JPH03176776A - 円のピック処理方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、円のピック処理を計算によって行う円のピ
ック処理方式に関するものである。

〔従来の技術〕

円のピック検査はその円を描画した場合に与えられたピ
ック枠の中に描画要素が含まれるか否かを判定すること
により行われるが、グラフィック場合に、その円表示を
構成する大量の直線に対して前記判定を行わなくてはな
らない。

従来の円ピック処理では処理性能を上げるために円の中
心点座標及び半径とピック検出枠座標を用いて簡単な計
算により実施できる予備検査を行いその結果にしたがっ
てピック枠に描画要素が含まれる可能性が無い円を除外
し、予備検査の手法では完全なピック判定が出来ない円
に付いてのみ、より複雑な計算によるピック詳細検査を
行い正確なピック判定を行うようになっている。

この時用いられる予備検査の手法に関しては、円の外接
正方形とピック枠との重なりを調べるブＪ法が知られて
いる。さらにこの予備検査のなかで使われる手法に関し
ては、例えば、山口冨士夫著の「コンピュータデイスプ
レィによる図形処理工学（日刊工業新聞社）」に記載の
直線のクリッピング方式（ｐｐ、　１３８−１４５）を
利用した計算によるりリップ方式が容易に類推されるの
で、従来技術としてこの直線のクリッピング方式を応用
した予備検査方式を取り上げる。

第４図は、この円の予備検査方式の流れを示すフローチ
ャートである。第４図において、１００は計算によるク
リッピング処理で必要なデータを人力するデータ人力部
、１１０はこのデータ入力部１００から入力されたデー
タを基にして大雑把なピックの検査を行うピック予備検
査部である。

以下、具体的に説明する。

データ入力部１００から入力されるクリ・７プ対象とな
る円Ｃの中心位Ｗ（ｘＣ，ｙＣ）と半径ｒＣから円Ｃに
外接する外接正方形Ｓの対角線りを求め、その両端点１
０１を（ｘ　Ｏ，ｙ　Ｏ）及び（ｘｌ、ｙｌ）とする。

これらの関係は次式のようになる。

ｘＯ＝ｘｃ−ｒＣ ｙｏ＝ｙｃ−ｒＣ ｘｌ＝ｘＣ＋ｒＣ ｙｌ＝ｙｃ＋ｒｃ 同じくデータ入力部１００から入力されるクリップ枠の
４直線１０２をｘ＝ｘＬ、ｘ＝ｘＲ，ｙ＝３’Ｂ、）’
＝）’Ｔとする。対角線りの端点（ｘ、ｙ）がクリップ
枠の４直ｖＡ１０２によって分割された９つの領域の内
、どの領域に属するのかを容易に判定するために、次の
ベクトルを求める。

（ｙＴ　　’／、Ｙ　　、’ｌＢ、ｘＲ−ｘ、ｘ−ｘＬ
）・−（１） （１）式の計算結果、各項の符号が正ならＯ，負ならｌ
として４ビツトの符号を生成する。この動作を施す手段
が符号生成手段１１１である。

第５図は、クリップ枠の４直線１０２によって分割され
た９つの領域における符号を示した符号−覧図である。

ここで、対角線りの両端点１０１（ｘＯ，ｙＯ）及び（
ｘｉ、ｙｌ）の符号をＣＯ及びＣ１とすれば、第４図か
ら次のことがらは明らかである。

（ｉ）ＣＯ＝ＣＩ＝ＯＯ００ならば、（ｘ　Ｏ。

ｙＯ）及び（ｘｉ、ｙｌ）は共にクリップ枠内に存在す
る。従って、外接正方形Ｓは完全にクリップ枠の中に存
在する。

（ｉｉ）　Ｃ０ＡＮＤ　ＣＩ≠ｏｏｏｏならば、（ｘＯ
。

ｙＯ）及び（ｘｉ、ｙｌ）は共にクリップ枠の４直線１
０２の内、少なくとも一つの直線に関して、その直線で
分割された二つの領域の内、クリップ枠外の領域に存在
する。従って、外接正方形Ｓは完全にクリップ枠外に存
在する。

前記２条件（ｉ）及び（ｉｉ）の内、いずれかに該当す
る対角線りを持つ外接正方形Ｓについてはこれら一連の
処理だけで対象となる外接正方形Ｓがクリツブされるの
か、されないのかを判定することができる。外接正方形
がクリッピングされない場合はそれに内接する円もクリ
ッピングされないことは自明である。外接する正方形が
クリッピングされる時はそれに内接する円がクリッピン
グされるか、クリッピングされないかを判断するために
円を構成する直線群全てに対してピック詳細検査を行う
ことにより円のピックを判断する。

〔発明が解決しようとする課題〕

この円の外接正方形を利用したピック予備検査を考えた
場合、前記２条件（ｉ）及び（ｉｉ　）の内、いずれか
に該当する対角線を持つ外接正方形を持つ円に対しては
、対象としている円がピックされるのか、されないのか
を容易に判定することができる。しかし、前記２条件（
ｉ）及び（ｉｉ　）の内、いずれにも該当しない対角線
を持つ外接正方形を持つ円については判定を行うことが
できない。そして、円の半径がピック枠に比べて大きく
なった場合は、ピック枠が円の内部に完全に含まれる場
合が多くなり、上記予備検査ではピックの判定が確定で
きないケースが増加する。又、このようなケースにおい
ては円を構成する直線群の本数も（円の半径に比例して
）増えるので最終的なピック検査に掛かる時間が増大す
る。

この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、ピック予備検査の結果、判定不能であり、更
に複雑な計算を必要とするピック詳細検査が必要となる
ようなケースに対して、追加予備検査を施すことにより
、ピック枠外である円を見つげピック予備検査による判
定可能な条件の範囲を拡張し、複雑な計算を必要とする
ピック詳細検査を実施する回数を減らし、高速なピック
処理を図れる円のピック処理方式を提供することを目的
とする。

〔課題を解決するための手段〕

この発明に係る円のピック処理方式は、ピック対象とな
る円の中心点及び半径、並びにピック枠の４直線に基づ
いてピック枠内に描画要素が含まれるか否かを判定する
円のピック予備検査をピック予備検査部２で行い、上記
ピック予備検査部２の処理だけでは判定不可能な円に対
して最終的なピック詳細検査を行う前にピック追加予備
検査部３で上記円の内接正方形を求めると共にこの内接
正方形と上記ピック枠との重なりを判断することを特徴
とするものである。

〔作用〕

ピック予備検査部２はピック対象となる円の中心点及び
半径、並びにピック枠の４直線に基づいてピック枠内に
描画要素が含まれるか否かを判定する円のピック予備検
査を行う。ピック追加予備検査部３はピック予備検査部
２の処理だけでは判定不可能な円に対して最終的なピッ
ク詳細検査を行う前に上記円の内接正方形を求めると共
にこの内接正方形と上記ピック枠との重なりを判断する
。

〔実施例〕

第１図はこの発明の一実施例に係るピック処理方式の概
念的な構成を示すブロック図である。第１図において、
ｌはピック対象となる円の中心点及び半径、並びにピッ
ク枠の４直線に関するブタを入力するデータ入力部、２
はそのデータに基づいてピック枠内に描画要素が含まれ
るか否かを判定する円のピック予備検査を行うピック予
備検査部、３はピック予備検査部２の処理だけでは判定
不可能な円に対して最終的なピック詳細検査を行う前に
上記円の内接正方形を求めると共にこの内接正方形と上
記ピック枠との重なりを判断するピック追加予備検査部
、４はピック予備検査部２及びピック追加予備検査部３
の検査結果を用いて更に詳細なピック検査を行うピック
詳細検査部である。上記ピック追加予備検査部３は、円
の内接正方形を計算する計算機を有し、この計算手段は
正方形のサイズをピック枠のサイズだけ小さめに計算す
る。

第２図は円Ｃに内接する傾き４５°の正方形Ｒ及びクリ
ップ枠Ｐを示したものである。正方形Ｒの対角線長ｒＲ
は円の半径ｒＣからクリップ枠サイズΔＸ、Δｙの内い
ずれか大きい方の値を引いたものである。

第２図のケースに対して円の外接正方形を用いた前記予
備検査を行うとこのケースではピック枠が完全に円の内
部に含まれるのでこの予備検査だけでピックの結果を決
定することはできない。

その場合、円Ｃの中心点（ｘ　Ｃ，ｙ　Ｃ）と対角線長
ｒＲを用いてクリップ枠Ｐの中心点（ｘ　Ｃ。

ｙＣ）が内接正方形Ｒの内部に存在するかしないかを判
定する。内接正方形Ｒの四つの頂点の座標は ｒＲ＝ｒＣ−ｍａｘ（Δｘ、　　Δｙ〕とすると、それ
ぞれ （ｘＣ＋ｒＲ／２．ｙＣ＋ｒＲ／２） （ｘＣ＋ｒＲ／２．ｙＣ−ｒＲ／２） （ｘＣ−ｒＲ／２．　　ｙＣ＋ｒＲ／２）（ｘ　Ｃ−ｒ
　Ｒ／　２．　　ｙ　Ｃ−ｒ　Ｒ／　２）となり、クリ
ップ枠の中心点（ｘ　Ｐ、　　ｙ　Ｐ）がこの内接正方
形Ｒの中に含まれる条件は次のようになる。

）’Ｐ　　ｙｃｌ＜１ｒＲ−（ｌｘＰ−ｘｃｌ）（２） （２）式が成立する場合はクリップ枠Ｐは完全に内接正
方形Ｒの内部に存在し、内接正方形Ｒは円Ｃの半径より
クリップ枠サイズだけ小さめに設定されているので円Ｃ
は完全にクリップ枠の外側にあると判断できる。第３図
に上記ピック追加予備検査のフローチャートを示す。第
３図における各文字については前述したのでここでは説
明を省略する。

第３図において、ステップＳ１ではΔＸ〉Δｙであるか
どうかを判定し、ΔＸ〉ΔｙのときｒＲ＝ｒＣ−ΔＸと
いう演算を行い（ステップＳ２）、ΔＸ≦Δｙのときｒ
Ｒ＝ｒＣ−Δｙという演算を行う（ステップＳ３）。ス
テ・ノブｓ４ではｘｐ＞ｘＣであるかどうかを判定し、
ΔＰ＞ｘＣのときａ＝ｘＰ−ｘＣという演算を行い（ス
テップＳ５）、ｘＰ≦ｘＣのときａ＝ｘＣ−ｘＰという
演算を行う（ステップＳ６）。ステップＳ７ではｒＲ＞
ａであるかどうかを判定し、ｒＲ＞ａのときｂ−ｒＲ−
ａという演算を行い（ステップＳ８）、ｒＲ≦ａのとき
ｂ＝ａ−ｒＲという演算を行う〈ステップＳ９）。ステ
ップＳＩＯではｙＰ〉ｙＣであるかどうかを判定し、ｙ
ｐ＞ｙｃのときｃ＝ｙＰ−ｙＣという演算を行い（ステ
ップ５１１）、ｙＰ≦ｙｃのときｃ＝ｙＣ−ｙＰという
演算を行う（ステップ５１２）。ステップＳ１３ではｃ
＜ｂであるかどうかを判定し、ｃａｂのとき円Ｃはクリ
ップされず（ステ・ノブ５１４）、ｃ≧ｂのときは判定
不能となる（ステップ５１５）。

この実施例に係わる円のピ・ツク処理方式は、前記ピッ
ク予備検査の結果前記２条件（ｉ）及び（ｉｉ）の内、
いずれにも該当しない外接正方形を持つ円について簡単
な計算による追加予備検査を行うことにより完全にクリ
ップ枠外に存在する円を見つけることによりピック予備
検査による判定可能な条件の範囲を拡張し、複雑な計算
を必要とするピック詳細検査を実施する回数を減らすこ
とにより一群の描画データに対するピック処理性能を向
上させるようにしたものである。

この実施例におけるピック処理方式は前記予備検査の結
果前記２条件（ｉ＞及び（ｉｉ）の内、いずれにも該当
しない対角線を持つ外接正方形を持つ円についてその円
の中心位置と半径からその円に内接する正方形を求め、
その正方形とピック領域の重なりを判定することにより
重なりがない場合はその円は完全にピック領域の外に存
在することが判るので、複雑な計算を伴うピック詳細検
査を行わなくても済み、総合的なピック処理性能を向上
させることが可能となる。

なお、上記実施例では直線近似で円を表示する場合につ
いて説明したが、円を円弧座標発生アルゴリズムにより
表示するケースについても、この発明による追加ピック
予備検査を行うことにより円弧座標発生アルゴリズムに
よるクリップ検査の結果絶対にクリップされることのな
い円を予め識別除去することが可能となり、ここで説明
した場合と同様に効率の良いピック検査を行うことがで
きる。

〔発明の効果〕

以上のように本発明によれば、ピック予備検査部の処理
だけでは判定不可能な円に対して最終的なピック詳細検
査を行う前にピック追加予備検査部で円の内接正方形を
求めると共にこの内接正方形とピック枠との重なりを判
断するようにしたので、予備検査の結果、判定不能であ
り、更に複雑な計算を必要とするピック詳細検査が必要
となるようなケースに対しても追加予備検査を行うこと
ができ、これによりクリンプ枠外である円が見つけ出さ
れ、ピック予備検査による判定可能な条件の範囲が拡張
され、したがって複雑な計算を伴うピック詳細検査の必
要頻度が減ぜられ、高速なビア・り処理が図れるという
効果が得られる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の一実施例に係る円のピック処理方式
の概念的な構成を示すブロック図、第２図はこの実施例
における円とその内接正方形とピック枠との関係を示す
図、第３図はこの実施例における円のピック追加予備検
査のフローチャート、第４図は従来の円のピック処理方
式におけるクリッピング処理のフローチャート、第５図
はクリンプ枠の４直線によって分割された９つの領域に
おける符号を示した符号−覧図である。 ２・・・ピック予備検査部、３・用ピック追加予備検査
部。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. ピック対象となる円の中心点及び半径、並びにピック枠
   の４直線に基づいてピック枠内に描画要素が含まれるか
   否かを判定する上記円のピック予備検査をピック予備検
   査部で行い、上記ピック予備検査部の処理だけでは判定
   不可能な円に対して最終的なピック詳細検査を行う前に
   ピック追加予備検査部で上記円の内接正方形を求めると
   共にこの内接正方形と上記ピック枠との重なりを判断す
   ることを特徴とする円のピック処理方式。