JPH03167483A - 電位センサの出力処理方式 - Google Patents
電位センサの出力処理方式Info
- Publication number
- JPH03167483A JPH03167483A JP30795489A JP30795489A JPH03167483A JP H03167483 A JPH03167483 A JP H03167483A JP 30795489 A JP30795489 A JP 30795489A JP 30795489 A JP30795489 A JP 30795489A JP H03167483 A JPH03167483 A JP H03167483A
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- Japan
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- output
- amplifiers
- measured
- potential sensor
- electrodes
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- Pending
Links
- 230000003321 amplification Effects 0.000 claims description 7
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 claims description 7
- 238000003672 processing method Methods 0.000 claims description 7
- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract description 12
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 3
- 238000009499 grossing Methods 0.000 description 2
- 230000005686 electrostatic field Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は電位センサの出力処理方式に関し、特に静電界
の強度検出や帯電量の測定等に使用する電位センサの出
力処理方式に関する。
の強度検出や帯電量の測定等に使用する電位センサの出
力処理方式に関する。
一般に電位センサは、被測定物がち放射される電気力線
を導入するための検出孔を備えたケースと、このケース
内に入ってくる電気力線を一定の周期で切るチョッパ部
およびチョッパ部を駆動する機械振動子と、この切られ
た電気力線を受けて交流信号を取り出すための電極とか
ら構戒されている.第2図(a),(b)は従来の電位
センサの一例の平面断面図,側面断面図である.第2図
(a).(b)において、チョッパには駆動用の圧電セ
ラミックを接着した音叉を使用しており、音叉振動子1
の先端部にあるチョッパ部8で電気力線6が切られる。
を導入するための検出孔を備えたケースと、このケース
内に入ってくる電気力線を一定の周期で切るチョッパ部
およびチョッパ部を駆動する機械振動子と、この切られ
た電気力線を受けて交流信号を取り出すための電極とか
ら構戒されている.第2図(a),(b)は従来の電位
センサの一例の平面断面図,側面断面図である.第2図
(a).(b)において、チョッパには駆動用の圧電セ
ラミックを接着した音叉を使用しており、音叉振動子1
の先端部にあるチョッパ部8で電気力線6が切られる。
検出電極4は基板9に固定されている.チョッパ部8お
よび基板9は検出孔7を持つケース3に収容される。な
お基板9には所定位置に音叉振動子1の駆動用端子10
,出力端子11および接地端子12が取り付けられ、駆
動用端子10と圧電セラミック2との間には所要Q内部
配線が施されている。
よび基板9は検出孔7を持つケース3に収容される。な
お基板9には所定位置に音叉振動子1の駆動用端子10
,出力端子11および接地端子12が取り付けられ、駆
動用端子10と圧電セラミック2との間には所要Q内部
配線が施されている。
第3図は従来の電位センサの出力処理方式の一例を示す
ブロック図である。第2図に示す電位4ンサ2個を使用
し、この電位センサ21,22&出力信号をそれぞれブ
リアンプ23.24とA(アン725.26と、整流平
滑DCアンプ(以]単にDCアンプ)27.28を通し
て直流電圧a号に変換した後、演算回!29で演算処理
して、被測定物と電位センサ21,22の検出電極とグ
距離に依存しない出力を得ている。
ブロック図である。第2図に示す電位4ンサ2個を使用
し、この電位センサ21,22&出力信号をそれぞれブ
リアンプ23.24とA(アン725.26と、整流平
滑DCアンプ(以]単にDCアンプ)27.28を通し
て直流電圧a号に変換した後、演算回!29で演算処理
して、被測定物と電位センサ21,22の検出電極とグ
距離に依存しない出力を得ている。
上述した従来の2個の電位センサを使用して初測定物と
の間の距離に依存することなく被測定物の帯電電位を測
定する電位センサの出力処理方式では、2個の電位セン
サの検出電極は被測定物力:らの距離が違うので、2個
の検出電極の出力が六幅に〈時には数倍も〉異なる。従
って出力段のA/Dコンバータのリファレンス電圧が一
定であるので一方の検出電極の出力の精度が悪くなり、
演算処理時に誤差となって現われるため測定電位の正確
さに欠けるという欠点がある。
の間の距離に依存することなく被測定物の帯電電位を測
定する電位センサの出力処理方式では、2個の電位セン
サの検出電極は被測定物力:らの距離が違うので、2個
の検出電極の出力が六幅に〈時には数倍も〉異なる。従
って出力段のA/Dコンバータのリファレンス電圧が一
定であるので一方の検出電極の出力の精度が悪くなり、
演算処理時に誤差となって現われるため測定電位の正確
さに欠けるという欠点がある。
本発明の電位センサの出力処理方式は、被測定物から放
射される電気力線を前記被測定物がらの距離が異なった
位置で切る第1,第2のチョッパ部と、この第1,第2
のチョッパ部によって切られた電気力線をそれぞれ検出
する第1.第2の電極と、この第1,第2の電極の出力
を演算処理する演算回路とを備える電位センサにおいて
、前記第1.第2の電極の出力をそれぞれ増幅する第1
,第2の増幅器を設け、この第1,第2の増幅器は両出
力値をほぼ等しくする第1,第2の増幅率を有すること
を特徴とする. 〔実施例〕 次に、本発明について第1図を参照して説明する. 第1図は本発明の一実施例を示す電位センサの出力処理
回路のブロック図である. 第1図において従来例と同じ構成要件には第3図と同じ
符号を付してある.すなわち、本実施例は従来例のDC
アンプ27.28の後段にゲインアンプA31,B32
と、A/Dコンバータ33,34とを付加し、A/Dコ
ンバータ33,34の出力を演算回路35によって演算
処理して出力を得る.なおゲインアンプA31の入力レ
ベルをI&.増幅率をGa,出力レベルを01とし、ゲ
インアンプB32の入力レベルをIb,増幅率をG,,
出力レベルをObとすると、増幅率G.,G,はI,
≠Ib であるときも0.=0bとなるように定める。
射される電気力線を前記被測定物がらの距離が異なった
位置で切る第1,第2のチョッパ部と、この第1,第2
のチョッパ部によって切られた電気力線をそれぞれ検出
する第1.第2の電極と、この第1,第2の電極の出力
を演算処理する演算回路とを備える電位センサにおいて
、前記第1.第2の電極の出力をそれぞれ増幅する第1
,第2の増幅器を設け、この第1,第2の増幅器は両出
力値をほぼ等しくする第1,第2の増幅率を有すること
を特徴とする. 〔実施例〕 次に、本発明について第1図を参照して説明する. 第1図は本発明の一実施例を示す電位センサの出力処理
回路のブロック図である. 第1図において従来例と同じ構成要件には第3図と同じ
符号を付してある.すなわち、本実施例は従来例のDC
アンプ27.28の後段にゲインアンプA31,B32
と、A/Dコンバータ33,34とを付加し、A/Dコ
ンバータ33,34の出力を演算回路35によって演算
処理して出力を得る.なおゲインアンプA31の入力レ
ベルをI&.増幅率をGa,出力レベルを01とし、ゲ
インアンプB32の入力レベルをIb,増幅率をG,,
出力レベルをObとすると、増幅率G.,G,はI,
≠Ib であるときも0.=0bとなるように定める。
続いて本実施例の動作について説明する.2個の電位セ
ンサ21,22の検出電極と被測定物との間の距離は異
なるので電位センサ21,22の出力は異なる値を示す
。従ってDCアンプ27.28の出力レベル(つまりゲ
インアンプA31.832の入力レベルI.,Ib)も
異なる値である。ゲインアンプA31.32はそれぞれ
入力レベルI.,Ibの直流電圧信号を増幅して出力レ
ベル0.,0bの信号をA/Dコンパ−タ33.34に
入力し、A/Dコンバータ33,34はパラレルデータ
に変換して演算回iYJ35に入力する.ここで、ゲイ
ンアンプA31.B32はI.≠I.のとき0,ξOb
となるように増幅するので、演算回路25の2つの入力
データはほぼ等しいものとなっている. なお、本実施例ではACアンプ26と音叉駆動回路36
からの信号を位相比較極性判別回路37で位相比較して
被測定物の帯電電位の極性判別を行って演算回路35に
入力している.演算回路35はA/Dコンバータ33.
34および位相比較極性判別回路37からの信号を演算
処理して被測定物と2個の電位センサとの間の距離の差
の影響を受けない出力信号を得ることができる。
ンサ21,22の検出電極と被測定物との間の距離は異
なるので電位センサ21,22の出力は異なる値を示す
。従ってDCアンプ27.28の出力レベル(つまりゲ
インアンプA31.832の入力レベルI.,Ib)も
異なる値である。ゲインアンプA31.32はそれぞれ
入力レベルI.,Ibの直流電圧信号を増幅して出力レ
ベル0.,0bの信号をA/Dコンパ−タ33.34に
入力し、A/Dコンバータ33,34はパラレルデータ
に変換して演算回iYJ35に入力する.ここで、ゲイ
ンアンプA31.B32はI.≠I.のとき0,ξOb
となるように増幅するので、演算回路25の2つの入力
データはほぼ等しいものとなっている. なお、本実施例ではACアンプ26と音叉駆動回路36
からの信号を位相比較極性判別回路37で位相比較して
被測定物の帯電電位の極性判別を行って演算回路35に
入力している.演算回路35はA/Dコンバータ33.
34および位相比較極性判別回路37からの信号を演算
処理して被測定物と2個の電位センサとの間の距離の差
の影響を受けない出力信号を得ることができる。
以上説明したように本発明は、2個の電位センサの検出
電極の出力にそれぞれ増幅率の異なるゲインアンプを付
加してその出力レベルをほぼ等しくすることにより、演
算処理時の誤差を低減できるので、被測定物の帯電電位
をより正確に測定できる効果がある。
電極の出力にそれぞれ増幅率の異なるゲインアンプを付
加してその出力レベルをほぼ等しくすることにより、演
算処理時の誤差を低減できるので、被測定物の帯電電位
をより正確に測定できる効果がある。
第1図は本発明の一実施例を示す電位センサの出力処理
回路のブロック図、第2図(a)(b)は従来の電位セ
ンサの一例の平面断面図,側面断面図、第3図は従来の
電位センサの出力処理方式の一例を示すブロック図であ
る。 1・・・音叉振動子、2・・・圧電セラミック、3・・
・ケース、4・・・検出電極、6・・・電気力線、7・
・・検出孔、8・・・チョッパ部、9・・・基板、10
・・・駆動用端子、1l・・・出力端子、12・・・接
地端子、21.22・・・電位センサ、23.24・・
・プリアンプ、25.26・・・ACアンプ、27.2
8・・・整流平滑DCアンプ、29.35・・・演算回
路、31.32・・・ゲインアンプA,B、33.34
・・・A/Dコンバータ、36・・・音叉駆動回路、3
7・・・位相比較極性判別回路.
回路のブロック図、第2図(a)(b)は従来の電位セ
ンサの一例の平面断面図,側面断面図、第3図は従来の
電位センサの出力処理方式の一例を示すブロック図であ
る。 1・・・音叉振動子、2・・・圧電セラミック、3・・
・ケース、4・・・検出電極、6・・・電気力線、7・
・・検出孔、8・・・チョッパ部、9・・・基板、10
・・・駆動用端子、1l・・・出力端子、12・・・接
地端子、21.22・・・電位センサ、23.24・・
・プリアンプ、25.26・・・ACアンプ、27.2
8・・・整流平滑DCアンプ、29.35・・・演算回
路、31.32・・・ゲインアンプA,B、33.34
・・・A/Dコンバータ、36・・・音叉駆動回路、3
7・・・位相比較極性判別回路.
Claims (1)
- 被測定物から放射される電気力線を前記被測定物からの
距離が異なった位置で切る第1、第2のチョッパ部と、
この第1、第2のチョッパ部によって切られた電気力線
をそれぞれ検出する第1、第2の電極と、この第1、第
2の電極の出力を演算処理する演算回路とを備える電位
センサにおいて、前記第1、第2の電極の出力をそれぞ
れ増幅する第1、第2の増幅器を設け、この第1、第2
の増幅器は両出力値をほぼ等しくする第1、第2の増幅
率を有することを特徴とする電位センサの出力処理方式
。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP30795489A JPH03167483A (ja) | 1989-11-27 | 1989-11-27 | 電位センサの出力処理方式 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP30795489A JPH03167483A (ja) | 1989-11-27 | 1989-11-27 | 電位センサの出力処理方式 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03167483A true JPH03167483A (ja) | 1991-07-19 |
Family
ID=17975169
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP30795489A Pending JPH03167483A (ja) | 1989-11-27 | 1989-11-27 | 電位センサの出力処理方式 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03167483A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014514557A (ja) * | 2011-04-14 | 2014-06-19 | シーメンス アクチエンゲゼルシヤフト | 電束に関する異なる二つの値によって対象物の電位を非接触式に検出するための方法並びに装置 |
-
1989
- 1989-11-27 JP JP30795489A patent/JPH03167483A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014514557A (ja) * | 2011-04-14 | 2014-06-19 | シーメンス アクチエンゲゼルシヤフト | 電束に関する異なる二つの値によって対象物の電位を非接触式に検出するための方法並びに装置 |
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