JPH03141032A

JPH03141032A - 光記録媒体の情報記録方式

Info

Publication number: JPH03141032A
Application number: JP27938489A
Authority: JP
Inventors: Yoshinori Bessho; 別所　芳則
Original assignee: Brother Industries Ltd
Current assignee: Brother Industries Ltd
Priority date: 1989-10-26
Filing date: 1989-10-26
Publication date: 1991-06-17

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】産業上の利用分野本発明は光記録媒体に係り、特に、単位面積当たりの情
報記録容量が大きく且つその情報を高速度で読み出すこ
とが可能な光記録媒体の情報記録方式に関するものであ
る。

従来の技術予め定められたトラック上に多数のピットが設けられる
ことによって所定の情報が記録されるとともに、そのト
ラックに沿って照射される光の反射光が前記ピットによ
って変化することに基づいて前記情報が読み取られる光
記録媒体が近年多用されている０例えば、光ビデオディ
スクやディジタルオーディオディスク、光カード等がそ
れである。そして、このような光記録媒体は、従来、ピ
ットの有無やピットの長さによって情報が記録されるよ
うになっており、例えば１バイトの情報を記録するため
に８ビツトを用いたり、８ビツト分の情報を記録できる
ようにピットの長さ寸法を２５６段階に設定したりして
いた。また、かかる光記録媒体に記録された情報を読み
取る読取り装置は、トラックに沿って光を照射するとと
もにその反射光を受光し、ピットによって変化するその
反射光の光強度変化等に基づいて、ピットの有無や長さ
を検出するようになっていた。

発明が解決しようとする課題ところで、このような記録媒体においては、小さなスペ
ースにより多くの情報を記録できるようにすることが強
く望まれており、上記光記録媒体についてもその例外で
はなかった。また、その情報の読取り速度についても、
その高速化が強く望まれているところである。

本発明はこのような事情を背景として、単位面積当たり
の記録容量を増大するとともに高速度でその記録を読み
取ることができるようにすることを目的として為された
ものである。

課題を解決するための手段かかる目的を達成するために、本発明は、予め定められ
たトラック上に多数のピットが設けられることによって
所定の情報が記録されるとともに、そのトラックに沿っ
て照射される光の反射光が前記ピットによって変化する
ことに基づいて前記情報が読み取られる光記録媒体にお
いて、前記ピットの深さを多段階に変化させ、その深さ
寸法に応じてそれぞれ異なる情報を記録させるとともに
、そのピットが予め定められた数だけ設けられることに
より１バイトの情報が記録されるようにしたごとを特徴
とする。

作用および発明の効果このような光記録媒体の情報記録方式によれば、ピット
の深さ寸法に応じてそれぞれ異なる情報が記録され、且
つそのピットが予め定められた数だけ設けられることに
より１バイトの情報が記録さレルタめ、１バイトの情報
を記録するために必要なピット数が少なくなり、同じ記
録容量であれば光記録媒体を小型化できる一方、同じ大
きさの光記録媒体であればその記録容量を増大させるこ
とができる。また、このように１バイトの情報を記録す
るためのピット数が少なくなると、多段階に変化するピ
ントの深さ寸法の相違を検出するのに必要な時間がピッ
トの有無を検出する時間と略同程度であれば、そのピッ
ト数が少なくなった分だけ読取り時間（アクセス時間）
が短縮され、単位時間当たりの読取り情報量が増大する
。

因に、ピットの深さ寸法を例えば１５段階に分けると、
１ピツトで４ビツト分（ｌニブル）の情報が記録される
ため、通常は２つのピットでｌバイトの情報を記録でき
るようになり、ピットの有無で１ビツトの情報を記録し
ていた従来の光記録媒体に比較して、ピットの密度が同
じであればその記録容量は４倍となるのであり、また、
ピット深さ寸法の相違検出時間がピットの有無検出時間
と略同程度であれば、そのアクセス時間が１／４になる
のである。

実施例以下、本発明の一実施例を図面に基づいて詳細に説明す
る。

第１図において、１０ａおよび１０ｂはそれぞれ電流コ
ントロールされた半導体レーザであり、周波数ｆ、、ｆ
、が互いに僅かに異なる直線偏光のレーザ光り、、Ｌ、
を出射する。半導体レーザ１０ａ、１０ｂは、第１図の
紙面と平行で且つ互いに直角なＸ軸、ｚ軸と平行に設け
られているとともに、レーザ光り、、Ｌ、の偏波面（電
界ペルトルの振動面）がそれぞれ紙面と平行になる姿勢
で配置されている。

一方のレーザ光り、は、Ｘ軸上に設けられたコリメート
レンズ１２によって平行光とされた後、Ｘ軸と２軸との
交差位置に設けられた無偏光ビームスプリッタ（以下、
ＮＰＢＳという）１４に入射させられ、参照ビームＬ１
ｍと計測ビームＬに、に分割される。ＮＰＢＳ１４を透
過した参照ビームＬ、、は、Ｘ軸上に設けられたフォト
ダイオード等の光センサ１６に入射させられる一方、Ｎ
ＰＢＳ１４で反射された計測ビームＬＮｍは、２軸上に
配置された入射面が紙面と平行な偏光ビームスプリッタ
（以下、ＰＢＳという）１８．１／４波長板２０、およ
び集光レンズ２２を経て、光記録媒体としての円盤形状
の光ディスク２４に照射されるとともに、その光ディス
ク２４で反射され、集光レンズ２２および１ノ４波長板
２０を経てＰＢＳ　１　Ｂに入射させられる。この時、
往復２回１７４波長板２０を通過させられた計測ビーム
Ｌ。は、往路に比較してその偏波面が９０°回転した直
線偏光とされ、ＰＢＳ　１８により反射されてフォトダ
イオ−ド等の光センサ２６に入射させられる。

また、他方のレーザ光Ｌ１は、２軸上に設けられたコリ
メートレンズ２８によって平行光とされた後、前記ＮＰ
ＢＳ１４に入射させられ、参照ビームＬ。と計測ビーム
Ｌｌｌｂに分割される。ＮＰＢＳｌ４で反射された参照
ビームＬ。は前記光センサ１６に入射させられる一方、
ＮＰＢＳｌ　４を透過した計測ビームＬ。は、ＰＢＳ１
８．　１／４波長板２０．および集光レンズ２２を経て
光ディスク２４に照射されるとともに、その光ディスク
２４で反射され、集光レンズ２２および１／４波長板２
０を経てＰＢ３１８に入射させられる。この計測ビーム
ＬＩＩＩＩ＋も、前記計測ビームトイ、と同様に１／４
波長板２０を２回通過させられることによってその偏波
面が９０°回転させられるため、ＰＢ３１８により反射
されて光センサ２６に入射させられる。

前記光ディスク２４は、図示しない回転駆動装置によっ
て前記ｚ軸と平行でＸ軸に直交する回転軸心Ｓまわりに
回転駆動されるようになっているとともに、その上面に
は回転軸心Ｓを中心とする同心円状に多数のトラック３
０が設定され、そのトラック３０に沿って多数のピット
３２が形成されている。このピット３２は、その深さ寸
法ｄ７が等段差で１５段階に変化させられ、その深さ寸
法ｄ、、に応じて異なる情報ｎがそれぞれ記録されてい
る。第２図は、このピット３２を拡大して示したもので
、中央のピット３２は最も深い深さ寸法ｄＳＳの場合で
あり、右端のピット３２は３番目の深さ寸法ｄ、の場合
である。したがって、ピット３２が形成されていない深
さ寸法ｄ０がら深さ寸法ｄｌＳまでの計１６の情報ｎ（
＝Ｏ〜１５）が１つのピット３２によって記録されるこ
ととなり、本実施例ではトラック３０に沿って連続する
２つのピット３２によって１バイトの情報、この場合に
は８ビット分の情報量を１単位とする情報が記録される
ようになっている。

ここで、前記各光学素子は図示しない機枠に固定され、
上記光ディスク２４が回転軸心Ｓまわりに回転駆動され
ることにより、計測ビームＬ　Ｈａ　＋ＬＮｂがトラッ
ク３０に沿って照射されるようになっている。また、各
光学素子が機枠と共に前記Ｘ軸方向へ移動させられるこ
とにより、計測ビームＬｌｉａｒ　　Ｌ１４ｂが別のト
ラック３０上に照射されるようになっている。

上記計測ビームＬｘ□　Ｌｘｂのトラッキングは、前記
ｚ軸がＸ軸方向すなわち光ディスク２４の径方向におい
て前記ピット３２が存在する部位とピット３２が存在し
ない部位との境界に位置するように制御され、計測ビー
ムＬ。はピット３２が存在する部位に集光され、計測ビ
ームＬ。はピット３２が存在しない部位に集光されるよ
うになっている。すなわち、前記半導体レーザ１０ａは
Ｘ軸上から２軸方向へΔ２だけ変位させられ、半導体レ
ーザ１０ｂは２軸上からＸ軸方向へΔＸだけ変位させら
れているのである。計測ビームＬ。（レーザ光り、）に
ついて具体的に説明すると、第３図に示されているよう
に、コリメートレンズ２８の焦点距離をｆ３．集光レン
ズ２２の焦点距離を１２、計測ビームＬ。の照射位置と
２軸とのずれ寸法をＸ、とした場合、前記変位量ΔＸは
次式（１）によって求められる。したがって、例えばｆ
＋＝２０閣、ｆ、＝２閣、ｘｂ＝０．４趨とすると、Δ
Ｘは４μｌとなる。なお、コリメートレンズ１２の焦点
距離が２０ｍｍであれば、前記半導体レーザ１０ａの変
位量Δ２についても４１ｍに設定することにより、計測
ビームＬ。の照射位置が２軸から０゜４ｐ■ずらされる
こととなる。

Δｘ＝ｘｂ　ｘ　（ｆ＋　／ｆｔ　）　　　　　・−・
（＋）そして、例えば光ディスク２４の各ピット３２の
直径が０．８ｎで、光ディスク２４の径方向におけるピ
ット３２の間隔が０．８Ｒであれば、上記計測ビームＬ
１４．は光ディスク２４の径方向においてピット３２が
存在する部位の中央に照射され、計測ビームＬｌｌ１ｍ
はピット３２が存在しない部位の中央に照射される。こ
れにより、計測ビームＬＩ４．は、光ディスク２４の回
転に伴ってトラック３０上におけるピット３２の間隔に
応じてそのピット３２の底面３４およびトラック３０の
上面、この実施例では光ディスク２４の上面３６に交互
に照射され、計測ビームＬ。は光ディスク２４の回転に
拘らず常時上面３６に照射されることとなる。前記半導
体レーザ１０ａ、１０ｂ、コリメートレンズ１２．２８
、ＮＰＢＳ１４、ＰＢＳ　１８．１／４波長板２０、集
光レンズ２２、およびそれ等が固定された機枠やその機
枠をＸ軸方向へ移動させる駆動装置等を含んで、２種類
の光をビット形成部位とその近傍に照射する照射手段３
８が構成されている。

一方、半導体レーザ１０ａ、１０ｂがＸ軸、ｚ軸からそ
れぞれΔ２．ΔＸだけ変位させられると、コリメートレ
ンズ１２．２８によって平行光とされたレーザ光Ｌ−，
Ｌｂの光軸は、それぞれＸ軸。

Ｚ軸に対して傾斜する。この傾斜角度θは、前記のよう
にコリメートレンズ１２．２８の焦点距離が２０ｍｍで
変位量Δ２．ΔＸが４−の場合には、次式（２）で表さ
れる。そして、レーザ光Ｌ−，Ｌｂがこのように傾斜さ
せられると、前記光センサ１６．２６に入射する参照ビ
ームＬｌａおよびり５．。

計測ビームＬ。およびり。も、それぞれその光−軸が互
いに交差する状態で合波されるが、その交差角度は２θ
＝　０．４５ｒａｄであり、それ等の参照ビームＬ□お
よびＬ＊ｂ＋計測ビ計測ビーム上びり。はそれぞれ互い
に干渉させられる。

θ＝４ｎ／２０ｓ　（ｒａｄ）＝０．２（ｓｒａｄ）　
・・・（２）上記計測ビームＬＭａの光センサ２６上に
おける複素振幅Ｕ。は、半導体レーザ１０ａから光セン
サ２６までの光路長をｆＨａ＋２ｄ、、電界ペルトルの
振幅をＥａ＋初期位相をφ１．レーザ光Ｌ３（計測ビー
ムＬ。）の波長をλ１として２π／λ。

＝に、とすると次式（３）で表される。また、計測ビー
ムＬＮｂの光センサ２６上における複素振幅ｕ、４゜は
、半導体レーザ１０ｂから光センサ２６までの距離をｌ
Ｎ１１１＋電界ペルトルの振幅をＥｂ、初期位相をφ５
．レーザ光Ｌｂ（計測ビームＬ。）の波長をλ、として
２π／λｂ””ｋｂとすると次式（４）で表される。そ
して、光センサ２６上における光強度の変化成分Ｉ。は
、計測ビームＬ。、とＬＭ＆との干渉による光強度がｌ
　ｕ、、＋　ｕ、、　ｌ　”で、ｋ。

１−Ｈａｔ　　ｋｂ　　’　ｆｆ１Ｍ＆＋　　φ、、φ
、がそれぞれ一定であるところから次式（５）で表され
る。したがって、光センサ２６からは、その変化成分■
。に従って信号強度が変化する計測信号ＳＭが出力され
ることとなる。

ｕｘ、＝Ｅ、　ｅｘｐ　ｔ　（ｋｍ　・ｆｘａ　＋　２
　ｋｍ　・６１％−２πｆ、ｔ＋φ、〕　　　・・・（
３）ｕ、ｂ＝Ｅｂ　ｅｘｐ　　ｔ　　Ｃｋｈ−１ｍｂ−
Ｚｘ　ｆｈｔ＋φ−〕・・・（４）１１４０ｃｃｏｓ　（２ｋｍ　・ｄｏ　　２　ｇ（ｆｍ
　　ｆｂ）　ｔ＋φ。。７．ｔ〕　　　　　　　・・・
（５）また、参照ビームＬＩ１．の光センサ１６上にお
ける複素振幅ｕｌｌａは、半導体レーザ１０ａから光セ
ンサ１６までの光路長をｉｌ、とすると次式（６）で表
され、参照ビームＬｌｋの光センサ１６上における複素
振幅ｕｌｌｂは、半導体レーザ１０ｂから光センサ１６
までの距離を１．ｂとすると次式（７）で表され、光セ
ンサ１６上における光強度の変化成分■、は次式（８）
で表される。したがって、光センサ１６からは、その変
化成分！、に従って信号強度が変化する参照信号ＳＲが
出力されることとなる。

ｕＩＩｍ＝Ｅａ　ｅｘｐ　　ｔ　　（ｋｍ　’　Ｉ！、
１ｍ　　２　’Ｋ　ｆａｔ＋φ、〕・　・　・（６）ｕｍｂ＝Ｅｂ　ｅｘｐ　　ｔ　　（ｋｂ・ｌ＊ｂ　　２
　Ｋ　ｆａｔ＋φｂ〕・　・　・（７）１、　ｏｅ　ｃｏｓ　（−２π（ｆｍ　　ｆｂ）ｔ＋φ
ｃｏ■ｔ　　）・　・　・（８）ここで、変化成分ＩＮすなわち計測信号ＳＭは、ビット
３２の底面３４およびトラック３０の上面３６に交互に
計測ビームＬＭｓが照射され、そのビット３２の深さ寸
法ｄ７に応じて２ｄ、だけ計測ビームＬＨｂとの光路差
が変化させられることにより、変化成分ＩＩｌすなわち
参照信号ＳＲに対して位相が変化させられるが、この位
相変化量ΔΦは、上記（５）式および（８）式から明ら
かなように次式（９）によって表される。したがって、
両信号ＳＭとＳＲとの位相変化量ΔΦを検出することに
より、ビット３２の深さ寸法ｄ７に対応する情報ｎが検
知される。

ΔΦ−２に、・ｄ、＝４πｄ、／λ、・・・（９）第４
図の位相検出手段４０は、かかる位相変化量ΔΦを検出
するためのもので、上記計測信号ＳＭ、参照信号ＳＲは
それぞれコンパレータ回路４２．４４に供給されて矩形
波に整形された後、カウンタ回路４６．４８に供給され
る。カウンタ回路４６．４８は上記矩形波に整形された
計測信号ＳＭ、参照信号ＳＲの波数を予め定められた一
定時間、例えば１ｍ秒毎に計数してラッチ回路５０゜５
２に出力するもので、その計数値はラッチ回路５０．５
２に一時記憶された後減算器５４によって減算される。

そして、その減算値Ｎはラッチ回路５６に一時記憶され
る。減算値Ｎは、位相変化量ΔΦのうち１位相２πを１
単位とするものである。

また、上記コンパレータ回路４２．４４から出力された
矩形の計測信号ＳＭ、参照信号ＳＲは、水晶発振子５８
から出力される周波数ｆｃのパルス信号ＳＰと共にＡＮ
Ｄ回路６０に供給される。

計測信号ＳＭはＮＯＴ回路６２を経てＡＮＤ回路６０に
供給されるようになっており、ＡＮＤ回路６０を通過し
たパルス信号ＳＰ”のパルス数Ｐがカウンタ回路６４に
より予め定められたタイミングで計数され、ラッチ回路
６６に一時記憶される。

第５図は、上記ＮＯＴ回路６２によって反転された計測
信号ＳＭ’、参照信号ＳＲ，およびＡＮＤ回路６０を通
過したパルス信号ＳＰ’の一例を示すタイムチャートで
ある。

上記パルス数Ｐは、前記位相変化量ΔΦのうち１位相２
πよりも小さい部分に対応するもので、計測信号ＳＭの
周波数をｆ、（＝ｆ、−ｆ、）とすると、位相変化量Δ
Φの１位相２πより小さい少数部Ｍは次式Ｇ＠で表され
る。また、そのＭおよび前記減算値Ｎを用いて前記位相
変化量ΔΦは次式（１０によって表される。なお、周波
数ｆ、は周波数ｒ＋４よりも充分に大きい値に設定され
る。

Ｍ＝ｐｘ　（ｒｘ　／ｆ−）　　　　　　・・・０ΦΔ
Φ＝２π（Ｎ＋Ｍ）　　　　　　　・・・０１）上記減
算値Ｎおよびパルス数Ｐは、それぞれデータバスライン
６８を介して取出手段７０に読み込まれる。取出手段７
０は、ＣＰＵ７２．ＲＡＭ７４、ＲＯＭ７６を備えてお
り、ＲＡＭ７４の一時記憶機能を利用しつつＲＯＭ７６
に予め記憶されたプログラムに従って信号処理を行い、
減算値Ｎおよびパルス数Ｐからビット３２の深さ寸法ｄ
イに対応する情報ｎを取り出す、具体的には、例えばピ
ット３２の深さ寸法ｄ１の段差（ｄ、−ｄ、。

）がレーザ光り、の波長λ、の１／８に設定されると、
深さ寸法ｄ、は情報ｎを用いて次式面で表される一方、
前記（９）式および（１０式より次式側が導かれるため
、結局情報ｎは次式〇４）に従って求められる。すなわ
ち、上記パルス数Ｐから上記ａω式に従って少数部Ｍを
求め、その少数部Ｍと減算値Ｎとを加算して４倍すれば
良いのである。

ｄｎ＝ｎ・λ、／８　　　　　　　−−−Ｑ７Ｊｄ、＝
λ、（Ｎ＋Ｍ）／２　　　　　　・・・０″！Ｊｎ＝４
（Ｎ＋Ｍ）　　　　　　　　　・・・０４そして、光デ
ィスク２４が回転軸心Ｓまわりに回転駆動されて計測ビ
ームＬ。、Ｌｏの照射位置が１つのトラック３０に沿っ
て移動させられ、次のビット３２の深さ寸法ｄ１に対応
する情報ｎが読み出されることにより、先に読み出され
た情報ｎとの組み合わせによって１バイトの情報が得ら
れる。このように、光ディスク２４の回転に伴って１つ
のトラック３０に記録された１バイト情報が順次読み出
されるとともに、照射手段３８が前記Ｘ軸方向、すなわ
ち光ディスク２４の径方向へ移動させられ、計測ビーム
ＬＭａ＋　　ＬＨｂの照射位置カ別のトラック３０上に
順次変更されることにより、光ディスク２４の全面に記
録された情報が読み出される。

ここで、本実施例の光ディスク２４は、ピット３２の深
さ寸法ｄＷ１が１５段階に分けられ、１つのビット３２
に１ニブル分（４ビット分）の情報が記録されることに
より、２つのピット３２によって１バイトの情報が記録
されるようになっているため、従来のようにピットの有
無や長さによって情報を記録する場合に比較して、同じ
記録容量であれば光ディスク２４の大きさ（面積）をｌ
／４にできる一方、同じ大きさの光ディスク２４であれ
ばその記録容量が４倍になるのである。また、２つのビ
ット３２によって１バイトの情報が読み出されるところ
から、深さ寸法ｄ、に対応する情報ｎの読取り時間がビ
ットの有無を検出する時間と略同程度であれば、単位時
間当たりの読取り情報量が４倍となり、高速処理が可能
となるのである。

また、上記光ディスク２４に記録された情報を読み取る
本実施例の読取り装置は、周波数が異なる計測ビームＬ
。とり。との干渉によって信号強度が変化する計測信号
ＳＭの位相が、光ディスク２４の回転に伴ってビット３
２の底面３４とトラック３０の上面３６とに交互に照射
される計測ビームＬ。、の光路長変化に応じて変化させ
られるところから、その計測信号ＳＭの位相変化量ΔΦ
に基づいてビット３２の深さ寸法ｄ７に対応する情報ｎ
を読み取るようになっているため、上記光ディスク２４
に記録された情報を高精度、高速度で読み出すことがで
きる。これにより、２つのビット３２によって１バイト
情報が記録されている光ディスク２４が、その機能を有
効に発揮するとともに、情報読出しの高速処理化が実現
されるのである。

特に、上記計測と−ムＬ。は光ディスク２４の回転に拘
らずトラック３ｏの上面３６に常時照射され、その上面
３６を基準としてビット３２の深さ寸法ｄｎに応じて変
化する計測信号ＳＭの位相変化量ΔΦを検出し、深さ寸
法ｄ７に対応する情報ｎを取り出すようになっているた
め、光ディスク２４と照射手段３８とのビット深さ方向
、すなわちＸ軸方向における相対的な振動等に起因する
ノイズが相殺され、深さ寸法ｄ７に対応する位相変化量
ΔΦが高い精度で検出されるとともに、それに伴って情
報ｎの読出し精度が向上するのである。

また、本実施例ではレーザ光り、、ｔ、ｂがら分離され
た参照ビームＬ。＋ＬＩｌｂを干渉させて参照信号ＳＲ
を取り出し、その参照信号ＳＲと計測信号ＳＭとを比較
して計測信号ＳＭの位相変化量ΔΦを検出するようにな
っているため、その信号処理が容易であるとともに、位
相変化量ΔΦの検出精度、更には情報ｎの読出し精度が
一層向上する。

次に、本発明の他の実施例を説明する。なお、以下の実
施例において前記実施例と実質的に共通する部分には同
一の符号を付して詳しい説明を省略する。

第６図は、前記半導体レーザｌＱａ、１０ｂの替わりに
二周波直交レーザ８０を用いたもので、この二周波直交
レーザ８０は前記ｚ軸上に配置されて、互いに周波数が
僅かに異なり且つ偏波面が直交する２種類の直線偏光Ｌ
Ｐおよびり、を含むレーザ光（ＬＰ　＋Ｌ、）を出射す
る。レーザ光（ＬＰ　＋Ｌｓ　）は、前記ＮＰＢＳ　１
４によって一部が反射され、偏光子８２を通過して前記
光センサ１６に入射させられることにより、直線偏光り
。

およびり、の干渉によって信号強度が変化する参照信号
ＳＲが出力される。また、ＮＰＢＳ　１４を通過したレ
ーザ光（ＬＰ　＋Ｌｓ　）は、ウォラストンプリズム８
４によりその偏波面に応じて直線偏光り、およびり、に
分離されるとともに、その進行方向が２軸を中心として
Ｘ軸方向の互いに反対方向へ傾斜させられ、集光レンズ
２２によってそれぞれ前記光ディスク２４に照射される
。

直線偏光り、およびり、の光ディスク２４に対する照射
位置は、Ｘ軸方向すなわち光ディスク２４の径方向にお
いて互いに約０．８　ｎ程度離間させられ、直線偏光Ｌ
Ｐは前記ビット３２が存在しない部位に照射される一方
、直線偏光り、はビット３２が形成されている部位に照
射される。そして、光ディスク２４で反射された直線偏
光ＬＰおよびＬ３は、集光レンズ２２．ウォラストンプ
リズム８２を通過してその先軸が一層させられ、ＮＰＢ
Ｓ１４により反射された後、偏光子８６を通過して前記
光センサ２６に入射させられる。これにより、光センサ
２６からは、光ディスク２４によって反射された直線偏
光Ｌｒおよびり、の干渉によって信号強度が変化する計
測信号ＳＭが出力される。前記二周波直交レーザ８０．
ＮＰＢＳ１４゜ウォラストンプリズム８４．集光レンズ
２２．およびそれ等が固定された機枠やその機枠をＸ軸
方向へ移動させる駆動装置等を含んで、２種類の光をビ
ット形成部位とその近傍に照射する照射手段８８が構成
されている。

上記計測信号ＳＭは、光ディスク２４の回転に伴って直
線偏光り、の光ディスク２４に対する照射位置がビット
３２の底面３４とトラック３０の上面３６とに交互に変
化させられて、その光路長がビット３２の深さ寸法ｄ、
、に応じて変化させられ、その光路長変化に応じて前記
直線偏光り、との光路差が変化させられることにより、
その光路差変化に対応して位相が変化させられる。した
がって、この計測信号ＳＭの位相変化量ΔΦを、例えば
前記位相検出手段４０等によって検出することにより、
ビット３２の深さ寸法ｄ７に対応する情報ｎが取り出さ
れる。

この実施例においても前記第１実施例と同様な作用効果
が得られる。

以上、本発明の実施例を図面に基づいて詳細に説明した
が、本発明は更に別の態様で実施することもできる。

例えば、前記実施例ではビット３２の深さ寸法ｄ７が１
５段階に分けられ、１つのビット３２でｌニブル分の情
報が記録されるとともに２つのビット３２で１バイトの
情報が記録されるようになっているが、深さ寸法ｄ７の
段数や１バイトの情報を記録するためのビット数は適宜
変更できる。

なお、１バイトの情報を表すための情報量は必ずしも８
ビット分である必要はない。

また、前記実施例では光ディスク２４の上面３６とトラ
ック３０の上面とが一致させられているが、光ディスク
２４の上面に凹溝等を形成してトラックを設けても差支
えない。

また、前記実施例では多数のトラック３０が同心円状に
設けられた光ディスク２４について説明したが、多数の
トラックが互いに平行に設けられる矩形の光カード等に
も本発明は同様に適用され得る。

また、前記実施例の読取り装置はレーザ光り、。

Ｌ、や（ＬＰ　＋Ｌｓ　）をＮＰＢＳ　１４によって分
割し、参照信号ＳＲを取り出すようになっているが、こ
の参照信号ＳＲをレーザの発振周波数信号等から電気的
に取り出すことも可能である。

また、前記実施例では情報ｎを取り出す際にビット３２
の深さ寸法ｄ７の段差がλ、／８に設定された場合につ
いて説明したが、この段差を適宜変更できることは勿論
である。

また、前記実施例の読取り装置はあくまでも一例であり
、ビット３２の深さ寸法ｄ、に対応する情報ｎを読み出
すことができる他の構成の読取り装置を用いることも可
能である。

その他−々例示はしないが、本発明は当業者の知識に基
づいて種々の変更、改良を加えた態様で実施することが
できる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明方式に従ってビットが形成された光ディ
スクの要部断面とその読取り装置の光学的構成を示す図
である。第２図は第１図の光ディスクの拡大断面図であ
る。第３図は第１図におけるレーザおよびその照射位置
の光軸からのずれを説明する図である。第４図は第１図
の実施例における読取り装置の信号処理部を説明するブ
ロック線図である。第５図は第４図における信号ＳＭ’
ＳＲ，およびＳＰ”の−例を示すタイムチャートである
。第６図は本発明の他の実施例の要部を説明する図で、
第１図に相当する図である。２４：光ディスク（光記録媒体）３０ニドラツク　　　　３２二ビット

Claims

【特許請求の範囲】

予め定められたトラック上に多数のピットが設けられる
ことによって所定の情報が記録されるとともに、該トラ
ックに沿って照射される光の反射光が前記ピットによっ
て変化することに基づいて前記情報が読み取られる光記
録媒体において、前記ピットの深さを多段階に変化させ
、その深さ寸法に応じてそれぞれ異なる情報を記録させ
るとともに、該ピットが予め定められた数だけ設けられ
ることにより１バイトの情報が記録されるようにしたこ
とを特徴とする光記録媒体の情報記録方式。