JP2014514557A - 電束に関する異なる二つの値によって対象物の電位を非接触式に検出するための方法並びに装置 - Google Patents
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Abstract
Description
−電極を準備し、その電極を対象物から空間的に離隔させて配置するステップ;
−電極を基準電位に接続するステップ;
−電極と対象物との間の電束に関する第1の値において、電極の充電状態の第1の時間的変化を検出するステップ;
−電極と対象物との間の電束に関する第2の値において、電極の充電状態の第2の時間的変化を検出するステップ;
−少なくとも、充電状態の第1の時間的変化及び充電状態の第2の時間的変化から、また、電束に関する第1の値と第2の値の差から、対象物の電位を求めるステップ。
−第1電極及び第2の電極を準備し、それら二つの電極を対象物から空間的に離隔させて配置するステップ;
−第1の電極を第1の基準電極に接続し、且つ、第2の電極を第2の基準電極に接続するステップ;
−第1の電極と対象物との間の電束に関する第1の値において、第1の電極の充電状態の第1の時間的変化を検出するステップ;
−第2の電極と対象物との間の電束に関する第2の値において、第2の電極の充電状態の第2の時間的変化を検出するステップ;
−少なくとも、充電状態の第1の時間的変化及び充電状態の第2の時間的変化から、また、電束に関する第1の値と第2の値の差から、対象物の電位を求めるステップ。
−コンデンサのプレート間の電位差については次式が当てはまる:
Claims (13)
- 対象物(1)の電位(Uunknown)を非接触式に検出するための方法であって、
一つの電極(2)を準備し、該電極(2)を前記対象物(1)から空間的に離隔させて配置するステップを備えている方法において、
前記電極(2)を基準電位(Uref)に接続するステップと、
前記電極(2)と前記対象物(1)との間の電束に関する第1の値において、前記電極(2)の充電状態の第1の時間的変化(I1)を検出するステップと、
前記電極(2)と前記対象物(1)との間の前記電束に関する第2の値において、前記電極(2)の充電状態の第2の時間的変化(I2)を検出するステップと、
少なくとも前記充電状態の第1の時間的変化(I1)及び前記充電状態の第2の時間的変化(I2)から、並びに前記電束に関する前記第1の値と前記第2の値の差から、前記対象物(1)の電位(Uunknown)を求めるステップと、
を備えていることを特徴とする方法。 - 前記電極(2)と前記対象物(1)との間の前記電束に関する前記第1の値の調整を、前記電極(2)を前記対象物(1)から第1の距離(d1)に位置決めし、且つ、前記基準電位を第1の電位値(Uref1)に調整することによって行うステップと、
前記電極(2)と前記対象物(1)との間の電束に関する前記第2の値の調整を、前記電極(2)を前記対象物(1)から前記第1の距離(d1)に位置決めし、且つ、前記基準電位を、前記第1の電位値(Uref1)とは異なる第2の電位値(Uref2)に調整することによって行うステップと、
を備えている、請求項1に記載の方法。 - 前記電極(2)と前記対象物(1)との間の前記電束に関する前記第1の値の調整を、前記電極(2)を前記対象物(1)から前記第1の距離(d1)に位置決めし、且つ、前記基準電位を第1の電位値(Uref1)に調整することによって行うステップと、
前記電極(2)と前記対象物(1)との間の前記電束に関する前記第2の値の調整を、前記電極(2)を前記対象物(1)から、前記第1の距離(d1)とは異なる第2の距離(d2)に位置決めし、且つ、前記基準電位を前記第1の電位値(Uref1)に調整することによって行うステップと、
を備えている、請求項1に記載の方法。 - 対象物(1)の電位を非接触式に検出するための方法であって、
第1電極(2a)及び第2の電極(2b)を準備し、該第1電極(2a)及び第2の電極(2b)を前記対象物から空間的に離隔させて配置するステップを備えている方法において、
前記第1の電極(2a)を第1の基準電極(Uref1)に接続し、且つ、前記第2の電極(2b)を第2の基準電極(Uref2)に接続するステップと、
前記第1の電極(2a)と前記対象物(1)との間の電束に関する第1の値において、前記第1の電極(2a)の充電状態の第1の時間的変化(I1)を検出するステップと、
前記第2の電極(2b)と前記対象物(1)との間の前記電束に関する第2の値において、前記第2の電極(2b)の充電状態の第2の時間的変化(I2)を検出するステップと、
少なくとも前記充電状態の第1の時間的変化(I1)及び前記充電状態の第2の時間的変化(I2)から、並びに前記電束に関する前記第1の値と前記第2の値の差から、前記対象物(1)の電位(Uunknown)を求めるステップと、
を備えていることを特徴とする方法。 - 前記第1の電極(2a)と前記対象物(1)との間の前記電束に関する前記第1の値の調整を、前記第1の電極(2a)を前記対象物(1)から第1の距離(d1)に位置決めし、且つ、前記第1の基準電位を第1の電位値(Uref1)に調整することによって行うステップと、
前記第2の電極(2b)と前記対象物(1)との間の電束に関する前記第2の値の調整を、前記第2の電極(2b)を前記対象物(1)から前記第1の距離(d1)に位置決めし、且つ、前記第2の基準電位を、前記第1の電位値(Uref1)とは異なる第2の電位値(Uref2)に調整することによって行うステップと、
を備えている、請求項4に記載の方法。 - 前記第1の電極(2a)と前記対象物(1)との間の前記電束に関する前記第1の値の調整を、前記第1の電極(2a)を前記対象物(1)から第1の距離(d1)に位置決めし、且つ、前記第1の基準電位を第1の電位値(Uref1)に調整することによって行うステップと、
前記第2の電極(2b)と前記対象物(1)との間の前記電束に関する前記第2の値の調整を、前記第2の電極(2b)を前記対象物(1)から、前記第1の距離(d1)とは異なる第2の距離(d2)に位置決めし、且つ、前記第2の基準電位を前記第1の電位値(Uref1)に調整することによって行うステップと、
を備えている、請求項4に記載の方法。 - 前記第1の電極(2a)と前記第2の電極(2b)は同一に構成されている、請求項4乃至6のいずれか一項に記載の方法。
- 少なくとも一つの電極(2,2a,2b)の前記充電状態の時間的変化の検出を充電電流(I,I1,I2)の測定によって行う、請求項1乃至7のいずれか一項に記載の方法。
- 少なくとも一つの電極(2,2a,2b)は増幅器(4)の第1の入力端(3a)と電気的に接続され、基準電位(Uref)は前記増幅器(4)の第2の入力端(3b)と電気的に接続され、前記増幅器(4)の出力端(5)は前記第1の入力端(3a)と電気的に接続される、請求項1乃至8のいずれか一項に記載の方法。
- 前記対象物(1)の時間的に変化する電位(Uunknown)を検出する、請求項1乃至9のいずれか一項に記載の方法。
- 少なくとも一つの電極(2,2a,2b)と前記対象物(1)との間に、回転する羽根を配置し、前記対象物(1)の時間的に一定の電位(Uunknown)を検出する、請求項1乃至10のいずれか一項に記載の方法。
- 対象物(1)から空間的に離隔させて配置可能な一つの電極(2)を用いて、前記対象物(1)の電位(Uunknown)を非接触式に検出するための装置において、
前記電極(2)と電気的に接続されている電位発生器(6)と、評価ユニットとが設けられており、
前記評価ユニットは、前記電極(2)と前記対象物(1)との間の電束に関する第1の値において前記電極(2)の充電状態の第1の時間的変化(I1)を検出し、前記電極(2)と前記対象物(1)との間の前記電束に関する第2の値において前記電極(2)の充電状態の第2の時間的変化(I2)を検出し、且つ、前記対象物(1)の前記電位(Uunknown)を、少なくとも前記充電状態の第1の時間的変化(I1)及び前記充電状態の第2の時間的変化(I2)から、並びに前記電束に関する前記第1の値と前記第2の値の差から検出するように構成されている、
ことを特徴とする、装置。 - 対象物(1)から空間的に離隔させて配置可能な第1の電極(2a)及び第2の電極(2b)を用いて、前記対象物(1)の電位(Uunknown)を非接触式に検出するための装置において、
前記第1の電極(2a)と電気的に接続されている第1の電位発生器(6a)と、前記第2の電極(2b)と電気的に接続されている第2の電位発生器(6b)と、評価ユニットとが設けられており、
前記評価ユニットは、前記第1の電極(2a)と前記対象物(1)との間の電束に関する第1の値において前記第1の電極(2a)の充電状態の第1の時間的変化(I1)を検出し、前記第2の電極(2b)と前記対象物(1)との間の前記電束に関する第2の値において前記第2の電極(2b)の充電状態の第2の時間的変化(I2)を検出し、且つ、前記対象物(1)の前記電位(Uunknown)を、少なくとも前記充電状態の第1の時間的変化(I1)及び前記充電状態の第2の時間的変化(I2)から、並びに、前記電束に関する前記第1の値と前記第2の値の差から検出するように構成されている、
ことを特徴とする、装置。
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2017168608A1 (ja) * | 2016-03-30 | 2017-10-05 | 株式会社日立システムズ | 非接触電圧測定装置および非接触電圧測定方法 |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2944697A1 (en) | 2014-05-13 | 2015-11-18 | Evonik Degussa GmbH | Method of producing nylon |
TWI649568B (zh) * | 2014-10-17 | 2019-02-01 | 日商日置電機股份有限公司 | Voltage detecting device |
WO2016109009A1 (en) * | 2014-12-29 | 2016-07-07 | Eaton Corporation | Voltage sensor system |
US9733281B2 (en) | 2014-12-29 | 2017-08-15 | Eaton Corporation | Voltage sensor system |
US11174496B2 (en) | 2015-12-17 | 2021-11-16 | Evonik Operations Gmbh | Genetically modified acetogenic cell |
US10634479B2 (en) * | 2016-06-20 | 2020-04-28 | Tokyo Electron Limited | Measuring instrument for measuring electrostatic capacity and method of calibrating transfer position data in processing system by using measuring instrument |
WO2018019867A1 (en) | 2016-07-27 | 2018-02-01 | Evonik Degussa Gmbh | N-acetyl homoserine |
JP6832207B2 (ja) * | 2017-03-29 | 2021-02-24 | 東京エレクトロン株式会社 | 静電容量測定用の測定器 |
JP7029983B2 (ja) * | 2018-03-09 | 2022-03-04 | 東京エレクトロン株式会社 | 測定器及び測定器のずれ量を求める方法 |
DE102019117989B3 (de) * | 2019-07-03 | 2020-11-26 | Helmholtz-Zentrum Berlin für Materialien und Energie Gesellschaft mit beschränkter Haftung | Vorrichtung zur berührungslosen Spannungsmessung |
CN114487562B (zh) * | 2022-04-06 | 2022-07-05 | 南方电网数字电网研究院有限公司 | 基于校正介电常数的电压测量方法和装置 |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62113072A (ja) * | 1985-11-12 | 1987-05-23 | Murata Mfg Co Ltd | 表面電位検出装置 |
JPH03167483A (ja) * | 1989-11-27 | 1991-07-19 | Nec Corp | 電位センサの出力処理方式 |
JPH08129043A (ja) * | 1994-11-01 | 1996-05-21 | Shishido Seidenki Kk | 表面電位測定器 |
JPH09211046A (ja) * | 1996-02-02 | 1997-08-15 | Hitachi Ltd | 非接触電位検出方法とその装置 |
JP2002318255A (ja) * | 2001-04-24 | 2002-10-31 | Tdk Corp | 表面電位検出装置 |
JP2006153631A (ja) * | 2004-11-29 | 2006-06-15 | Hokuto Denshi Kogyo Kk | 表面電位測定方法および表面電位計 |
JP2008185428A (ja) * | 2007-01-29 | 2008-08-14 | Canon Inc | 電位測定装置、及び画像形成装置 |
JP2009192497A (ja) * | 2008-02-18 | 2009-08-27 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 表面電位測定方法および表面電位計 |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4928057A (en) * | 1986-10-28 | 1990-05-22 | Williams Bruce T | High speed D.C. non-contacting electrostatic voltage follower |
US5473244A (en) | 1992-09-17 | 1995-12-05 | Libove; Joel M. | Apparatus for measuring voltages and currents using non-contacting sensors |
JP3167483B2 (ja) | 1993-02-19 | 2001-05-21 | 株式会社東芝 | 磁気ディスク装置 |
JP2004294351A (ja) * | 2003-03-28 | 2004-10-21 | Canon Inc | 電位センサおよび画像形成装置 |
US7397233B2 (en) | 2004-01-07 | 2008-07-08 | Suparules Limited | Voltage measuring device |
US7466145B2 (en) * | 2005-10-12 | 2008-12-16 | Hioki Denki Kabushiki Kaisha | Voltage measuring apparatus and power measuring apparatus |
JP4993349B2 (ja) * | 2007-01-29 | 2012-08-08 | キヤノン株式会社 | 電位測定装置、及び画像形成装置 |
CN201628742U (zh) * | 2009-02-20 | 2010-11-10 | 国网电力科学研究院 | 1000kV特高压交流非接触式验电器 |
CN101881791B (zh) | 2009-04-30 | 2015-08-05 | 日置电机株式会社 | 电压检测装置 |
DE102009022965A1 (de) * | 2009-05-28 | 2010-12-02 | Siemens Aktiengesellschaft | Messung eines Substrats mit elektrisch leitenden Strukturen |
CN201662589U (zh) * | 2009-12-11 | 2010-12-01 | 武汉特试特科技有限公司 | 非接触式高压电场传感器 |
US8493053B2 (en) * | 2009-12-18 | 2013-07-23 | GRID20/20, Inc. | System and device for measuring voltage in a conductor |
CN101813723A (zh) * | 2010-04-07 | 2010-08-25 | 中环光伏系统有限公司 | 一种非接触式测量直流电流的方法 |
-
2011
- 2011-04-14 WO PCT/EP2011/055936 patent/WO2012139648A1/de active Application Filing
- 2011-04-14 CN CN201180070098.2A patent/CN103460058B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2011-04-14 JP JP2014504176A patent/JP5951005B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2011-04-14 EP EP11715694.3A patent/EP2668512B1/de not_active Not-in-force
- 2011-04-14 US US14/111,640 patent/US9562930B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62113072A (ja) * | 1985-11-12 | 1987-05-23 | Murata Mfg Co Ltd | 表面電位検出装置 |
JPH03167483A (ja) * | 1989-11-27 | 1991-07-19 | Nec Corp | 電位センサの出力処理方式 |
JPH08129043A (ja) * | 1994-11-01 | 1996-05-21 | Shishido Seidenki Kk | 表面電位測定器 |
JPH09211046A (ja) * | 1996-02-02 | 1997-08-15 | Hitachi Ltd | 非接触電位検出方法とその装置 |
JP2002318255A (ja) * | 2001-04-24 | 2002-10-31 | Tdk Corp | 表面電位検出装置 |
JP2006153631A (ja) * | 2004-11-29 | 2006-06-15 | Hokuto Denshi Kogyo Kk | 表面電位測定方法および表面電位計 |
JP2008185428A (ja) * | 2007-01-29 | 2008-08-14 | Canon Inc | 電位測定装置、及び画像形成装置 |
JP2009192497A (ja) * | 2008-02-18 | 2009-08-27 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 表面電位測定方法および表面電位計 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2017168608A1 (ja) * | 2016-03-30 | 2017-10-05 | 株式会社日立システムズ | 非接触電圧測定装置および非接触電圧測定方法 |
JPWO2017168608A1 (ja) * | 2016-03-30 | 2018-12-27 | 株式会社日立システムズ | 非接触電圧測定装置および非接触電圧測定方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US9562930B2 (en) | 2017-02-07 |
CN103460058B (zh) | 2015-11-25 |
EP2668512B1 (de) | 2015-06-24 |
US20140111189A1 (en) | 2014-04-24 |
EP2668512A1 (de) | 2013-12-04 |
JP5951005B2 (ja) | 2016-07-13 |
CN103460058A (zh) | 2013-12-18 |
WO2012139648A1 (de) | 2012-10-18 |
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