JPH03154245A - 光・熱磁気記録の方式及び記録膜 - Google Patents
光・熱磁気記録の方式及び記録膜Info
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- JPH03154245A JPH03154245A JP29232689A JP29232689A JPH03154245A JP H03154245 A JPH03154245 A JP H03154245A JP 29232689 A JP29232689 A JP 29232689A JP 29232689 A JP29232689 A JP 29232689A JP H03154245 A JPH03154245 A JP H03154245A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、レーザー光を用いて記録、再生或いは消去を
行う光・熱磁気記録の方式に係り、特に超高密度記録に
有用な記録膜の構造及び記録、再生の方式に関する。
行う光・熱磁気記録の方式に係り、特に超高密度記録に
有用な記録膜の構造及び記録、再生の方式に関する。
近年の高度情報化社会の進展に伴ない、高密度大容量で
しかもランダムアクセスや書換えが可能なファイルメモ
リーへのニーズが高まっている。
しかもランダムアクセスや書換えが可能なファイルメモ
リーへのニーズが高まっている。
その中で、書換え可能可逆光メモリーが注目されており
、近年、光磁気記録が多くの企業より実用化され、現在
では、光磁気記録の高性能化の研究がなされている。そ
の1つとして、ディスクの記録密度の向上がある。現在
、これを実現するのに有効な手段として、記録や再生に
用いる光の波長を短くするのが有望と考えられている。
、近年、光磁気記録が多くの企業より実用化され、現在
では、光磁気記録の高性能化の研究がなされている。そ
の1つとして、ディスクの記録密度の向上がある。現在
、これを実現するのに有効な手段として、記録や再生に
用いる光の波長を短くするのが有望と考えられている。
その場合。
問題となるのは、光の波長が短くなるのにつれて。
カー(Kerr)回転角等の磁気光学効果が低下してし
まい、再生出力の低下であり、エラー発生の原因の1つ
となっていた。この問題を解決するための従来技術とし
てUSP 4695514 をあげることができる。
まい、再生出力の低下であり、エラー発生の原因の1つ
となっていた。この問題を解決するための従来技術とし
てUSP 4695514 をあげることができる。
ところで上記のような従来技術では、2次元的に光ディ
スクの記録密度を向上させる手法が中心であり記録密度
の飛躍的な改善は望めなかった。
スクの記録密度を向上させる手法が中心であり記録密度
の飛躍的な改善は望めなかった。
本発明の目的は、光ディスクの記録密度を三次元的に向
上させる手法を提供することにより、超高密度光記録を
実現することにある。
上させる手法を提供することにより、超高密度光記録を
実現することにある。
本発明においては、記録膜として、保磁力、キュリー温
度、或いは補償温度等が異る磁気的特性及びカー回転角
やファラデー回転角等の磁気光学特性、特に波長特性の
異る膜を少なくとも2層以上積層した多層構造の膜を用
いた。その場合、記録は磁気的特性の違いを利用して行
う。例えば、保磁力の異る膜を多層に積層し、記録時に
外部より印加する磁界を変化させて行なう。キュリー点
記録においては、キュリー温度の異る記録層を積層して
おき、記録時に印加するレーザーパワーを変化させて行
う。再生は、磁気光学効果の違いを利用して行う。
度、或いは補償温度等が異る磁気的特性及びカー回転角
やファラデー回転角等の磁気光学特性、特に波長特性の
異る膜を少なくとも2層以上積層した多層構造の膜を用
いた。その場合、記録は磁気的特性の違いを利用して行
う。例えば、保磁力の異る膜を多層に積層し、記録時に
外部より印加する磁界を変化させて行なう。キュリー点
記録においては、キュリー温度の異る記録層を積層して
おき、記録時に印加するレーザーパワーを変化させて行
う。再生は、磁気光学効果の違いを利用して行う。
記録層の構造は、垂直磁気異方性を有する磁性層と無機
化合物の層とを交互に積層した多層構造である。このよ
うな多層構造記録膜のKarr回転角の波長特性は、正
弦関数として表わされる。例えば、波長が短くなると回
転角は正弦関数に従って減少し、ある波長でゼロとなり
、そこで極性が反転して再び回転角が正弦関数に従って
増大し、ピークに達した後また再び減少してゆく。回転
角がゼロとなる波長は、磁性層と無機化合物層との各膜
厚を制御することで任意に選択できる。
化合物の層とを交互に積層した多層構造である。このよ
うな多層構造記録膜のKarr回転角の波長特性は、正
弦関数として表わされる。例えば、波長が短くなると回
転角は正弦関数に従って減少し、ある波長でゼロとなり
、そこで極性が反転して再び回転角が正弦関数に従って
増大し、ピークに達した後また再び減少してゆく。回転
角がゼロとなる波長は、磁性層と無機化合物層との各膜
厚を制御することで任意に選択できる。
記録膜形成時に回転角がゼロとなる波長が異る膜を無機
化合物層により磁気的に分離して多層に積層しておく、
その際、先に述べたように磁気光学効果だけでなく、磁
気特性例えば保磁力等を変えておくことはいうまでもな
い。
化合物層により磁気的に分離して多層に積層しておく、
その際、先に述べたように磁気光学効果だけでなく、磁
気特性例えば保磁力等を変えておくことはいうまでもな
い。
このような特性の多層構造の記録膜の各層に書かれた情
報の再生は、再生光の波長を変えて行う。
報の再生は、再生光の波長を変えて行う。
例えば、第2層目の回転角(再生信号に相当)がゼロ或
いはしきい値以下となる波長で第1層目の情報を再生し
、第1層目の回転角(再生信号に相当)がゼロ或いはし
きい値以下となる波長で第2層目の情報を読み出す。第
3層目についても同様で、第1層目及び第2層目の回転
角が一定しきい値以下となる波長にて再生する。ところ
で、この手法での再生は、再生信号の絶対値だけでなく
、偏光面の回転の方向(極性)を利用すると同じ位置へ
複数の情報を記録することができる。しかし、読出す情
報が格納されている記録層が基板から離れるほど途中の
記録層に光の一部が吸収されるためカー回転角が減少、
する場合がある。これを防ぐには、記録層と記録層の間
に設ける無機化合物の磁気的遮断層の膜厚を制御し、磁
気光学効果の改善をはかれば良い。また、各記録層の分
光特性を制御して再生光の吸収の少ない波長を選択して
も良い。このように磁気光学効果および磁気特性の異な
る記録膜を無機化合物層を介して積層することにより多
重記録が可能となる。再生出力のさらなる増大のために
、光の入射する側と反対の側に光を反射するための層を
設けても良い。
いはしきい値以下となる波長で第1層目の情報を再生し
、第1層目の回転角(再生信号に相当)がゼロ或いはし
きい値以下となる波長で第2層目の情報を読み出す。第
3層目についても同様で、第1層目及び第2層目の回転
角が一定しきい値以下となる波長にて再生する。ところ
で、この手法での再生は、再生信号の絶対値だけでなく
、偏光面の回転の方向(極性)を利用すると同じ位置へ
複数の情報を記録することができる。しかし、読出す情
報が格納されている記録層が基板から離れるほど途中の
記録層に光の一部が吸収されるためカー回転角が減少、
する場合がある。これを防ぐには、記録層と記録層の間
に設ける無機化合物の磁気的遮断層の膜厚を制御し、磁
気光学効果の改善をはかれば良い。また、各記録層の分
光特性を制御して再生光の吸収の少ない波長を選択して
も良い。このように磁気光学効果および磁気特性の異な
る記録膜を無機化合物層を介して積層することにより多
重記録が可能となる。再生出力のさらなる増大のために
、光の入射する側と反対の側に光を反射するための層を
設けても良い。
用いる材料として垂直磁気異方性を有する層には、希土
類元素と鉄族元素よりなる合金もしくは、希土類元素と
鉄族元素とを交互に積層した膜、さらに具体的には希土
類元素として、’rb、DytHo、Gd等の重希土類
元素の内の少なくとも1種類を、鉄族元素としてFe、
Co、Niの内から選ばれる少なくとも1種類もしくは
2種類の元素をそれぞれ用いる。この他、垂直磁化膜と
して耐食性向上及び磁気的特性の制御のためにNb。
類元素と鉄族元素よりなる合金もしくは、希土類元素と
鉄族元素とを交互に積層した膜、さらに具体的には希土
類元素として、’rb、DytHo、Gd等の重希土類
元素の内の少なくとも1種類を、鉄族元素としてFe、
Co、Niの内から選ばれる少なくとも1種類もしくは
2種類の元素をそれぞれ用いる。この他、垂直磁化膜と
して耐食性向上及び磁気的特性の制御のためにNb。
Ti、Ta、Cr、AQ等の元素を1〜5%程度添加し
ても良い。この他、白金族元素(PL。
ても良い。この他、白金族元素(PL。
Pd、Rh、Auの内の少なくとも1種類)と鉄族元素
(Fe、Co、Niの内の少なくとも1種類)とをオン
グストロームオーダーで交互積層した膜を用いても良い
。この場合重要なのは、各層の内部応力で、異方性エネ
ルギーに影響する。また、1つの情報を記録する層を構
成する垂直磁化膜と交互に積層する無機化合物層として
、窒化シリコン、窒化アルミニウム、酸化シリコン等を
用い、その膜厚もしくは屈折率を制御して磁気光学効果
を制御する。この結果、二次元的な記録密度向上に加え
て、三次元的に記録ができるので、記録密度の向上を達
成できた。
(Fe、Co、Niの内の少なくとも1種類)とをオン
グストロームオーダーで交互積層した膜を用いても良い
。この場合重要なのは、各層の内部応力で、異方性エネ
ルギーに影響する。また、1つの情報を記録する層を構
成する垂直磁化膜と交互に積層する無機化合物層として
、窒化シリコン、窒化アルミニウム、酸化シリコン等を
用い、その膜厚もしくは屈折率を制御して磁気光学効果
を制御する。この結果、二次元的な記録密度向上に加え
て、三次元的に記録ができるので、記録密度の向上を達
成できた。
垂直磁化膜層と無機化合物層とを交互積層した多層構造
の記録膜において、磁気光学効果の波長特性及び磁気特
性の異なる記録膜を磁気遮断層を介して多層に積層した
記録媒体を形成したにの膜の各層に、外部印加磁界やレ
ーザーパワーを制御して情報を記録し、これを再生光の
波長を変えて各層の情報を読出す。ディスク上の同一位
置には複数個の情報を記録消去及び再生が可能で、用い
る光の波長を短くすると二次元的な記録密度の向上が可
能であり、加えて記録膜そのものが多層化され三次元的
にも記録密度の向上がはかれる。
の記録膜において、磁気光学効果の波長特性及び磁気特
性の異なる記録膜を磁気遮断層を介して多層に積層した
記録媒体を形成したにの膜の各層に、外部印加磁界やレ
ーザーパワーを制御して情報を記録し、これを再生光の
波長を変えて各層の情報を読出す。ディスク上の同一位
置には複数個の情報を記録消去及び再生が可能で、用い
る光の波長を短くすると二次元的な記録密度の向上が可
能であり、加えて記録膜そのものが多層化され三次元的
にも記録密度の向上がはかれる。
以下、実施例1〜2を用いて本発明の詳細な説明する。
(実施例1)
第1図に本実施例による光磁気ディスクの断面を模式的
に示す。ディスクの作成は、案内溝を有するガラスもし
くはプラスチック製の基板1上に、無機化合物層21と
して750人のSiNx膜をスパッタ法によって形成し
た。
に示す。ディスクの作成は、案内溝を有するガラスもし
くはプラスチック製の基板1上に、無機化合物層21と
して750人のSiNx膜をスパッタ法によって形成し
た。
続いて、第1の情報記録膜31を、全膜厚が150人と
なるように形成した。この情報記録膜31は、 Tbz
aFeasCotzNbaとS i N xの交互積層
膜であり、各層の膜厚は、前者が6人、後者が3人であ
る。
なるように形成した。この情報記録膜31は、 Tbz
aFeasCotzNbaとS i N xの交互積層
膜であり、各層の膜厚は、前者が6人、後者が3人であ
る。
次いで無機化合物膜22として100人のSiNxを積
層した。次に第2の情報記録膜32を積層し。
層した。次に第2の情報記録膜32を積層し。
更に無機化合物膜22を積層し、引き続き第3の情報記
録膜33を積層した。
録膜33を積層した。
ここで、情報記録膜32は、TbFeCoNbとSiN
xの交互積層膜であり、各層の膜厚は、前者を8人、後
者を4人とした。また、情報記録膜33は、TbFeC
oNbとSiNxの交互積層膜の前者の膜厚を10人、
後者を5人とした。
xの交互積層膜であり、各層の膜厚は、前者を8人、後
者を4人とした。また、情報記録膜33は、TbFeC
oNbとSiNxの交互積層膜の前者の膜厚を10人、
後者を5人とした。
さらに厚さ20nmのSiNxからなる無機化合物膜2
3を形成し、最後に金属層4として、AReoTito
膜を400人形成した。
3を形成し、最後に金属層4として、AReoTito
膜を400人形成した。
上記の各層は、いずれもスパッタリングによって形成さ
れ、その形成条件の一例を示すと以下のとおりである。
れ、その形成条件の一例を示すと以下のとおりである。
無機化合物(2−1) 〜(2−3)のS i Nx2
1乃至23は、ターゲットに5iaN番焼結体。
1乃至23は、ターゲットに5iaN番焼結体。
放電ガスにはArをそれぞれ使用し、圧力5X10−3
Torr、投入RF電力密度: 4.2W/cd、にて
スパッタした。また、 TbFeCoNb膜31乃至3
3は、ターゲットにTbFeCoNb合金ターゲット、
放電ガスにArをそれぞれ使用し、圧力5X10”’T
orr、投入RF電力密度: 4.2W/cdにてスパ
ッタを行った6そして、AΩ−Ti膜4は、ターゲット
にAn−Ti合金、放電ガスにArをそれぞれ使用し、
圧力I X 10 ”−”Torr、投入RF電力3
、2 W/aJ にてスパッタした。
Torr、投入RF電力密度: 4.2W/cd、にて
スパッタした。また、 TbFeCoNb膜31乃至3
3は、ターゲットにTbFeCoNb合金ターゲット、
放電ガスにArをそれぞれ使用し、圧力5X10”’T
orr、投入RF電力密度: 4.2W/cdにてスパ
ッタを行った6そして、AΩ−Ti膜4は、ターゲット
にAn−Ti合金、放電ガスにArをそれぞれ使用し、
圧力I X 10 ”−”Torr、投入RF電力3
、2 W/aJ にてスパッタした。
まず、この記録媒体を構成している記録膜31乃至33
のKerr回転角:θ−の波長特性を第2図に示す、
TbFeCoNb層とSiNx層との膜厚の組合せが、
6人と3人の膜31.8人と4人の膜32゜10人と5
人の膜33の各々について測定したところ、記録膜■、
記録膜■、記録膜■、の曲線に示すとおりで、膜厚が変
るのにつれてにerr回転角がピークとなる波長が長波
長側ヘシフトしている。
のKerr回転角:θ−の波長特性を第2図に示す、
TbFeCoNb層とSiNx層との膜厚の組合せが、
6人と3人の膜31.8人と4人の膜32゜10人と5
人の膜33の各々について測定したところ、記録膜■、
記録膜■、記録膜■、の曲線に示すとおりで、膜厚が変
るのにつれてにerr回転角がピークとなる波長が長波
長側ヘシフトしている。
そして各々の膜の保磁力は、記録膜■が7kOe。
■が10kOe、mが14kOeである。
記録は、5′デイスクの半径45I111位置にレーザ
ーパワーを6mW一定で、外部印加磁界を3000e、
4000e、5000eと変化させ、保磁力の違いを利
用して行なった。記録条件は、記録周波数IMHzデユ
ーティ(duty)比50%である。そして、記録膜I
に対して波長:450nmにて再生を行なったところ、
記録波形とほぼ同一の再生波形が得られた。また記録膜
■に対して500nm、記録膜mに対して650nmに
てそれぞれ再生したところ、記録波形とほぼ同一の再生
波形が得られた。記録/再生/消去を繰返したところ、
エラーは発生しなかった。450nmの波長で記録膜■
を再生すると、記録膜■及び極性が反転した状態で記録
膜■がそれぞれ記録膜Iの30%程度のレベルで信号が
検出され、エラーの原因となる場合があるのでスライス
レベルを設定する等の処置を施した。これは、他の波長
で他の記B膜を再生した場合も同様である。
ーパワーを6mW一定で、外部印加磁界を3000e、
4000e、5000eと変化させ、保磁力の違いを利
用して行なった。記録条件は、記録周波数IMHzデユ
ーティ(duty)比50%である。そして、記録膜I
に対して波長:450nmにて再生を行なったところ、
記録波形とほぼ同一の再生波形が得られた。また記録膜
■に対して500nm、記録膜mに対して650nmに
てそれぞれ再生したところ、記録波形とほぼ同一の再生
波形が得られた。記録/再生/消去を繰返したところ、
エラーは発生しなかった。450nmの波長で記録膜■
を再生すると、記録膜■及び極性が反転した状態で記録
膜■がそれぞれ記録膜Iの30%程度のレベルで信号が
検出され、エラーの原因となる場合があるのでスライス
レベルを設定する等の処置を施した。これは、他の波長
で他の記B膜を再生した場合も同様である。
(実施例2)
本実施例において製造した光磁気ディスクの構造は実施
例1と同様で、第1図に示すとおりである。ディスクの
作製は、凹凸の案内溝を有するガラスやプラスチックの
基板1上に無機化合物層21としてSiNxを750人
の膜厚に形成した。
例1と同様で、第1図に示すとおりである。ディスクの
作製は、凹凸の案内溝を有するガラスやプラスチックの
基板1上に無機化合物層21としてSiNxを750人
の膜厚に形成した。
つづいて、情報記録用記録膜31を150人に形成した
。この情報記録膜31の構造は、Pt。
。この情報記録膜31の構造は、Pt。
Co、及びSiNxとを交互にそれぞれ4人、6人、5
人の膜厚で繰返し積層した多層構造の記録膜である。次
に無機化合物層22のSiNx膜を100人形成し、再
び情報記録用記録膜32を全膜厚が150人になるよう
に形成した。構造は、Pt:Co:SiNxが4人:5
人=7人と繰返し積層した交互積層膜である。そして、
無機化合物y822のSiNx膜を100人形成した後
に再び情報記録用記録膜33を150人に形成した。
人の膜厚で繰返し積層した多層構造の記録膜である。次
に無機化合物層22のSiNx膜を100人形成し、再
び情報記録用記録膜32を全膜厚が150人になるよう
に形成した。構造は、Pt:Co:SiNxが4人:5
人=7人と繰返し積層した交互積層膜である。そして、
無機化合物y822のSiNx膜を100人形成した後
に再び情報記録用記録膜33を150人に形成した。
構造は、Pt :Co : S iNxがそれぞれ4人
:5人:9人と繰返し積層した交互積層膜である。
:5人:9人と繰返し積層した交互積層膜である。
そして、無機化合物層23のSiNx膜を200人に形
成した後に、金属反射膜4のA Q g6T a t5
膜を500人の膜厚に形成した。SiNx及びA11−
Ta金属反射膜4のスパッタの条件は、実施例1と同様
である。情報記録用記録膜31乃至33は、それぞれp
t、Co、及び5iaNa焼結体をターゲットとし、A
rを放電ガスに用い、放電ガス圧カニ5X10−″”T
orr、投入RF電力密度は、ptが0 、9 W/
al、 Coが4 、2 W/cdで、5isN番は4
,2W/a#、 3.6W/ad、 3.0W/a
jと一層あたりの膜厚に対応させて変化させた。
成した後に、金属反射膜4のA Q g6T a t5
膜を500人の膜厚に形成した。SiNx及びA11−
Ta金属反射膜4のスパッタの条件は、実施例1と同様
である。情報記録用記録膜31乃至33は、それぞれp
t、Co、及び5iaNa焼結体をターゲットとし、A
rを放電ガスに用い、放電ガス圧カニ5X10−″”T
orr、投入RF電力密度は、ptが0 、9 W/
al、 Coが4 、2 W/cdで、5isN番は4
,2W/a#、 3.6W/ad、 3.0W/a
jと一層あたりの膜厚に対応させて変化させた。
ここで、SiNx膜の膜厚を変化させる代りに、SiN
x膜の屈折率を変化させても同じ効果が得られる。
x膜の屈折率を変化させても同じ効果が得られる。
各記録層のKerr回転角の波長特性を第3図に示す。
作製したディスクの記録感度や特性は、実施例1と同じ
であるので、先のディスクと同一の条件にて半径r=4
5mn位置に記録及び再生を行なった。ここで各記録層
の保磁力は、記録膜I (31)が3KOa、記録膜I
I(32)が5KOe、記録膜III(33)が7KO
eであった。レーザーパワー6mW一定として、外部印
加磁界を2000e。
であるので、先のディスクと同一の条件にて半径r=4
5mn位置に記録及び再生を行なった。ここで各記録層
の保磁力は、記録膜I (31)が3KOa、記録膜I
I(32)が5KOe、記録膜III(33)が7KO
eであった。レーザーパワー6mW一定として、外部印
加磁界を2000e。
3000e、4000eと変えて、記録周波数IM H
z 、 duty比50%にて各記録層に情報を記録し
た。まず、記録層■に記録した情報を読出すのに波長λ
=450nmの光を用いて再生した。その結果、記録波
形とほぼ同一の再生波形が得られた。さらに、記録膜■
に対してはλ=540nm、記録膜■に対してはえ=6
40nmにてそれぞれ再生し、他の記録層の影響を受け
ずにエラーもなかった。特に、他の層の信号の影響を取
除くには、再生に際し、しきい値を設ければ良いことは
いうまでもない。
z 、 duty比50%にて各記録層に情報を記録し
た。まず、記録層■に記録した情報を読出すのに波長λ
=450nmの光を用いて再生した。その結果、記録波
形とほぼ同一の再生波形が得られた。さらに、記録膜■
に対してはλ=540nm、記録膜■に対してはえ=6
40nmにてそれぞれ再生し、他の記録層の影響を受け
ずにエラーもなかった。特に、他の層の信号の影響を取
除くには、再生に際し、しきい値を設ければ良いことは
いうまでもない。
この他、記録層中に窒化シリコン等の無機化合物層を含
んでいるので記録層全体でみるとみかけ上の熱伝導率が
小さいので記録や消去の感度が高くなり、ディスクを高
速で回転できるのでデータの転送速度を上げることがで
きる。この他、磁区形状も改善できるので、ビットエッ
ヂ記録にも好適である。また、再生の手法として、本実
施例では、磁気光学効果の波長特性を変えて、ある波長
において1つの記録層における値が他の記録層における
値より著しく大きい等、その差を利用して再生した。こ
の他、偏光面の回転の向きの違い(極性の違い)を利用
して再生しても同様の効果が得られた。
んでいるので記録層全体でみるとみかけ上の熱伝導率が
小さいので記録や消去の感度が高くなり、ディスクを高
速で回転できるのでデータの転送速度を上げることがで
きる。この他、磁区形状も改善できるので、ビットエッ
ヂ記録にも好適である。また、再生の手法として、本実
施例では、磁気光学効果の波長特性を変えて、ある波長
において1つの記録層における値が他の記録層における
値より著しく大きい等、その差を利用して再生した。こ
の他、偏光面の回転の向きの違い(極性の違い)を利用
して再生しても同様の効果が得られた。
本発明によれば、磁気光学効果の波長特性及び磁気特性
を制御した記録層を複数層形成し、各々め層に異なる情
報の記録が可能で、三次元的に記録密度の向上がはかれ
る。しかも、本記録層中には無機化合物を含んでいるの
で層全体の熱伝導率が金属より小さく、記録磁区形状の
制御が容易で、ビットエツジ記録にも好適で、二次元的
手法による記録密度向上にも有用である。また、記録層
の磁気光学特性の波長依存性制御も容易で、用いる光の
波長も任意に選べる。その結果、短波長の光を用いてビ
ットエツジ記録による多重記録を行うことにより三次元
的な記録密度の向上を図ることができる。この他、反M
率等の光学特性の光波長依存性を利用しても良く、相転
移を利用した光記録等への適用も可能である。
を制御した記録層を複数層形成し、各々め層に異なる情
報の記録が可能で、三次元的に記録密度の向上がはかれ
る。しかも、本記録層中には無機化合物を含んでいるの
で層全体の熱伝導率が金属より小さく、記録磁区形状の
制御が容易で、ビットエツジ記録にも好適で、二次元的
手法による記録密度向上にも有用である。また、記録層
の磁気光学特性の波長依存性制御も容易で、用いる光の
波長も任意に選べる。その結果、短波長の光を用いてビ
ットエツジ記録による多重記録を行うことにより三次元
的な記録密度の向上を図ることができる。この他、反M
率等の光学特性の光波長依存性を利用しても良く、相転
移を利用した光記録等への適用も可能である。
第1図は本発明の実施例になる光ディスクの断面模式図
、第2図、第3図は本発明の実施例になる光ディスクの
記録層の磁気光学効果の波長依存性を示す特性図である
。 1・・・基板、4・・・金属反射膜、21〜23・・無
機化合物層、31〜33・・・情報記録用記録膜。 楽 図 22 k忙ずタ之イヒ脅す勿ノt 3 321沈ど銖用日櫨 妬 品 液k (爪光)
、第2図、第3図は本発明の実施例になる光ディスクの
記録層の磁気光学効果の波長依存性を示す特性図である
。 1・・・基板、4・・・金属反射膜、21〜23・・無
機化合物層、31〜33・・・情報記録用記録膜。 楽 図 22 k忙ずタ之イヒ脅す勿ノt 3 321沈ど銖用日櫨 妬 品 液k (爪光)
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、レーザー光を用いて記録、再生或いは消去を行う光
記録において、光熱磁気記録用記録膜として磁気光学効
果及び磁気的特性の異る膜を少なくとも2層以上積層し
かつ各々の膜に内容の異る情報を記録し、これら膜に記
録した情報を少なくとも異る波長のレーザー光を用いて
再生したことを特徴とする光・熱磁気記録の方式。 2、請求項1記載の磁気光学効果の異る膜として、記録
膜のカー回転角或いはファラデー回転角の光波長の依存
性を制御し、再生波長で最大のカー回転角或いはファラ
デー回転角が得られるよう制御したことを特徴とする光
・熱磁気記録の方式。 3、請求項1記載の磁気的特性の異る膜として、保磁力
、キュリー温度或いは補償温度を制御したことを特徴と
する光・熱磁気記録の方式。 4、請求項1乃至3のいずれかに記載の光・熱磁気記録
用記録膜として、垂直磁気異方性を有する材料層と無機
化合物よりなる層とを交互に積層した多層の膜を用いた
ことを特徴とする光・熱磁気記録の方式。 5、請求項4記載の垂直磁気異方性を有する材料層と無
機化合物よりなる層とを交互に積層した多層の膜におい
て、この膜の磁気光学効果を制御するのに各層のいずれ
か一方、或いは両方の層の膜厚を変えることで行なつた
ことを特徴とする光・熱磁気記録の方式。 6、請求項4乃至5のいずれかに記載の垂直磁気異方性
を有する材料層に用いる材料として、希土類元素と鉄族
元素とからなる合金さらに優位にはその層が非晶質であ
ることを特徴とする光・熱磁気記録の方式。 7、請求項6記載の希土類元素としてTb、Gd、Dy
及びHoの内より選ばれる少なくとも1種の元素と鉄族
元素としてFe、Coの内より選ばれる少なくとも1種
もしくは2種の元素とからなる合金を用いさらに優位に
はその合金が非晶質であることを特徴とする光・熱磁気
記録の方式。 8、請求項4乃至5のいずれかに記載の垂直磁気異方性
を有する材料層として、Pt、Pd、Rh、Auの内よ
り選ばれる少なくとも1種類の元素とFe、Co、Ni
の内より選ばれる少なくとも1種類或いは2種類の合金
とを交互に積層した多層構造もしくは合金よりなる層を
用いたことを特徴とする光・熱磁気記録の方式。 9、請求項4乃至8のいずれかに記載の垂直磁気異方性
を有する材料層において、特許請求の範囲第6項及び第
7項記載の材料或いは特許請求の範囲第8項記載の材料
よりなる層と無機化合物よりなる層とを交互に積層した
多層構造とし、さらに各層のいずれか一方或いはその両
方の層の膜厚を制御して、特許請求の範囲第2項記載の
磁気光学効果の光の波長に対する特性及び特許請求の範
囲第3項記載の磁気的特性を制御したことを特徴とする
光・熱磁気記録の方式。 10、請求項4乃至5および9のいずれかに記載の無機
化合物として、窒化シリコン、窒化アルミニウム或いは
酸化シリコンの内より選ばれる少なくとも1種の元素或
いは2種以上よりなる複合体を用いたことを特徴とする
光・熱磁気記録の方式。 11、請求項1、3および9のいずれかに記載の磁気特
性の制御法として、光・熱磁気記録用記録膜の各層の組
成、成膜時の基板温度、各膜の内部応力各層の膜厚の内
から選ばれる少なくとも1種の手法を用いて行なつたこ
とを特徴とする光・熱磁気記録の方式。 12、請求項1記載の磁気光学効果及び磁気的特性の異
る記録層の積層において、各記録層の間に磁気遮断層を
設け、その磁気遮断層として窒化シリコン、窒化アルミ
ニウム、或いは酸化シリコンに代表される無機化合物を
用いたことを特徴とする光・熱磁気記録の方式。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP29232689A JPH03154245A (ja) | 1989-11-13 | 1989-11-13 | 光・熱磁気記録の方式及び記録膜 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP29232689A JPH03154245A (ja) | 1989-11-13 | 1989-11-13 | 光・熱磁気記録の方式及び記録膜 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03154245A true JPH03154245A (ja) | 1991-07-02 |
Family
ID=17780336
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP29232689A Pending JPH03154245A (ja) | 1989-11-13 | 1989-11-13 | 光・熱磁気記録の方式及び記録膜 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03154245A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1997003439A1 (en) * | 1995-07-13 | 1997-01-30 | Hitachi Maxell, Ltd. | Magneto-optical recording medium and method for recording and reproduction thereon |
-
1989
- 1989-11-13 JP JP29232689A patent/JPH03154245A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1997003439A1 (en) * | 1995-07-13 | 1997-01-30 | Hitachi Maxell, Ltd. | Magneto-optical recording medium and method for recording and reproduction thereon |
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