JP3241211B2 - 超音波診断装置 - Google Patents
超音波診断装置Info
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- JP3241211B2 JP3241211B2 JP19154894A JP19154894A JP3241211B2 JP 3241211 B2 JP3241211 B2 JP 3241211B2 JP 19154894 A JP19154894 A JP 19154894A JP 19154894 A JP19154894 A JP 19154894A JP 3241211 B2 JP3241211 B2 JP 3241211B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、超音波診断装置に関
し、さらに詳しくは、どのような超音波エコー信号の周
波数でも良好な画質のＢモード画像を得ることが出来る
超音波診断装置に関する。
し、さらに詳しくは、どのような超音波エコー信号の周
波数でも良好な画質のＢモード画像を得ることが出来る
超音波診断装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】図６は、従来の超音波診断装置の一例を
示す構成図である。この超音波診断装置５００は、超音
波探触子１と，ビームフォーマ２と，ダイナミックフィ
ルタ３と，ダイナミックフィルタコントロール回路４
と，ＬＯＧ圧縮回路５と，包絡線検波回路５６と，ゲイ
ン・ダイナミックレンジコントロール回路８と，ＤＳＣ
（Ｄigital Ｓcan Ｃonverter ）９と，ＣＲＴ１０とを
具備して構成されている。
示す構成図である。この超音波診断装置５００は、超音
波探触子１と，ビームフォーマ２と，ダイナミックフィ
ルタ３と，ダイナミックフィルタコントロール回路４
と，ＬＯＧ圧縮回路５と，包絡線検波回路５６と，ゲイ
ン・ダイナミックレンジコントロール回路８と，ＤＳＣ
（Ｄigital Ｓcan Ｃonverter ）９と，ＣＲＴ１０とを
具備して構成されている。
【０００３】前記超音波探触子１およびビームフォーマ
２は、被検体からの超音波エコー信号ｅを採取する。前
記ダイナミックフィルタ３は、可変の通過周波数帯域を
持つバンドパスフィルタであり、ダイナミックフィルタ
コントロール回路４により通過周波数帯域を制御され
る。前記ダイナミックフィルタコントロール回路４は、
超音波エコー信号ｅの帰投時間（超音波パルスが送波さ
れてから超音波エコー信号として返ってくるまでの時
間）に応じて前記ダイナミックフィルタ３の通過周波数
帯域を変化させる。すなわち、帰投時間が長くなるほど
通過周波数帯域を低域側へシフトさせる。前記ＬＯＧ圧
縮回路５は、前記フィルタリングされた超音波エコー信
号Ｅの対数圧縮を行なう。前記包絡線検波回路５６は、
包絡線検波を行い、包絡線検波信号Ｉを出力する。前記
ゲイン・ダイナミックレンジコントロール回路８は、画
質補正のため、信号ゲインおよびダイナミックレンジの
調整を行なう。前記ＤＳＣ９は、Ｂモード画像を生成す
る。前記表示装置１０は、Ｂモード画像を表示する。
２は、被検体からの超音波エコー信号ｅを採取する。前
記ダイナミックフィルタ３は、可変の通過周波数帯域を
持つバンドパスフィルタであり、ダイナミックフィルタ
コントロール回路４により通過周波数帯域を制御され
る。前記ダイナミックフィルタコントロール回路４は、
超音波エコー信号ｅの帰投時間（超音波パルスが送波さ
れてから超音波エコー信号として返ってくるまでの時
間）に応じて前記ダイナミックフィルタ３の通過周波数
帯域を変化させる。すなわち、帰投時間が長くなるほど
通過周波数帯域を低域側へシフトさせる。前記ＬＯＧ圧
縮回路５は、前記フィルタリングされた超音波エコー信
号Ｅの対数圧縮を行なう。前記包絡線検波回路５６は、
包絡線検波を行い、包絡線検波信号Ｉを出力する。前記
ゲイン・ダイナミックレンジコントロール回路８は、画
質補正のため、信号ゲインおよびダイナミックレンジの
調整を行なう。前記ＤＳＣ９は、Ｂモード画像を生成す
る。前記表示装置１０は、Ｂモード画像を表示する。
【０００４】図７は、包絡線検波回路５６の回路図であ
る。この包絡線検波回路５６は、ダイオードＤと、コン
デンサＣと、抵抗Ｒ１，Ｒ２と、オペアンプＯＰとから
構成されている。検波時定数は、抵抗Ｒ１，Ｒ２の抵抗
値とコンデンサＣの容量により決まる一定値である。
る。この包絡線検波回路５６は、ダイオードＤと、コン
デンサＣと、抵抗Ｒ１，Ｒ２と、オペアンプＯＰとから
構成されている。検波時定数は、抵抗Ｒ１，Ｒ２の抵抗
値とコンデンサＣの容量により決まる一定値である。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】上記従来の超音波診断
装置５００では、包絡線検波回路５６の検波時定数が一
定である。このため、包絡線検波回路５６の検波時定数
が例えば５．５ＭＨｚ近傍に合せてあるとき、図８の
（ｂ）に示すように通過周波数帯域が中心周波数ｆｏ＝
５．５ＭＨｚの近傍範囲になった場合は適正な包絡線検
波が行われるが、図８の（ａ）に示すように通過周波数
帯域が中心周波数ｆｏ＝７．５ＭＨｚの近傍範囲になっ
た場合は、平滑化が過剰となり、いわゆる尾引きＢを発
生する。また、図８の（ｃ）に示すように、通過周波数
帯域が中心周波数ｆｏ＝３．５ＭＨｚの近傍範囲になっ
た場合は、平滑化が不十分となり、リップルＰを発生す
る。
装置５００では、包絡線検波回路５６の検波時定数が一
定である。このため、包絡線検波回路５６の検波時定数
が例えば５．５ＭＨｚ近傍に合せてあるとき、図８の
（ｂ）に示すように通過周波数帯域が中心周波数ｆｏ＝
５．５ＭＨｚの近傍範囲になった場合は適正な包絡線検
波が行われるが、図８の（ａ）に示すように通過周波数
帯域が中心周波数ｆｏ＝７．５ＭＨｚの近傍範囲になっ
た場合は、平滑化が過剰となり、いわゆる尾引きＢを発
生する。また、図８の（ｃ）に示すように、通過周波数
帯域が中心周波数ｆｏ＝３．５ＭＨｚの近傍範囲になっ
た場合は、平滑化が不十分となり、リップルＰを発生す
る。
【０００６】しかし、尾引きＢやリップルＰを発生する
ような不適正な包絡線検波では、Ｂモード画像の画質が
劣化する問題点がある。すなわち、Ｂモード画像の中間
部に比べて、浅部および深部の画質が劣化してしまう。
そこで、この発明の目的は、超音波エコー信号の周波数
にかかわらず、良好な画質のＢモード画像を得られるよ
うにした超音波診断装置を提供することにある。
ような不適正な包絡線検波では、Ｂモード画像の画質が
劣化する問題点がある。すなわち、Ｂモード画像の中間
部に比べて、浅部および深部の画質が劣化してしまう。
そこで、この発明の目的は、超音波エコー信号の周波数
にかかわらず、良好な画質のＢモード画像を得られるよ
うにした超音波診断装置を提供することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】第１の観点では、この発
明は、被検体からの超音波エコー信号を可変の検波時定
数で包絡線検波しうる可変検波時定数包絡線検波手段
と、前記超音波エコー信号の周波数に応じて検波時定数
を設定変更するための検波時定数設定変更手段とを具備
したことを特徴とする超音波診断装置を提供する。
明は、被検体からの超音波エコー信号を可変の検波時定
数で包絡線検波しうる可変検波時定数包絡線検波手段
と、前記超音波エコー信号の周波数に応じて検波時定数
を設定変更するための検波時定数設定変更手段とを具備
したことを特徴とする超音波診断装置を提供する。
【０００８】第２の観点では、この発明は、被検体から
の超音波エコー信号の帰投時間に応じてダイナミックフ
ィルタの通過周波数帯域を変化させる超音波診断装置に
おいて、前記ダイナミックフィルタの通過信号を可変の
検波時定数で包絡線検波しうる可変検波時定数包絡線検
波手段と、前記ダイナミックフィルタの通過周波数帯域
の変化に応じて検波時定数を設定変更するための検波時
定数設定変更手段とを具備したことを特徴とする超音波
診断装置を提供する。
の超音波エコー信号の帰投時間に応じてダイナミックフ
ィルタの通過周波数帯域を変化させる超音波診断装置に
おいて、前記ダイナミックフィルタの通過信号を可変の
検波時定数で包絡線検波しうる可変検波時定数包絡線検
波手段と、前記ダイナミックフィルタの通過周波数帯域
の変化に応じて検波時定数を設定変更するための検波時
定数設定変更手段とを具備したことを特徴とする超音波
診断装置を提供する。
【０００９】
【作用】上記第１の観点の超音波診断装置では、超音波
エコー信号の周波数に応じて検波時定数を設定変更し
て、被検体からの超音波エコー信号を包絡線検波する。
すなわち、超音波エコー信号の周波数が高い場合には比
較的小さな検波時定数を設定し、超音波エコー信号の周
波数が低い場合には比較的大きな検波時定数を設定し
て、包絡線検波を行う。この結果、例えば超音波探触子
を取り替えて動作周波数が変っても、常に最適の検波時
定数で包絡線検波でき、常に良好な画質のＢモード画像
が得られるようになる。
エコー信号の周波数に応じて検波時定数を設定変更し
て、被検体からの超音波エコー信号を包絡線検波する。
すなわち、超音波エコー信号の周波数が高い場合には比
較的小さな検波時定数を設定し、超音波エコー信号の周
波数が低い場合には比較的大きな検波時定数を設定し
て、包絡線検波を行う。この結果、例えば超音波探触子
を取り替えて動作周波数が変っても、常に最適の検波時
定数で包絡線検波でき、常に良好な画質のＢモード画像
が得られるようになる。
【００１０】上記第２の観点の超音波診断装置では、ダ
イナミックフィルタの通過周波数帯域の変化に応じて検
波時定数を設定変更して、被検体からの超音波エコー信
号を包絡線検波する。すなわち、ダイナミックフィルタ
の通過周波数帯域が高い場合には比較的小さな検波時定
数を設定し、ダイナミックフィルタの通過周波数帯域が
低い場合には比較的大きな検波時定数を設定して、包絡
線検波を行う。この結果、例えばＢモード画像の浅部か
ら深部まで最適の検波時定数で包絡線検波でき、どの深
さでも良好な画質が得られるようになる。
イナミックフィルタの通過周波数帯域の変化に応じて検
波時定数を設定変更して、被検体からの超音波エコー信
号を包絡線検波する。すなわち、ダイナミックフィルタ
の通過周波数帯域が高い場合には比較的小さな検波時定
数を設定し、ダイナミックフィルタの通過周波数帯域が
低い場合には比較的大きな検波時定数を設定して、包絡
線検波を行う。この結果、例えばＢモード画像の浅部か
ら深部まで最適の検波時定数で包絡線検波でき、どの深
さでも良好な画質が得られるようになる。
【００１１】
【実施例】以下、図に示す実施例によりこの発明をさら
に詳細に説明する。なお、これによりこの発明が限定さ
れるものではない。
に詳細に説明する。なお、これによりこの発明が限定さ
れるものではない。
【００１２】−第１実施例− 図１は、この発明の第１実施例の超音波診断装置を示す
構成図である。この超音波診断装置１００は、超音波探
触子１と，ビームフォーマ２と，ダイナミックフィルタ
３と，ダイナミックフィルタコントロール回路４と，Ｌ
ＯＧ圧縮回路５と，包絡線検波回路６と，検波時定数コ
ントロール回路７と，ゲイン・ダイナミックレンジコン
トロール回路８と，ＤＳＣ９と，ＣＲＴ１０とを具備し
て構成されている。
構成図である。この超音波診断装置１００は、超音波探
触子１と，ビームフォーマ２と，ダイナミックフィルタ
３と，ダイナミックフィルタコントロール回路４と，Ｌ
ＯＧ圧縮回路５と，包絡線検波回路６と，検波時定数コ
ントロール回路７と，ゲイン・ダイナミックレンジコン
トロール回路８と，ＤＳＣ９と，ＣＲＴ１０とを具備し
て構成されている。
【００１３】前記超音波探触子１およびビームフォーマ
２は、被検体からの超音波エコー信号ｅを採取する。前
記ダイナミックフィルタ３は、可変の通過周波数帯域を
持つバンドパスフィルタであり、ダイナミックフィルタ
コントロール回路４により通過周波数帯域を制御され
る。前記ダイナミックフィルタコントロール回路４は、
前記ダイナミックフィルタ３をコントロールし、その通
過周波数帯域を超音波エコー信号ｅの帰投時間に応じて
段階的または連続的に変化させる。すなわち、帰投時間
が長くなるほど通過周波数帯域を低域側へシフトさせ
る。前記ＬＯＧ圧縮回路５は、前記フィルタリングされ
た超音波エコー信号Ｅの対数圧縮を行なう。
２は、被検体からの超音波エコー信号ｅを採取する。前
記ダイナミックフィルタ３は、可変の通過周波数帯域を
持つバンドパスフィルタであり、ダイナミックフィルタ
コントロール回路４により通過周波数帯域を制御され
る。前記ダイナミックフィルタコントロール回路４は、
前記ダイナミックフィルタ３をコントロールし、その通
過周波数帯域を超音波エコー信号ｅの帰投時間に応じて
段階的または連続的に変化させる。すなわち、帰投時間
が長くなるほど通過周波数帯域を低域側へシフトさせ
る。前記ＬＯＧ圧縮回路５は、前記フィルタリングされ
た超音波エコー信号Ｅの対数圧縮を行なう。
【００１４】前記包絡線検波回路６は、可変の検波時定
数で包絡線検波を行い、包絡線検波信号Ｉを出力する。
検波時定数は、検波時定数コントロール回路７により制
御される。前記検波時定数コントロール回路７は、前記
通過周波数帯域に連動して前記包絡線検波回路６の検波
時定数を段階的または連続的に変化させる。例えば、前
記超音波探触子１の動作周波数が７．５ＭＨｚの場合に
は、前記通過周波数帯域に連動して検波時定数を３０ｎ
ｓ〜５００ｎｓの範囲で変化させる。また、前記超音波
探触子１の動作周波数が５．０ＭＨｚの場合には、前記
通過周波数帯域に連動して検波時定数を６０ｎｓ〜１０
００ｎｓの範囲で変化させる。また、前記超音波探触子
１の動作周波数が３．５ＭＨｚの場合には、前記通過周
波数帯域に連動して検波時定数を１２０ｎｓ〜２０００
ｎｓの範囲で変化させる。
数で包絡線検波を行い、包絡線検波信号Ｉを出力する。
検波時定数は、検波時定数コントロール回路７により制
御される。前記検波時定数コントロール回路７は、前記
通過周波数帯域に連動して前記包絡線検波回路６の検波
時定数を段階的または連続的に変化させる。例えば、前
記超音波探触子１の動作周波数が７．５ＭＨｚの場合に
は、前記通過周波数帯域に連動して検波時定数を３０ｎ
ｓ〜５００ｎｓの範囲で変化させる。また、前記超音波
探触子１の動作周波数が５．０ＭＨｚの場合には、前記
通過周波数帯域に連動して検波時定数を６０ｎｓ〜１０
００ｎｓの範囲で変化させる。また、前記超音波探触子
１の動作周波数が３．５ＭＨｚの場合には、前記通過周
波数帯域に連動して検波時定数を１２０ｎｓ〜２０００
ｎｓの範囲で変化させる。
【００１５】前記ゲイン・ダイナミックレンジコントロ
ール回路８は、画質補正のため、信号ゲインおよびダイ
ナミックレンジの調整を行なう。前記ＤＳＣ９は、Ｂモ
ード画像を生成する。前記表示装置１０は、Ｂモード画
像を表示する。
ール回路８は、画質補正のため、信号ゲインおよびダイ
ナミックレンジの調整を行なう。前記ＤＳＣ９は、Ｂモ
ード画像を生成する。前記表示装置１０は、Ｂモード画
像を表示する。
【００１６】図２は、包絡線検波回路６の一実施例の回
路図である。この包絡線検波回路６は、ダイオードＤ
と、可変容量ダイオードＶＣ１，ＶＣ２と、抵抗Ｒ１，
Ｒ２と、オペアンプＯＰとから構成されている。検波時
定数は、抵抗Ｒ１，Ｒ２の抵抗値と可変容量ダイオード
ＶＣ１，ＶＣ２の容量により決まるが、可変容量ダイオ
ードＶＣ１，ＶＣ２の容量が前記検波時定数コントロー
ル回路７からの制御電圧Ｔにより可変であるため、可変
である。
路図である。この包絡線検波回路６は、ダイオードＤ
と、可変容量ダイオードＶＣ１，ＶＣ２と、抵抗Ｒ１，
Ｒ２と、オペアンプＯＰとから構成されている。検波時
定数は、抵抗Ｒ１，Ｒ２の抵抗値と可変容量ダイオード
ＶＣ１，ＶＣ２の容量により決まるが、可変容量ダイオ
ードＶＣ１，ＶＣ２の容量が前記検波時定数コントロー
ル回路７からの制御電圧Ｔにより可変であるため、可変
である。
【００１７】図３は、包絡線検波回路６の他の実施例の
回路図である。この包絡線検波回路６は、ダイオードＤ
と、コンデンサＣと、ＦＥＴ１６と、抵抗Ｒ２と、オペ
アンプＯＰとから構成されている。検波時定数は、抵抗
Ｒ２およびＦＥＴ１６の抵抗値とコンデンサＣの容量に
より決まるが、ＦＥＴ１６の抵抗値が前記検波時定数コ
ントロール回路７からの制御電圧Ｔにより可変であるた
め、可変である。
回路図である。この包絡線検波回路６は、ダイオードＤ
と、コンデンサＣと、ＦＥＴ１６と、抵抗Ｒ２と、オペ
アンプＯＰとから構成されている。検波時定数は、抵抗
Ｒ２およびＦＥＴ１６の抵抗値とコンデンサＣの容量に
より決まるが、ＦＥＴ１６の抵抗値が前記検波時定数コ
ントロール回路７からの制御電圧Ｔにより可変であるた
め、可変である。
【００１８】上記超音波診断装置１００では、包絡線検
波回路６の検波時定数が超音波エコー信号Ｅの周波数に
応じて変化するため、常に適正な包絡線検波が行われ
る。すなわち、図４の（ａ）〜（ｃ）に示すように、通
過周波数帯域が例えば７．５ＭＨｚ±２ＭＨｚ〜３．５
ＭＨｚ±２ＭＨｚに変化しても、尾引きやリップルを発
生せず、常に適正な包絡線検波となる。従って、Ｂモー
ド画像の浅部から深部まで良好な画質が得られる。ま
た、この時、ダイナミックフィルタ３の通過周波数帯域
は帰投時間が長くなるほど低域側へシフトされるから画
像のＳ／Ｎ比を最良にすることが出来る。
波回路６の検波時定数が超音波エコー信号Ｅの周波数に
応じて変化するため、常に適正な包絡線検波が行われ
る。すなわち、図４の（ａ）〜（ｃ）に示すように、通
過周波数帯域が例えば７．５ＭＨｚ±２ＭＨｚ〜３．５
ＭＨｚ±２ＭＨｚに変化しても、尾引きやリップルを発
生せず、常に適正な包絡線検波となる。従って、Ｂモー
ド画像の浅部から深部まで良好な画質が得られる。ま
た、この時、ダイナミックフィルタ３の通過周波数帯域
は帰投時間が長くなるほど低域側へシフトされるから画
像のＳ／Ｎ比を最良にすることが出来る。
【００１９】−第２実施例− 図５は、この発明の第２実施例の超音波診断装置を示す
構成図である。この超音波診断装置２００は、超音波探
触子１の動作周波数を自動判別し、その動作周波数に応
じて包絡線検波回路６の検波時定数を設定変更するもの
である。すなわち、検波時定数コントロール回路２７
は、ビームフォーマ２から超音波探触子１の動作周波数
を検知し、その動作周波数に連動して包絡線検波回路６
の検波時定数を設定変更する。例えば、動作周波数が
７．５ＭＨｚの場合には検波時定数を２５０ｎｓとし、
動作周波数が５．０ＭＨｚの場合には検波時定数を５０
０ｎｓとし、動作周波数が３．５ＭＨｚの場合には検波
時定数を１０００ｎｓとする。
構成図である。この超音波診断装置２００は、超音波探
触子１の動作周波数を自動判別し、その動作周波数に応
じて包絡線検波回路６の検波時定数を設定変更するもの
である。すなわち、検波時定数コントロール回路２７
は、ビームフォーマ２から超音波探触子１の動作周波数
を検知し、その動作周波数に連動して包絡線検波回路６
の検波時定数を設定変更する。例えば、動作周波数が
７．５ＭＨｚの場合には検波時定数を２５０ｎｓとし、
動作周波数が５．０ＭＨｚの場合には検波時定数を５０
０ｎｓとし、動作周波数が３．５ＭＨｚの場合には検波
時定数を１０００ｎｓとする。
【００２０】この超音波診断装置２００によれば、超音
波探触子１を取り替えて動作周波数が変っても、常に最
適の検波時定数で包絡線検波でき、常に良好な画質のＢ
モード画像を得られるようになる。
波探触子１を取り替えて動作周波数が変っても、常に最
適の検波時定数で包絡線検波でき、常に良好な画質のＢ
モード画像を得られるようになる。
【００２１】−他の実施例− 上記第１実施例および第２実施例では、包絡線検波回路
６の検波時定数を自動的に設定変更したが、操作者が検
波時定数を手動で設定変更するようにしてもよい。
６の検波時定数を自動的に設定変更したが、操作者が検
波時定数を手動で設定変更するようにしてもよい。
【００２２】
【発明の効果】この発明の超音波診断装置によれば、超
音波探触子を取り替えて動作周波数が変っても、常に最
適の検波時定数で包絡線検波でき、常に良好な画質のＢ
モード画像を得られるようになる。また、超音波エコー
信号の通過周波数帯域を帰投時間に応じて変化させて
も、Ｂモード画像の浅部から深部まで最適の検波時定数
で包絡線検波でき、どの深さでも良好な画質を得られる
ようになる。
音波探触子を取り替えて動作周波数が変っても、常に最
適の検波時定数で包絡線検波でき、常に良好な画質のＢ
モード画像を得られるようになる。また、超音波エコー
信号の通過周波数帯域を帰投時間に応じて変化させて
も、Ｂモード画像の浅部から深部まで最適の検波時定数
で包絡線検波でき、どの深さでも良好な画質を得られる
ようになる。
【図１】この発明の第１実施例の超音波診断装置を示す
構成図である。
構成図である。
【図２】図１の超音波診断装置における包絡線検波回路
の一実施例の回路図である。
の一実施例の回路図である。
【図３】図１の超音波診断装置における包絡線検波回路
の他実施例の回路図である。
の他実施例の回路図である。
【図４】図１の超音波診断装置における包絡線検波を示
す説明図である。
す説明図である。
【図５】この発明の第２実施例の超音波診断装置を示す
構成図である。
構成図である。
【図６】従来の超音波診断装置の一例を示す構成図であ
る。
る。
【図７】図６の超音波診断装置における包絡線検波回路
の回路図である。
の回路図である。
【図８】図６の超音波診断装置における包絡線検波を示
す説明図である。
す説明図である。
１００，２００ 超音波診断装置 １ 超音波探触子 ２ ビームフォーマ ３ ダイナミックフィルタ ４ ダイナミックフィルタコントロール回
路 ５ ＬＯＧ圧縮回路 ６ 包絡線検波回路 ７ 検波時定数コントロール回路 ８ ゲイン・ダイナミックレンジコントロ
ール回路 ９ ＤＳＣ １０ 表示装置 １６ ＦＥＴ ＶＣ１，ＶＣ２ 可変容量ダイオード Ｒ１，Ｒ２ 抵抗
路 ５ ＬＯＧ圧縮回路 ６ 包絡線検波回路 ７ 検波時定数コントロール回路 ８ ゲイン・ダイナミックレンジコントロ
ール回路 ９ ＤＳＣ １０ 表示装置 １６ ＦＥＴ ＶＣ１，ＶＣ２ 可変容量ダイオード Ｒ１，Ｒ２ 抵抗
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平５−285136（ＪＰ，Ａ) 特開 平５−337109（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−3844（ＪＰ，Ａ) 特開 平５−92000（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−54846（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−113227（ＪＰ，Ａ) 実開 平３−68088（ＪＰ，Ｕ) 実開 昭61−10711（ＪＰ，Ｕ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01S 7/52 G01S 15/89 A61B 8/00 G01N 29/22
Claims (2)
- 【請求項１】 被検体からの超音波エコー信号を可変の
検波時定数で包絡線検波しうる可変検波時定数包絡線検
波手段と、前記超音波エコー信号の周波数に応じて検波
時定数を設定変更するための検波時定数設定変更手段と
を具備したことを特徴とする超音波診断装置。 - 【請求項２】 被検体からの超音波エコー信号の帰投時
間に応じてダイナミックフィルタの通過周波数帯域を変
化させる超音波診断装置において、 前記ダイナミックフィルタの通過信号を可変の検波時定
数で包絡線検波しうる可変検波時定数包絡線検波手段
と、前記ダイナミックフィルタの通過周波数帯域の変化
に応じて検波時定数を設定変更するための検波時定数設
定変更手段とを具備したことを特徴とする超音波診断装
置。
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| JP19154894A JP3241211B2 (ja) | 1994-08-15 | 1994-08-15 | 超音波診断装置 |
Applications Claiming Priority (1)
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| JP19154894A JP3241211B2 (ja) | 1994-08-15 | 1994-08-15 | 超音波診断装置 |
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| JPH0854463A JPH0854463A (ja) | 1996-02-27 |
| JP3241211B2 true JP3241211B2 (ja) | 2001-12-25 |
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ID=16276512
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-
1994
- 1994-08-15 JP JP19154894A patent/JP3241211B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| JPH0854463A (ja) | 1996-02-27 |
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