JPH03189510A - 三次元測定装置 - Google Patents
三次元測定装置Info
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- JPH03189510A JPH03189510A JP32823689A JP32823689A JPH03189510A JP H03189510 A JPH03189510 A JP H03189510A JP 32823689 A JP32823689 A JP 32823689A JP 32823689 A JP32823689 A JP 32823689A JP H03189510 A JPH03189510 A JP H03189510A
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 46
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims abstract description 46
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 11
- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract description 15
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000004044 response Effects 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
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- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
(産業上の利用分野)
本発明は、例えば工作機械において三次元座標測定を行
なうための三次元測定装置に関する。
なうための三次元測定装置に関する。
(従来の技術)
従来、例えば工作機械において、X軸方向、Y軸方向、
Z軸方向からなる三次元の立体的な座標を測定する三次
元測定装置が開発されている。
Z軸方向からなる三次元の立体的な座標を測定する三次
元測定装置が開発されている。
この三次元測定装置には被測定対象物に接触するタッチ
プローブを何する方式がある。この方式では、タッチプ
ローブがX方向(左右方向)、Y方向(前後方向)及び
Z方向(上下方向)に移動し、このタッチプローブが被
測定対象物に接触した接触点を基準点として、タッチプ
ローブの各方向の移動量が測定される。この各方向の移
動量及びタッチプローブの接触点に基づいて、被測定対
象物の座標が測定されることになる。
プローブを何する方式がある。この方式では、タッチプ
ローブがX方向(左右方向)、Y方向(前後方向)及び
Z方向(上下方向)に移動し、このタッチプローブが被
測定対象物に接触した接触点を基準点として、タッチプ
ローブの各方向の移動量が測定される。この各方向の移
動量及びタッチプローブの接触点に基づいて、被測定対
象物の座標が測定されることになる。
ところで、被測定対象物の測定内容には、例えば被測定
対象物が円柱体の場合にその中空部の内径又は外径の測
定、または被測定対象物が角柱体の場合にその表面に形
成された溝の幅の測定など各種のものがある。ここで、
円柱体の中空部の内径を測定する場合には、タッチプロ
ーブを中空部の内壁面の任意の3点に接触させることに
なる。
対象物が円柱体の場合にその中空部の内径又は外径の測
定、または被測定対象物が角柱体の場合にその表面に形
成された溝の幅の測定など各種のものがある。ここで、
円柱体の中空部の内径を測定する場合には、タッチプロ
ーブを中空部の内壁面の任意の3点に接触させることに
なる。
また、外径を711J定する場合には、タッチプローブ
を円柱体の外壁面に接触させることになる。この場合、
測定装置では、タッチプローブが内壁面叉は外壁面のい
ずれに接触しているがは不明であるため、内径又は外径
のいずれの測定であるがを区別できない状態である。こ
のため、通常では、内径又は外径のいずれの測定である
かを指示するためのダミー入力が必要となり、例えばフ
ットスイッチ(オペレータの足により操作するスイッチ
)により入力する。
を円柱体の外壁面に接触させることになる。この場合、
測定装置では、タッチプローブが内壁面叉は外壁面のい
ずれに接触しているがは不明であるため、内径又は外径
のいずれの測定であるがを区別できない状態である。こ
のため、通常では、内径又は外径のいずれの測定である
かを指示するためのダミー入力が必要となり、例えばフ
ットスイッチ(オペレータの足により操作するスイッチ
)により入力する。
(発明が解決しようとする課題)
タッチプローブ方式の三次元11−1定装置では、AJ
j定内容を特定するためのデータ入力が必要となる。こ
のデータ入力は、タッチプローブをtpj定内容に応じ
た位置に接触させた後に、フットスイッチ等によりなさ
れる。具体的には、例えば中空部の内径を測定する場合
には、タッチプローブを中空部の内壁面の任意の3点に
接触させて各位置データを入力した後に、タッチプロー
ブを中空部内に位置させた状態で、フットスイッチ等を
操作する。このため、各位置データを入力後に、タッチ
プローブの位置設定を誤った状態で、フットスイッチ等
を操作する可能性がある。
j定内容を特定するためのデータ入力が必要となる。こ
のデータ入力は、タッチプローブをtpj定内容に応じ
た位置に接触させた後に、フットスイッチ等によりなさ
れる。具体的には、例えば中空部の内径を測定する場合
には、タッチプローブを中空部の内壁面の任意の3点に
接触させて各位置データを入力した後に、タッチプロー
ブを中空部内に位置させた状態で、フットスイッチ等を
操作する。このため、各位置データを入力後に、タッチ
プローブの位置設定を誤った状態で、フットスイッチ等
を操作する可能性がある。
本発明の目的は、タッチプローブ方式において、測定内
容に応じて予め決定された例えば内径、外径を指示する
信号をコードキーに対応させることにより、簡単な判断
と少ない操作ミスによる確実な座標11定を実現するこ
とができる三次元#j定装置を提供することにある。
容に応じて予め決定された例えば内径、外径を指示する
信号をコードキーに対応させることにより、簡単な判断
と少ない操作ミスによる確実な座標11定を実現するこ
とができる三次元#j定装置を提供することにある。
[発明の構成]
(課題を解決するための手段と作用)
本考案は、タッチプローブ方式の三次元測定装置におい
て、測定内容の種類毎に用意された複数の特定入力キー
を有し、各特定入力キーの表面には測定内容の種類に応
じてタッチプローブ手段の接触位置手順を図形表示され
た構成のコード入力手段、タッチプローブ手段により入
力される各位置データ及びコード入力手段の各特定人カ
キからの入力信号に基づいて、被測定対象物に対する測
定内容に応じたall定:1゛算を実行するための算出
手段及びこの算出手段によるΔP1定:1゛算の結果を
表示する表示手段とを備えた装置である。
て、測定内容の種類毎に用意された複数の特定入力キー
を有し、各特定入力キーの表面には測定内容の種類に応
じてタッチプローブ手段の接触位置手順を図形表示され
た構成のコード入力手段、タッチプローブ手段により入
力される各位置データ及びコード入力手段の各特定人カ
キからの入力信号に基づいて、被測定対象物に対する測
定内容に応じたall定:1゛算を実行するための算出
手段及びこの算出手段によるΔP1定:1゛算の結果を
表示する表示手段とを備えた装置である。
このような構成により、特定入力キーを操作するだけで
、711定内容の種類に応じた判断信号の入力を確実か
つ簡単に行なうことができる。
、711定内容の種類に応じた判断信号の入力を確実か
つ簡単に行なうことができる。
(実施例)
以下図面を参照して本発明の詳細な説明する。
第1図は同実施例に係イ)るタッチプローブ方式の三次
元JpI定装置の構成を示すブロック図である。
元JpI定装置の構成を示すブロック図である。
本装置は、三次元測定処理及び装置全体の制御を実行す
るマイクロプロセッサ(CPU)10、測定結果を表示
するための表示部II、all定に必要な各種データを
入力するためのキーボード12及びCPUl0のプログ
ラム、データを記憶するメモリ13を有する。さらに、
タッチプローブのX軸方向、Y軸方向、Z軸方向の各移
動量を検出するためのX軸検出部14、Y軸検出部15
及びZ軸検出部16を備えている。
るマイクロプロセッサ(CPU)10、測定結果を表示
するための表示部II、all定に必要な各種データを
入力するためのキーボード12及びCPUl0のプログ
ラム、データを記憶するメモリ13を有する。さらに、
タッチプローブのX軸方向、Y軸方向、Z軸方向の各移
動量を検出するためのX軸検出部14、Y軸検出部15
及びZ軸検出部16を備えている。
本装置の本体は、第3図に示すように、−面に表示部I
I及びキーボードI2が設けられたケース20からなり
、このケース20内にCPUl0等の回路を収納してい
る。タッチプローブは、第2図に示すように、ボール形
状の接触部21及びこの接触部21を支持する支持体2
2からなり、図示しない駆動機構により各方向に移動自
在に構成されている。この駆動機構には、各方向の移動
量を検出するためのスケール装置が設けられている。キ
ーボード12は、第4図に示すように、テンキー30と
共に、#1定内容の種類に応じたコード入力を行なうた
めの特定入力キー31を有する。特定入力キー31は、
表面にタッチプローブの接触位置手順が図形表示された
複数のキー31a〜311及びX軸に対する角度測定キ
ーからなる。さらに、キーボード12は、測定番号設定
キー(NO) 、原点ロードキー等を有する。
I及びキーボードI2が設けられたケース20からなり
、このケース20内にCPUl0等の回路を収納してい
る。タッチプローブは、第2図に示すように、ボール形
状の接触部21及びこの接触部21を支持する支持体2
2からなり、図示しない駆動機構により各方向に移動自
在に構成されている。この駆動機構には、各方向の移動
量を検出するためのスケール装置が設けられている。キ
ーボード12は、第4図に示すように、テンキー30と
共に、#1定内容の種類に応じたコード入力を行なうた
めの特定入力キー31を有する。特定入力キー31は、
表面にタッチプローブの接触位置手順が図形表示された
複数のキー31a〜311及びX軸に対する角度測定キ
ーからなる。さらに、キーボード12は、測定番号設定
キー(NO) 、原点ロードキー等を有する。
具体的には、キー31aは例えば被測定対象物が円柱体
の場合に、中空部の内径の71PJ定を指示するための
円穴測定用キーである。キー31bはその外径の/l1
ll定を指示するための円穴API定用牛用キーる。
の場合に、中空部の内径の71PJ定を指示するための
円穴測定用キーである。キー31bはその外径の/l1
ll定を指示するための円穴API定用牛用キーる。
キー31c 、 31dはそれぞれ士側のX軸方向の壁
面までの測定を指示するためのX輔11111定用キー
である。キー31e 、 31f’はそれぞれ士側のY
軸h゛向の壁面までの測定を指示するためのY !II
I DI定用キーである。キー31gは溝幅測定用キー
である。キー31 hは部材幅測定用キーである。キー
311はZ軸測定用キーである。さらに、キー31jは
タッチプローブの直径のサイズを設定するための設定用
キーである。
面までの測定を指示するためのX輔11111定用キー
である。キー31e 、 31f’はそれぞれ士側のY
軸h゛向の壁面までの測定を指示するためのY !II
I DI定用キーである。キー31gは溝幅測定用キー
である。キー31 hは部材幅測定用キーである。キー
311はZ軸測定用キーである。さらに、キー31jは
タッチプローブの直径のサイズを設定するための設定用
キーである。
次に、同実施例の動作を説明する。
先ず、第5図のステップS1に示すように、特定入力キ
ー31を操作し、測定内容の種類を入力する。ここでは
、例えば被4111定対象物が円柱体の場合で、中空部
の内径をAl1定するために、円穴/IPj定用キー3
1aを操作する。CPUl0は円穴im定用キー 31
aからの入力信号により、内径を測定するモードである
ことをメモリ13に記憶する。即ち、CPUl0は円穴
測定用キー31aの入力信号により、測定モードを判断
する判断手段である。ここで、タッチプローブの位置は
、例えば内壁の内側または外側にあり、特に限定されな
い。次に、第2図に示すタッチプローブを移動させ、接
触部21を被測定対象物の中空部の内壁の任意の3点に
接触させる(ステップS2.S3)。これにより、第1
図に示すように、接触部21が接触した際にタッチプロ
ーブ信号TPが装置に入力されて、各検出部14〜I6
はタッチプローブの移動方向に応じた移動量を検出する
。即ち、X軸検出部14は、タッチプローブ信号TPの
入力に応じて、タッチプローブがX軸方向(左右方向)
に移動した際に、前記スケール装置から出力されるX軸
信号を入力し、タッチプローブのX軸方向の移動量を検
出する。同様に、Y軸検出部15及びZ軸検出部16は
、それぞれタッチプローブ信号TPの入力に応じて、前
記スケール装置から出力されるY軸信号、Z軸信号を入
力し、タッチプローブのY軸方向(前後方向)及びZ軸
方向(上ド方向)の各移動量を検出する。
ー31を操作し、測定内容の種類を入力する。ここでは
、例えば被4111定対象物が円柱体の場合で、中空部
の内径をAl1定するために、円穴/IPj定用キー3
1aを操作する。CPUl0は円穴im定用キー 31
aからの入力信号により、内径を測定するモードである
ことをメモリ13に記憶する。即ち、CPUl0は円穴
測定用キー31aの入力信号により、測定モードを判断
する判断手段である。ここで、タッチプローブの位置は
、例えば内壁の内側または外側にあり、特に限定されな
い。次に、第2図に示すタッチプローブを移動させ、接
触部21を被測定対象物の中空部の内壁の任意の3点に
接触させる(ステップS2.S3)。これにより、第1
図に示すように、接触部21が接触した際にタッチプロ
ーブ信号TPが装置に入力されて、各検出部14〜I6
はタッチプローブの移動方向に応じた移動量を検出する
。即ち、X軸検出部14は、タッチプローブ信号TPの
入力に応じて、タッチプローブがX軸方向(左右方向)
に移動した際に、前記スケール装置から出力されるX軸
信号を入力し、タッチプローブのX軸方向の移動量を検
出する。同様に、Y軸検出部15及びZ軸検出部16は
、それぞれタッチプローブ信号TPの入力に応じて、前
記スケール装置から出力されるY軸信号、Z軸信号を入
力し、タッチプローブのY軸方向(前後方向)及びZ軸
方向(上ド方向)の各移動量を検出する。
各検出部14〜16は、アナログのX−Z軸信号をディ
ジタル信号に変換するA/D変換回路及び移動量検出用
のカウンタを備えている。
ジタル信号に変換するA/D変換回路及び移動量検出用
のカウンタを備えている。
CP U 10は、必要なデータが各検出部14〜16
から入力されると、円穴測定用キー31aからの内径を
測定するモードに基づいて、被測定対象物の円の中心座
標及び内径を算出する(ステップS4゜S5)。CPU
l0はメモリ13に予め記憶されたプログラムに基づい
て、測定用算出処理を実行する。
から入力されると、円穴測定用キー31aからの内径を
測定するモードに基づいて、被測定対象物の円の中心座
標及び内径を算出する(ステップS4゜S5)。CPU
l0はメモリ13に予め記憶されたプログラムに基づい
て、測定用算出処理を実行する。
CPUl0は算出結果を表示部11に表示させる(ステ
ップS6)。この場合、CPUl0は算出結果をプリン
タにより印字出力させてもよい。
ップS6)。この場合、CPUl0は算出結果をプリン
タにより印字出力させてもよい。
ここで、例えば第3図に示すように、タッチプローブが
X軸方向、Y軸方向及びZ軸方向に移動する際に、その
移動量をリアルタイムにディジタル量表示で表示しても
よい。
X軸方向、Y軸方向及びZ軸方向に移動する際に、その
移動量をリアルタイムにディジタル量表示で表示しても
よい。
また、第6図のステップS10〜S15に示すように、
測定内容が被測定対象物の溝幅の測定の場合には、特定
入力キー31の溝幅測定用キー31gを操作する。そし
て、前記と同様に、タッチプローブを移動させ、接触部
21を被測定対象物の任意の3点に接触させる。CPU
l0は、必要なデータが各検出部14〜1Bから入力さ
れると、被測定対象物の溝幅を算出し、算出結果を表示
部11に表示させる。この場合も、CPUl0は算出結
果をプリンタにより印字出力させてもよい。
測定内容が被測定対象物の溝幅の測定の場合には、特定
入力キー31の溝幅測定用キー31gを操作する。そし
て、前記と同様に、タッチプローブを移動させ、接触部
21を被測定対象物の任意の3点に接触させる。CPU
l0は、必要なデータが各検出部14〜1Bから入力さ
れると、被測定対象物の溝幅を算出し、算出結果を表示
部11に表示させる。この場合も、CPUl0は算出結
果をプリンタにより印字出力させてもよい。
このようにして、測定処理の開始時に、測定内容を指示
するための特定入力キー31を操作することにより、測
定内容に応じたコード入力を実行することができる。こ
の場合、特定入力キー31の各キーの表面には、測定内
容の種類に対応するタッチプローブの接触位置手順が図
形表示されている。
するための特定入力キー31を操作することにより、測
定内容に応じたコード入力を実行することができる。こ
の場合、特定入力キー31の各キーの表面には、測定内
容の種類に対応するタッチプローブの接触位置手順が図
形表示されている。
このため、オペレータは測定内容に応じた特定入力キー
31を確実に操作することができる。さらに、従来方式
のように、測定に必要なデータを入力した後に、内径ま
たは外径の内外位置に移動して、フットスイッチの操作
により測定内容を指示するデータ入力を行なうものでは
なく、測定の開始時に特定入力キー31の操作によりコ
ード入力を行なうため、誤った測定内容を指示し、測定
処理をミスするような事態を確実に防I卜することが可
能となる。
31を確実に操作することができる。さらに、従来方式
のように、測定に必要なデータを入力した後に、内径ま
たは外径の内外位置に移動して、フットスイッチの操作
により測定内容を指示するデータ入力を行なうものでは
なく、測定の開始時に特定入力キー31の操作によりコ
ード入力を行なうため、誤った測定内容を指示し、測定
処理をミスするような事態を確実に防I卜することが可
能となる。
なお、特定入力キー31は測定内容に応じて設定される
ことになり、前記実施例に示した以外の測定モードの場
合には、当然ながら該当キーの表面の図形表示がその測
定モードに応じたものとなる。
ことになり、前記実施例に示した以外の測定モードの場
合には、当然ながら該当キーの表面の図形表示がその測
定モードに応じたものとなる。
[発明の効果]
以上詳述したように本発明によれば、タッチプローブ方
式において、タッチプローブを移動して測定内容を判断
することなく、測定内容に応じて予め決定されたコード
入力を特定キーの操作により行なうため、煩わしい作業
を要することなく、簡単な操作により確実な座標4p1
定を実現することができるものである。
式において、タッチプローブを移動して測定内容を判断
することなく、測定内容に応じて予め決定されたコード
入力を特定キーの操作により行なうため、煩わしい作業
を要することなく、簡単な操作により確実な座標4p1
定を実現することができるものである。
第1図は本発明の実施例に係わるタッチプローブ方式の
三次元測定装置の構成を示すブロック図、第2図は同実
施例に係わるタッチプローブを説明するための図、第3
図は同実施例に係わる表示部及びキーボードの構成を示
す図、第4図は同実施例に係わるキーボードのキー構成
を示す図、第5図及び第6図はそれぞれ同実施例の動作
を説明するためのフローチャートである。 lO・・・CPU、I+・・・表示部、12・・・キー
ボード、14・・・X軸検出部、I5・・・Y軸検出部
、16・・・Z軸検出部、31・・・特定入力キー
三次元測定装置の構成を示すブロック図、第2図は同実
施例に係わるタッチプローブを説明するための図、第3
図は同実施例に係わる表示部及びキーボードの構成を示
す図、第4図は同実施例に係わるキーボードのキー構成
を示す図、第5図及び第6図はそれぞれ同実施例の動作
を説明するためのフローチャートである。 lO・・・CPU、I+・・・表示部、12・・・キー
ボード、14・・・X軸検出部、I5・・・Y軸検出部
、16・・・Z軸検出部、31・・・特定入力キー
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 被測定対象物に接触した接触点に対応する位置データを
入力するためのタッチプローブ手段と、測定内容の種類
毎に用意された複数の特定入力キーを有し、前記各特定
入力キーの表面には前記測定内容の種類に応じて前記タ
ッチプローブ手段の接触位置手順を図形表示された構成
のコード入力手段と、 前記タッチプローブ手段により入力される各位置データ
及び前記コード入力手段の前記各特定入力キーからの入
力信号に基づいて、前記被測定対象物に対する前記測定
内容に応じた測定計算を実行するための算出手段と、 この算出手段による前記測定計算の結果を表示する表示
手段とを具備したことを特徴とする三次元測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1328236A JP2817975B2 (ja) | 1989-12-20 | 1989-12-20 | 三次元測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1328236A JP2817975B2 (ja) | 1989-12-20 | 1989-12-20 | 三次元測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03189510A true JPH03189510A (ja) | 1991-08-19 |
JP2817975B2 JP2817975B2 (ja) | 1998-10-30 |
Family
ID=18207964
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1328236A Expired - Fee Related JP2817975B2 (ja) | 1989-12-20 | 1989-12-20 | 三次元測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2817975B2 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5434803A (en) * | 1992-03-26 | 1995-07-18 | Tokyo Seimitsu Co., Ltd. | Coordinate measuring machine and method of measuring therein |
WO2007030993A1 (en) * | 2005-09-14 | 2007-03-22 | Harbin Institute Of Technology | Micro-cavity measuring equipment and method based on double optical fiber coupling |
JP2010216965A (ja) * | 2009-03-16 | 2010-09-30 | Toyota Technical Development Corp | 挙動測定装置及び挙動測定方法 |
JP2020196051A (ja) * | 2019-05-30 | 2020-12-10 | オークマ株式会社 | 工作機械対象物の位置計測方法及び位置計測システム |
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---|---|---|---|---|
JPS5790105A (en) * | 1980-11-25 | 1982-06-04 | Mitsutoyo Mfg Co Ltd | Remote controlling device for coordinates measuring instrument |
JPS60235009A (ja) * | 1984-05-08 | 1985-11-21 | N S P:Kk | デジタルスケ−ル |
-
1989
- 1989-12-20 JP JP1328236A patent/JP2817975B2/ja not_active Expired - Fee Related
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GB2440851A (en) * | 2005-09-14 | 2008-02-13 | Harbin Inst Of Technology | Micro-cavity measuring equipment and method based on double optical fibre coupling |
GB2440851B (en) * | 2005-09-14 | 2010-11-10 | Harbin Inst Of Technology | Micro-cavity measuring equipment and method based on double optical fibre coupling |
JP2010216965A (ja) * | 2009-03-16 | 2010-09-30 | Toyota Technical Development Corp | 挙動測定装置及び挙動測定方法 |
JP2020196051A (ja) * | 2019-05-30 | 2020-12-10 | オークマ株式会社 | 工作機械対象物の位置計測方法及び位置計測システム |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2817975B2 (ja) | 1998-10-30 |
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