JPH0313673B2 - - Google Patents
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- JPH0313673B2 JPH0313673B2 JP56069444A JP6944481A JPH0313673B2 JP H0313673 B2 JPH0313673 B2 JP H0313673B2 JP 56069444 A JP56069444 A JP 56069444A JP 6944481 A JP6944481 A JP 6944481A JP H0313673 B2 JPH0313673 B2 JP H0313673B2
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- JP
- Japan
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- permalloy
- transfer path
- minor loop
- ion implantation
- bubble
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Links
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01F—MAGNETS; INDUCTANCES; TRANSFORMERS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR MAGNETIC PROPERTIES
- H01F41/00—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or assembling magnets, inductances or transformers; Apparatus or processes specially adapted for manufacturing materials characterised by their magnetic properties
- H01F41/32—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or assembling magnets, inductances or transformers; Apparatus or processes specially adapted for manufacturing materials characterised by their magnetic properties for applying conductive, insulating or magnetic material on a magnetic film, specially adapted for a thin magnetic film
- H01F41/34—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or assembling magnets, inductances or transformers; Apparatus or processes specially adapted for manufacturing materials characterised by their magnetic properties for applying conductive, insulating or magnetic material on a magnetic film, specially adapted for a thin magnetic film in patterns, e.g. by lithography
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C19/00—Digital stores in which the information is moved stepwise, e.g. shift registers
- G11C19/02—Digital stores in which the information is moved stepwise, e.g. shift registers using magnetic elements
- G11C19/08—Digital stores in which the information is moved stepwise, e.g. shift registers using magnetic elements using thin films in plane structure
- G11C19/0875—Organisation of a plurality of magnetic shift registers
- G11C19/0883—Means for switching magnetic domains from one path into another path, i.e. transfer switches, swap gates or decoders
- G11C19/0891—Means for switching magnetic domains from one path into another path, i.e. transfer switches, swap gates or decoders using hybrid structure, e.g. ion doped layers
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Thin Magnetic Films (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、電子計算機や電子交換機等のフアイ
ルメモリに使用される磁気バブル素子に関するも
のである。
ルメモリに使用される磁気バブル素子に関するも
のである。
従来、実用されてきた磁気バブル素子はパーマ
ロイ素子と呼ばれるもので、磁性ガーネツト膜た
とえば(YSmLuCa)3(FeGe)5O12ガーネツト膜
に存在する円筒状磁区すなわちバブル2を、第1
図に示すようなガーネツト膜上に設置されたパー
マロイ転送路1にそつて、面内に印加した回転磁
界により転送することを基本としている。バブル
発生器、トランスフアゲート、スワツプゲート、
レプリケータ等は第2図に示すようにパーマロイ
パターン1と、絶縁層4,6を介してガーネツト
膜3とパーマロイパターン1の間に設けられたコ
ンダクタパターン5とから成り、コンダクタパタ
ーン5に制御用パルス電流を流すことにより、
各々の機能を司るようになつている。(なお、第
1図において非磁性基板は図示を省略されてい
る。) バブル素子の高密度化、高集積化に伴い、第1
図に示すパーマロイ転送路1のパターン幅、ギヤ
ツプ寸法ともに著るしく微細化されている。たと
えば、直径約2μmのバブルを用いてビツト周期
8μmの素子を形成する場合、パターン寸法、ギ
ヤツプ寸法は約1μmと微細にする必要がある。
今後さらに素子の高密度化をパーマロイ素子で図
るには、1μm以下の微細パーマロイパターンを、
チツプ全面に形成することが必要で、技術的に非
常に困難である。
ロイ素子と呼ばれるもので、磁性ガーネツト膜た
とえば(YSmLuCa)3(FeGe)5O12ガーネツト膜
に存在する円筒状磁区すなわちバブル2を、第1
図に示すようなガーネツト膜上に設置されたパー
マロイ転送路1にそつて、面内に印加した回転磁
界により転送することを基本としている。バブル
発生器、トランスフアゲート、スワツプゲート、
レプリケータ等は第2図に示すようにパーマロイ
パターン1と、絶縁層4,6を介してガーネツト
膜3とパーマロイパターン1の間に設けられたコ
ンダクタパターン5とから成り、コンダクタパタ
ーン5に制御用パルス電流を流すことにより、
各々の機能を司るようになつている。(なお、第
1図において非磁性基板は図示を省略されてい
る。) バブル素子の高密度化、高集積化に伴い、第1
図に示すパーマロイ転送路1のパターン幅、ギヤ
ツプ寸法ともに著るしく微細化されている。たと
えば、直径約2μmのバブルを用いてビツト周期
8μmの素子を形成する場合、パターン寸法、ギ
ヤツプ寸法は約1μmと微細にする必要がある。
今後さらに素子の高密度化をパーマロイ素子で図
るには、1μm以下の微細パーマロイパターンを、
チツプ全面に形成することが必要で、技術的に非
常に困難である。
これに対して最近、新しい形式のバブル素子が
注目を集めている。これは従来のパーマロイ転送
路に代つて、転送路をイオン打込みにより形成す
ることを特徴とする素子でイオン打込み素子と呼
ばれる。すなわち第3図に示すようにガーネツト
膜3上に、コンテイガスデイスク(数珠状パター
ン)の形状のマスク(図示せず)を形成し、Ne.
H2イオン等のイオンをガーネツト膜表面に打込
み、コンテイガスデイスクの外側の部分にイオン
打込み領域7を形成し、この領域7の磁化を面内
に向ける。このようにして面内に回転磁界を印加
すると、パーマロイ素子と同様に、コンテイガス
デイスク(転送路)16のふちにそつてバブルが
転送される。このイオン打込み素子の特長は、転
送路16のパターン寸法が、パーマロイ素子の転
送路のパターン寸法の約2倍と大きくても良いこ
とであり、作製が容易であるため、高密度素子に
適している。
注目を集めている。これは従来のパーマロイ転送
路に代つて、転送路をイオン打込みにより形成す
ることを特徴とする素子でイオン打込み素子と呼
ばれる。すなわち第3図に示すようにガーネツト
膜3上に、コンテイガスデイスク(数珠状パター
ン)の形状のマスク(図示せず)を形成し、Ne.
H2イオン等のイオンをガーネツト膜表面に打込
み、コンテイガスデイスクの外側の部分にイオン
打込み領域7を形成し、この領域7の磁化を面内
に向ける。このようにして面内に回転磁界を印加
すると、パーマロイ素子と同様に、コンテイガス
デイスク(転送路)16のふちにそつてバブルが
転送される。このイオン打込み素子の特長は、転
送路16のパターン寸法が、パーマロイ素子の転
送路のパターン寸法の約2倍と大きくても良いこ
とであり、作製が容易であるため、高密度素子に
適している。
しかしながらこのイオン打込み素子は、レプリ
ケータ、トランスフアゲート、スワツプゲート等
の機能の動作が十分安定ではなく、しかもブロツ
クレプリケーターがないという欠点を有し、実用
化する際の一つの問題になつていた。
ケータ、トランスフアゲート、スワツプゲート等
の機能の動作が十分安定ではなく、しかもブロツ
クレプリケーターがないという欠点を有し、実用
化する際の一つの問題になつていた。
本発明の目的は、十分安定に動作するレプリケ
ータ、トランスフアゲート、スワツプゲート等を
有し、かつ高密度のバブル転送路を有するバブル
素子を得ることを目的とする。
ータ、トランスフアゲート、スワツプゲート等を
有し、かつ高密度のバブル転送路を有するバブル
素子を得ることを目的とする。
上記目的を達成するため、本発明はマイナール
ープの転送路としてはイオン打込みによつて形成
された転送路を用い、メジヤーループ(またはラ
イン)との接続部の少なくとも一部をパーマロイ
によつて形成するものである。以下、本発明を詳
細に説明する。
ープの転送路としてはイオン打込みによつて形成
された転送路を用い、メジヤーループ(またはラ
イン)との接続部の少なくとも一部をパーマロイ
によつて形成するものである。以下、本発明を詳
細に説明する。
一般にバブル素子は、第4図に示すように、情
報の記憶部であるマイナループ群10と、情報の
書込み読出しを行うメージヤライン又はメージヤ
ループから構成される。マイナループ10とメー
ジヤライン(ループも含む)との接続部にはトラ
ンスフアゲート、スワツプゲートおよびレプリケ
ータ等8が使用される。マイナループ10はバブ
ル転送路で構成され素子面積の大半を占める。メ
ージヤライン(ループ)はバブル転送路9,1
1、バブル発生器13、検出器12で構成され
る。マイナーループ10とメージヤライン(また
はループ)は、トランスフアゲート、スワツプゲ
ートもしくはレプリケーターなど8によつて接続
される。本発明の特徴は、素子面積の大半を占め
るマイナループ10を高密度に適したイオン打込
み転送路で形成し、メージヤラインレプリケー
タ、トランスフアゲート等の少なくとも一部をパ
ーマロイで形成することにある。メージヤライン
やレプリケータ等は素子面積の極く僅かな部分を
占めるのみである。したがつてパーマロイで形成
する際、パターン寸法の制限がマイナループ部の
イオン打込み転送路よりも厳しくても、形成が十
分可能である。又、メージヤラインのビツト周期
はマイナループ部のビツト周期の、たとえば2倍
〜4倍にとる構成も可能であり、このようにすれ
ばパーマロイのパターン寸法の制限が緩和されて
形成が容易となる。
報の記憶部であるマイナループ群10と、情報の
書込み読出しを行うメージヤライン又はメージヤ
ループから構成される。マイナループ10とメー
ジヤライン(ループも含む)との接続部にはトラ
ンスフアゲート、スワツプゲートおよびレプリケ
ータ等8が使用される。マイナループ10はバブ
ル転送路で構成され素子面積の大半を占める。メ
ージヤライン(ループ)はバブル転送路9,1
1、バブル発生器13、検出器12で構成され
る。マイナーループ10とメージヤライン(また
はループ)は、トランスフアゲート、スワツプゲ
ートもしくはレプリケーターなど8によつて接続
される。本発明の特徴は、素子面積の大半を占め
るマイナループ10を高密度に適したイオン打込
み転送路で形成し、メージヤラインレプリケー
タ、トランスフアゲート等の少なくとも一部をパ
ーマロイで形成することにある。メージヤライン
やレプリケータ等は素子面積の極く僅かな部分を
占めるのみである。したがつてパーマロイで形成
する際、パターン寸法の制限がマイナループ部の
イオン打込み転送路よりも厳しくても、形成が十
分可能である。又、メージヤラインのビツト周期
はマイナループ部のビツト周期の、たとえば2倍
〜4倍にとる構成も可能であり、このようにすれ
ばパーマロイのパターン寸法の制限が緩和されて
形成が容易となる。
実施例 1
本実施例はマイナーループの転送路以外の部分
であるメージヤライン、レプリケーター、トラン
スフアゲート、検出器および発生器を、すべてパ
ーマロイによつて形成した例である。
であるメージヤライン、レプリケーター、トラン
スフアゲート、検出器および発生器を、すべてパ
ーマロイによつて形成した例である。
(YSmLuCa)3(FeGe)5O12ガーネツト膜(厚
さ1μm、バブル径、約1μm)を用いて、マイナ
ループのビツト周期4μm、メージヤラインのビ
ツト周期8μmのメージヤライン・マイナループ
構成の素子を作製した。マイナループには第5図
に示すような形状を持つたイオン打込み転送路1
6を用いた。転送路16の最小パターン寸法は約
1μmである。転送路作製にはNe(50keV、2×
1014/cm2)−Ne(180keV、2×1014/cm2)−H2
(100keV、4×1016/cm2)の三重打込みを用い
た。メージヤライン、レプリケータ、トランスフ
アゲート、バブル検出器、発生器は、パーマロイ
素子で使用されているのと同じものを用いた。ト
ランスフアゲートとレプリケータはイオン打込み
によつて形成されたマイナーループ転送路上に設
置されたパーマロイパターンを利用しているが、
マイナループのバブル転送には支障がなく、パル
ス電流を印加したときにはトランスフアゲート又
はレプリケータの機能を果すことを確認した。レ
プリケータは各マイナループに1つつけており、
これをブロツクレプリケータと呼ぶ。
さ1μm、バブル径、約1μm)を用いて、マイナ
ループのビツト周期4μm、メージヤラインのビ
ツト周期8μmのメージヤライン・マイナループ
構成の素子を作製した。マイナループには第5図
に示すような形状を持つたイオン打込み転送路1
6を用いた。転送路16の最小パターン寸法は約
1μmである。転送路作製にはNe(50keV、2×
1014/cm2)−Ne(180keV、2×1014/cm2)−H2
(100keV、4×1016/cm2)の三重打込みを用い
た。メージヤライン、レプリケータ、トランスフ
アゲート、バブル検出器、発生器は、パーマロイ
素子で使用されているのと同じものを用いた。ト
ランスフアゲートとレプリケータはイオン打込み
によつて形成されたマイナーループ転送路上に設
置されたパーマロイパターンを利用しているが、
マイナループのバブル転送には支障がなく、パル
ス電流を印加したときにはトランスフアゲート又
はレプリケータの機能を果すことを確認した。レ
プリケータは各マイナループに1つつけており、
これをブロツクレプリケータと呼ぶ。
本実施例の断面構造は第6図に示す通りであ
る。
る。
第6図において、記号3はバブルを保持するガ
ーネツト膜、4および6は絶縁膜、5はコンダク
タパターン、1はパーマロイパターン7はイオン
打込み領域を、それぞれ表わす。本素子は面内に
印加する回転磁界を40Oe以上にするとブロツク
レプリケータも含めて安定に動作することを確認
した。第7図は回転磁界HRと膜面に垂直に印加
するバイアス磁界HBの関係を示したもので、斜
線を付した領域Aが安定に動作する領域を示す。
回転磁界の周波数は200kHzである。バイアス磁
界の中心値に対し、10%以上の幅が回転磁界
40Oe以上で得られており、本発明にかかる素子
が大きな動作マージンを有していることがわか
る。
ーネツト膜、4および6は絶縁膜、5はコンダク
タパターン、1はパーマロイパターン7はイオン
打込み領域を、それぞれ表わす。本素子は面内に
印加する回転磁界を40Oe以上にするとブロツク
レプリケータも含めて安定に動作することを確認
した。第7図は回転磁界HRと膜面に垂直に印加
するバイアス磁界HBの関係を示したもので、斜
線を付した領域Aが安定に動作する領域を示す。
回転磁界の周波数は200kHzである。バイアス磁
界の中心値に対し、10%以上の幅が回転磁界
40Oe以上で得られており、本発明にかかる素子
が大きな動作マージンを有していることがわか
る。
本実施例ではメージヤラインの転送路にパーマ
ロイ転送路を用いたが、これをイオン打込み転送
路で形成しても同等の動作結果が得られた。
ロイ転送路を用いたが、これをイオン打込み転送
路で形成しても同等の動作結果が得られた。
本発明の素子構造はビツト周期4μmに限らず
それ以上又はそれ以下の素子にも適用できる。
それ以上又はそれ以下の素子にも適用できる。
実施例 2
実施例1とは異なる第8図の如きチツプ構成の
例について説明する。第8図において、破線部は
イオン打込みによつて形成された転送路を示し、
実線部はパーマロイによつて形成された転送路を
示す。発生器13、書込みメージヤラインの、ト
ランスフアゲート14およびマイナループ10の
大半はイオン打込みによつて作成した。その他の
部分、すなわちレプリケータ15およびその近傍
の転送路、読出しメージヤライン11および検出
器12はパーマロイで作成した。本実施例ではイ
オン打込みによつて形成された転送路とパーマロ
イによつて形成された転送路は、接続部以外では
完全に分離されている。イオン打込みによつて作
成されたトランスフアゲート14はIEEE
Transactions on Magnetics VoL.MAG−17No.
1 P1134〜P1141に開示されているようなイオ
ン打込み素子用ゲートを用いてもよい。また、パ
ーマロイによつて作成されたレプリケータとして
はIEEE Transactions on Magnetics、VoL.
MAG−12、No.6.P614〜P617に開示されているよ
うなブロツクレプリケータを用い、検出器として
は、磁気バブル拡張器と検出線からなる厚膜パー
マロイ型検出器を使用した。なお、イオン打込み
転送路としては第5図に示した形状を有する転送
路を、パーマロイによつて形成された転送路とし
ては第1図に示した形状のものを用いた。また、
パーマロイ転送路の動作マージンを広げるため
に、パーマロイ転送路の周期をイオン打込み転送
路の2倍にし、マイナループは第8図のように折
り畳みループを使用した。このような構成によ
り、容易にブロツクレプリケータを持つたチツプ
が作成できた。トランスフアーゲート14は通常
用いられているパーマロイのものを用いてよく、
また、メジヤーループおよびトランスフアーゲー
ト近傍のマイナーループをパーマロイで形成して
もよい。
例について説明する。第8図において、破線部は
イオン打込みによつて形成された転送路を示し、
実線部はパーマロイによつて形成された転送路を
示す。発生器13、書込みメージヤラインの、ト
ランスフアゲート14およびマイナループ10の
大半はイオン打込みによつて作成した。その他の
部分、すなわちレプリケータ15およびその近傍
の転送路、読出しメージヤライン11および検出
器12はパーマロイで作成した。本実施例ではイ
オン打込みによつて形成された転送路とパーマロ
イによつて形成された転送路は、接続部以外では
完全に分離されている。イオン打込みによつて作
成されたトランスフアゲート14はIEEE
Transactions on Magnetics VoL.MAG−17No.
1 P1134〜P1141に開示されているようなイオ
ン打込み素子用ゲートを用いてもよい。また、パ
ーマロイによつて作成されたレプリケータとして
はIEEE Transactions on Magnetics、VoL.
MAG−12、No.6.P614〜P617に開示されているよ
うなブロツクレプリケータを用い、検出器として
は、磁気バブル拡張器と検出線からなる厚膜パー
マロイ型検出器を使用した。なお、イオン打込み
転送路としては第5図に示した形状を有する転送
路を、パーマロイによつて形成された転送路とし
ては第1図に示した形状のものを用いた。また、
パーマロイ転送路の動作マージンを広げるため
に、パーマロイ転送路の周期をイオン打込み転送
路の2倍にし、マイナループは第8図のように折
り畳みループを使用した。このような構成によ
り、容易にブロツクレプリケータを持つたチツプ
が作成できた。トランスフアーゲート14は通常
用いられているパーマロイのものを用いてよく、
また、メジヤーループおよびトランスフアーゲー
ト近傍のマイナーループをパーマロイで形成して
もよい。
実施例 3
他の実施例を第9図に示す。第9図において、
破線部はイオン打込みによつて形成された転送
路、実線部はパーマロイによつて形成されて転送
路を、それぞれ示す。マイナループ10はイオン
打込み転送路だけで構成されている。その下端部
はトランスフアゲート14を介してパーマロイ転
送路からなる書込みメージヤライン9に接してい
る。また、マイナループ10の上端にはレプリケ
ータ15を持つたパーマロイ転送路のバイパスが
設けられている。この構成では、磁気バブルはマ
イナループ10上を反時計方向に転送される。そ
して、左側のバイパスとマイナループの接続部は
トランスフアゲート14からなり、右側の接続部
は単なるマージ回路になつている。したがつて、
通常磁気バブルはイオン打込み転送路だけで構成
されているマイナループ上を回つている。データ
読出し時、すなわち、レプリケート時にはマイナ
ループ10上端のトランスフアゲート14を働か
せ必要な磁気バブルをバイパスに送り出す。その
磁気バブルがレプリケータ15へ到達した時にレ
プリケータ15を働かせレプリケート動作を行な
う、2つに分割された磁気バブルの内一方は読出
しメージヤラインを通つて検出器へ至り、他方は
バイパスを通つてマージ回路によりマイナループ
に帰る。この時、バイパスへのトランスフア動作
により空いたマイナループ上のビツト位置に再び
バイパスから来た磁気バブルが納まるようにバイ
パスとマイナループ上部のビツト数を選ぶ。これ
により、トランスフアゲートでバイパスへ入つた
磁気バブルが再びマイナループ上の元の場所へ戻
る。このように本実施例の構成では、通常は磁気
バブルはイオン打込み転送路上を転送していて、
必要な時だけ必要な磁気バブルだけがパーマロイ
転送路で構成されたバイパスへ移され読出され
た。
破線部はイオン打込みによつて形成された転送
路、実線部はパーマロイによつて形成されて転送
路を、それぞれ示す。マイナループ10はイオン
打込み転送路だけで構成されている。その下端部
はトランスフアゲート14を介してパーマロイ転
送路からなる書込みメージヤライン9に接してい
る。また、マイナループ10の上端にはレプリケ
ータ15を持つたパーマロイ転送路のバイパスが
設けられている。この構成では、磁気バブルはマ
イナループ10上を反時計方向に転送される。そ
して、左側のバイパスとマイナループの接続部は
トランスフアゲート14からなり、右側の接続部
は単なるマージ回路になつている。したがつて、
通常磁気バブルはイオン打込み転送路だけで構成
されているマイナループ上を回つている。データ
読出し時、すなわち、レプリケート時にはマイナ
ループ10上端のトランスフアゲート14を働か
せ必要な磁気バブルをバイパスに送り出す。その
磁気バブルがレプリケータ15へ到達した時にレ
プリケータ15を働かせレプリケート動作を行な
う、2つに分割された磁気バブルの内一方は読出
しメージヤラインを通つて検出器へ至り、他方は
バイパスを通つてマージ回路によりマイナループ
に帰る。この時、バイパスへのトランスフア動作
により空いたマイナループ上のビツト位置に再び
バイパスから来た磁気バブルが納まるようにバイ
パスとマイナループ上部のビツト数を選ぶ。これ
により、トランスフアゲートでバイパスへ入つた
磁気バブルが再びマイナループ上の元の場所へ戻
る。このように本実施例の構成では、通常は磁気
バブルはイオン打込み転送路上を転送していて、
必要な時だけ必要な磁気バブルだけがパーマロイ
転送路で構成されたバイパスへ移され読出され
た。
第10図は、第8図に示した構成の素子におい
て、メージヤライン11とマイナーループ10と
の接続を示す平面図である。第10図に示すよう
に、マイナーループの転送路16の端部上に、バ
ブルを分割するためのヘアピン状コンダクターパ
ターン5とバブルを拡張するためのピツカツクス
形パーマロイパターン1が、絶縁膜を介して積層
されている。第10図は、マイナーループの転送
路16をすべてイオン打込みによつて形成した例
を示したが、第11図に示すように、マイナール
ープの転送路16のうち、メージヤラインとの接
合部近傍16′のみをパーマロイで形成してもよ
い。
て、メージヤライン11とマイナーループ10と
の接続を示す平面図である。第10図に示すよう
に、マイナーループの転送路16の端部上に、バ
ブルを分割するためのヘアピン状コンダクターパ
ターン5とバブルを拡張するためのピツカツクス
形パーマロイパターン1が、絶縁膜を介して積層
されている。第10図は、マイナーループの転送
路16をすべてイオン打込みによつて形成した例
を示したが、第11図に示すように、マイナール
ープの転送路16のうち、メージヤラインとの接
合部近傍16′のみをパーマロイで形成してもよ
い。
従来のイオン打込み素子では、パーマロイ素子
におけるブロツクレプリケーターに相当するもの
がなかつたが、上記のように構成することによつ
て、イオン打込み素子においても、十分安定に動
作するブロツクレプリケーターが得られた。な
お、パーマロイパターン1はピツカツクス型のみ
ではなく他のものも使い得ることはいうまでもな
い。
におけるブロツクレプリケーターに相当するもの
がなかつたが、上記のように構成することによつ
て、イオン打込み素子においても、十分安定に動
作するブロツクレプリケーターが得られた。な
お、パーマロイパターン1はピツカツクス型のみ
ではなく他のものも使い得ることはいうまでもな
い。
パーマロイパターン1がないときの転送マージ
ンは第12図、破線の直線17に示すようであつ
たが、この場合はレプリケートされないことは勿
論である。
ンは第12図、破線の直線17に示すようであつ
たが、この場合はレプリケートされないことは勿
論である。
しかし、本発明によつて、パーマロイパターン
1を用いると、第12図実線18に示したよう
に、転送マージンの低下は、極めて僅かであり、
しかもレプリケートは支障なく行なうことができ
る。
1を用いると、第12図実線18に示したよう
に、転送マージンの低下は、極めて僅かであり、
しかもレプリケートは支障なく行なうことができ
る。
第13図は第9図に示した構成の素子におい
て、メージヤライン9とマイナーループ10との
接続を示す平面図である。
て、メージヤライン9とマイナーループ10との
接続を示す平面図である。
第13図に示したように、マイナーループの転
送路16の端部上にヘアピン形のコンダクターパ
ターン5とシエブロン形のパーマロイパターン1
が、それぞれ絶縁膜を介して設けられている。
送路16の端部上にヘアピン形のコンダクターパ
ターン5とシエブロン形のパーマロイパターン1
が、それぞれ絶縁膜を介して設けられている。
従来のイオン打込み素子では、メージヤライン
がイオン打込みによつて形成されていたが、本実
施例では、シエブロン形のパーマロイパターン1
によつて形成した。これにより、極めて安定なト
ランスフアーを行なうことができ、本発明の効果
が確認された。
がイオン打込みによつて形成されていたが、本実
施例では、シエブロン形のパーマロイパターン1
によつて形成した。これにより、極めて安定なト
ランスフアーを行なうことができ、本発明の効果
が確認された。
以上、説明したごとく本発明によればビツト周
期の小さい(4μm又はそれ以下)高密度バブル
素子でかつブロツクレプリケータ等の機能を含む
素子動作が安定にされる素子を検供することがで
きる。
期の小さい(4μm又はそれ以下)高密度バブル
素子でかつブロツクレプリケータ等の機能を含む
素子動作が安定にされる素子を検供することがで
きる。
第1図はパーマロイ転送路の平面形状を示す
図、第2図はパーマロイからなる転送路を有する
磁気バブル素子のゲート部を示すの断面図、第3
図はイオン打込み素子を説明するための図、第4
図は磁気バブル素子の構成を示す図、第5図はイ
オン打込みによつて形成された転送路の平面形状
を示す図、第6図は本発明の一実施例を示す断面
図、第7図は本発明による素子の動作マージンの
一例を示す曲線図、第8図と第9図はそれぞれ本
発明の異なる実施例を示す系統図である。第10
図、第11図および第13図はそれぞれマイナー
ループとメージヤラインの接続を示す平面図、第
12図は本発明の効果を示す曲線図である。 1はパーマロイ転送路、2は磁気バブル、3は
磁性ガーネツト、4はスペーサ、5はコンダク
タ、6は絶縁層、7はイオン打込み層、8は転送
方向切換えスイツチ、9は書込みメージヤライ
ン、10はマイナループ、11は読出しメージヤ
ライン、12は検出器、13は発生器、14はト
ランスフアゲート、15はレプリケータである。
図、第2図はパーマロイからなる転送路を有する
磁気バブル素子のゲート部を示すの断面図、第3
図はイオン打込み素子を説明するための図、第4
図は磁気バブル素子の構成を示す図、第5図はイ
オン打込みによつて形成された転送路の平面形状
を示す図、第6図は本発明の一実施例を示す断面
図、第7図は本発明による素子の動作マージンの
一例を示す曲線図、第8図と第9図はそれぞれ本
発明の異なる実施例を示す系統図である。第10
図、第11図および第13図はそれぞれマイナー
ループとメージヤラインの接続を示す平面図、第
12図は本発明の効果を示す曲線図である。 1はパーマロイ転送路、2は磁気バブル、3は
磁性ガーネツト、4はスペーサ、5はコンダク
タ、6は絶縁層、7はイオン打込み層、8は転送
方向切換えスイツチ、9は書込みメージヤライ
ン、10はマイナループ、11は読出しメージヤ
ライン、12は検出器、13は発生器、14はト
ランスフアゲート、15はレプリケータである。
Claims (1)
- 1 磁気バブルを保持し得るガーネツト膜の所望
部分にイオン打込みによつて構成され、情報とし
て上記磁気バブルを記憶するマイナーループと、
上記ガーネツト膜上に設置されたパーマロイ膜に
よつて構成され、上記磁気バブルの書込み読出し
を行なうメジヤーライン又はメジヤーループと、
上記マイナーループと上記メジヤーライン又はメ
ジヤーループとの間の接続部とから成る磁気バブ
ル素子において、上記接続部は上記マイナールー
プの転送路上の一部分に設けられた上記磁気バブ
ルを拡張するためのパーマロイ膜パターンと、こ
のパーマロイ膜パターンによつて拡張された上記
磁気バブルを分割するためのヘアピン状コンダク
ターパターンとで構成されていることを特徴とす
る磁気バブル素子。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP56069444A JPS57186287A (en) | 1981-05-11 | 1981-05-11 | Magnetic bubble element |
US06/375,344 US4528645A (en) | 1981-05-11 | 1982-05-05 | Magnetic bubble memory device |
GB08213084A GB2102224B (en) | 1981-05-11 | 1982-05-06 | Magnetic bubble memory device |
DE19823217533 DE3217533A1 (de) | 1981-05-11 | 1982-05-10 | Magnetblasenspeicher-bauelement |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP56069444A JPS57186287A (en) | 1981-05-11 | 1981-05-11 | Magnetic bubble element |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS57186287A JPS57186287A (en) | 1982-11-16 |
JPH0313673B2 true JPH0313673B2 (ja) | 1991-02-25 |
Family
ID=13402810
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP56069444A Granted JPS57186287A (en) | 1981-05-11 | 1981-05-11 | Magnetic bubble element |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4528645A (ja) |
JP (1) | JPS57186287A (ja) |
DE (1) | DE3217533A1 (ja) |
GB (1) | GB2102224B (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9285144B2 (en) | 2013-11-27 | 2016-03-15 | King Fahd University Of Petroleum And Minerals | Economizer for an intermittent absorption refrigeration system |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58108085A (ja) * | 1981-12-18 | 1983-06-28 | Hitachi Ltd | 磁気バブル素子 |
JPS58220290A (ja) * | 1982-06-16 | 1983-12-21 | Hitachi Ltd | 磁気バブル素子 |
JPS58224493A (ja) * | 1982-06-23 | 1983-12-26 | Fujitsu Ltd | 磁気バルブメモリデバイス |
JPS59162683A (ja) * | 1983-03-04 | 1984-09-13 | Fujitsu Ltd | 磁気バブルメモリデバイス |
US4769783A (en) * | 1984-12-03 | 1988-09-06 | Hitachi, Ltd. | Magnetic bubble memory device |
US4744052A (en) * | 1985-07-03 | 1988-05-10 | Hitachi, Ltd. | Hybrid magnetic bubble memory device |
CN110017430A (zh) * | 2019-04-12 | 2019-07-16 | 中国石油化工股份有限公司 | 一种基于弱磁的海底管道双通道定点损伤监控系统 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5740791A (en) * | 1980-08-25 | 1982-03-06 | Fujitsu Ltd | High-density bubble memory element |
JPS5778693A (en) * | 1980-10-29 | 1982-05-17 | Nec Corp | Magnetic bubble memory element |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3828329A (en) * | 1972-07-24 | 1974-08-06 | Bell Telephone Labor Inc | Single wall domain propagation arrangement |
US4040019A (en) * | 1974-08-23 | 1977-08-02 | Texas Instruments Incorporated | Ion implanted magnetic bubble memory device having major and minor rows |
GB1527005A (en) * | 1975-12-31 | 1978-10-04 | Ibm | Method and apparatus for magnetic bubble storage |
US4360904A (en) * | 1980-10-27 | 1982-11-23 | Rockwell International Corporation | Segmented stretcher detector for magnetic bubble domain devices |
-
1981
- 1981-05-11 JP JP56069444A patent/JPS57186287A/ja active Granted
-
1982
- 1982-05-05 US US06/375,344 patent/US4528645A/en not_active Expired - Lifetime
- 1982-05-06 GB GB08213084A patent/GB2102224B/en not_active Expired
- 1982-05-10 DE DE19823217533 patent/DE3217533A1/de active Granted
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5740791A (en) * | 1980-08-25 | 1982-03-06 | Fujitsu Ltd | High-density bubble memory element |
JPS5778693A (en) * | 1980-10-29 | 1982-05-17 | Nec Corp | Magnetic bubble memory element |
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US9285144B2 (en) | 2013-11-27 | 2016-03-15 | King Fahd University Of Petroleum And Minerals | Economizer for an intermittent absorption refrigeration system |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB2102224B (en) | 1985-05-15 |
JPS57186287A (en) | 1982-11-16 |
US4528645A (en) | 1985-07-09 |
DE3217533C2 (ja) | 1987-08-13 |
GB2102224A (en) | 1983-01-26 |
DE3217533A1 (de) | 1982-12-09 |
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