JPH03189526A - サーモパイル - Google Patents

サーモパイル

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JPH03189526A
JPH03189526A JP1328343A JP32834389A JPH03189526A JP H03189526 A JPH03189526 A JP H03189526A JP 1328343 A JP1328343 A JP 1328343A JP 32834389 A JP32834389 A JP 32834389A JP H03189526 A JPH03189526 A JP H03189526A
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JP
Japan
Prior art keywords
temperature
heat sink
junction part
cold junction
thermopile
Prior art date
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Pending
Application number
JP1328343A
Other languages
English (en)
Inventor
Michio Nemoto
根本 道夫
Akihiro Enomoto
榎本 明宏
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokin Corp
Original Assignee
Tokin Corp
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Publication date
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Publication of JPH03189526A publication Critical patent/JPH03189526A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、人体の検出あるいは非接触温度検出に用いら
れる赤外線を検知するサーモパイルに関する。
[従来の技術] 第4図(a)、(b)は従来のサーモパイルの構成を示
す図で、(a)は平面図、(b)は断面図である。第4
図(a)、(b)において、有機フィルム101 (1
0μm前後の厚みのポリエステル、ポリイミドフィルム
が用いられる)の上に蒸着あるいはスパッタ等の手段に
より薄膜熱電対素子パターン102が形成されており、
この有機フィルム101はヒートシンク基板104に固
定されている。
ヒートシンク基板104の中央部には中央穴141が設
けられており、前記薄膜熱電対素子パターンの温接点部
121は中空穴141の内側にセットされており、一方
冷接点部122は中空穴141の外側に配置されており
、冷接点部122の温度は、はぼヒートシンク基板10
4の温度に保持されている。
ヒートシンク基板104の材質は通常絶縁性をもったア
ルミナ(AI。0.)が一般に用いられる。
前記温接点部121の円周領域を含む形にて絶縁層10
6(ポリイミドのコーティング層あるいは5in2層)
が形成され、その上に赤外線吸収層107が形成されて
いる。赤外線吸収層107は一般に全黒が用いられる。
前記サーモパイルの動作原理は以下のごとくである。
被測定対象物からの赤外線が赤外線吸収部107に入射
すると赤外線吸収部107の温度が上昇し、絶縁層10
6を通して薄膜熱電対素子パターン102の温接点部1
21の温度が上昇し、温度T2となり冷接点部の温度T
1との温度差ΔT−T2−T、が生じ、これにより、熱
電対一対当りの熱起電力×対数×温度差ΔTの出力電圧
が両端子131,132間に発生して、赤外線の入射パ
ワーを検知し、これを被測定対象物の温度へ換算する。
ここで特に、非接触温度検出の場合には、冷接点部12
2の温度T、が基準となり、この温度を補償することが
必要であるが、従来は第4図に示すごとくヒートシンク
基板104の近傍に温度検出素子108を固定して、そ
の周辺の温度を検知していた。温度検出素子108は通
常サーミスタ素子あるいはダイオード等を用いる。
〔発明が解決しようとする課題] 上記した温度補償方法に関して、以下に列記するような
欠点を有する。
■温度検出素子108はヒートシンク基板104の冷接
点部122領域から離れて設置されているため、冷接点
部122の温度を正確には検知しておらず、非接触温度
検出の場合の測定誤差の原因となっていた。
■温度検出素子108を設置するために新たにその分の
スペースが必要となる。
■部品点数として、温度検出素子108が追加となるこ
とにより部品点数及び部品費が増加する。
そこで、本発明の技術的課題は、従来の欠点を改善し、
従来よりも正確に熱電対の冷接点部の温度を検出するこ
とを可能とし、しかも部品点数を減らして低コスト化し
たサーモパイルを提供することにある。
[課題を解決するための手段コ 本発明によれば、冷接点部と温接点部とを有する薄膜熱
電対素子パターンを表面に形成した有機フィルムをヒー
トシンク基板に接合したサーモ、<イルにおいて、前記
ヒートシンク基板は感温度特性を有する材料で構成し、
前記ヒートシンク基板に一対の引き出し電極を設けたこ
とを特徴とし、前記一対の引き出し電極間の電気特性に
より、前記熱電対素子パターンの冷接点部の温度補償を
行えるようにしたサーモパイルが得られる。
本発明によれば、前記サーモパイルにおいて、前記ヒー
トシンク基板は、Mn−Zn系フェライトを含むことを
特徴とするサーモパイルが得られる。
本発明によれば、前記サーモパイルにおいて、前記ヒー
トシンク板は、負抵抗温度係数を有する(NTC)サー
ミスタを含むことを特徴とするサーモパイルが得られる
即ち、本発明は薄膜熱電対素子パターンを形成した有機
フィルムを感温特性を有するヒートシンク基板の上に接
合し、前記ヒートシンク基板に形成された電極部から取
り出す電気特性を用いて、熱雷対の冷接点部の温度補償
を行うものである。
[実施例] 以下に、本発明の実施例について説明する。
第1図(a)及び(b)は、本発明によるサーモパイル
の一実施例を示す図で、(a)は平面図、(b)は断面
図である。
第1図(a)及び(b)において、ポリエステル、ある
いはポリイミド等の有機フィルム1上にSb、Bi等の
薄膜熱電対素子パターン2が蒸着あるいは、スパッタ等
の手段で形成されている。
前記薄膜熱電対素子パターン2の温接点部21の円周部
を覆う領域にて絶縁コーティング層6が形成され、その
上に赤外線吸収層6(通常、全黒が用いられる)が形成
されている。
有機フィルム1は、ヒートシンク基板4の上に接合され
ており、ヒートシンク基板4は、本発明の実施例では感
温特性を有する材料により形成されている。更に、ヒー
トシンク基板4の外径は有機フィルム1の外径よりも大
としており、周辺部の相対向する位置で、有機フィルム
1の外側部に第1図(a)及び(b)に示すごとく電極
51゜52が形成されている。
一方、ヒートシンク基板4の中央部には中空穴41が設
けられ、その内径寸法は温接点部21が中空穴41の内
側に、冷接点部22が中空穴41の外側でヒートシンク
基板4の領域に入るように設計されている。
次に、本発明の実施例に係るサーモパイルの動作原理に
ついて説明する。
本発明の実施例に係るサーモパイルは、先にのべた従来
例と同様に被測定対象物からの赤外線が赤外線吸収体7
に入射し、その部分の温度を上昇させ、熱電対素子パタ
ーン2の温接点部21の温度が上昇し温度T2となり、
一方冷接点部22の温度は、ヒートシンク基板4の温度
に保持されて温度T+(はぼ周囲温度に近い)であり、
先の温度差ΔT−T2−T、に相当する熱起電力が端子
31.32間に発生する。
ここで、本発明の実施例を、感温特性を有するヒートシ
ンク基板4の材料として、その内部抵抗値Rが温度によ
り変化するM n −Z n系フェライトを用いた例を
挙げ説明する。
第2図は、本発明の実施例に係るサーモパイルにおいて
、ヒートシンク板をM n −Z n系フェライトを用
いた場合の、ヒートシンク基板4の電極51.52をリ
ード端子とし、この端子間の抵抗値と温度Tとの関係を
示す図である。第2図において、抵抗値Rは温度Tの増
加により単調に減少する(負抵抗温度係数を有する)。
第3図は本発明の実施例に係るサーモパイルの温度検出
回路の構成を示すブロック図である。
この図において、サーモパイル33により測定された電
極31.32間の熱起電力は、増幅されるとともに、こ
の測定回路と並列に設けられたヒートシンク基板の電極
51.52を2端子とした場合の、端子間の抵抗R35
が温度補償回路36を通って接続されて、補正された出
力電圧となる。
ここで、本発明の実施例によるサーモパイルは、従来の
サーモパイルに比して下記のような利点を何する。
従来は、ヒートシンク基板104と温度検出素子108
が離れているためその間に温度差があり、正確な冷接点
部の温度検出が出来なかったが、本発明の実施例では、
ヒートシンク基板4そのものの温度を検出しているため
、冷接点部22の正確な温度検出が可能であり、非接触
温度検出の精度が従来よりも改善される。
ヒートシンク基板4自体に感温特性を持たせているので
、従来のごとく新たに温度検出素子を追加する必要がな
く、従って、部品点数が従来よりも少なく、部品費の点
で従来よりも有利である。
第1図の例のごとく、ヒートシンク基板4に電極を51
.52のごとく取出すことにより、冷接点部22の対数
のほぼ平均温度を電極51.52から取り出すことがで
きる。これは従来の第4図の例では、実現できなかった
ことである。
[発明の効果] 以上説明したように、本発明によれば、従来の欠点を改
善し、従来よりも正確に熱電対の冷接点部の温度を検出
することを可能とし、しかも部品点数を減らして低コス
ト化したサーモパイルを提供することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図(a)及び(b)は本発明によるサーモパイルの
一実施例を示す図で、(a)は平面図、(b)は断面図
である。 第2図は本発明の実施例によるヒートシンク基板の感温
特性を示す図、第3図は本発明の実施例に係るサーモパ
イルの温度検出回路の構成を示すブロック図、第4図(
a)及び(b)は従来のサーモパイルの一例を示す図で
、(a)は平面図、(b)は断面図である。 図中、1・・・有機フィルム、2・・・薄膜熱電対素子
パターン、4・・・感温特性を有するヒートシンク基板
、6・・・接続コーティング層、7・・・赤外線吸収層
、21・・・熱電対の温接点部、22・・・熱電対の冷
接点部、31.32・・・熱電対素子パターン出力端子
、41・・・中空穴、51.52・・・電極、101・
・・有機フィルム、102・・・薄膜熱電対素子パター
ン、104・・・ヒートシンク基板、106・・・絶縁
コーティング層、107・・・赤外線吸収層、108・
・・温度検出素子、121・・・熱電対の温接点部、1
22・・・熱電対の冷接点部、131,132・・・熱
電対のパターン出力端子、141・・・中空穴。 第 図 第 図 赤外線 4ヒートシンク基板 赤外線

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、冷接点部と温接点部とを有する薄膜熱電対素子パタ
    ーンを表面に形成した有機フィルムをヒートシンク基板
    に接合したサーモパイルにおいて、前記ヒートシンク基
    板は感温度特性を有する材料で構成し、 前記ヒートシンク基板に一対の引き出し電極を設けたこ
    とを特徴とし、 前記一対の引き出し電極間の電気特性により、前記熱電
    対素子パターンの冷接点部の温度補償を行えるようにし
    たサーモパイル。 2、第1の請求項記載のサーモパイルにおいて、前記ヒ
    ートシンク基板は、Mn−Zn系フェライトを含むこと
    を特徴とするサーモパイル。 3、第1の請求項記載のサーモパイルにおいて、前記ヒ
    ートシンク板は、NTCサーミスタを含むことを特徴と
    するサーモパイル。
JP1328343A 1989-12-20 1989-12-20 サーモパイル Pending JPH03189526A (ja)

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