JPH03191842A - 光測定治具 - Google Patents

光測定治具

Info

Publication number
JPH03191842A
JPH03191842A JP33190789A JP33190789A JPH03191842A JP H03191842 A JPH03191842 A JP H03191842A JP 33190789 A JP33190789 A JP 33190789A JP 33190789 A JP33190789 A JP 33190789A JP H03191842 A JPH03191842 A JP H03191842A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
light receiving
shutter
projected
liquid crystal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP33190789A
Other languages
English (en)
Inventor
Masaki Kinoshita
木下 雅喜
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP33190789A priority Critical patent/JPH03191842A/ja
Publication of JPH03191842A publication Critical patent/JPH03191842A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、シリコンフォトダイオードのような、受光
素子内蔵素子の測定装置に関するものである。
〔従来の技術〕
近年、CD (Compact Discl用受講素子
の様な、複数の受光部を持つ受光素子が、多数開発され
、複数の受光部に均一なパワーの光照射が必要であり、
また一つの受光部毎に光を照射する必要もでてきている
第3図は従来の光測定治具の斜視図である。
図において(1)は、平行光を発する光源、 (IIは
光を絞9込む集光レンズ、(8)は受光素子、(9)は
受光部、(5)は、電気的特性試験用導電性の針、 a
nは、光源(1)移動用のX軸@はY軸、Q3)はX−
Y移動用モータ、(2)は固定ようの支柱である。
次に動作について説明する。光源(1)によって発光し
た光は、集光レンズ0ωによって絞られ受光素子(8)
内の受光部(9)の1つに照射される。受光部(9)の
他の郡部に照射する場合、Y軸(11)、Y軸■の交点
をX−Y移動用モータ(2)で変える事により、受光部
(9)を変えて照射する。
〔発明が解決しようとする課題〕
従来の光測定治具は、以上のように構成されているので
、光源及び集光レンズの移動に時間がかかり、装置が大
きく、vi雑であるなどの問題があった。
この発明は、上記のような問題点を解消するためになさ
れたもので、光照射位置移動時間の短縮と装置の簡略化
を目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
乙の発明に係る光測定治具は、光源と各受光部との間に
液晶スイッチを挿入することにより、各受光部毎にスイ
ッチを開閉する事で、照射位置移動時間を短縮したもの
である。
〔作用〕
この発明におけろ光測定治具は、光源と、各受光部との
間に液晶スイッチを挿入することにより光照射位置移動
時間の短縮と、装置の簡略化ができる。
〔実施例〕
以下、この発明の一実施例を図について説明する。第1
図は光測定治具の断面図、第2図は第1図の治具によっ
て受光素子の受光部に光を照射する状況を示す模式斜視
図である。図において(1)。
(51,(81は第3図の従来例に示したものと同等で
あるので説明を省略する。(2)ば半導体ウェーハ、【
3)はウェーハ固定台、(4)は液晶シャッタ、(6)
は偏光光学素子、(7)は測定用ボード、(8)は半導
体ウェーハ(2)の中の1つの受光素子(9a) 、 
(9b) 、 (9e)は受光素子(8)内の受光部を
示す。
液晶シャッタ(4)は、受光部(9a) 、 (9b)
 、 (9c)毎に別々の開閉機能を有する。
次に動作について説明する。
第1図において、光源(1)より発生された平行光は、
液晶シャック(4)に照射される。次に第2図において
液晶シャッタ(4)に照射された光は、液晶シャッタ(
4)の開いた部分に照射された光のみ偏光光学素子(6
)に照射され、偏光光学素子(6)で、再び平行光に戻
った光が受光素子(8)内の液晶シャッタ(4)の開い
た部分に相当する受光部(9b)に照射される。
受光部(8)の他の受光部(9a)あるいは(9c)に
照射する場合、液晶シャッタ(4)の受光部(9a)あ
るいは(9c)に対応する部分のみ開くように切替える
なお、上記実施例では、3個の受光部を持つ受光素子を
示したが、複数個の受光部を持つ受光素子であれば、同
様の効果を得られる。
〔発明の効果〕
以上のように、この発明によれば液晶スイッチを光軸上
に組み込んだので、光照射位置の移動時間が短縮できる
とともに、装置が簡略化できる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例による光測定治具の断面図
、第2図は第1図の治具によって受光素子の受光部に光
を照射する状況を示す模式斜視図。 第3図は従来の光測定治具の斜視図である。 図中、(1)は光源、(2)は半導体ウェーハ、(3)
はウェーハ固定台、(4)は液晶シャッタ、(5)は針
、(6)は偏光光学素子、(7)は測定用ボード、(8
)は受光素子。 (9m) 、 (9b) 、 (9e)は受光部である
。 なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 光入力半導体のウェーハ測定において、数個の受光部を
    有する光入力半導体において、光を照射する装置に、光
    を受光素子毎に、分割照射する為液晶スイッチを設けた
    ことを特徴とする光測定治具。
JP33190789A 1989-12-20 1989-12-20 光測定治具 Pending JPH03191842A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP33190789A JPH03191842A (ja) 1989-12-20 1989-12-20 光測定治具

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP33190789A JPH03191842A (ja) 1989-12-20 1989-12-20 光測定治具

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH03191842A true JPH03191842A (ja) 1991-08-21

Family

ID=18248969

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP33190789A Pending JPH03191842A (ja) 1989-12-20 1989-12-20 光測定治具

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH03191842A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0945744A (ja) * 1995-07-28 1997-02-14 Nec Corp 受光素子検査装置
JP2009147143A (ja) * 2007-10-31 2009-07-02 Gyoseiin Genshino Iinkai Kakuno Kenkyusho 自動化集光型太陽電池チップ測定装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0945744A (ja) * 1995-07-28 1997-02-14 Nec Corp 受光素子検査装置
JP2009147143A (ja) * 2007-10-31 2009-07-02 Gyoseiin Genshino Iinkai Kakuno Kenkyusho 自動化集光型太陽電池チップ測定装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5337789B2 (ja) 試料の照射装置
JP2011154039A (ja) 光学検査中に光学収差を除去する装置および方法
JPH03211813A (ja) 露光装置
TW200407681A (en) Kit of parts for assembling an optical element, method of assembling an optical element, optical element, lithographic apparatus, and device manufacturing method
JP2006284572A (ja) ディスク状対象物を検査するための装置
JP2004535596A (ja) 光ビームに試料全体を走査させるためのシステムおよび方法
TW200826211A (en) Wafer-level test module and method of image sensor chip
CN110398881A (zh) 曝光装置及曝光加工方法
JP2013190624A (ja) 焦点位置変更装置およびこれを用いた共焦点光学装置
JPH03191842A (ja) 光測定治具
JP2004266250A (ja) 固体撮像素子の試験装置、中継装置および光学モジュール
JP3625953B2 (ja) 外観検査用投光装置
US5670280A (en) Optically controlled imaging phase mask element
US6407864B1 (en) Automated system for testing two dimensional detector arrays and optical systems using sequential filters
CN115266578A (zh) 分析装置
WO2004040266A1 (ja) 光照射装置、固体撮像装置の試験装置、中継装置
JP2004172595A (ja) 光照射装置、固体撮像装置の試験装置、中継装置
JPH0312542A (ja) マスク表面検査装置
JPH10227738A (ja) ケージド試薬開裂用光照射装置
JP3448663B2 (ja) 投影露光装置
JPH0462826A (ja) 露光装置
JP3061241U (ja) 電荷結合素子型ビデオマイクロスコ―プ
JP2814114B2 (ja) 透過原稿読取装置及び透過原稿保持部材
CN109901364A (zh) 一种数字光刻的调焦系统及方法
TW461972B (en) Electronic switch type off-axis illumination blade for stepping illumination system