JPH10227738A - ケージド試薬開裂用光照射装置 - Google Patents

ケージド試薬開裂用光照射装置

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JPH10227738A
JPH10227738A JP9027980A JP2798097A JPH10227738A JP H10227738 A JPH10227738 A JP H10227738A JP 9027980 A JP9027980 A JP 9027980A JP 2798097 A JP2798097 A JP 2798097A JP H10227738 A JPH10227738 A JP H10227738A
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JP
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irradiation
ultraviolet light
light
ultraviolet
caged reagent
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JP9027980A
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Hidekazu Takenaka
秀和 竹中
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Original Assignee
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 標本上の任意の領域に紫外光を照射可能なケ
ージド試薬開裂用光照射装置を提供する。 【解決手段】 水銀ランプ210より出射し、レンズ2
20、バンドパスフィルタ230、絞り251を通過し
た紫外ビームは全反射ミラー261、262およびダイ
クロイックミラー270によって標本10の表面に導か
れる。全反射ミラー261および262は、それぞれ別
のガルバノメータによって互いに直交する揺動軸を中心
に揺動され、これにより紫外ビームは標本10の表面を
走査する。そして、それぞれのガルバノメータに所定の
駆動信号を印加し、標本10上の所定領域に紫外ビーム
を照射する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、顕微鏡に取り付け
て用いられるケージド試薬開裂用光照射装置に関し、特
にケージド試薬に照射する紫外線の照射範囲を制御する
装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】ケージド試薬は、通常は不活性である
が、この試薬に強い紫外光を照射することにより化学反
応が起こり、開裂、活性化されるという特徴を有する。
そして、標本全体にこのケージド試薬を分布させた後、
標本内の微小領域に紫外線を照射することにより、この
微小領域でのみ反応を進行させることができる。
【0003】以下、従来の技術に係るケージド試薬開裂
用光照射装置(以下照射装置)を示す図7を参照して説
明すると、この照射装置200は、通常の落射照明装置
105を有する顕微鏡100に取り付けられる。この照
射装置200から出射される紫外光は、顕微鏡100の
落射照明系の光路160の中に挿入されたダイクロイッ
クミラー260により落射照明系の照明光の光路に沿う
ように導かれ、続いてもう一枚のダイクロイックミラー
270によって観察光学系の光路170に沿うように導
かれ、標本10上の所定範囲に照射される。
【0004】続いてこの照射装置200の構成について
説明すると、この照明装置200はケージド試薬開裂用
の紫外光を発生させる水銀ランプ210、この水銀ラン
プ210からの紫外光を標本10の上に焦点を結ぶよう
に焦点調節が可能なレンズ220、水銀ランプから発せ
られる光のうち、所定の波長帯域の紫外光のみを透過さ
せるための紫外線バンドパスフィルタ230、標本への
紫外線照射時間を制御するためのシャッタ240および
標本への紫外光照射範囲を調節するための絞り250な
どで構成される。なお、絞り250はその開口径の異な
るものが複数用意され、それらが円盤状の板の上に設け
られている。そして、この絞り250は標本10に対し
て紫外光を照射したい領域の大きさに応じてターレット
式に切換えられる。
【0005】一方、落射照明装置105の構成について
説明すると、この落射照明装置105は、光源110、
レンズ120、光源110からの光の中の紫外光成分を
除去し、標本観察中にケージド試薬が活性化するの防止
するための紫外光カットフィルタ(UVカットフィル
タ)130などで構成される。
【0006】そして、照射装置200によって紫外光が
照射された部分のケージド試薬のみが活性化し、観察者
は落射照明装置105による照明の下で、標本10上の
局部で進行する反応を対物レンズ140、接眼レンズ1
50を通して観察することができる。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記従来
技術にあっては、上述のように予め複数用意されたター
レット式の絞り250の形状によってしか紫外光の照射
範囲を設定することができなかった。そのため、紫外光
を照射したいエリアの大きさに合わせて細かく照射範囲
を設定することはできず、所望の照射エリアの大きさに
最も近い絞り径を選択して実験しなければならないか
ら、場合によって正確な実験結果を得ることが困難な場
合があった。また、標本10のうち、紫外光を照射した
い部分を視野の中心部付近に移動させなくてはならず、
紫外光の照射作業に手間を要していた。
【0008】本発明の目的は、顕微鏡の視野内にある標
本上の任意の範囲にケージド試薬開裂用光を照射するこ
とが可能なケージド試薬開裂用光照射装置を提供するこ
とにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】一実施の形態を示す図1
に対応づけて説明すると、 (1) 請求項1に記載の発明は、紫外光発生手段21
0と、顕微鏡100で観察される試料10に対して、紫
外光発生手段210からの紫外光を照射するための照射
手段201とを有するケージド試薬開裂用光照射装置に
適用される。そして、照射手段201は、視野内の任意
の位置における任意の領域に紫外光を照射するよう紫外
光照射範囲を制御する照射範囲制御手段269を有する
ことにより上述の目的を達成する。
【0010】(2) 請求項2に記載のケージド試薬開
裂用光照射装置において、照射範囲制御手段269は、
紫外光発生手段210から出射される紫外光をビーム状
に絞る絞り手段251と、このビーム状に絞られた紫外
ビームを視野内における任意の領域で走査するための走
査手段261、262とを有するものである。
【0011】(3) 請求項3に記載のケージド試薬開
裂用光照射装置は、走査手段を、ガルバノメータにより
揺動駆動される平面鏡、ニポウディスク、ポリゴンミラ
ーのいずれかとすることができる。
【0012】(4) 請求項4に記載のケージド試薬開
裂用光照射装置において、絞り手段251はビームの光
路に直交する平面に沿う互いに直角な方向に揺動可能に
設けられ、この絞り手段251を互いに直角な方向に揺
動することにより走査手段とすることができる。
【0013】(5) 一実施の形態を示す図4に対応づ
けて説明すると、請求項5に記載のケージド試薬開裂用
光照射装置は、照射範囲制御手段を液晶シャッタ252
としたものである。
【0014】(6) 一実施の形態を示す図5に対応づ
けて説明すると、請求項6に記載のケージド試薬開裂用
光照射装置は、視野を撮像する撮像手段280と、撮像
手段280で撮像した画像を表示する表示手段291
と、表示手段291に表示された画像上で紫外光の照射
領域を設定可能で、設定された照射領域を画像上に重ね
合わせて表示する照射領域設定手段295、293とを
有するものである。
【0015】なお、本発明の構成を説明する上記課題を
解決するための手段の項では、本発明を分かりやすくす
るために発明の実施の形態の図を用いたが、これにより
本発明が実施の形態に限定されるものではない。
【0016】
【発明の実施の形態】
−第1の発明の実施の形態− 図1〜図3を参照し、本発明の第1の実施の形態につい
て説明する。図1は、本発明に係る照射装置を顕微鏡に
装着した状態を示す縦断面図、図2は本発明の実施の形
態に係る走査光学系の要部を示す斜視図、図3は走査光
学系の駆動装置に印加する電圧波形および紫外光の照射
エリアを示す図である。なお、従来の技術に係る顕微鏡
撮影装置を示す図7と同様の構成の部分には同じ番号を
付し、その説明を省略する。
【0017】この図1において、照射装置201は落射
照明装置105の照明光の光路160の中に挿脱可能に
装着される。この照射装置201を除いた顕微鏡100
の構成は、図7に示した従来の技術に係るものと同一で
あり、したがって以後は照射装置201の構成を中心に
説明をする。従来の技術に係る照射装置では選択された
絞り250(図7)によって定められた開口形状に従
い、標本10への紫外光の照射領域が定められるもので
あったが、本実施の形態に係る照射装置201は、所定
の径に絞られた紫外ビーム光を走査光学系によって2次
元方向にそれぞれ所定の振幅でスキャンさせることによ
り、標本10上の所定の領域に紫外光を照射する紫外ビ
ーム照射制御照射装置269を有するものである。
【0018】照射装置201において、水銀ランプ21
0から発せられ、紫外域に輝線スペクトルを有する光
は、レンズ220、バンドパスフィルタ230、そして
シャッタ240を経た後、紫外ビーム照射制御装置26
9内の絞り251にて所定の径のビームに絞られる。こ
の絞り251の開口径は、後述する走査光学系でスキャ
ンする際に都合のよい紫外ビーム径が得られるように設
定される。
【0019】続いて図2を参照し、絞り251を通過し
た紫外ビームをスキャンさせるための走査光学系につい
て説明をする。本発明の実施の形態に係る走査光学系は
不図示の2個のガルバノメータにそれぞれ取り付けられ
た全反射ミラー261、262とで構成される。制御回
路265(図1)からガルバノメータへの通電が断たれ
ているとき、全反射ミラー261、262の反射面が図
1に示すように互いに平行になるように取り付けられて
おり、かつガルバノメータによる全反射ミラー261、
262の揺動軸は図2に示すように互いに直交するよう
に設定されている。このような構成とし、図1の制御回
路265からそれぞれのガルバノメータに所定の電圧を
印加することにより紫外ビームをX方向、Y方向に走査
可能となり、これにより標本10上の任意の領域に紫外
光を照射することができる。次に図3を参照して全反射
ミラー261、262の制御方法について説明する。
【0020】図3(a)および図3(b)は、制御回路
265がそれぞれX方向走査駆動用ガルバノメータ、Y
方向走査駆動用ガルバノメータに印加する駆動電圧の変
化を示すグラフであり、横軸が時間を、縦軸が電圧を示
す。この図3(a)および図3(b)において、Vo
x、Voyが印加電圧のオフセット値を、Vax、Va
yが走査用電圧の振幅を示す。そして、これらの印加電
圧Vx、Vyに対する走査光学系の感度、すなわち印加
電圧の変化量に対する標本10の表面上に照射された紫
外ビームスポットの移動量の割合を示す係数Kx、Ky
を乗ずることにより、図3(c)に示すように標本10
上の紫外ビーム照射領域が決まる。
【0021】この図3(c)において、印加電圧Vx、
Vyの振幅Vax、Vayを任意の値とすることによ
り、所定の照射面積に紫外ビームを走査して照射するこ
とが可能となる。また、オフセット電圧Vox、Voy
を任意の値に設定することにより、標本10のどこのエ
リアに紫外ビームを照射するかを決定することができ
る。
【0022】なお、図3(c)において、紫外ビームの
標本10上への照射領域は四角いものを例として示した
が、図3(a)に示すX方向走査用ガルバノメータへの
印加電圧Vxの振幅Vaxを1周期ごとに変化させるこ
とにより、紫外ビームの照射エリアの輪郭を任意の形状
に設定することも可能である。また、この図3(c)に
おいてKy・ΔVyで表されている紫外ビームの走査間
隔は、図3(b)に示すΔVyを変化させることにより
調節可能で、水銀ランプ210の照度、絞り251によ
って絞られた紫外光のビーム径、ガルバノメータによる
紫外ビームの走査速度、顕微鏡100に装着された対物
レンズの焦点距離等に応じて決定される。
【0023】なお、これら全反射ミラー261および2
62については、その非走査駆動時にガルバノメータへ
所定の直流電圧が印加され、退避位置に固定される。こ
れにより、顕微鏡100の落射照明系の光路を遮って観
察視野に影を生じるのを防止し、また紫外光が不用意に
標本10に照射されるのを防止する。
【0024】以上のように標本の所望の領域に紫外ビー
ムを照射した後、反応の進行する様子を顕微鏡の拡大像
を通常の方法により観察することができる。
【0025】以上の第1の実施の形態の説明において、
走査光学系としてガルバノメータを用いるものについて
説明したが、これに代えてニポウディスクやポリゴンミ
ラーを用いることもできる。さらにこれらの走査光学系
に代えて、全反射ミラー261、262を反射角固定の
45゜ミラーとした上で、絞り251より射出する紫外
ビームの光軸に直交する平面上でこの絞り251を不図
示のアクチュエータにより揺動させ、紫外ビームを走査
するようにしたものであってもよい。このとき、絞り2
51を直交する2方向に揺動することにより、標本10
の表面における任意の照射領域で紫外光を走査すること
ができる。また、紫外光の光源としてHgランプを用い
るものについて説明したが、これに代えて紫外光を出力
可能なレーザを用いてもよい。
【0026】−第2の実施の形態− 図4を参照し、本発明の第2の実施の形態について説明
する。図4(a)は本発明の実施の形態に係る照射装置
を顕微鏡に装着した状態を示す縦断面図、そして図4
(b)は本発明の実施の形態で用いられる透過型液晶の
セグメントの様子を示す拡大図である。なお、従来の技
術に係る顕微鏡撮影装置を示す図7と同じ構成の部分に
は同じ番号を付し、その説明を省略する。
【0027】第1の実施の形態においては、標本10の
表面の所定領域に紫外ビームを照射する方法として、ガ
ルバノメータ等を利用した走査光学系、あるいは絞りを
揺動駆動して紫外ビームを走査する例について説明をし
たが、第2の実施の形態においてはこの走査光学系を用
いるのに代えて透過型の液晶を用いる例について説明す
る。
【0028】図7に示す従来の技術に係る照射装置20
0の構成と、図4(a)に示す第2の実施の形態に係る
照射装置202の構成との対比において、従来の技術に
係る照射装置200に装備されていたターレット式の絞
り250に代えて、第2の実施の形態に係る照射装置2
02では透過型の液晶マトリクス素子(以下液晶シャッ
タ)252が装備され、さらにこの液晶シャッタの開閉
駆動をするための駆動回路(ドライバ)290が装備さ
れている。この液晶シャッタ252は、図4(b)に示
すように多数の細かいセグメント252aで構成され、
ドライバ290によってこれらのセグメントは独立して
透過、遮蔽の制御がなされる。
【0029】そして、シャッタ240の開口時間に応じ
て液晶シャッタ252で形成された所定の開口形状を通
過した紫外ビームはダイクロイックミラー260および
270によって標本10の表面に導かれ、液晶シャッタ
252で形成された透過部形状に従って紫外ビームが照
射される。
【0030】このような液晶シャッタ252を用いるこ
とにより、従来の技術に係る照射装置200では紫外ビ
ームを顕微鏡100の視野中心付近だけに、しかもター
レット式の絞り250に予め準備された開口径あるいは
開口形状に従ってしか照射できなかったのに対して、不
図示の設定装置で液晶シャッタ252の開口位置および
形状を任意に設定することにより、顕微鏡100の視野
内の任意の領域に紫外ビームを照射することができる。
このとき、第1の実施の形態で示すような走査光学系は
不要であり、外部から与えられる振動等に強い照射装置
を提供することができる。なお、本実施の形態におい
て、シャッタ240の開閉機能を液晶シャッタ252で
兼用し、このシャッタ240を省略することも可能であ
る。
【0031】−第3の実施の形態− 以上説明した第1および第2の実施の形態においては顕
微鏡100の観察視野内の任意の領域に紫外ビームを照
射することが可能な照射装置について説明をしたが、本
実施の形態は紫外ビームの照射範囲の設定方法に関する
ものである。
【0032】第2の実施の形態で説明した、液晶シャッ
タ252で紫外ビームの照射範囲を制御する形態のもの
は、その照射範囲を以下のようにして顕微鏡100の視
野内で確認することができる。すなわち、落射照明系の
光源110を消灯し、照射装置202の光路に挿入され
ているバンドパスフィルタ230の位置に所定濃度の減
光フィルタ(NDフィルタ)を挿入する。その後でシャ
ッタ240を開放状態にし、顕微鏡100の視野を観察
しながら不図示の設定装置により液晶シャッタ252の
開口形状を設定すればよい。この際、上述のNDフィル
タにより紫外光は標本10上のケージド試薬が活性化せ
ず、かつ顕微鏡100で観察可能な程度に減光されてい
る。そして、落射照明系の光源110は消灯されている
ので、顕微鏡100の視野内において、紫外光により照
らし出されている部分を観察することで紫外光の照射範
囲を予め確認することができる。
【0033】液晶シャッタ252あるいは従来のターレ
ット式の絞り250を有する照射装置においては上述の
方法で紫外光の照射範囲を確認することができるが、そ
の一方で第1の実施の形態に係る走査光学系を有する照
射装置においては、上述のような方法で紫外光の照射範
囲を確認するのは困難な場合がある。すなわち、この紫
外光の照射範囲が確認できるかできないかは、観察者の
網膜上に残像として残り得る時間内に全照射範囲を走査
できるか否かによって決まる。特に紫外光の照射範囲を
大きめに設定した場合、全照射範囲を走査するのに要す
る時間は必然的に長くなり、その照射範囲の確認が困難
になることもある。第3の実施の形態ではこの点に鑑
み、標本10の表面上の紫外光照射範囲の確認を容易に
するとともに、その照射範囲の設定操作を容易にするた
めのものについて説明する。
【0034】ここで図5および図6を参照して説明する
と、図5は顕微鏡100に第1の実施の形態に係る照射
装置ならびにCCDカメラ、表示装置、マウスを装着し
た状態を示す図、そして図6は図5に示すCCDカメラ
によって得られた拡大像をCRT画面に映し出した状態
を示すものであり、図6(a)は紫外光の照射範囲を設
定する前の状態を、図6(b)、(c)は紫外光の照射
範囲を設定する際の過程を示している。なお、本実施の
形態の説明においては、指定した2点を対角とする長方
形により紫外光の照射範囲を設定する例について説明す
る。
【0035】図5において、CCDカメラ280は顕微
鏡100の直筒部101に装着され、CCDカメラ28
0の画像信号は不図示のビデオキャプチュアボードを介
してコンピュータ293に取り込まれる。このコンピュ
ータ293にはマウス295が接続されており、CRT
画面291にはマウス295の操作に呼応してCRT画
面291上を移動するポインタ292がCCDカメラ2
80の画像とともに表示されている。
【0036】図6(a)は、標本10の拡大像10Aが
ポインタ292とともにCRT画面291に表示されて
いる様子を示す。この状態で図6(b)に示すようにマ
ウス295を操作してポインタ292を移動し、点29
1Aを指定する。続いて図6(c)に示すようにポイン
タ292を移動し、上述の点291Aと対をなして対角
を定義する点291Bを指定する。上述のようにして指
定した点291A、291Bを対角とする長方形のフレ
ーム291Cによって紫外光の照射範囲が定義される。
【0037】以上のように、本実施の形態に係る照射装
置によればCCDカメラ280を通してCRT画面29
1に映し出された拡大像の上に、スーパーインポーズし
たポインタ292の位置を確認しながらマウス295を
操作することによって紫外光の照射範囲を設定すること
ができる。これにより、本実施の形態の冒頭で説明した
ように顕微鏡100の落射照明系の光源110を消灯
し、照射装置202の光路中にNDフィルタを挿入する
必要がなく、顕微鏡100の視野内の標本10の拡大像
と紫外光照射範囲とを同時に確認することができるので
紫外光照射範囲設定の作業性が向上する。また、紫外光
照射後も図6(c)に示す紫外光照射範囲を示すフレー
ム291Cを表示しておき、紫外光照射後における標本
10の反応の進行をCRT画面291で観察することも
可能である。このようにすることにより、フレーム29
1Cを紫外光の照射範囲内外における標本10の変化の
差異を観察する際の目安とすることができる。
【0038】以上の第3の実施の形態では、指定した2
点を対角とする長方形を紫外光の照射範囲として定義す
る例について説明したが、これら2点を結ぶ線分を直径
あるいは半径とする円として定義してもよいし、あるい
は3つ以上の点を指定し、これら3つ以上の点をスプラ
イン関数等による補間曲線で結ぶようにして紫外光の照
射範囲を定義してもよい。
【0039】以上の発明の実施の形態と請求項との対応
において、Hgランプ210が紫外光発生手段を、紫外
ビーム照射制御装置269が紫外光照射範囲制御手段
を、絞り251が絞り手段を、全反射ミラー261およ
び262が走査手段を、コンピュータ293およびマウ
ス295が照射領域設定手段をそれぞれ構成する。
【0040】
【発明の効果】以上説明したように本発明のケージド試
薬開裂用光照射装置によれば、顕微鏡視野内の標本上の
任意の位置における任意の領域に紫外光を照射すること
ができるので、標本上の紫外光照射領域を顕微鏡の視野
の中央に位置決めする必要がなく、また照射部の大きさ
や形状も自由に設定可能で、操作性に優れたケージド試
薬開裂用光照射装置を提供することができる。また、そ
の紫外光の照射領域を設定する際に標本を照明するため
の光源を消灯したり、照射光学系の光路にNDフィルタ
ーをセットすることなく、顕微鏡の視野全体を見渡しな
がら紫外光の照射領域を設定できるので、容易かつ迅速
に紫外光の照射領域を設定することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の第1の実施の形態に係るケージド
試薬開裂用光照射装置を顕微鏡に装着した状態を示す縦
断面図。
【図2】 本発明の第1の実施の形態に係るケージド
試薬開裂用光照射装置の走査光学系要部を示す斜視図。
【図3】 走査光学系の駆動信号ならびにこの駆動信
号を走査光学系に印加することによって走査される様子
を示す図であり、(a)はX方向走査駆動系に印加する
駆動信号波形を、(b)はY方向走査駆動系に印加する
駆動信号波形を示し、(c)はこれらの信号がX、Y方
向の走査駆動系に印加されて紫外ビームがスキャンされ
る様子を示す図である。
【図4】 本発明の第2の実施の形態に係るケージド
試薬開裂用光照射装置を顕微鏡に装着した状態を示す図
であり、(a)がその縦断面図を、(b)が第2の実施
の形態に係るケージド試薬開裂用光照射装置で用いられ
る透過型液晶を示す図である。
【図5】 本発明の第3の実施の形態に係るケージド
試薬開裂用光照射装置の構成を示す斜視図。
【図6】 本発明の第3の実施の形態に係るケージド
試薬開裂用光照射装置における、紫外光照射範囲を設定
する際のCRT画面を表した図であり、(a)は紫外光
照射範囲を設定する前の初期状態を、(b)は紫外光照
射範囲の始点を指定する様子を、(c)は紫外光照射範
囲の終点を指定する様子を示す図である。
【図7】 従来の技術に係るケージド試薬開裂用光照
射装置を顕微鏡に装着した状態を示す縦断面図。
【符号の説明】
10 標本 100 顕微鏡 110 光源 120、220 レンズ 140 対物レンズ 150 接眼レンズ 200、201、202 照射装置 210 水銀ランプ 240 シャッタ 250、251 絞り 252 液晶シャッタ 260、270 ダイクロイックミラー 261、262 全反射ミラー 265 制御回路 269 紫外ビーム照射制御照射装置 280 CCDカメラ 290 液晶ドライバ 291 CRT画面 292 ポインタ 293 コンピュータ 295 マウス

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 紫外光発生手段と、顕微鏡で観察され
    る試料に対して、前記紫外光発生手段からの紫外光を照
    射するための照射手段とを有するケージド試薬開裂用光
    照射装置において、 前記照射手段は、顕微鏡観察視野内の任意の位置におけ
    る任意の領域に前記紫外光を照射するよう前記紫外光照
    射範囲を制御する照射範囲制御手段を有することを特徴
    とするケージド試薬開裂用光照射装置。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載のケージド試薬開裂用
    光照射装置において、前記照射範囲制御手段は、 前記紫外光発生手段から出射される紫外光をビーム状に
    絞る絞り手段と、 前記ビーム状に絞られた紫外ビームを前記視野内におけ
    る任意の領域で走査するための走査手段とを有すること
    を特徴とするケージド試薬開裂用光照射装置。
  3. 【請求項3】 請求項2に記載のケージド試薬開裂用
    光照射装置において、 前記走査手段は、ガルバノメータにより揺動駆動される
    平面鏡、ニポウディスク、ポリゴンミラーのいずれかで
    あることを特徴とするケージド試薬開裂用光照射装置。
  4. 【請求項4】 請求項2に記載のケージド試薬開裂用
    光照射装置において、 前記絞り手段は、前記ビームの光路に直交する平面に沿
    う互いに直角な方向に揺動可能に設けられ、 前記走査手段は前記絞り手段を前記互いに直角な方向に
    揺動することを特徴とするケージド試薬開裂用光照射装
    置。
  5. 【請求項5】 請求項1に記載のケージド試薬開裂用
    光照射装置において、 前記照射範囲制御手段は液晶シャッタであることを特徴
    とするケージド試薬開裂用光照射装置。
  6. 【請求項6】 請求項1に記載のケージド試薬開裂用
    光照射装置において、 前記視野を撮像する撮像手段と、 前記撮像手段で撮像した画像を表示する表示手段と、 前記表示手段に表示された画像上で前記紫外光の照射領
    域を設定可能で、設定された照射領域を前記画像上に重
    ね合わせて表示する照射領域設定手段とを有することを
    特徴とするケージド試薬開裂用光照射装置。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002062481A (ja) * 2000-08-14 2002-02-28 Olympus Optical Co Ltd 照明装置
WO2004063723A1 (ja) 2003-01-09 2004-07-29 Kanazawa University 走査型プローブ顕微鏡および分子構造変化観測方法
JP2006343606A (ja) * 2005-06-10 2006-12-21 Yokogawa Electric Corp 共焦点顕微鏡
JP2011526375A (ja) * 2008-05-19 2011-10-06 レニショウ パブリック リミテッド カンパニー 光学検査プローブ
JP2012098282A (ja) * 2010-10-29 2012-05-24 F Hoffmann-La Roche Ag 散乱および吸光分析を行うシステム

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002062481A (ja) * 2000-08-14 2002-02-28 Olympus Optical Co Ltd 照明装置
JP4724278B2 (ja) * 2000-08-14 2011-07-13 オリンパス株式会社 照明装置
WO2004063723A1 (ja) 2003-01-09 2004-07-29 Kanazawa University 走査型プローブ顕微鏡および分子構造変化観測方法
EP1582856A1 (en) * 2003-01-09 2005-10-05 Kanazawa University Scanning type probe microscope, and method of observing changes in molecular structure
US7556968B2 (en) 2003-01-09 2009-07-07 Kanazawa University Kanazawa-shi Scanning probe microscope and molecular structure change observation method
EP1582856A4 (en) * 2003-01-09 2011-06-22 Univ Kanazawa SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD FOR MONITORING CHANGES IN MOLECULAR STRUCTURE
JP2006343606A (ja) * 2005-06-10 2006-12-21 Yokogawa Electric Corp 共焦点顕微鏡
JP2011526375A (ja) * 2008-05-19 2011-10-06 レニショウ パブリック リミテッド カンパニー 光学検査プローブ
US9618329B2 (en) 2008-05-19 2017-04-11 Renishaw Plc Optical inspection probe
JP2012098282A (ja) * 2010-10-29 2012-05-24 F Hoffmann-La Roche Ag 散乱および吸光分析を行うシステム
US9285311B2 (en) 2010-10-29 2016-03-15 Roche Diagnostics Operations, Inc. System for performing scattering and absorbance assays

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