JPH0314183A - 直線のピック方式 - Google Patents
直線のピック方式Info
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- JPH0314183A JPH0314183A JP15022789A JP15022789A JPH0314183A JP H0314183 A JPH0314183 A JP H0314183A JP 15022789 A JP15022789 A JP 15022789A JP 15022789 A JP15022789 A JP 15022789A JP H0314183 A JPH0314183 A JP H0314183A
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- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims abstract description 18
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 21
- 238000012545 processing Methods 0.000 abstract description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 238000007792 addition Methods 0.000 description 4
- 238000012795 verification Methods 0.000 description 3
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 2
- RSPISYXLHRIGJD-UHFFFAOYSA-N OOOO Chemical compound OOOO RSPISYXLHRIGJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野コ
この発明は、コンピュータグラフィックス分野における
直線のピック処理、即ち一定の枠内にある直線の抽出処
理を計算によって行なう直線のピック方式に関するもの
である。
直線のピック処理、即ち一定の枠内にある直線の抽出処
理を計算によって行なう直線のピック方式に関するもの
である。
[従来の技術]
直線のピック処理に際しては、まず、ピック対象となる
直線を描画した場合に、与えられたピック枠の中に描画
要素が含まれるか否かを判定するピック検査が行なわれ
るが、グラフィックス分野における図形表示は大半の図
形を直線近似により描画するので一群の図形表示に対し
てピック検査を行なった場合に、その図形表示を構成す
る大量の直線に対して前記ピック検査を行なわなくては
ならない。
直線を描画した場合に、与えられたピック枠の中に描画
要素が含まれるか否かを判定するピック検査が行なわれ
るが、グラフィックス分野における図形表示は大半の図
形を直線近似により描画するので一群の図形表示に対し
てピック検査を行なった場合に、その図形表示を構成す
る大量の直線に対して前記ピック検査を行なわなくては
ならない。
従来の直線ピック処理では、処理性能を」二げるために
直線の両端点座標とビック検:JJ、枠座標を用いて簡
単な計算により実施できる予備検査を行ない、その結果
にしたかってピック枠に描画要素が含まれる可能性が無
い直線を除外し、予備検査の手法では完全なピック判定
が出来ない直線に付いてのみ、より複雑なd1算による
詳細検査を行ない正確なピック検査を行なうようになっ
ている。
直線の両端点座標とビック検:JJ、枠座標を用いて簡
単な計算により実施できる予備検査を行ない、その結果
にしたかってピック枠に描画要素が含まれる可能性が無
い直線を除外し、予備検査の手法では完全なピック判定
が出来ない直線に付いてのみ、より複雑なd1算による
詳細検査を行ない正確なピック検査を行なうようになっ
ている。
この時用いられる予備検査の手法に関しては、例えば、
特開昭63−143675号公報の従来例としてあげら
れた、山口富士大著の[コンピュータデイスプレィによ
る図形処理工学(日刊工業新聞社)」に記載の直線のク
リッピング方式(pp、]、38−145)と同様の方
法を利用したピック検査が行なわれてきた。第5図は、
この直線のクリッピング方式を説明するためのフローチ
ャー1〜でである。図において、(1)は割算によるク
リッピング処理で必要な入力データ部、(月)はクリッ
プ対象となる直線の両端点、(]I2はクリップ枠の4
直線、(2)は入力データ部(1)から入力されたデー
タを基にして大雑把なりリップの検査を行なう予備検査
部、(21)は直線の両端点(11)が、クリップ枠の
4直線(I2)の各々に対して何処に位置するかを表わ
す符号を生成する符号生成手段、(22)は符号生成手
段(2I)からの符号によって直線の両端点(11)が
共にクリップ枠内にあるか、共にクリップ枠の4直線(
12)の内少なくとも一つの直線に対し、これよりクリ
ップ枠外方向の領域に存在するかを判定する符号検定手
段、(3)は予備検査部(2)によって判定不可能な直
線に対し詳細な検査を行なう詳細検査部、(4)は予備
検査部(2)及び詳細検査部(3)によって得られるデ
ータを出力する出力データ部である。
特開昭63−143675号公報の従来例としてあげら
れた、山口富士大著の[コンピュータデイスプレィによ
る図形処理工学(日刊工業新聞社)」に記載の直線のク
リッピング方式(pp、]、38−145)と同様の方
法を利用したピック検査が行なわれてきた。第5図は、
この直線のクリッピング方式を説明するためのフローチ
ャー1〜でである。図において、(1)は割算によるク
リッピング処理で必要な入力データ部、(月)はクリッ
プ対象となる直線の両端点、(]I2はクリップ枠の4
直線、(2)は入力データ部(1)から入力されたデー
タを基にして大雑把なりリップの検査を行なう予備検査
部、(21)は直線の両端点(11)が、クリップ枠の
4直線(I2)の各々に対して何処に位置するかを表わ
す符号を生成する符号生成手段、(22)は符号生成手
段(2I)からの符号によって直線の両端点(11)が
共にクリップ枠内にあるか、共にクリップ枠の4直線(
12)の内少なくとも一つの直線に対し、これよりクリ
ップ枠外方向の領域に存在するかを判定する符号検定手
段、(3)は予備検査部(2)によって判定不可能な直
線に対し詳細な検査を行なう詳細検査部、(4)は予備
検査部(2)及び詳細検査部(3)によって得られるデ
ータを出力する出力データ部である。
次にその動作を具体的に説明する。入力データ部(1)
から予備検査部(2)に入力されるクリップ対象となる
直線の両端点(11)を(xo+yo)及び(X□。
から予備検査部(2)に入力されるクリップ対象となる
直線の両端点(11)を(xo+yo)及び(X□。
yt、)、クリップ枠の4直線(I2)をX = X
l、 、 X = X R+y−yIl、y−yTとし
、予備検査部(2)の符号生成手段(21)において、
次のバク1−ルが求められ、この式の計算結果、各項の
符号が正ならC1負なら]として4ビツトの符号が生成
される。この符号から、クリップ対象直線の端点(11
)がクリップ枠の4直線(12)によって分割された9
つの領域の内、どの領域に属するかがわかる。第6図は
とれらの領域における符号を示した符号−覧図である。
l、 、 X = X R+y−yIl、y−yTとし
、予備検査部(2)の符号生成手段(21)において、
次のバク1−ルが求められ、この式の計算結果、各項の
符号が正ならC1負なら]として4ビツトの符号が生成
される。この符号から、クリップ対象直線の端点(11
)がクリップ枠の4直線(12)によって分割された9
つの領域の内、どの領域に属するかがわかる。第6図は
とれらの領域における符号を示した符号−覧図である。
ここで、クリップ対象直線の両端点(1,1)(XO。
y、1)及び(X s、 + Y r )の符号をC8
及びC1とすれば、第5図から次のことが明らかである
。
及びC1とすれば、第5図から次のことが明らかである
。
い)co=c、=OOOOならば、(xa+yn)及び
(Xz+yx、)は共にクリップ枠内に存在する。従っ
て、クリップ対象直線は完全にクリップ枠の中に存在す
る。
(Xz+yx、)は共にクリップ枠内に存在する。従っ
て、クリップ対象直線は完全にクリップ枠の中に存在す
る。
(ij)co*c1≠0000(ここに*はAND条件
を示す。以下同じ)ならば、(Xo+yo)及び(xl
。
を示す。以下同じ)ならば、(Xo+yo)及び(xl
。
y、)は共にクリップ枠の4直線(12)の内、少なく
とも一つの直線に関して、その直線で分割された二つの
領域の内、クリップ枠外の領域に存在する。
とも一つの直線に関して、その直線で分割された二つの
領域の内、クリップ枠外の領域に存在する。
従って、クリップ対象直線は完全にクリップ枠外に存在
する。
する。
上記2条件(i)及び(]iiの内、いずれかに該当す
ればこれら一連の処理だけで対象となる直線がクリップ
されるのか、されないのかを判定することができる。こ
れらの判定動作は符号検定手段(22)で行なわれ、ス
テップ(221)で条件(1)による判定が、ステップ
(222)で条件(ii)による判定がそれぞれ行なわ
れる。このようにして条件(1)。
ればこれら一連の処理だけで対象となる直線がクリップ
されるのか、されないのかを判定することができる。こ
れらの判定動作は符号検定手段(22)で行なわれ、ス
テップ(221)で条件(1)による判定が、ステップ
(222)で条件(ii)による判定がそれぞれ行なわ
れる。このようにして条件(1)。
(…)を満足する直線が出力データ部(4)に出力され
る。
る。
次に上記詳細検査部(3)における動作を説明する。上
記2条件(i)及び(jl)のいずれにも該当しない直
線は少なくとも一方の端点がクリップ枠外に存在してい
るはずであるから、クリップ枠外の端点が(Xo+yo
)となるようにする。このためにステップ(30)及び
(31)にて次の処理が行なわれる。
記2条件(i)及び(jl)のいずれにも該当しない直
線は少なくとも一方の端点がクリップ枠外に存在してい
るはずであるから、クリップ枠外の端点が(Xo+yo
)となるようにする。このためにステップ(30)及び
(31)にて次の処理が行なわれる。
即ち、co−OOOOならば、(x o + ’J o
)と(x□。
)と(x□。
yユ)、及び符号C6とclが交換され、co=000
0でなければ何もされない。次にステップ(32) 。
0でなければ何もされない。次にステップ(32) 。
(33) 、 (34)により、符号c。髪基にして、
端点(xo。
端点(xo。
yo)が上記クリップ枠の4直線(12)の各々に関し
てどちらの領域に存在しているのかが調べられる。
てどちらの領域に存在しているのかが調べられる。
第6図から次のことが明らかである。即ち、(iii)
co* OOO1≠ooooならば、xo< x
l、である。
co* OOO1≠ooooならば、xo< x
l、である。
(iv)co*0OIC1:#0000ならば、XR<
Xoである。
Xoである。
(V)co*o、too≠ooooならば、yo<yB
である。
である。
(vj)上記三条外(iii)、(jv)、(v)以外
ならば、yT < V oである。
ならば、yT < V oである。
これら4条件(iii)、(■)、(v)、(vj)に
よってクリップ対象直線の存在する領域が判明したら、
ステップ(35) 、 (36) 、 (37)及び(
38)によって、次の処理が行なわれる。即ち、上記各
条件(iii)、(iv)。
よってクリップ対象直線の存在する領域が判明したら、
ステップ(35) 、 (36) 、 (37)及び(
38)によって、次の処理が行なわれる。即ち、上記各
条件(iii)、(iv)。
(■)、(vJ)の対象となる直線(例えば条件(ji
i)の場合はX二X14)とクリップ対象直線との交点
及びそれの符号を求めて新たに(Xo+yo)及びC6
とする。
i)の場合はX二X14)とクリップ対象直線との交点
及びそれの符号を求めて新たに(Xo+yo)及びC6
とする。
新たな点(Xo+yn)は次のような泪算式によって求
められる。
められる。
(■)条件(iii )の場合、
(Xo+yo)””(X+、v yo+(yt 3’
0)X(XL Xa)÷(X、−x、))(vi[i
)条件(iv)の場合、 (Xa+yo)””(XRv yo+(y□yn)X(
xn xa)÷(X□−χ。))(ix)前記条件(
■)の場合、 (xo+yo)”(xo+(xt、 xa)X(yB
yo)÷(yi、 yoL yB)(x)前記条件(
vj)の場合、 (Xo+yo)”(Xo+(Xx、−xo)X(yT−
yo)÷(ylyoL yT)以上の結果より得られた
クリップ対象直線の新たな両端点(X n + ’I
o )及び(X x + ys、 )とその符号Co及
びC工を基にして、上記予備検査部(2)による上記2
条件(i)及び(]iiの検査処理を再び繰り返せば、
高々4回の乗除算と数回の加減算及び比較演算だけで対
象としている直線のクリップ処理を行なうことができる
。
0)X(XL Xa)÷(X、−x、))(vi[i
)条件(iv)の場合、 (Xa+yo)””(XRv yo+(y□yn)X(
xn xa)÷(X□−χ。))(ix)前記条件(
■)の場合、 (xo+yo)”(xo+(xt、 xa)X(yB
yo)÷(yi、 yoL yB)(x)前記条件(
vj)の場合、 (Xo+yo)”(Xo+(Xx、−xo)X(yT−
yo)÷(ylyoL yT)以上の結果より得られた
クリップ対象直線の新たな両端点(X n + ’I
o )及び(X x + ys、 )とその符号Co及
びC工を基にして、上記予備検査部(2)による上記2
条件(i)及び(]iiの検査処理を再び繰り返せば、
高々4回の乗除算と数回の加減算及び比較演算だけで対
象としている直線のクリップ処理を行なうことができる
。
[発明が解決しようとする課題]
上述の直線のクリッピング方式を利用した従来の直線の
ピック方式では、予備検査の段階で上記2条件(1)及
び(1])による検査のみしか行なわれなかった。従っ
て、これらの条件の何れにも該当しない直線に対しては
、すべて複雑な計算を必要とするピック詳細検査を実施
する必要があった。
ピック方式では、予備検査の段階で上記2条件(1)及
び(1])による検査のみしか行なわれなかった。従っ
て、これらの条件の何れにも該当しない直線に対しては
、すべて複雑な計算を必要とするピック詳細検査を実施
する必要があった。
この発明はこのような問題点に鑑みなされたもので、上
記2条件(1)及び(ii)による予備検査の外に簡単
な予備検査を追加して、ピック予備検査による判定可能
な条件の範囲を拡張し、複雑な計算を必要とするピック
詳細検査を実施する回数を減らすことができる直線のピ
ック方式を得ることを目的とする。
記2条件(1)及び(ii)による予備検査の外に簡単
な予備検査を追加して、ピック予備検査による判定可能
な条件の範囲を拡張し、複雑な計算を必要とするピック
詳細検査を実施する回数を減らすことができる直線のピ
ック方式を得ることを目的とする。
[課題を解決するための手段]
この発明に係る直線のピック方式は、ピック予備検査部
で判定不可能な直線に対しピック詳細検査部による詳細
検査前に、ピック対象直線の両端点の座標値を基に、こ
の直線の両端点をそれぞれ通り、この直線が右上りの時
は右上り、右下りの時は右下りの傾き45°の2平行線
間領域と、ピック枠内領域との重なりを判定し、重なり
がない場0 合をピック枠外と判定するピック追加予備検査部を設け
たものである。
で判定不可能な直線に対しピック詳細検査部による詳細
検査前に、ピック対象直線の両端点の座標値を基に、こ
の直線の両端点をそれぞれ通り、この直線が右上りの時
は右上り、右下りの時は右下りの傾き45°の2平行線
間領域と、ピック枠内領域との重なりを判定し、重なり
がない場0 合をピック枠外と判定するピック追加予備検査部を設け
たものである。
[作 用]
この発明におけるピック方式は、予備検査の結果上記2
条件(i)及び(]j)の内いずれにも該当しないピッ
ク対象直線について、その直線の端点座標値を基に、こ
の直線の両端点をそれぞれ通り、この直線が右上りの時
は右上り、右下りの時は右下りの傾き45°の2平行線
間領域と、ピック枠内領域との重なりを判定することに
より、重なりがない場合はその直線は完全にピック領域
の外に存在することが判委ので、複雑な割算を伴うピッ
ク詳細検査を行なわなくても済み、総合的なピック処理
性能を向上させることが可能となる。
条件(i)及び(]j)の内いずれにも該当しないピッ
ク対象直線について、その直線の端点座標値を基に、こ
の直線の両端点をそれぞれ通り、この直線が右上りの時
は右上り、右下りの時は右下りの傾き45°の2平行線
間領域と、ピック枠内領域との重なりを判定することに
より、重なりがない場合はその直線は完全にピック領域
の外に存在することが判委ので、複雑な割算を伴うピッ
ク詳細検査を行なわなくても済み、総合的なピック処理
性能を向上させることが可能となる。
[実施例]
以下、この発明の一実施例について説明する。
第1図はこの発明の一実施例を示す構成図、第2図はピ
ック対象直線とピック枠との関係を示す図、第3図はこ
の実施例において各条件に対して用いられる判定式を示
す一覧表、第4図はこの実施例の動作を説明するフロー
チャートである。図において、(1)はピック処理で必
要な入力データ部、01)はピック対象直線の両端点、
(12)はピック枠の4直線、(2)はピック予備検査
部、(21)はピック対象直線両端点(11)の位11
1Cを表わす符号を生成する符号生成手段、(22)は
ピック対象直線両端点(11)が共にピック枠内にある
か、共にピック枠の4直線(12)の内少なくとも一つ
の直線に対し、これよりピック枠外方向の領域に存在す
るかを判定する符号検定手段、(3)はピック予備検査
部(2)によって判定不可能な直線に対し詳細な検査を
行なうピック詳細検査部、(4)はピック予備検査部(
2)及びピック詳細検査部(3)によって得られるデー
タを出力する出力データ部、(41)は予備検査部(2
)によって判定されたピック対象直線、(42)は後述
のビック追加予備検査部によって判定されたピック対象
直線、(43)はピック詳細検査部(3)による最終的
なピック判定、(5)はこの発明によって追加されたビ
ック追加予備検査部、(51)はピック対象直線が右」
ニリが右下りかを判定する傾斜方向判定手段、(52)
はピック対象直線が横長か縦長かを判定する長さ方向判
定手段、(53)は、ピック対象直線両端点(11)を
通る傾き45°の2平行線間領域のピック枠内領域との
重なりを判定するための判定Y座標位置を算出する判定
Y座標位置算出手段、(54)はこの手段(53)によ
って算出された判定Y座標位置とピック枠内領域の中心
点とを比較し、ピック枠内領域の中心点が判定Y座標位
置間にあるかないかを判定する追加予備判定手段、Pは
ピック対象直線、A (X o + 3’ o )、E
(X i、 r ’J s、)は直線Pの両端点、L
、 R、T 、 B oはピック枠4直線、C(xc
+yc)はピック枠中心点、α(X、−zX、yo+z
y)、β(x、十zX、y、 −zy)はそれぞれ点A
、Bからピック枠サイズ2 ZX:(XR−XL)、
2 Zy(:!/T ya)の1/2だけ離れた点、
PA+PBは点A、Bを通る傾き45°の2平行線、P
、、PBは点α、βを通る傾き45°の2平行線である
。
ック対象直線とピック枠との関係を示す図、第3図はこ
の実施例において各条件に対して用いられる判定式を示
す一覧表、第4図はこの実施例の動作を説明するフロー
チャートである。図において、(1)はピック処理で必
要な入力データ部、01)はピック対象直線の両端点、
(12)はピック枠の4直線、(2)はピック予備検査
部、(21)はピック対象直線両端点(11)の位11
1Cを表わす符号を生成する符号生成手段、(22)は
ピック対象直線両端点(11)が共にピック枠内にある
か、共にピック枠の4直線(12)の内少なくとも一つ
の直線に対し、これよりピック枠外方向の領域に存在す
るかを判定する符号検定手段、(3)はピック予備検査
部(2)によって判定不可能な直線に対し詳細な検査を
行なうピック詳細検査部、(4)はピック予備検査部(
2)及びピック詳細検査部(3)によって得られるデー
タを出力する出力データ部、(41)は予備検査部(2
)によって判定されたピック対象直線、(42)は後述
のビック追加予備検査部によって判定されたピック対象
直線、(43)はピック詳細検査部(3)による最終的
なピック判定、(5)はこの発明によって追加されたビ
ック追加予備検査部、(51)はピック対象直線が右」
ニリが右下りかを判定する傾斜方向判定手段、(52)
はピック対象直線が横長か縦長かを判定する長さ方向判
定手段、(53)は、ピック対象直線両端点(11)を
通る傾き45°の2平行線間領域のピック枠内領域との
重なりを判定するための判定Y座標位置を算出する判定
Y座標位置算出手段、(54)はこの手段(53)によ
って算出された判定Y座標位置とピック枠内領域の中心
点とを比較し、ピック枠内領域の中心点が判定Y座標位
置間にあるかないかを判定する追加予備判定手段、Pは
ピック対象直線、A (X o + 3’ o )、E
(X i、 r ’J s、)は直線Pの両端点、L
、 R、T 、 B oはピック枠4直線、C(xc
+yc)はピック枠中心点、α(X、−zX、yo+z
y)、β(x、十zX、y、 −zy)はそれぞれ点A
、Bからピック枠サイズ2 ZX:(XR−XL)、
2 Zy(:!/T ya)の1/2だけ離れた点、
PA+PBは点A、Bを通る傾き45°の2平行線、P
、、PBは点α、βを通る傾き45°の2平行線である
。
次に、その動作について説明する。今、第2図に示した
直線Pに対して、ピック予備検査部(2)によって予備
検査を行なうと、端点Aの符号C83 は010 J、 、端点I3の符号Q、はJ−Oj−0
であり、cof:c1≠oooo、cn*ax=○OO
Oとなり、上記条件件(i)、l)の内いずれにも該当
しないので、この予備検査たけでピックの結果を決定す
ることはできない。それで、追加予備検李部(5)によ
るピック検査が行なわれる。この追加のピック予備検査
では、ピック対象直線Pの両端点A。
直線Pに対して、ピック予備検査部(2)によって予備
検査を行なうと、端点Aの符号C83 は010 J、 、端点I3の符号Q、はJ−Oj−0
であり、cof:c1≠oooo、cn*ax=○OO
Oとなり、上記条件件(i)、l)の内いずれにも該当
しないので、この予備検査たけでピックの結果を決定す
ることはできない。それで、追加予備検李部(5)によ
るピック検査が行なわれる。この追加のピック予備検査
では、ピック対象直線Pの両端点A。
Bを通る直線Pと同し右」ニリの傾き45°の2平行線
P A + P 11間領域とピック枠4直線L 、
R、T 、 B 。
P A + P 11間領域とピック枠4直線L 、
R、T 、 B 。
によって囲まれるピック領域との重なりが判定される。
そのためには、ピック枠の中心点C(XC。
yc)の値と点α、βとの関係が調べられ、ピック枠の
中心点Cが、点α、βを通過する傾き45°右上りの平
行線P。r P Bの間に存在するかしないかが判定さ
れる。ピック枠の中心点Cが平行線P。。
中心点Cが、点α、βを通過する傾き45°右上りの平
行線P。r P Bの間に存在するかしないかが判定さ
れる。ピック枠の中心点Cが平行線P。。
P8の間に存在しない場合は、これら平行線■〕。。
P8は予め直線Pに対してピック枠サイズの1−72だ
け外側に設定されているので直線Pは完全にピック枠の
外側にあると判断できる。又、直線Pの両端点A、Bを
通過する2本の水平線に挾まれる4 領域以外の部分にピック枠が存在する場合は上記ピック
予備検査部(2)により上記(]l)の条件が成立し、
すでにピックされないことが判定できているのでここで
述べる検査は実行されない。従ってピック枠の中心点C
(XC,:YC)が点α、βを通過する傾き45°の平
行線P。+ P Rの間に存在する場合にだけ更に複姉
な計算を伴うピック詳細検査部に3)によるピック判定
が行なわれる。ある点が傾き45°の直線に苅して」二
側にあるか下側にあるのかを判断する計算は比較的簡単
に実行することができる。
け外側に設定されているので直線Pは完全にピック枠の
外側にあると判断できる。又、直線Pの両端点A、Bを
通過する2本の水平線に挾まれる4 領域以外の部分にピック枠が存在する場合は上記ピック
予備検査部(2)により上記(]l)の条件が成立し、
すでにピックされないことが判定できているのでここで
述べる検査は実行されない。従ってピック枠の中心点C
(XC,:YC)が点α、βを通過する傾き45°の平
行線P。+ P Rの間に存在する場合にだけ更に複姉
な計算を伴うピック詳細検査部に3)によるピック判定
が行なわれる。ある点が傾き45°の直線に苅して」二
側にあるか下側にあるのかを判断する計算は比較的簡単
に実行することができる。
以下、第2図〜第4図により、追加予備検査部(5)に
おける判定のための具体的計算方法について説明する。
おける判定のための具体的計算方法について説明する。
この追加予備検査部(5)では、まず傾斜方向判定手段
(51)にてピック対象直線Pか右上りか右下りかが判
定され、それから長さ方向判定手段(52)にて横長か
縦長かが判定される。第2図の直線Pは右」ニリで横長
であると判定され、第4図のステップ(51a)、 (
5]b) 、 (52a)から(53a)と進む。次に
、判定Y座標位置算出手段(53)、今の場合ステップ
(53a)にて、線Pの傾き方向並びに長さ方向に従っ
てα、βの値(Xo Zx+ya”Zy)及び(X
1+Z )l y x、−Z y)が決定され、この点
α、βを通る右」ニリの傾き45°の平行線P。+ P
8と、ピック枠の中心点Cを通る垂直線との交点のY
座標値f1.u即ち判定Y座標位置が算出される。なお
、この判定Y座標位置f1.uの算出は、ピック対象直
線Pが右」ニリ縦長の場合はステップ(53b)で、右
下り横長の場合はステップ(53c)で、右下り縦長の
場合はステップ(53d)でそれぞれ行なわれる。
(51)にてピック対象直線Pか右上りか右下りかが判
定され、それから長さ方向判定手段(52)にて横長か
縦長かが判定される。第2図の直線Pは右」ニリで横長
であると判定され、第4図のステップ(51a)、 (
5]b) 、 (52a)から(53a)と進む。次に
、判定Y座標位置算出手段(53)、今の場合ステップ
(53a)にて、線Pの傾き方向並びに長さ方向に従っ
てα、βの値(Xo Zx+ya”Zy)及び(X
1+Z )l y x、−Z y)が決定され、この点
α、βを通る右」ニリの傾き45°の平行線P。+ P
8と、ピック枠の中心点Cを通る垂直線との交点のY
座標値f1.u即ち判定Y座標位置が算出される。なお
、この判定Y座標位置f1.uの算出は、ピック対象直
線Pが右」ニリ縦長の場合はステップ(53b)で、右
下り横長の場合はステップ(53c)で、右下り縦長の
場合はステップ(53d)でそれぞれ行なわれる。
次に追加予備判定手段(54)のステップ(54a)で
点Qがピック枠の中心点Cの下にあるか上にあるかか、
ステップ(54b)で点Uがピック枠の中心点Cの上に
あるか下にあるかが判定され、点Cが点Q、Uの間にあ
るか否かの判定が行なわれる。点Cが点Q、uの間にあ
れば、この直線は判定不能としてピック詳細検査部(3
)に送られ、点Cが点Q、Uの間になけけば、この直線
はピック枠外であると判定され、その結果(42)が出
力データ部(4)に出力される。
点Qがピック枠の中心点Cの下にあるか上にあるかか、
ステップ(54b)で点Uがピック枠の中心点Cの上に
あるか下にあるかが判定され、点Cが点Q、Uの間にあ
るか否かの判定が行なわれる。点Cが点Q、uの間にあ
れば、この直線は判定不能としてピック詳細検査部(3
)に送られ、点Cが点Q、Uの間になけけば、この直線
はピック枠外であると判定され、その結果(42)が出
力データ部(4)に出力される。
ピック対象直線Pの各傾斜方向、長さ方向に応じたα、
βと判定Y座標位置Q、uの泪算式、及びこれらの値に
よる判定式が第3図の一覧表に示され、それの削算手順
が第4図のフローチャートに示されている。
βと判定Y座標位置Q、uの泪算式、及びこれらの値に
よる判定式が第3図の一覧表に示され、それの削算手順
が第4図のフローチャートに示されている。
[発明の効果]
以」二のようにこの発明によれば、ピック予備検査部で
判定不可能な直線に対しピック詳細検査部による詳細検
査前に、ピック対象直線の両端点の座標値を基に、この
直線の両端点をそれぞれ通り、この直線が右上りの時は
右上り、右下りの時は右下りの傾き45°の2平行線間
領域と、ピック枠内領域との重なりを判定し、重なりが
ない場合をピック枠外と判定するピック追加予備検査部
を設けたので、簡単な計算手順で行なえる予備検査を追
加するのみで、従来技術ではピック予備検査の結果判定
不能であり、更に複雑な計算を必要とするピック詳細検
査が必要となるようなケースに対しても、その大半につ
いて完全にピック枠外であることが判定でき、複雑な計
算を伴うピック詳細検7 査の必要頻度を減することができ、高速なピック動作が
可能な直線のピック方式が得られる効果がある。
判定不可能な直線に対しピック詳細検査部による詳細検
査前に、ピック対象直線の両端点の座標値を基に、この
直線の両端点をそれぞれ通り、この直線が右上りの時は
右上り、右下りの時は右下りの傾き45°の2平行線間
領域と、ピック枠内領域との重なりを判定し、重なりが
ない場合をピック枠外と判定するピック追加予備検査部
を設けたので、簡単な計算手順で行なえる予備検査を追
加するのみで、従来技術ではピック予備検査の結果判定
不能であり、更に複雑な計算を必要とするピック詳細検
査が必要となるようなケースに対しても、その大半につ
いて完全にピック枠外であることが判定でき、複雑な計
算を伴うピック詳細検7 査の必要頻度を減することができ、高速なピック動作が
可能な直線のピック方式が得られる効果がある。
第1図はこの発明の一実施例を示す構成図、第2図はピ
ック対象直線とピック枠との関係を示す図、第3図はこ
の実施例において各条件に対して用いられる判定式を示
す一覧表、第4図はこの実施例の動作を説明するフロー
チャート、第5図は従来方式に使用されたクリッピング
方式を説明するためのフローチャー1−1第6図はピッ
ク枠の4直線によって分割された9つの領域における符
号を示した符号−覧図である。 図において、(1)は入力データ部、(11)はピック
対象直線の両端点、(12)はピック枠の4直線、(2
)はピック予備検査部、(3)はピック詳細検査部、(
4)は出力データ部、(5)はピック追加予備検査部、
(51)は傾斜方向判定手段、(52)は長さ方向判定
手段、(53)は判定Y座標位置算出手段、(54)は
追加予備判定手段である。 8 図中同一符号は同一あるいは相当部分を示す。 19 第 5 図 特開平 14183 (9)
ック対象直線とピック枠との関係を示す図、第3図はこ
の実施例において各条件に対して用いられる判定式を示
す一覧表、第4図はこの実施例の動作を説明するフロー
チャート、第5図は従来方式に使用されたクリッピング
方式を説明するためのフローチャー1−1第6図はピッ
ク枠の4直線によって分割された9つの領域における符
号を示した符号−覧図である。 図において、(1)は入力データ部、(11)はピック
対象直線の両端点、(12)はピック枠の4直線、(2
)はピック予備検査部、(3)はピック詳細検査部、(
4)は出力データ部、(5)はピック追加予備検査部、
(51)は傾斜方向判定手段、(52)は長さ方向判定
手段、(53)は判定Y座標位置算出手段、(54)は
追加予備判定手段である。 8 図中同一符号は同一あるいは相当部分を示す。 19 第 5 図 特開平 14183 (9)
Claims (2)
- (1)ピック対象となる直線の両端点及びピック枠の4
直線を入力する入力データ部、この入力データ部から入
力されたデータを基にして、上記直線の両端点が共に上
記ピック枠内に存在する場合と、これら両端点が共に上
記ピック枠の4直線の内少なくとも一つの直線に対し、
これよりピック枠外方向の領域に存在する場合とを検出
するピック予備検査部、このピック予備検査部によって
判定不可能な直線に対し詳細な検査を行なうピック詳細
検査部、及びこのピック詳細検査部及び上記ピック予備
検査部によって得られるデータを出力する出力データ部
を備えた直線のピック方式において、上記ピック予備検
査部で判定不可能な直線に対し上記ピック詳細検査部に
よる詳細検査前に、上記直線の両端点の座標値を基に、
この直線の両端点をそれぞれ通り、この直線が右上りの
時は右上り、右下りの時は右下りの傾き45゜の2平行
線間領域と、上記ピック枠内領域との重なりを判定し、
重なりがない場合をピック枠外と判定するピック追加予
備検査部を設けたことを特徴とする直線のピック方式。 - (2)ピック追加予備検査部は、ピック対象となる直線
の両端点の座標値(x_0、y_0)(x_1、y_1
)から、上記直線が右上りか右下りかを判定する傾斜方
向判定手段、この直線が横長か縦長かを判定する長さ方
向判定手段、これら両手段の判定結果に応じ、ピック枠
のサイズを2z_x、2z_y、このピック枠内領域の
中心点の座標値を(x_c、y_c)とし、次の4式 l=(y_1−z_y)+{x_c−(x_1+z_x
)},u=(y_0+z_y)+{x_c−(x_0−
z_x)}l=(y_0−z_y)+{x_c−(x_
0+z_x)},u=(y_1+z_y)+{x_c−
(x_1−z_x)}l=(y_1+z_y)−{x_
c−(x_1+z_x)},u=(y_0−z_y)−
{x_c−(x_0−z_x)}l=(y_0+z_y
)−{x_c−(x_0+z_x)},u=(y_1−
z_y)−{x_c−(x_1−z_x)}の何れかの
演算によって判定Y座標位置l、uを算出する判定Y座
標位置算出手段、及びこの手段によって算出された判定
Y座標位置l、uから次式 l<y_c<uによって上記ピック枠内領域の中心点が
上記判定Y座標位置l、u間にあるかないかを判定する
追加予備判定手段とを備え、上記ピック枠内領域の中心
点が上記判定Y座標位置l、u間にない時を上記直線が
ピック枠外とすることをことを特徴とする特許請求の範
囲第1項記載の直線のピック方式。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15022789A JPH0314183A (ja) | 1989-06-13 | 1989-06-13 | 直線のピック方式 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15022789A JPH0314183A (ja) | 1989-06-13 | 1989-06-13 | 直線のピック方式 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0314183A true JPH0314183A (ja) | 1991-01-22 |
Family
ID=15492325
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP15022789A Pending JPH0314183A (ja) | 1989-06-13 | 1989-06-13 | 直線のピック方式 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0314183A (ja) |
-
1989
- 1989-06-13 JP JP15022789A patent/JPH0314183A/ja active Pending
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