JPH03191880A - 半導体試験方法 - Google Patents
半導体試験方法Info
- Publication number
- JPH03191880A JPH03191880A JP1331816A JP33181689A JPH03191880A JP H03191880 A JPH03191880 A JP H03191880A JP 1331816 A JP1331816 A JP 1331816A JP 33181689 A JP33181689 A JP 33181689A JP H03191880 A JPH03191880 A JP H03191880A
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- JP
- Japan
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- analog
- differential amplifier
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- Pending
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 17
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 5
- 230000003321 amplification Effects 0.000 abstract description 3
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 abstract description 3
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明はアナログＩＣの出力試験方法に関する。
この発明はアナログＩＣの出力試験において被測定物で
あるＩＣのアナログ出力信号と、リファレンスとなる同
様のｒｃの出力を差動増幅器を用い差動増幅し、その結
果得られた信号を２点のコンパレータレベルと比較する
事により、容易にアナログＩＣの出力試験を可能にした
ものである。
あるＩＣのアナログ出力信号と、リファレンスとなる同
様のｒｃの出力を差動増幅器を用い差動増幅し、その結
果得られた信号を２点のコンパレータレベルと比較する
事により、容易にアナログＩＣの出力試験を可能にした
ものである。
従来、アナログＩＣの出力試験方法はＡＤ変換器を持つ
アナログテスターを使用する方法が知られていた。
アナログテスターを使用する方法が知られていた。
しかし、従来の技術のアナログテスターによる試験は、
専用のアナログテスターが必要となるため、コストがか
かるという欠点があった。この発明は従来のこのような
欠点を解決するために、簡易かつ、安価にアナログ出力
信号の試験を行う事を目的としている。
専用のアナログテスターが必要となるため、コストがか
かるという欠点があった。この発明は従来のこのような
欠点を解決するために、簡易かつ、安価にアナログ出力
信号の試験を行う事を目的としている。
上記問題点を解決するために、この発明は被測定物であ
るＩＣのアナログ出力信号と、リファレンスとなる同様
のＩＣの出力信号を、差動増幅器を用い、差動増幅し、
その結果得られた信号を２点のコンパレータレベルと比
較する事により、アナログＩＣの出力試験を行うように
したも１．＞であ〔作用〕 被測定物であるＩＣの出力をＶＤ［ＪＴ、リファレンス
となるＩＣの出力をＶ）ＩＥＦ 、差動増幅器の出力を
ＶＯＵＴ 、増幅率を八とした時、 ＶＯＵＴ ＝Ａ （ＶＤＵＴ −ＶＲＥＦ ）となる。
るＩＣのアナログ出力信号と、リファレンスとなる同様
のＩＣの出力信号を、差動増幅器を用い、差動増幅し、
その結果得られた信号を２点のコンパレータレベルと比
較する事により、アナログＩＣの出力試験を行うように
したも１．＞であ〔作用〕 被測定物であるＩＣの出力をＶＤ［ＪＴ、リファレンス
となるＩＣの出力をＶ）ＩＥＦ 、差動増幅器の出力を
ＶＯＵＴ 、増幅率を八とした時、 ＶＯＵＴ ＝Ａ （ＶＤＵＴ −ＶＲＥＦ ）となる。
Ｖ ＲＥＦ ±△Ｖを良品の規格とすればＶ ＲＥＦ
−△■≦Ｖ ＤＯＴ≦Ｖ ＲＥＦ ＋△Ｖ、°、 Ｖ
ＤＵＴ −ＶＲＥＦ ≦△Ｖ、゛。 ＶＯＵＴ
≦ Ａ ・ △Ｖとなり、±Ａ・△Ｖの２点のコ
ンパレータレベルとＶ ＯＵＴを比較する事により、容
易にアナログ出力信号の試験ができる。
−△■≦Ｖ ＤＯＴ≦Ｖ ＲＥＦ ＋△Ｖ、°、 Ｖ
ＤＵＴ −ＶＲＥＦ ≦△Ｖ、゛。 ＶＯＵＴ
≦ Ａ ・ △Ｖとなり、±Ａ・△Ｖの２点のコ
ンパレータレベルとＶ ＯＵＴを比較する事により、容
易にアナログ出力信号の試験ができる。
以下に本発明の半導体試験方法の実施例を図面に基づい
て説明する。第１図にもとづき本発明の半導体試験方法
を説明する。被測定物であるｒｃｌの出力（ＶＤ［ＩＴ
）は差動増幅器２の入力端子３へ入力する。リファレン
スとなるＩＣ４の出力（Ｖ ＲＥＦ）は差動増幅器２の
入力端子５へ入力する。
て説明する。第１図にもとづき本発明の半導体試験方法
を説明する。被測定物であるｒｃｌの出力（ＶＤ［ＩＴ
）は差動増幅器２の入力端子３へ入力する。リファレン
スとなるＩＣ４の出力（Ｖ ＲＥＦ）は差動増幅器２の
入力端子５へ入力する。
その結果、差動増幅器２の出力端子６に Ｖ ０ＵＴ＝
Ａ （ＶＤＵＴ−ＶＲＥＦ ） が出力される。この出力をコンパレータによって２点の
コンパレータレベルと比較する。
Ａ （ＶＤＵＴ−ＶＲＥＦ ） が出力される。この出力をコンパレータによって２点の
コンパレータレベルと比較する。
第２図（ａｌ〜ＦＣＩは波形による本発明の説明図の良
品例である。第２図（ａｌに示す被測定物であるＩＣの
出カフ （ＶＤＵＴ）と第２図（ｂｌに示すリファレ
ンスとなるＩＣの出力８ （ＶＲＥＦ）に差がない場合
、差動増幅器の出力９ （ＶＯＵＴ）は第２図（Ｃ１の
ようにＯＶで一定となる。差があった場合でも、その差
が規格であるコンパレータレベル１０（＋Ａ・△Ｖ）１
１（−Ａ・ΔＶ）の範囲内であれば、試験結果は良品判
定となる。第３図（８）〜（Ｃ）は波形による本発明の
説明図の不良品例である。被測定物であるＩＣの出力１
２ （ＶＤＵＴ）が第３図（ａｌのように不良であった
場合、第３口出）に示すリファレンスとなるＩＣの出力
８ （ＶＲＥＦ）との差動増幅の結果１４（ＶＯｔｌＴ
）は、第３図（Ｃ１のように規格であるコンパレータレ
ベル１０ （＋ Ａ 、△Ｖ） 、 １１ （−Ａ ・
△Ｖ） ノ範囲から外れる事になり、試験結果は不良品
判定となる。
品例である。第２図（ａｌに示す被測定物であるＩＣの
出カフ （ＶＤＵＴ）と第２図（ｂｌに示すリファレ
ンスとなるＩＣの出力８ （ＶＲＥＦ）に差がない場合
、差動増幅器の出力９ （ＶＯＵＴ）は第２図（Ｃ１の
ようにＯＶで一定となる。差があった場合でも、その差
が規格であるコンパレータレベル１０（＋Ａ・△Ｖ）１
１（−Ａ・ΔＶ）の範囲内であれば、試験結果は良品判
定となる。第３図（８）〜（Ｃ）は波形による本発明の
説明図の不良品例である。被測定物であるＩＣの出力１
２ （ＶＤＵＴ）が第３図（ａｌのように不良であった
場合、第３口出）に示すリファレンスとなるＩＣの出力
８ （ＶＲＥＦ）との差動増幅の結果１４（ＶＯｔｌＴ
）は、第３図（Ｃ１のように規格であるコンパレータレ
ベル１０ （＋ Ａ 、△Ｖ） 、 １１ （−Ａ ・
△Ｖ） ノ範囲から外れる事になり、試験結果は不良品
判定となる。
Ｃ発明の効果〕
以上説明したように、この発明はアナログＩＣの出力試
験において、高価なアナログテスターを使わずに、容易
かつ安価に試験を行う効果がある。
験において、高価なアナログテスターを使わずに、容易
かつ安価に試験を行う効果がある。
第１図は本発明の半導体試験方法の実施例を説明するた
めの概略図、第２図（８４〜ｆｃ）は波形による本発明
の良品判定例の説明図、第３図（ａｌ〜（Ｃ１は波形に
よる本発明の不良品判定例の説明図である。 Ｉ２・・・被測定物であるＩＣの出力の不良品判定例
めの概略図、第２図（８４〜ｆｃ）は波形による本発明
の良品判定例の説明図、第３図（ａｌ〜（Ｃ１は波形に
よる本発明の不良品判定例の説明図である。 Ｉ２・・・被測定物であるＩＣの出力の不良品判定例
Claims (1)
- アナログＩＣの出力試験において、被測定物であるＩＣ
のアナログ出力信号と、リファレンスとなる同様のＩＣ
の出力信号の差を、差動増幅器を用いて求め、この差分
により被測定物の良否判定を行う事を特徴とする半導体
試験方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1331816A JPH03191880A (ja) | 1989-12-20 | 1989-12-20 | 半導体試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1331816A JPH03191880A (ja) | 1989-12-20 | 1989-12-20 | 半導体試験方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03191880A true JPH03191880A (ja) | 1991-08-21 |
Family
ID=18247968
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1331816A Pending JPH03191880A (ja) | 1989-12-20 | 1989-12-20 | 半導体試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03191880A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010127720A (ja) * | 2008-11-26 | 2010-06-10 | Toyota Motor Corp | 動特性検査装置 |
-
1989
- 1989-12-20 JP JP1331816A patent/JPH03191880A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010127720A (ja) * | 2008-11-26 | 2010-06-10 | Toyota Motor Corp | 動特性検査装置 |
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