JPH03176039A - 超音波診断装置の超音波探触子 - Google Patents

超音波診断装置の超音波探触子

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JPH03176039A
JPH03176039A JP2063606A JP6360690A JPH03176039A JP H03176039 A JPH03176039 A JP H03176039A JP 2063606 A JP2063606 A JP 2063606A JP 6360690 A JP6360690 A JP 6360690A JP H03176039 A JPH03176039 A JP H03176039A
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JP
Japan
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ultrasonic
inductor
ultrasound
pin diode
circuit
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JP2063606A
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Hiroyuki Yoshimura
弘幸 吉村
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Fuji Electric Co Ltd
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Fuji Electric Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、電気的にmsすることにより超音波を収束
し、走査し、被検体としての人体内部での超音波の反射
を利用して被検体の断層面を可視化する超音波論断vt
直の超音波探触子に関する。
〔従来の技術〕
この種の超音波診断装置の一般的な回路構成を第7図に
示す、この図において、IAは超音波診断装置の全体を
vli御するディジタルスキャンコンバータ (以下、
略してり、S、Cと称する〉であり、超音波画像を得る
には、まずり、S、CIAから送信タイ1ングパルス3
01を送付し、送信フォーカス回路2に導く、送信フォ
ーカス回路2では内部の遅延線を利用して送信タイミン
グパルス301に遅延をかけ、数ナノ秒から数100ナ
ノ秒の遅延時間を有する遅延送信タイ逅ングバルス群3
02を作成する。
この遅延時間は超音波を収束して焦点を結ばせる被検体
の深度方向の焦点位置に応じてり、S、C1^のgIl
lII信号301^により制御される。遅延送信タイ逅
ングパルス群302におけるパルス数は、超音波探触子
5において超音波を収束させるために同時にI!+振す
る素子数の2分の1ないしは端数を切り上げた整数にな
る。−例として超音波探触子5において13個の素子を
励振する場合には、7個の遅延送信タイミングパルスを
必要とする。
この遅延送信タイミングパルス群302は、前段の選択
器3に導かれる。この選択器3では7個の遅延パルスか
らなる遅延送信タイミングパルス群302を超音波探触
子5の80個の素子のブロック中のどのブロックに加え
るかについて、D、S、CIAからの制御信号301B
に基づいて決定する。以上のようにり、S、CIA、送
信フォーカス回路2、および選択器3で超音波を特定の
点に収束し、走査する。
選択器3から送出される13個の遅延送信タイミングパ
ルスを含み、その他はパルスを発信しない80個の選択
・遅延済の送信タイミングパルス303は、送信器4に
導かれる。この送信器4において、80個の駆動素子の
内の遅延送信タイミングパルス303の入力がある駆動
素子13個だけが超音波振動子を励振し、超音波を出射
するのに充分な超音波送信タイミングパルス電圧信号3
04を発生する。
この超音波送信パルス電圧信号304により超音波探触
子5内の超音波振動子を励振し、超音波を発信する。
この超音波は被検体に打ち込まれてその被検体内の異物
などで反射される。この反射波が再び超音波探触子5で
受信されて、前置増幅器6に導かれ、80個の前置増幅
器で増幅される。増幅された80個の増幅済の超音波受
信信号305は後段の選択器7に送出される。
後段の選択器7で80個の増幅済の超音波受信信号30
5から特定の受信信号だけを選択するについては、走査
方式によ、って異なるが、ここでは送信時に80個のブ
ロック中で送信を行ったブロックと同一のブロックの受
信信号を選択する場合について述べる。 80個の増幅
済の超音波受信信号305中で、前段選択器3で選択さ
れた13個のブロックと同一の13個のブロックの受信
信号をり、S、CIAの制御信号301Cにより選択し
、後段の受信フォーカス回路8で左右同一遅延時間をか
けるので7個の信号となる。この7個の選択・増幅済の
超音波受信信号306は受信フォーカス回路8に導かれ
る。受信フォーカス回路8では1通常は送信時の焦点の
近傍に選ばれる特定の点からの受信信号のみを強調する
ように、前記の特定の点から反射されて13個のブロッ
クで受信された上述の受信信号306に対して、前述の
電子フォーカス・送信と同様に内部の遅延線を用いて最
適な遅延時間を与えて位相合わせを行うという電子フォ
ーカスをかける。その遅延時間はり、S、C1^の制御
信号3010により制御される。電子フォーカスをかけ
られた選択・増幅済の受信信号306は加算されて1個
の超音波受信信号307になり、受信フォーカス回路8
からバンドパスフィルタ9に入力される。
被検体内での超音波は周波数と伝播距離に比例した減衰
をするので、1個の超音波受信信号307の周波数成分
の中心は超音波の反射位置が深くなればなるほど低周波
帯に移行するので、SN比が高く中心周波数が可変なバ
ンドパスフィルタ9が必要とされる。このようなバンド
パスフィルタ9によって不要な周波数領域の成分を削除
することによりSN比ガ高められ、最適周波数成分が取
り出された周波数弁別済の超音波受信信号308は、タ
イムゲインコントロール(以下?、G、Cと略称する)
回路IOへ導かれ、超音波の被検体内での減衰率が超音
波の反射位置の深度と周波数に比例する゛という関係を
利用して、反射位置の深度に応じた増幅率で増幅するこ
とにより反射深度に対する受信信号の減衰を補正する。
このようなT、G、Cと称される補正を行った後の電気
信号309は信号強度の最大と最小との比率であるダイ
ナミックレンジが広いので、対数演算回路11によりそ
のダイナミックレンジを圧縮して圧縮済の電気信号31
0として出力する0次に、この電気信号310は輪郭強
調回路12において断面画像の輪郭が強調されるように
変換される0輪郭強調回路12の出力信号としての電気
信号311は所定の時間間隔でサンプリングされてA/
D変換、器13でディジタル値に変換され、図示しない
り、S、CIA内のイメージメモリーに一旦記憶される
とともにり。
S、CIAで必要な画像処理をした後、画像表示手段と
してのモニターテレビ14に送られ、断面画像が表示さ
れる。
さらに、超音波診断装置の走査方式の一つである電子リ
ニア弐の場合について詳しく説明する。
第8図に上述の超音波探触子5の超音波アレイ探触子を
示す、超音波探触子5からの超音波の発信は数10個の
超音波振動子ブロック15のブロックから行われる。こ
の例では超音波の一走査ラインを得るのに13個の超音
波振動子ブロック15を使用するものとし、その超音波
の焦点をX点とすると、13個の超音波振動子ブロック
15の■〜■、■° 〜■゛ から出射された超音波が
焦点X点で位相が合致し、干渉により互いに強め合うよ
うに超音波振動子ブロック15の■〜■、■′ 〜■′
 の送信タイミングを制御する。すなわち、焦点のX点
から超音波振動子ブロック15の■までの距離と、その
X点から左右の超音波振動子ブロック15の■、■。
までの距離には相違があるので、この距離の差を超音波
が伝播する時間に相当する時間だけ超音波振動子ブロッ
ク15の■の超音波発信を超音波振動子ブロック15の
■、■° の超音波出射よりも遅らせて行うという発信
タイミング制御を行う、その他の素子O〜■、■″〜■
“についても同様に遅延時間を与えて発信する。
走査方式として前述のような超音波を平行に放射するリ
ニア方式の他に、扇状に放射するコンベックス方式など
数種の方式があり、これらは断層像を得る位Iに応じて
最適の方式が採用できるように選択できるようになって
おり、超音波探触子もそれぞれの走査方式ごとに異なっ
たものを使用する。
第9図に第7図のバンドパスフィルタ9の中心周波数と
深度との関係を示す、超音波探触子5は機械的Q値が一
般に5と小さいので、超音波探触子5の超音波振動子ブ
ロック15から発信される超音波は高帯域に及ぶが、被
検体内での超音波の減衰率ηはη−0,5dB/MHz
/amで表されるので、高周波成分の方が減衰が大きい
、したがって、超音波探触子5で受信された超音波受信
信号の中心周波数は浅いところでは高く深い所では低く
なり、そのため第9図に示す中心周波数移動カーブ16
のように、バンドパスフィルタ9の中心周波数は深度が
深くなるのに比例して低周波側に移行し、受信超音波の
周波数成分の特定の低周波に達し、それ以上の深度では
その特定の低周波数が中心周波数となる。
断層像の位置が被検体の表面に近いときには解像度の高
い画像を得るために高い周波数を使用するのがよく、深
い位置の断層像を得るときには超音波の被検体内での減
衰を考慮して低い周波数の超音波が適当であり、このよ
うに断層像の位置によって異なった周波数の超音波を使
用するので、このような場合にも周波数特性の異なる超
音波探触子を容易しておいて最適のものを選択して使用
する。
第10図は第7図のT、G、C回路10ニおけるT、G
、Cカーブの特性を示す、被検体での減衰は前述の通り
周波数に比例するので、T、G、C回路1oではバンド
パスフィルタ9の中心周波数の深さに対する移動に合わ
せて、増幅率を変化させていく必要がある0通常被検体
の表面の近傍は反射波レベルが大きいので、特に強度を
抑える必要がある。そのため、被検体の表面近傍では意
識的に減衰をかけ、変曲点18以降の深い深度ではゲイ
ンをゆるやかに補正して、第10図に示すような中折れ
状のゲインカーブ17になる。
超音波診断装置では低級機か高級機かにより違いはある
が、走査方式によりリニア、コンベックス、セクタ、フ
ェーズアレイのそれぞれの超音波探触子の一部または全
部を使用することのできる機能を持っている。
ところで、超音波探触子の公称周波数が高くなるにつれ
、超音波振動子の面積が小さくなり、探触子としての感
度が低下する。また、被検体の減衰量は周波数が高いほ
ど大きいので、高周波の超音波探触子では表示深度が浅
くなってしまうという欠点がある。
このような欠点を解消するために、第11図に示すよう
に、同調用のインダクタ2oを超音波振動子15に並列
に接続することによって、超音波振動子15と同調用の
インダクタ20とで共振回路を形威し、超音波探触子と
しての感度を向上させる方法がとられる。しかし、この
方法では共振回路のQが非常に大きくなり、感度は向上
するが分解能は低下するという欠点が生じる。この問題
を解決するために、第12図に示すように、ダンピング
抵抗21を同調用のインダクタ20に直列に接続するこ
とによって、共振回路のQを下げ、感度はある程度しか
向上しない替わりに分解能の低下を極力抑制することが
できる。
第13図は共振回路を付加された超音波探触子の周波数
特性を示すグラフである。この図において、−点鎖線は
超音波振動子だけ、鎖線は第11図、実線は第12図の
それぞれの場合の周波数特性を示す。
第14図はそれぞれの場合の受信波の実時間波形である
。この図において、(atは第11図の固定抵抗が無い
超音波探触子5の場合、(blは第12図の固定抵抗2
1のある超音波探触子51の場合、(C1は超音波振動
子だけの場合である。これらの図に示す波形の中で、波
数が最も少ない波形が分解能が最も良い、要す・るにQ
が低い程感度が低くなるが、尾引き波数の少ない受信波
が得られるので分解能は良い、第12図は感度向上と尾
引きの低減との折中的な共振系となっているのである。
〔発明が解決しようとする課題〕
前述のように、高周波の超音波探触子において、超音波
振動子のキャパシタンスに共振するインダクタを並列に
設けて共振回路を形成する方法は、感度は向上するが分
解能が低下するという相反する事項があるために、感度
を充分に上げることができないという問題がある。さら
に、深度の浅い領域では受信波の強度が大きいので超音
波振動子の周波数帯域および感度で充分であり、深度の
深いところでは被検体内での減衰のために受信波の強度
が小さいことから分解能を若干犠牲にし又も感度を向上
させる必要があるが、このような表示深度に応じた感度
の制御は不可能である。そのため、表示深度の深い領域
の感度を向上させるために、浅い深度での分解能が低下
してしまうという問題がある。
この発明は、表示深度が深い領域では分解能をある程度
犠牲にしても超音波探触子の感度を向上させ、浅い領域
では超音波探触子の感度を制御して高い分解能を維持す
ることにより全深度領域で最適の特性を得ることのでき
る超音波診断装置の超音波探触子を提供することを目的
とする。
〔課題を解決するための手段〕
上記課題を解決するためにこの発明によれば、超音波の
反射を利用して被検体の断層像を可視化する超音波診断
装置であって、被検体に接触させて超音波を被検体内に
送信するとともに、被検体から反射した超音波を受信す
る超音波振動子とこの超音波振動子に並列に接続されて
超音波振動子のキャパシタンスと並列共振回路を形成す
るインダクタンスを有するインダクタとを備えた超音波
探触子において、電圧または電流のバイアス値に。
よって抵抗値が変わる可変減衰素子と、この可変減衰素
子のバイアス値を前記超音波診断装置からの制御信号に
よって1ilImし出力するバイアス値制御回路とを備
え、前記可変減衰素子を前記インダクタに直列接続また
は並列接続してなるものとする。
〔作用〕
この発明の構成において、電圧または電流のバイアス値
によって抵抗値が変わる可変減衰素子をインダクタに直
列または並列に接続すると、超音波振動子のキャパシタ
ンスとインダクタのインダクタンスとからなる並列共振
回路の共振のせん鋭度Qを可変にすることができる。Q
を大きくすると超音波振動子の感度は上がる代わりに分
解能は低下し、逆にQを小さくすると感度は低くなる代
わりに分解能が高くなるという特性がある。したがって
、受信波の強度が大きくて超音波振動子の感度を上げる
必要のない浅い領域の反射波を受信するときにはQを小
さく、受信波の強度が小さい深いjl域の反射波を受信
するときにはQを大きくして分解能を犠牲にしても感度
を上げるというように、深度に応じてQを変えることに
よって全深度範囲に対して最適の画像品質を得ることが
できる。深度に応じて可変減衰素子の抵抗値を変えるた
めに超音波診断装置本体からの制御信号によって可変減
衰素子のバイアス値を制御することによ、−2で行うこ
とができる。
〔実施例〕
以下この発明を実施例に基づいて説明する。第1図はこ
の発明の実施例を示す回路図である。この図において、
超音波振動子】5にインダクタ20とPINダイオード
23および高周波通過用のコンデンサ30とが直列に接
続されこれにバイアスを流割御回路3を結合する。この
PINダイオード23は通過電流値によって抵抗値が変
化する特性を有するもので、その特性を第2図に示す。
第2図では、パラメータがf・〜0゜2〜I GHzと
なっているが、超音波診断装置での使用周波数は1〜1
0MHzなので、第2図の直線性はさらに向上される。
さらに、第3図のバイアス抵抗22およびバイアス電流
制御回路3でPINダイオード23に流入する直流電流
をmsする、また、コンデンサ30のキャパシタンスC
3は超音波振動子15のクランプ容量C4と比べて充分
に大きい4f1. (Cz > C,i >とし、実質
的に高周波で低抵抗としている。したがって、Ctと0
4の直列容量C7はC4に等しいとしてよい。
以上のことから、超音波振動子15からの高周波電流は
インダクタ20、PINダイオード23および高周波通
過用コンデンサ30を通過する共振回路が構成される。
また、直流電流が+12Vの電源よりバイアス抵抗22
、インダクタンス20、トランジスタ33、電流検出抵
抗34を通過して一5Vの電源に流れ込む、I’lNダ
イオード23には高周波電流IACと直流電流Incと
が流れるが、IAC<I。、の条件で使用すると、PI
Nダイオード23の抵抗値は直流電流111Cによって
主体的に決定される。したがって、直流電流11Cの値
によって共振系のせん脱皮Qおよび帯域を可変にできる
。せん脱皮Qは次式で与えられる。
Q調t、/(Rca)  ・・・−・・   (1)こ
こで、 L、インダクタ20のインダクタンス Cat超音波振動子15のクランプ容量R,PINダイ
オードの抵抗値 第3図は、この共振系の周波数帯域の様子を示すもので
、深度の浅い領域では、!9、を10μAとしてRを1
10以上にして一点饋線のカーブのようにせん脱皮Qを
低くし、中間領域では、IDCを800 μAとして、
Rを30Ω程度としてtl線カーブのようにQを若干高
くし、深部領域では、■。。を10+*^としてRを3
Ω程度として実線カーブのようにQを高くする。したが
って、深い領域はど感度が向上し周波数帯域が狭くなる
。これは第15図に示す各深度からの受信波のスペクト
ラム特性に良く合致している。要するに、浅部からの受
信エコーは広帯域であるが、深部では被検体内での音波
の減衰(0,5dB/M+Iz/cm )の影響を受け
、周波数の高い領域が減衰し、低い周波数帯のみになり
周波数帯域が狭くなる。したがって、この発明による同
調回路は各深度からの受信エコーの周波数特性にほぼ合
致させた周波数特性を有し、SN比良く受信波を後段の
前置増幅器に伝送することができる。
一方、バイアス電流制御回路3は、D、S、C1からの
バイアス電流制m信号をD−A変換器28が変換したバ
イアス電圧vDCをR8の両端で常に保つフィードバッ
ク回路である。すなわち、D−A変換器28よりV、。
が設定されると、可変抵抗器への直流電流1oc=Vo
c/Rxを常に流す回路である。
D、S、C1は、音波の出射からの時間に対応して、V
IICの値を連続的に変化させる。
第4図はこの発明の他の実施例を示す回路図でり20と
超音波振動子15とに並列接続され、並列共振回路が構
成される。このときの共振のせん脱皮Qは次式で与えら
れる。
Q=RCa/L      (21 次に、バイアス電圧によって抵抗値が可変の可変減衰素
子としてFE736を用いた実施例についによって第6
図に示すようなりDい ■。の関係を表したカーブの直
線領域の傾斜度が変化するのを利用する9例えば、VG
s”20VのときRDs ” 0.2Ω、Vcs−8V
(7)ときRn5−0.6Ω、V*5=4VのときRo
s−200Ωとなる。このFET36からなる可変減衰
素子とインダクタ20、超音波振動子15の並列共振回
路を形成している。FET36を使用する場合でもFE
T36インダクタ20に並列に接続する構成としてもよ
い。
前述のように、バイアス電流または電圧によって抵抗値
が変化するPINダイオード23やFET36などの可
変減衰素子の抵抗値を数Ω〜数にΩに変化させることに
よって、共振系のせん脱皮Qを2ないし40に変化させ
ることができる。表示領域の浅い深度では共振系のQを
2〜4に、中程度の深度ではQを5〜10に、深い深度
ではQを11〜40に設定することによって、表示深度
の浅い部位では解像度を優先し、中程度の部位では解像
度と感度との折り合いをつけ、深い部位では感度を優先
させることによって、従来の超音波診断装置では3.5
MHzの超音波探触子で表示深度は220fiであった
が、この発明によって280〜300 ws程度まで表
示深度の浅い部位の分解能を損なわずに表示深度を拡大
することができる。
〔発明の効果〕
この発明は前述のように、バイアス電流によって抵抗値
の変わるPINダイオード、またはバイアス電圧によっ
て抵抗値の変わるFETなどのバイアス値によって抵抗
値の制御が可能な可変減衰素子をインダクタに直列また
は並列に接続すると、超音波振動子とインダクタとから
なる並列共振回路の共振のせん脱皮Qを2〜40の範囲
に変化させることができる。超音波振動子の感度を上げ
る必要のない浅い領域の反射波を受信するときにはQを
小さくして高分解能を維持し、受信波の強度が小さい深
い領域の反射波を受信するときにはQを大きくして分解
能を犠牲にしても感度を上げるというように、深度に応
じてQを変えることによって全深度範囲に対して最適の
画像品質を得ることができる。
従来の超音波振動子では、3.5MHzの超音波探触子
での表示深度は220鶴が限度であったのに対して、こ
の発明を適用してQの値を浅い深度では2〜4に、中程
度の深度では5〜lOに、深い深度では11〜40にそ
れぞれ設定されるように制御することによって、表示深
度の浅い部位の分解能を損なわずに、280〜300f
iまで表示深度を拡大することができるという効果が得
られる。
【図面の簡単な説明】
第1TyJはこの発明の実施例を示す超音波診断装置の
超音波探触子の回路図、第2図はPINダイオードの特
性を示すグラフ、第3図は第1図における超音波探触子
の感度の周波数特性を示すグラフ、第4図はこの発明の
別の実施例を示す超音波診断装置の超音波探触子の回路
図、第5図はこの発明のもう一つ別の実施例を示す超音
波診断装置の超音波探触子の回路図、第6図はFETの
電圧・電流特性を示すグラフ、第7図は超音波診断装置
の一般的なブロック図、第8図は超音波アレイ探触子の
動作説明のための説明図、第9図はバンドパスフィルタ
の中心周波数と深度との関係を示すグラフ、第10図は
T、G、Cカーブの特性を示すグラフ、第11図は従来
の超音波探触子の回路図、第12図は従来の超音波探触
子の別の例の回路図、第13図は従来の共振回路を付加
された超音波探触子の感度の周波数特性を示すグラフ、
第14図は受信波の波形図、第15図は受信波強度の周
波数特性を示すグラフである。 1、IA: D、S、C14:送信機、6:前置増幅器
、28+D−A変換器、15:超音波振動子、20フイ
ンダクタ、22:バイアス抵抗、23:PINダイオー
ド (可変減衰素子) 、3.3A、 3B:バイアス
値制御回路。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1)超音波の反射を利用して被検体の断層像を可視化す
    る超音波診断装置であって、被検体に接触させて超音波
    を被検体内に送信するとともに、被検体から反射した超
    音波を受信する超音波振動子とこの超音波振動子に並列
    に接続されて超音波振動子のキャパシタンスと並列共振
    回路を形成するインダクタンスを有するインダクタとを
    備えた超音波探触子において、 電圧または電流のバイアス値によって抵抗値が変わる可
    変減衰素子と、この可変減衰素子のバイアス値を前記超
    音波診断装置からの制御信号によって制御し出力するバ
    イアス値制御回路とを備え、前記可変減衰素子を前記イ
    ンダクタに直列接続または並列接続してなることを特徴
    とする超音波診断装置の超音波探触子。
JP2063606A 1989-09-08 1990-03-14 超音波診断装置の超音波探触子 Pending JPH03176039A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05142210A (ja) * 1991-11-19 1993-06-08 Tokimec Inc 超音波探傷装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH05142210A (ja) * 1991-11-19 1993-06-08 Tokimec Inc 超音波探傷装置

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