JPH03156714A - 薄膜磁気ヘッド及びその製造方法 - Google Patents
薄膜磁気ヘッド及びその製造方法Info
- Publication number
- JPH03156714A JPH03156714A JP21892290A JP21892290A JPH03156714A JP H03156714 A JPH03156714 A JP H03156714A JP 21892290 A JP21892290 A JP 21892290A JP 21892290 A JP21892290 A JP 21892290A JP H03156714 A JPH03156714 A JP H03156714A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- insulating layer
- insulating
- thin film
- magnetic
- magnetic head
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000010409 thin film Substances 0.000 title claims description 96
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 14
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims abstract description 80
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 19
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 claims description 23
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 14
- 239000003504 photosensitizing agent Substances 0.000 claims description 7
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 abstract description 7
- 238000000059 patterning Methods 0.000 abstract description 3
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 204
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 14
- 239000010408 film Substances 0.000 description 8
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 8
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 7
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 5
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 5
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 5
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000003754 machining Methods 0.000 description 4
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 4
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 229920003986 novolac Polymers 0.000 description 3
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 3
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 3
- QTWJRLJHJPIABL-UHFFFAOYSA-N 2-methylphenol;3-methylphenol;4-methylphenol Chemical compound CC1=CC=C(O)C=C1.CC1=CC=CC(O)=C1.CC1=CC=CC=C1O QTWJRLJHJPIABL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 2
- 229930003836 cresol Natural products 0.000 description 2
- 238000011161 development Methods 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 229910000889 permalloy Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 2
- ISWSIDIOOBJBQZ-UHFFFAOYSA-N Phenol Chemical compound OC1=CC=CC=C1 ISWSIDIOOBJBQZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 238000000227 grinding Methods 0.000 description 1
- 238000013007 heat curing Methods 0.000 description 1
- 230000010365 information processing Effects 0.000 description 1
- 230000005381 magnetic domain Effects 0.000 description 1
- 230000005415 magnetization Effects 0.000 description 1
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 1
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 1
- 229920001187 thermosetting polymer Polymers 0.000 description 1
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Magnetic Heads (AREA)
Abstract
め要約のデータは記録されません。
Description
記録装置に用いられる薄膜磁気ヘッドに係り、特に、複
数の絶縁層を有する薄膜磁気ヘッドに係り、特に、複数
の絶縁層を有する薄膜磁気ヘッドに関する。
ディスク、テープ等に強い磁界で書き込み。
る傾向にあり、この導体コイルを絶縁する絶縁層も多層
化する傾向にある。
11号公報に記載されているように、最上部の絶縁層の
パターン形状を最下部の絶縁層のパターン形状よりわず
かに大きいか又は等しく形成し、絶縁層端部の形状を滑
らかにしている。
ッドの絶縁層を形成する際に、ホトレジストパターンを
熱処理前に全面露光し、その後熱処理することにより、
なだらかテーパ角を得ることが記載されている。
ヘッドにおいて、従来の技術では、磁気ギャップ深さ零
の位置、すなわち絶縁層先端部の位置を精度良く決める
ことは困難であった。
膜磁気ヘッドを提供することにある。
に、導体コイル、該導体コイルをはさんで絶縁する複数
の絶縁層及び磁気ギャップ層を有し、前記複数の絶縁層
の端面によって形成される段差部に形成された他の絶縁
層を有することを特徴とする 前記複数の絶縁層とは、導体コイル間及び導体コイルと
磁気コアとの間を絶縁するためのものであり、これら複
数の絶縁層の端面とは、薄膜磁気ヘッドの記録媒体に対
向する側のM!A縁層の斜面部である。
、各絶縁層の端部によって形成されるものである。
を低減するものであり、導体コイル間及び導体コイルと
磁気コアとの間を絶縁する絶8WJの上に形成されるこ
とが好ましい。更に、他の絶g層は、単層に限られるも
のではなく複数層であっても良い。
れる段差部の凹凸を平滑化し、なめらかなテーパ部を形
成する。
気コア、磁気ギャップ層、第一絶縁層。
れらを順次形成することが好ましい。
に限定されるものではなく、記録と再生とを分離した構
造の記録用の磁気ヘッドに用いることもできる。
コアは、一端で磁気ギャップ層を介して対向し、他端で
直接接触した構造であり、Ni系。
磁気コアは、ドライプロセスを用いて形成されることが
好ましい。
部及び下部磁気コアによって形成される磁路と直行する
ように形成されることが好ましく、また、上部及び下部
磁気コアの間を複数回通るように、上部及び下部磁気コ
アを接続し、形成したバックギャップ部分の回りに複数
回巻回されて形成されることが好ましい。また、導体コ
イルは、銅、金又はアルミニウムを用いることが好まし
い。
、酸化アルミニウム又は酸化シリコン等の無機絶縁物を
用いることが好ましい。
コア間に形成された複数の絶B層には、有機絶縁物又は
5iOz等の無機絶縁物の何れも用いることができるが
、焼成したホトレジスト。
特にフェノールノボラック樹脂、クレゾールノボラック
樹脂等を主成分とするポジ型のホトレジストを熱硬化し
た樹脂を使用することが好ましい。
ヘッド先端部以外からの磁界のもれを防ぐため、30゜
〜50°好ましくは40°前後の角度になるように、第
一絶縁層、第二絶縁層、第三絶縁層と、絶縁層パターン
形状を、順次小さく積層することが好ましい。
層の端部が磁気ギャップ深さ零の位置を決める絶縁層の
端部よりわずかに小さくなるように重ねることが望まし
い。これにより、磁気ギャップ深さ零の位置を決めるの
に際して、最後に形成する、絶縁層は、この位置に影響
を与えず、高精度に磁気ギャップ深さ零の位置を決める
ことができる。
介して対向する上部及び下部磁気コア間の距離が開き初
ぬる点であり、記録媒体に対向する絶縁層の最先端であ
る。
よって形成される段差部に形成された前記導体コイルに
接しない他の絶縁層を有することを特徴とする。
導体コイルと磁気コアとの間をamするという絶縁層本
来の機能を必要としないと言うことを意味する。
よって形成される段差部を覆う他の絶縁層を有し、前記
他の絶縁層の先端が磁気ギャップ深さを決める絶縁層の
先端よりも後部に位置することを特徴とする。
前方に形成することが好ましく、他の絶縁層は、それよ
りも後方に形成することが好ましい。
絶縁層とを異なる材質、例えば前者を無機絶縁物、後者
を有機絶縁物で形成することが好ましい。
現像工程で決められるために、積層する絶縁層の中で、
基板表面の素子段差が最も小さい状態で形成する絶縁層
で決めるようにすることが好ましい。
表面より上に形成する絶縁層のうちでは、最も下に形成
する絶縁層であることが好ましい。
形成される段差部の上下の絶縁層に接する接線の接点間
の距離り及び前記接線と段差部との最大距離dの関係が
、 d≦(1/15)L であることを特徴とする。
を決める下部絶縁層の先端のテーパ角及び前記複数の絶
縁層の端面によって形成される段差部を覆う上部絶縁層
の先端のテーパ角が30゜〜50’であって一前配下部
絶縁層の先端のテーパ部下端と前記上部絶縁層の先端の
テーパ部下端との距離が1μm〜6μmであることを特
徴とする。
とによって形成される段差を、前記d≦(1/15)L
の関係を満たすようにするためには、他の絶′R層のテ
ーパ角を30″′〜50°とし。
パ部下端と他の絶縁層の先端のテーパ部下端との距離を
1μm〜6μmとする必要がある。
μm〜7μm、前記導体コイルの各層の巻数が10ター
ン〜20ターン、前記上部及び下部磁気コアの磁路長が
90μm〜120μm、磁気ギャップ深さが1μm以下
であることを特徴とする。
、90μm〜120μmにする必要がある。又、他の絶
縁層を有することによって、絶縁を確保する機能と、段
差を解消し、滑らかなテーパ部を形成する機能とを分離
させることができるので、導体コイルの高さを3μm〜
7μmとすることができ、導体コイルの各層の巻数を1
0ターン〜20ターンとすることができる。コイル抵抗
及びコイル巻数は再生時のS/Hに影響を与えるため、
できるだけコイル抵抗は小さく巻数は多いことが好まし
い。コイルの高さ、コイル巻数はできるだけS/Nを高
めるように、磁路長、コイル巻数、コイル抵抗のバラン
スを取って決めるのが好ましい。
気コアを形成する工程と、該下部磁気コア上に導体コイ
ルをはさんで絶縁する複数の絶縁層を形成する工程と、
該絶縁層上に上部磁気コアを形成する工程とを有し、前
記複数の絶縁層によって形成される段差部に他のFA林
層を形成する工程を有することを特徴とする。
の絶縁層によって形成される段差部の他の絶縁層に光を
照射する工程を有することを特徴とする。
の絶縁層によって形成される段差部の他の絶縁層に前記
複数の絶縁層より感光剤濃度の低いポジ型ホトレジスト
を用いることを特徴とする。
ジストを用い露光、現像してパターン形成し、その後絶
縁層の端面のみに再度露光した後。
最も上に形成される導体コイル上に複数層形成されるこ
とが好ましい。
ルと磁気コアとの間のMR1導体コイル又は下部磁気コ
アによって形成される段差の低減並びに上部磁気コアを
形成するための台形状の形成等の機能を有する。
これら複数の絶縁層の端面において形成される段差部を
できる限りなめらかにすることが必要となる。
るには、コイル密度を増加させると共にコイル高さを高
くする必要がある。コイルをはさんで絶縁する絶縁層は
、コイル間の段差を低減するため、並びにコイル間及び
コイルと磁気コアとの間の絶縁を確保するために膜厚が
厚くなり、絶縁層の端部のテーパ角は高くなる。このた
め、絶縁層の端面によって形成される段差部は大きくな
り、電磁変換特性の劣化を生じる。
暦の他に、絶縁層の端面によって形成される段差部を埋
め、なめらかなテーパ部を形成する他の絶縁層を設ける
ことによって、コイル密度を増加させ、コイル高さを高
くすることができると共に、コイルと磁気コアとの間の
絶縁性を確保することにある。
構成を示す概略図である。
の構成要素及びボイスコイルモータ制御回路を含むHD
Aを有する。
ィスク104が取り付けられる。
設けた例が示されているが、五枚に限るものではない。
スクを設けたものを複数個設置してもよい。
を回転するためのモータである。
は位置決め用磁気ヘッドを示している。
符号108はマグネットである。
イルモータが構成される。
によりヘッドの位置決めがなされる。
は、ボイスコイルモータ制御回路を介して接続されてい
る。
又は両方の面に磁性体層を設けたものからなる。磁性体
J’1104には多数のトラック溝が設けである。ディ
スク104の面記録密度は一平方インチ当り54メガビ
ット以上である。トラック密度は−インチ当り1800
トラック以上である。線記録密度は一インチ当り3oキ
ロビツト以上である。そして、それらの線記録密度及び
トラック密度の範囲内で、両者の積である面記録密度を
54メガビット以上とすることができる。
することなく記録密度を高めることができる。
転送速度がその分遅くなったのでは、利用価値が少ない
。データ転送速度を4メガバイト/秒以上とすれば、デ
ータの出し入れを速やかに行うことができる。このデー
タ転送速度はディスクの周速と線記録密度との積で決ま
る。線記録密度は−インチ当り3oキロビツトであるか
ら、データ転送速度4メガバイト/秒以上は、直径8〜
11インチのディスクの場合、ディスク回転数を350
Orpm以上とすることにより実現できる。
ク装置において採用されている一般的な回転数であり、
実現はきわめて容易である。
テムを示し、磁気ディスク装置に記録された情報を処理
する機能を有するものである。リード/ライト回路とは
、書き込み及び読み出しの情報を識別し、磁気ディスク
装置に信号を送るものであり、インターフェイス部とは
、上位装置と磁気ディスク装置とを接続するものである
。この上位装置と磁気ディスク装置とを有するシステム
が情報処理システムである。
に収納した状態を斜視図で示す。
電子回路部202でヘッド・ディスク・アッセンブリ・
ユニット(HDU)203を形成し容器200の内部に
収納されている。HDU203は、8個あり、これらが
2個ずつ四段に収納しである。容器200は、底の一辺
の長さがQ、5〜1.5m、高さが約2mである。
路板に清浄な空気を供給するための空気の流れを示す。
る電磁変換特性の劣性を生じず、狭磁気ギャップ深さの
磁気ヘッドが得られるので、磁気ディスクに対する書き
込み磁界を大きくできる。
めば充分である場合には、薄膜磁気ヘッドを小型化でき
る。
きい磁気ディスクを使用することができるため高い線密
度で記録することができる。さらにコイルの低抵抗、多
巻線化が可能となるので、S/Nの高い再生出力が得ら
れるので、高記録密度化が達成されるため、大容量化が
可能であり。
形成した状態を斜視図で示す。
等である。符号302は薄膜磁気ヘッドである。符号3
03は浮上面を示し、磁気ディスクと対向する面である
。
した薄膜磁気ヘッドを斜視図で示す。
示す。符号403はジンバルバネであり、磁気ディスク
との距離を一定に保つ作用をするものである。この磁気
ディスクをスライダ301の先端に形成された薄膜磁気
ヘッド302との、磁気ディスク装置の起動状態におけ
る距離は、一般に浮上量と言われ磁気ディスク装置の性
能の重要な要素の一つである。本発明の薄膜磁気ヘッド
ではこの浮上量を0.3μm以下とすることができるゆ 第5図は、本発明の薄膜磁気ヘッドの主要部分の斜視図
である。
した磁気ヘッド105を拡大したものを示す。
、4は第−絶a暦、5は第一導体コイル、6は第2絶縁
層、10は上部磁気コア、11は保護膜をそれぞれ示す
。
るものであるが、本発明の詳細な説明するため、薄膜磁
気ヘッドの先端部を拡大し、導体コイルが二層、三層及
び−層について順次説明する。
ド先端部の断面を示したものである。
03等を形成した基板1上に、パーマロイ等からなる下
部磁気コア2、ARzOa等からなる磁気ギャップ層3
を形成し、その上に第一絶縁層4を形成した。
時に比べて素子段差が最も低いので、第−絶縁層4でギ
ャップ深さ零の位置を決めた。
ルを覆うように、その上に第三絶縁層6を形成した。
方法を用いて、順次形成した。
面によって形成された段差部埋めるように第四絶縁層9
を形成した。このとき、第四絶縁層9は、第−絶縁層4
上に先端部が重なり、磁気ギャップ深さ零の位置より後
方に形成した。
る上部磁気コア1oを形成し、この上に。
の端面を磁気ギャップ深さ零の位置とし、薄膜磁気ヘッ
ド先端部、つまり記録媒体に対向する方向から所定の寸
法に研削し、薄膜磁気ヘッドを製造した。
れる絶縁層によって左右されないため、磁気ギャップ深
さ加工の作業能率が向上し、数十個の薄膜磁気ヘッドを
同時にしかも高精度に加工することができ1歩留まりも
向上する。
高さ及び第2絶縁層6と第3絶縁層8とのテーパ部にお
ける積層位置によって決まる。このため、導体コイルと
上部及び下部磁気コアとの間の絶縁は第一から第三まで
の絶縁層によって確保され、第四MA縁層は少なくとも
テーパ部のみに形成されていれば良い。
ドの立上りテーパ角αは磁気ギャップ深さ零の位置を決
める絶縁層1本実施例では、第一絶縁層4のテーパ角に
よって決定される。
まれた絶縁層の長手方向の長さ、いわゆる磁路長を90
〜120μm、各層の導体コイルの巻数を10〜20タ
ーン、導体コイルの高さを3〜7μmとすることができ
、導体コイルの層間及び導体コイルと上部及び下部磁気
コアとの間の距離を絶縁性を考慮して、1.5μm と
することができる。
ーパ部が滑らかであった。
するポジ型のホトレジストを用いた。このホトレジスト
を塗布した後、フォトリングラフィ技術を用いて所定形
状にバターニングし、240〜280℃の温度で熱処理
して形成した。
スト中の感光剤の濃度を変化させることによってコント
ロールした。
テーパ角との関係を示したものである。
テーパ角が大きくなることがわかる。更に、熱処理温度
を高くすると絶縁層端面のテーパ角が小さくなることが
わかる。
に形成することを目的の−っとしているために他の絶縁
層を形成するホトレジストに比較して流動性が良いこと
が好ましく、第四絶縁層は、他の絶縁層に比較して、感
光剤の量が少ないホトレジストを使用した。
先端間の距離との関係を示したものである。
離が0〜3μmの間ではほとんど変化がなくこれ以上に
なると低下する傾向を示すことがわかった。この結果か
ら、実用に供する記録磁界の目安として最大値に対する
10%低下のレベルまで考慮すると第−絶縁層先端及び
第四絶縁層先端間の距離は0〜6μmにすることができ
ることがわかる。しかし、0μmでは第四絶縁層が磁気
ギャップ深さ零の位置の精度に影響を及ぼすので、パタ
ーニングの際の位置合わせ精度を考慮すると1〜6μm
にすることが好ましいことがわかる。
示したものである。記録磁界の目安として最大値に対す
る10%低下のレベルまで考慮するとテーパ角は、30
〜50”にすることが望ましいことがわかる。ここで記
録磁界とは、磁気ヘッドの先端から出力される磁界強度
である。
am端面の段差量を測定し、段差量と記録再生特性との
関係について整理した。
によって生じる絶縁層端面に形成される段差部の上下の
絶縁層に接する接線の接点間の距離りと接線及び段差部
の最大距離dとの関係が。
ことができることがわかった。第一絶縁層4で凸部の接
点が得られない場合は、接点の位置を磁気ギャップ深さ
零の位置とした。
とがわかった。
としたが、テーパ部の形状を安定化させるために、さら
に、暦数をふやしてもよい。
/Nが向上し、この簿膜磁気ヘッドを搭載した磁気記録
装置の大容量化、高速化が可能となる。
層9を形成してもよい。尚、図中に記載されている符号
は第6図中に示されているものと同一である。
の位置精度を、磁気ギャップ深さ零の位置を決めた第−
絶I#屡のホトマスクパターンと比較して測定した結果
、位置精度は±0.1μmと非常に高い値が得られ、磁
気ギャップ深さ加工においても±0.2μmと高い加工
精度が得られ、磁気ギャップ深さ1μm以下の薄膜磁気
ヘッドが得られた。
先端のテーパ部を観察した結果、磁界の飽和、及び磁区
のみだけ等はなく、安定した磁化状態が得られた。
成される段差部を他の絶縁層によって解消し、なめらか
なテーパ部を形成することができるため、その上に形成
される上部磁気コアも滑らかに形成することができ、電
磁変換特性が向上し、ノイズ発生などの問題も解消され
た。
プ深さの高精度化が可能となり、狭磁気ギャップ化も可
能となる。
図を用いて説明する。
縁層を一層とした二層コイル型薄膜磁気ヘッドである。
第一絶縁層4、第一導体コイル5、第二絶縁、I16.
第二導体コイル7を順次形成する。本実施例では、第一
絶縁層4で磁気ギャップ深さ零の位置を決める。
ホトリソグラフィ技術を用いて、第一絶縁層4上にホト
レジストパターン14の端部が重なるように形成する。
けて露光する。
スト中に含有されている感光剤の感光基が分解される。
、全面に露光することによる膜厚分布が円弧上になるこ
とを防止するためのものであり。
導体コイル7と第三絶縁層8上に形成される上部磁気コ
アとの絶縁性を確保するためのものである。
する必要があるが、再露光工程、つまりホトレジストパ
ターン14の端部のみを露光する工程の場合には1通常
の1.5〜2.0倍で露光することが好ましい。
層8を得る。
る加熱中の流動性が増加することにより端面がなめらか
なテーパ部を得ることができる。
端の距離は2〜4μmとした。ここで露光距離とは、ホ
トレジストパターン14の端部下端とホトマスク15の
端部との距離を示す。
子の一つである磁気ギャップ深さを薄膜ヘッド先端部よ
り研削して、精度良く所定寸法に形成することができる
。
ことができ、数十個の薄膜磁気ヘッドの磁気ギャップ深
さ加工を同時に行うことができる。
置も精度良く決めることができる。
ので、記録再生効率が高く、オーバライド特性が良好で
、しかも再生波形歪の生じない薄膜磁気ヘッドが得られ
る。
ことができるので磁気ギャップ深さ加工の歩留りを向上
することができる。
実施例を説明する6 第14図は、下部磁気コア、磁気ギャップ層、絶縁層、
及び導体コイルの一部を基板内に埋め込んだ、三層コイ
ル型薄膜磁気ヘッドの先端部の断面を示すものである。
A Q 203層を形成した基板1のA 11 z○3
層内を堀り込み、この堀り込んだ穴内に下部磁気コア2
、及び磁気ギャップ層3を形成する。なお、下部磁気コ
ア2の先端部は基板1の上部に形成する。
、第二導体コイル7、第三絶縁層8、第三導体コイル1
2、第四絶縁層9、及び第五絶縁層13を、順次第6図
で示した薄膜磁気ヘッドと同様な方法で形成する。
最も小さいので第三絶縁層8でギャップ深さ零の位置を
決め、第五絶縁層13によって第三絶縁層8と第四絶縁
層9との端面に生じた段差を解消し、滑らかなテーパ部
を形成した。
0°、テーパ部下端の先端間距離は1〜5μmと第6図
で示した薄膜磁気ヘッドと同様な値とした。
気ヘッドを完成させた。
、コイル高さ5μm、コイル巻数は第1層12ターン、
第2層14ターン、第3層12ターンの合計38ターン
とすることができた。
先は、素子段差の低い状態で形成することができ、高い
パターニング精度が得られ、良好な磁気特性が得られる
。
を説明する。
を示したものである。
に下部磁気コア2、磁気ギャップM3を形成し、その上
に第1絶縁M4を形成し、その上に第1導体コイル5を
形成する。
成し、第2絶縁N6及び第1絶縁層4の端面によって形
成される段差部を覆うように第3絶縁層8を形成する。
成し、保護膜11を形成し薄膜磁気ヘッドを製造する。
ヘッドを提供することができた。
スク装置の斜視図、第3図はスライダーの斜視図、第4
図はジンバルバネに形成されたスライダの斜視図、第5
図は薄膜磁気ヘッドの部分斜視図、第6図と第11図及
び第12図は本発明の一実施例の二層コイル型薄膜磁気
ヘッド先端の断面図、第7図はホトレジスト中の感光剤
濃度と絶縁層端面のテーパ角との関係を示した図、第8
図は絶縁層先端間の距離と記録磁界との関係を示した図
、第9図は絶縁層テーパ角と記録磁界との関係を示した
図、第10図は、絶縁層先端部の段差を示す概略図、第
13図は本発明の一実施例である薄膜磁気ヘッドの製造
工程図、第14図は本発明の一実施例であるの三層コイ
ル型薄膜磁気ヘッド先端の断面図、第15図は本発明の
一実施例であるの一層コイル型薄膜磁気ヘッド先端の断
面図である。 1・・・基板、2・・・下部磁気コア、3・・・磁気ギ
ャップ層、4・・・第−絶縁層、5・・・第一導体コイ
ル、6・・・第二絶縁層、7・・・第二導体コイル、8
・・・第三絶縁層、9・・・第四絶縁層、10・・・上
部磁気コア、11・・・保護膜、12・・・第三導体コ
イル、13・・・第五絶縁層。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、上部及び下部磁気コアの間に、導体コイル、該導体
コイルをはさんで絶縁する複数の絶縁層及び磁気ギャッ
プ層を有する薄膜磁気ヘッドにおいて、 前記複数の絶縁層の端面によつて形成される段差部に形
成された他の絶縁層を有することを特徴とする薄膜磁気
ヘッド。 2、上部及び下部磁気コアの間に、導体コイル、該導体
コイルをはさんで絶縁する複数の絶縁層及び磁気ギャッ
プ層を有する薄膜磁気ヘッドにおいて、 前記複数の絶縁層の端面によつて形成される段差部に形
成された前記導体コイルに接しない他の絶縁層を有する
ことを特徴とする薄膜磁気ヘッド。 3、上部及び下部磁気コアの間に、導体コイル、該導体
コイルをはさんで絶縁する複数の絶縁層及び磁気ギャッ
プ層を有する薄膜磁気ヘッドにおいて、 前記複数の絶縁層の端面によつて形成される段差部を覆
う他の絶縁層を有し、該他の絶縁層の先端が、磁気ギャ
ップ深さを決める絶縁層の先端よりも後部に位置するこ
とを特徴とする薄膜磁気ヘッド。 4、上部及び下部磁気コアの間に、導体コイル、該導体
コイルをはさんで絶縁する複数の絶縁層及び磁気ギャッ
プ層を有する薄膜磁気ヘッドにおいて、 前記複数の絶縁層の端面に形成される段差部の上下の絶
縁層に接する接線の接点間の距離L及び前記接線と段差
部との最大距離dの関係が、d≦(1/15)L であることを特徴とする薄膜磁気ヘッド。 5、上部及び下部磁気コアの間に、導体コイル、該導体
コイルをはさんで絶縁する複数の絶縁層及び磁気ギャッ
プ層を有する薄膜磁気ヘッドにおいて、 磁気ギャップ深さを決める下部絶縁層の先端のテーパ角
及び前記複数の絶縁層の端面によつて形成される段差部
を覆う上部絶縁層の先端のテーパ角が30゜〜50゜で
あつて、前記下部絶縁層の先端のテーパ部下端と前記上
部絶縁層の先端のテーパ部下端との距離が1μm〜6μ
mであることを特徴とする薄膜磁気ヘッド。 6、上部及び下部磁気コアの間に、導体コイル、該導体
コイルをはさんで絶縁する複数の絶縁層及び磁気ギャッ
プ層を有する薄膜磁気ヘッドにおいて、 前記導体コイルの高さが3μm〜7μm、前記導体コイ
ルの各層の巻数が10ターン〜20ターン、前記上部及
び下部磁気コアの磁路長が90μm〜120μm、磁気
ギャップ深さが1μm以下であることを特徴とする薄膜
磁気ヘッド。 7、基板上に下部磁気コアを形成する工程と、該下部磁
気コア上に導体コイルをはさんで絶縁する複数の絶縁層
を形成する工程と、該絶縁層上に上部磁気コアを形成す
る工程とを有する薄膜磁気ヘッドの製造方法において、 前記複数の絶縁層によつて形成される段差部に他の絶縁
層を形成する工程を有することを特徴とする薄膜磁気ヘ
ッドの製造方法。 8、基板上に下部磁気コアを形成する工程と、該下部磁
気コア上に導体コイルをはさんで絶縁する複数の絶縁層
を形成する工程と、該絶縁層上に上部磁気コアを形成す
る工程とを有する薄膜磁気ヘッドの製造方法において、 前記複数の絶縁層によつて形成される段差部の他の絶縁
層に、光を照射する工程を有することを特徴とする薄膜
磁気ヘッドの製造方法。 9、基板上に下部磁気コアを形成する工程と、該下部磁
気コア上に導体コイルをはさんで絶縁する複数の絶縁層
を形成する工程と、該絶縁層上に上部磁気コアを形成す
る工程とを有する薄膜磁気ヘッドの製造方法において、 前記複数の絶縁層によって形成される段差部の、他の絶
縁層に前記複数の絶縁層より感光剤濃度の低いポジ型の
ホトレジストを用いることを特徴とする薄膜磁気ヘッド
の製造方法。 10、上部及び下部磁気コアの間に、導体コイル、該導
体コイルをはさんで絶縁する複数の絶縁層及び磁気ギャ
ップ層を有する薄膜磁気ヘッドにおいて、 前記複数の絶縁層の端面によつて形成される段差部を覆
う他の絶縁層を有し、該他の絶縁層の先端が、磁気ギャ
ップ深さを決める絶縁層の先端よりも後部に位置し、前
記他の絶縁層の先端のテーパ角が30゜〜50゜であつ
て、前記磁気ギャップ深さを決める絶縁層の先端のテー
パ部下端と前記他の絶縁層の先端のテーパ部下端との距
離が1μm〜6μmであることを特徴とする薄膜磁気ヘ
ッド。 11、基板上に下部磁気コアを形成する工程と、該下部
磁気コア上に導体コイルをはさんで絶縁する複数の絶縁
層を形成する工程と、該絶縁層上に上部磁気コアを形成
する工程とを有する薄膜磁気ヘッドの製造方法において
、 前記複数の絶縁層における最上層端部にのみ、光を照射
する工程を有することを特徴とする薄膜磁気ヘッドの製
造方法。 12、請求項1記載の薄膜磁気ヘッドを搭載した磁気記
録装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1-215083 | 1989-08-23 | ||
JP21508389 | 1989-08-23 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03156714A true JPH03156714A (ja) | 1991-07-04 |
JP2539536B2 JP2539536B2 (ja) | 1996-10-02 |
Family
ID=16666470
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2218922A Expired - Lifetime JP2539536B2 (ja) | 1989-08-23 | 1990-08-22 | 薄膜磁気ヘッド及びその製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2539536B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6400527B1 (en) | 1998-11-13 | 2002-06-04 | Alps Electric Co., Ltd. | Thin film magnetic head having upper core layer with narrow track width |
US6436560B1 (en) | 1998-07-03 | 2002-08-20 | Hitachi, Ltd. | Magnetic head and magnetic disk device using the same |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60205812A (ja) * | 1984-03-30 | 1985-10-17 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 薄膜磁気ヘツドおよびその製造方法 |
JPS6117765A (ja) * | 1984-07-02 | 1986-01-25 | Ichiro Sato | 回転機構 |
JPS6242311A (ja) * | 1985-08-19 | 1987-02-24 | Fujitsu Ltd | 薄膜磁気ヘツド |
JPS63253513A (ja) * | 1987-04-09 | 1988-10-20 | Yamaha Corp | 薄膜磁気ヘツド |
JPS6430013A (en) * | 1987-07-25 | 1989-01-31 | Tdk Corp | Thin film magnetic head |
JPS6443809A (en) * | 1987-08-12 | 1989-02-16 | Hitachi Ltd | Production of thin film pattern |
JPH02254614A (ja) * | 1989-03-28 | 1990-10-15 | Nec Corp | 薄膜磁気ヘッド |
-
1990
- 1990-08-22 JP JP2218922A patent/JP2539536B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60205812A (ja) * | 1984-03-30 | 1985-10-17 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 薄膜磁気ヘツドおよびその製造方法 |
JPS6117765A (ja) * | 1984-07-02 | 1986-01-25 | Ichiro Sato | 回転機構 |
JPS6242311A (ja) * | 1985-08-19 | 1987-02-24 | Fujitsu Ltd | 薄膜磁気ヘツド |
JPS63253513A (ja) * | 1987-04-09 | 1988-10-20 | Yamaha Corp | 薄膜磁気ヘツド |
JPS6430013A (en) * | 1987-07-25 | 1989-01-31 | Tdk Corp | Thin film magnetic head |
JPS6443809A (en) * | 1987-08-12 | 1989-02-16 | Hitachi Ltd | Production of thin film pattern |
JPH02254614A (ja) * | 1989-03-28 | 1990-10-15 | Nec Corp | 薄膜磁気ヘッド |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6436560B1 (en) | 1998-07-03 | 2002-08-20 | Hitachi, Ltd. | Magnetic head and magnetic disk device using the same |
US6760190B2 (en) | 1998-07-03 | 2004-07-06 | Hitachi, Ltd. | Magnetic head wherein one of multiple insulating layers determines a zero throat level position |
US6400527B1 (en) | 1998-11-13 | 2002-06-04 | Alps Electric Co., Ltd. | Thin film magnetic head having upper core layer with narrow track width |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2539536B2 (ja) | 1996-10-02 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6377423B2 (en) | Planar stitched write head having write coil insulated with inorganic insulation | |
US5241440A (en) | Thin film magnetic head and manufacturing method therefor | |
US6325947B1 (en) | Method for forming low profile multi-layer coil merged thin film magnetic head | |
US20050134989A1 (en) | Multi-format thinfilm head and associated methods | |
JPH02247809A (ja) | 磁気ディスク装置及びこれに搭載する薄膜磁気ヘッドとその製造方法並びに情報の書込み・読出方法 | |
JP2001118216A (ja) | 分割コイル構造を有する磁気書き込みヘッド、薄膜磁気書き込みヘッド及びその製造方法 | |
JP2004342210A (ja) | 垂直磁気記録用磁気ヘッドおよびその製造方法、ヘッドジンバルアセンブリならびにハードディスク装置 | |
US6721130B2 (en) | Thin-film magnetic head having thin coil-layer and method for manufacturing the thin-film magnetic head | |
US5296979A (en) | Magnetic disc apparatus with thin film head suitable for high-density recording | |
JPH03156714A (ja) | 薄膜磁気ヘッド及びその製造方法 | |
JP2754804B2 (ja) | 薄膜磁気ヘッドの製造方法 | |
JP2866189B2 (ja) | 薄膜磁気ヘッド及びそれを搭載した磁気ディスク装置 | |
JP2707758B2 (ja) | 薄膜磁気ヘッドの製造方法 | |
JP2728455B2 (ja) | 薄膜磁気ヘッドとそれを用いた磁気ディスク装置及び情報の記録再生方法 | |
JPH0313643B2 (ja) | ||
JP2529194B2 (ja) | 薄膜磁気ヘツド | |
US5778514A (en) | Method for forming a transducing head | |
WO2001003129A1 (fr) | Procede de fabrication d'une tete magnetique a couches minces | |
JP2002197608A (ja) | 薄膜磁気ヘッド及び薄膜磁気ヘッドの製造方法 | |
JPS63108516A (ja) | 薄膜磁気ヘツドの保護膜の構造 | |
JPH07302410A (ja) | 複合型薄膜磁気ヘッド | |
JPH03269814A (ja) | 薄膜磁気ヘッドおよびその製造方法 | |
JPH03125310A (ja) | 薄膜磁気ヘッド | |
JPH03137808A (ja) | 薄膜磁気ヘッドの製造方法 | |
JP2000268335A (ja) | 磁気ヘッドスライダおよびその製造方法並びに磁気ディスク装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080708 Year of fee payment: 12 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080708 Year of fee payment: 12 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090708 Year of fee payment: 13 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090708 Year of fee payment: 13 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100708 Year of fee payment: 14 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110708 Year of fee payment: 15 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term | ||
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110708 Year of fee payment: 15 |