JPH03142383A - テストパターンの展開方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［概要］ 被テスト用回路に入力するテストパターンを発生するテ
ストパターン展開方法に関し、主記憶装置に負担をかけ
ないでテストパターンを展開できるようにすることを目
的とし、被テスト用回路に試験用のテストパターンを人
力する場合において、人力されるテストパターンが繰返
しの階層をもつプログラムで構成されている場合におい
て、テストパターンを読込み、繰返し制御が現れたら、
現在オープンされているファイルのオープン情報や繰返
し回数等をスタックに退避し、当該ファイルをクローズ
して、作業ファイルをオープンにし、更にテストパター
ンの読込みを行い繰返し制御が現れたらステップ２，３
を繰返し、繰返し制御の終りを示す実行文が現れたら、
前記スタックからファイル情報を取出し、現在オープン
されているファイルの内容をスタックから復元したファ
イルに繰返し回数分複写するように構成する。

［産業上の利用分野］ 本発明は被テスト用回路に人力するテストパターンを発
生するテストパターン展開方法に関する。

被テスト用回路、例えばＬＳＩ等の動作をテストするた
めに、ＬＳＩの入力端子にテストパターンを人力してそ
の動作結果を出力端子から読出して解析することが行わ
れる。ＬＳＩの内容が複雑化するにつれて、要するテス
トパターンの数も増大する。従って、テストパターンを
効率よく展開できる方法が要請されている。

［従来の技術］ 例えば、本発明者等がテストパターンを記述する言語と
して提供しているＦＴＤＬ　（Ｆｕ　ｊ　ｉ　ｔｓｕ　
　Ｔｅ５ｔ　　ｄａｔａ　　Ｄｅｓｃｒｉｐｔｉｏｎ　
　Ｌａｎｇｕａｇｅ）のベクトル形式パターン記述では
、パターンの繰返しを制御するＲＥＰ文とＲＥＮＤ文が
ある。このＲＥＰ文は第５図に示すような形式で記述さ
れる。このプログラムは、テストパターン１からテスト
パターンｍまでをｎ回繰返せという命令である。

このようなプログラムでは、パターン１からパターンｍ
までを繰返し回数ｎだけ展開すればよく、パターン１か
らパターンｍまでの記憶は主記憶装置上で行うことがで
きる。第６図は第５図のプログラムを展開したテストパ
ターンを示す図である。

単純な繰返しがｎ回続いている。

また、ＲＥＰ文（繰返し文）は階層構造をもつことがで
きる。第７図は繰返しの階層をもつテストパターンを示
す図である。この場合は、ＲＥＰ文からＲＥＮＤ文には
さまれたパターンを主記憶装置上に記憶させ、ＲＥＮＤ
文が読込まれた時に主記憶装置上のパターンを再度読込
んで所定回数だけ繰返す必要がある。

［発明が解決しようとする課題］ 従来方式では、繰返し制御を容易にするため、繰返しの
回数を限定していた。ＦＴＤＬでも繰返し階層は３階層
までに限定されている。また、はとんどのプログラムで
は、階層なしで繰返しを１回までと限定し、繰返しを行
うパターンの記憶は主記憶装置上で行われていた。

従って、階層がある繰返し制御つきのパターンデータを
展開する場合、途中までのパターン履歴を退避しておく
必要があった。

本発明はこのような課題に鑑みてなされたものであって
、主記憶装置に負担をかけないでテストパターンを展開
できるようにすることができるテストパターンの展開方
法を提供することを目的としている。

［課題を解決するための手段］ 第１図は本発明方法の原理を示すフローチャートである
。本発明は、 被テスト用回路に試験用のテストノくターンを人力する
場合において、人力されるテストノくターンが繰返しの
階層をもつプログラムで構成されてＬ）る場合において
、 テストパターンを読込み（ステップ１）、繰返し制御が
現れたら、現在オープンされているファイルのオープン
情報や繰返し回数等をスタックに退避しくステップ２）
、 当該ファイルをクローズして、作業ファイルをオープン
にしくステップ３）、 更にテストパターンの読込みを行い繰返し制御が現れた
らステップ２．３を繰返し、繰返し制御の終りを示す実
行文が現れたら、前記スタックからファイル情報を取出
しくステップ４）、現在オープンされているファイルの
内容をスタックから復元したファイルに繰返し回数分複
写する（ステップ５）ようにしたことを特徴としている
。

［作用］ 繰返し制御を実行している時に繰返しの終りを示す実行
文が現れた、ら、情報を退避していたスタックからファ
イル情報を取出し、現在オープンされているファイルの
内容をスタックから復元したファイルに繰返し回数分複
写するようにする。これにより、主記憶装置に負担をか
けないで、テストパターンの展開を行うことができる。

〔実施例〕

以下、図面を参照して本発明の実施例を詳細に説明する
。

第２図は本発明の具体的展開方法を示す図である。図に
示す例は、第７図のプログラムを展開した場合を示して
いる。■のように繰返し制御のないパターンは、パター
ンファイルであるファイルＡに格納される。パターンを
読込んでいる時にＲＥＰ文が現れると、ファイルＡをク
ローズし、作業ファイルＢを生成し、次のＲＥＰ文かＲ
ＥＮＤ文が現れるまでパターン■をファイルＢに書出す
。

パターンを読込んでいる時に再びＲＥＰ文が現れると、
ファイルＢをクローズし、新たに作業ファイルＣを生成
する。そして、次のＲＥＰ文かＲＥＮＤ文が現れるまで
パターン■をファイルＣに書出す。

パターンを読み続けていき、ＲＥＮＤ文が現れると、フ
ァイルＢをオープンにし、ファイルＣの内容を０２回、
ファイルＢに複写する。この結果、ファイルＢの内容は
図に示すようにパターン■とｎ２個のパターン■が組合
わせられたものとなる。

複写が終了すると、ファイルＣをクローズし、パターン
を読み続ける。そして、パターン■をファイルＢに書出
す。

更に、パターンを読み続けていき、ＲＥＮＤ文が現れる
と、ファイルＡをオープンし、ファイルＢの内容をｎ１
回ファイルＡに複写する。最後に残りのパターン■をフ
ァイルＡに書出し、パターン変換の読込み、書出しを終
了する。最後に得られるテストパターンは図の最後に示
すようなファイルＡになる。

第３図は本発明方法の一実施例を示すフローチャートで
ある。パターン読込み（Ｓｌ）の際に繰返し制御が現れ
た場合（Ｓ２）、現在オープンされているファイルの情
報をスタックに退避し、当該ファイルをクローズする（
ｓ３）。その後、作業ファイルをオープンにする（ｓ４
）。

更にパターンの読込みを行い（Ｓｌ）、繰返し制御が現
れたら（Ｓ２）、ステップＳ３．Ｓ４の繰返し処理を行
う。もし、繰返し制御の終りを示す実行文が現れたら（
Ｓ５）、スタックからファイル情報を取出して復元しく
ｓ６）、スタックから復元したファイルをオープンにす
る（ｓ７）。

次に現在オープンされているファイルのポインタを先頭
に戻しくＳ８）、現在オープンされているファイルから
パターンを読込む（Ｓ９）。そして、スタックから復元
したファイルにパターンを書出す（Ｓ　１０）。その後
、エンドオブファイル（ＥＯＦ）であるかどうかチエツ
クしく５ｌｌ）そうであった場合には繰返し回数が終了
したかどうかチエツクする（Ｓ　１２）。

ステップＳｌｌにおいて、ＥＯＦでなかった場合にはス
テップＳ９に戻る。ステップＳ１２で繰返し回数が終了
であった場合にはステップＳ１に戻り、終了でなかった
場合にはステップＳ８に戻る。

ステップＳ２において、繰返し制御が終了でなかった場
合には、パターンデータが終了であるかどうかチエツク
しく３１３）、終了であった場合にはシーケンスを終了
する。終了でなかった場合には、現在オープンされてい
るファイルにパターンを書出して（Ｓ１４）、ステップ
Ｓ１に戻る。

第４図は本発明方法を実施するシステム構成例を示す図
である。図において、１は前述したようなシーケンスの
制御を行うＣＰＵ、２は制御プログラム等が格納される
主記憶装置、３は各種コマンド等を入力するキーボード
、４は表示部である。

５はファイルデータが格納される第１のＤＡＳＤ。

６は本発明による展開パターンが格納される第２のＤＡ
ＳＤである。７はこれら構成要素が接続されるバスであ
る。

８は被テスト用回路で、本発明方法により展開されたテ
ストパターンが入力端子ＩＮに人力される。その動作結
果は、出力端子ＯＵＴからバス７に出力され、ＣＰＵＩ
によりＧｏ、Ｎ０ＧＯが判定される。

第１のＤＡＳＤ５に格納されているファイルは、第３図
に示すような方法により読出され、ＣＰＵ１により階層
構造のプログラムの繰返し制御が行われ、展開された結
果は第２のＤＡＳＤ６に格納される。テストモードにお
いては、第２のＤＡＳＤ６に展開されているパターンが
ＣＰＵＩにより読出され、被テスト用回路８に与えられ
る。被テスト用回路８の出力はバス７に出力される。Ｃ
ＰＵ１は、この出力データと入力データとの比較により
、被テスト用回路８のＧｏ、Ｎ０ＧＯを判定する。

［発明の効果］ 以上、詳細に説明したように、本発明によれば繰返し制
御を実行している時に繰返しの終りを示す実行文が現れ
たら、情報を退避していたスタックからファイル情報を
取出し、現在オープンされているファイルの内容をスタ
ックから復元したファイルに繰返し回数分複写するよう
にする。これにより、主記憶装置に負担をかけないで、
テストパターンの展開を行うことができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明方法の原理を示すフローチャート、 第２図は本発明方法の具体的展開方法を示す図、第３図
は本発明方法の一実施例を示すフローチャート、 第４図は本発明方法を実施するシステム構成例を示す図
、 第５図はＦＴＤＬの繰返し制御プログラム例を示す図、 第６図は第５図を展開したテストパターンを示す図、 第７図は繰返しの階層をもつテストパターンを示す図で
ある。 第４図において、 １はＣＰＵ。 ２は主記憶装置、 ３はキーボード、 ４は表示部、 ５．６はＤＡＳＤ。 ７はバス、 ８は被テスト用回路である。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 被テスト用回路に試験用のテストパターンを入力する場
   合において、入力されるテストパターンが繰返しの階層
   をもつプログラムで構成されている場合において、 テストパターンを読込み（ステップ１）、 繰返し制御が現れたら、現在オープンされているファイ
   ルのオープン情報や繰返し回数等をスタックに退避し（
   ステップ２）、 当該ファイルをクローズして、作業ファイルをオープン
   にし（ステップ３）、 更にテストパターンの読込みを行い繰返し制御が現れた
   らステップ２、３を繰返し、繰返し制御の終りを示す実
   行文が現れたら、前記スタックからファイル情報を取出
   し（ステップ４）、 現在オープンされているファイルの内容をスタックから
   復元したファイルに繰返し回数分複写する（ステップ５
   ）ようにしたことを特徴とするテストパターンの展開方
   法。