によって得られる10点
平均粗さ、ピーク数SPcは中心面±5nmの領域を下
から横切って上に出ているピークを1個と数えた場合の
ピークの数、すなわちHYST:±5nmにおけるピー
ク数であり、個10゜1mm2に換算したものである。
(12)バックコートの表面粗さパラメータRa表面粗
さ計を用いて測定した。条件は下記のとおりであり、2
0回の測定の平均値をもって値とした。
・触針先端半径:0.5μm ・触針荷重  : 5mg ・測定長   :1mm ・カットオフ値:0.08mm (13)基材フィルムの積層厚さ 2次イオン質量分析装置(SIMS)を用いて、表層か
ら深さ3000nmの範囲のフィルム中の粒子の内もっ
とも高濃度の粒子に起因する元素とポリエステルの炭素
元素の濃度比(M” /C” )を粒子濃度とし、表面
から深さ3000nmまで厚さ方向の分析を行なう。表
層では表面という界面のために粒子濃度は低く表面から
遠ざかるにつれて粒子濃度は高くなる。本発明を構成す
る望ましいフィルムの場合は、通常ではいったん極大値
となった粒子濃度がまた減少し始める。この濃度分布曲
線をもとに表層粒子濃度かの極大値の1/2となる深さ
(この深さは極大値となる深さよりも深い)を求め、こ
れを積層厚さとした。条件は次の通り。
■ 測定装置 2次イオン質量分析装置(SIMS) 西独、ATOMIKA社製 A−DIDA3000■ 
測定条件 1次イオン種 二02 1次イオン加速電圧:12KV 1次イオン電流:200nA ラスター領域2400μm口 分析領域:ゲート30% 測定真空度: 5.  OX 10−9TorrE−G
UN:0.5KV−3,OA なお、表層から深さ3000 nmの範囲にもっとも多
く含有する粒子が有機高分子粒子の場合はS IMSで
は測定が難しいので、表面からエツチングしなからXP
S(X線光電子分光法)、IR(赤外分光法)などで上
記同様のデプスプロファイルを測定し積層厚さを求めて
も良いし、また、電子顕微鏡等による断面観察で粒子濃
度の変化状態やコントラストの差から界面を認識し積層
厚さを求めることもできる。
(14)磁気記録媒体のS/N 磁気記録媒体をVTRカセットに組み込み8mm V 
T Rテープとした。このテープに家庭用VTRを用い
てシバツク製のテレビ試験波形発生器(TG7/U70
6)により100%クロマ信号を記録し、その再生信号
からシバツク製カラービデオノイズ測定器(925D/
1)でクロマS/Nを測定した。
このクロマS/Nを市販されているHi8テープ(ハイ
バンド用8mmVTRテープ、5ONY製Hi8MP1
20)と比較して、S/Nが1dB以上高い場合はS/
N良好、1dB未満の場合はS/N不良と判定した。
(15)磁性面の耐久性 上記テープを5ONY製Hi 8VTRを用いて40℃
、80%RHの条件で1000回再生、巻き戻しを繰り
返した後再度上記S/Nを測定しS/Nの低下が走行前
に比べて1dB未満の場合は耐久性良好、1dB以上の
場合は耐久性不良と判定した。
[実施例] 本発明を実施例に基づいて説明する。
実施例1〜10、比較例1〜6 平均粒径の異なる架橋ポリスチレン粒子、コロイダルシ
リカに起因する球形シリカ粒子を含有するエチレングリ
コールスラリーを調製し、テレフタル酸ジメチルとエス
テル交換反応させ、重縮合し、該粒子を1〜35重量%
含有するポリエチレンテレフタレート(以下PETと略
す)のペレットを作った(熱可塑性樹脂A)。また、常
法によって、コロイダルシリカに起因する球形シリカ粒
子(平均径0.2μm)を0.2重量%を含有するPE
Tを製造し、熱可塑性樹脂Bとした。
これらのポリマをそれぞれ180℃で6時間減圧乾燥(
3Torr) した後、熱可塑性樹脂Bを押出機1に供
給し310℃で溶融し、さらに、熱可塑性樹脂Aを押出
機2に供給し、280℃で溶融し、これらのポリマを合
流ブロックで合流積層し、静電印加キャスト法を用いて
表面温度30℃のキャスティングドラムに巻きつけて冷
却固化し、積層未延伸フィルムを作った。この時、それ
ぞれの押出機の吐出量を調節し総厚さ、熱可塑性樹脂A
層の厚さを調節した。
この未延伸フィルムを温度80℃にて長手方向に4.0
倍延伸した。この延伸は2組ずつのロールの周速差で、
3段階で行なった。この−軸延伸フィルムをステンタを
用いて延伸速度2,000%/分で100℃で幅方向に
4.0倍延伸し、さらに縦方向に1.6倍再延伸した後
、定長下で、190℃にて5秒間熱処理し、総厚さ7μ
mの二軸配向積層フィルムを得た。また公知の方法で0
.2μm径の球形シリカを0.2重量%および0.6μ
mの球形シリカを0.05重量%をフィルム全体に含有
する総厚さ7μmの二軸配向単層フィルムを得た。さら
に0.3μm径の球形シリカをフィルム全体に6重量%
含有する二軸配向単層フィルムを得た。
これらのフィルムに磁性塗料をグラビヤロールを用いて
、A層側の面(特徴面)に塗布した。磁性塗料は次のよ
うにして調製した。
・Fe(鉄)          100部平均粒子サ
イズ 長さ 二0.3μm 針状比:10/1 抗磁力     2000 0e ・ポリウレタン樹脂        15部・塩化ビニ
ル・酢酸ビニル共重合体  5部ニトロセルロース樹脂
       5部・酸化アルミ粉末        
  3部平均粒径       :0.3μm ・カーボンブラック         1部・レシチン
             2部φメチルエチルケトン
      100部・メチルイソブチルケトン   
 100部・トルエン           100部
・ステアリン酸           2部上記組成物
をボールミルで48時間混合分散した後、硬化剤6部を
添加して得られた混線物をフィルターでろ過して磁性塗
布液を準備し、上記フィルム上に塗布、磁場配向させ、
110℃で乾燥し、さらに小型テストカレンダー装置(
スチールロール/ナイロンロール、5段)で、温度、線
圧を変更してカレンダー処理した後ロール状に巻とり、
10〜150℃の範囲で温度を変更して、48時間キユ
アリングし塗布型磁気記録媒体を得た。
これらの磁気記録媒体の特性は第1表、第2表に示した
とおりであり、本発明の要件を満足する塗布型磁気記録
媒体は、S/間が高く、かつ繰り返し走行させた後のS
/N低下小さく耐久性に優れているが、そうでない場合
は上記を満足する磁気記録媒体は得られないことがわか
る。
[発明の効果] 本発明は、磁気記録媒体の磁性層表面を従来と大幅に変
え、緻密な凸凹を多く形成した結果、ノイズの発生は小
さく押さえながらその耐摩耗性を向上できたので、S/
間が高く、かつ繰り返し走行させた後のS/N低下小さ
く耐久性に優れる磁気記録媒体が得られたものであり、
また特殊な基材フィルムを用いることにより、上記磁性
層の表面が得やすく、また、S/間を一層高く、S/N
低下を一層小さくできたものである。
本発明の磁気記録媒体はビデオテープ、フロッピーディ
スク、ビデオフロッピー、オーディオテープ、メモリー
テープ等全ての用途に有用であるが、高密度記録の8m
mビデオ、8mmハイバンドビデオ、5VHSビデオ、
デジタルビデオ用、HDTV (ハイディフィニション
TV、高品位テレビ)用等の高密度磁気記録媒体あるい
は繰り返し使用が多いソフト用ビデオテープ等に特に有
用である。

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)基材フィルムの少なくとも片面に塗布型磁性層を
    設けてなる磁気記録媒体であって、該磁性層の表面の凸
    凹のピーク数(SPc)が100以上、かつ、10点平
    均粗さSRzが500nm以下であることを特徴とする
    磁気記録媒体。
  2. (2)基材フィルムが、その少なくとも片側表層に熱可
    塑性樹脂Aと粒子を主成分とする厚さ0.005〜3μ
    mのフィルム層Aを有する二軸配向熱可塑性樹脂フィル
    ムであって、該フィルム層A中に含有される粒子の平均
    粒径がフィルム層Aの厚さの0.1〜10倍、該粒子の
    含有量が1〜30重量%であることを特徴とする請求項
    (1)記載の磁気記録媒体。
  3. (3)基材フィルムが二軸配向熱可塑性樹脂フィルムで
    あり、その少なくとも片面の表面突起の平均高さがフィ
    ルム中の粒子の平均粒径の1/4以上であり、かつ、突
    起個数が1万個/mm^2以上であることを特徴とする
    請求項(1)記載の磁気記録媒体。
  4. (4)基材フィルムが二軸配向熱可塑性樹脂フィルムで
    あり、その少なくとも片面の表面について、フィルム中
    の粒子の平均粒径の1/3以下の高さの突起数が全突起
    数の70%以下であることを特徴とする請求項(1)記
    載の磁気記録媒体。
  5. (5)基材フィルムが二軸配向熱可塑性樹脂フィルムで
    あり、その少なくとも片面の表面突起高さ分布の相対標
    準偏差が0.6以下であることを特徴とする請求項(1
    )記載の磁気記録媒体。
  6. (6)基材フィルムが二軸配向熱可塑性樹脂フィルムで
    あり、その長手方向のF5値が15kg/mm^2以上
    であることを特徴とする(1)〜(5)のいずれかに記
    載の磁気記録媒体。
  7. (7)磁性層がメタル塗布型であることを特徴とする請
    求項(1)〜(6)のいずれかに記載の磁気記録媒体。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS63224020A (ja) * 1987-03-12 1988-09-19 Hitachi Maxell Ltd 磁気記録媒体
JPH01146132A (ja) * 1987-12-02 1989-06-08 Mitsubishi Electric Corp 磁気デイスク

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