JPH03136369A - 密着イメージセンサ - Google Patents

密着イメージセンサ

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JPH03136369A
JPH03136369A JP1273785A JP27378589A JPH03136369A JP H03136369 A JPH03136369 A JP H03136369A JP 1273785 A JP1273785 A JP 1273785A JP 27378589 A JP27378589 A JP 27378589A JP H03136369 A JPH03136369 A JP H03136369A
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JP
Japan
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light
layer
shielding layer
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image sensor
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JP1273785A
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Yuichi Masaki
裕一 正木
Takushi Nakazono
中園 卓志
Hiroyoshi Nakamura
中村 弘喜
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Toshiba Corp
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Toshiba Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は、ファクシミリ装置等の読取装置の読取部に使
用される密着イメージセンサに関する。
(従来の技″術) ファクシミリ装置の普及に伴い、原稿の読取部に使用さ
れる種々の密着イメージセンサが研究・開発され、使用
されるようになってきた。
一般に、密着イメージセンサは、原稿に照射された光の
原稿面での反射光を、集束性ロッドレンズアレイにて光
電変換素子部に集光さるものである。
ところで、近年では密着イメージセンサの小型化、低コ
スト化のため、集束性ロッドレンズアレイ等の光学系を
取除いた、いわゆる完全密着イメージセンサが主流“と
なりつつある。
即ち、この密着イメージセンサは、集束性ロッドレンズ
アレイ等の光学系を取除いて、光電変換素子部に原稿を
近接させ、原稿面での反射光を直接光電変換素子部に入
光させるものである。
次に、この密着イメージセンサの構成について説明する
透明基板上に光源からの光が通過できる第1の窓部を有
する′!B1の遮光層が設置され、この第1の遮光層上
に第1の透明絶縁層が設置されている。
そして、この透明絶縁層上で第1の窓部に隣接する複数
個の光電変換素子が原稿の走行方向(以下、副走査方向
と称する。)に対して直角な方向(以下、主走査方向と
称する。)に−列に配設され、この光電変換素子は第2
の透明絶縁層にて被覆されている。更に、第1の窓部を
通過する光を原稿面に照射可能に第2の窓部を有する第
2の遮光層が設置され、この上に原稿の摺動から光電変
換素子を保護するために保護ガラスが設置されて密着イ
メージセンサは構成されている。
次に、このような密着イメージセンサの動作について説
明する。
このような構成の密着イメージセンサでは、透明基板裏
面から照射される光が第1の窓部、第2の窓部を順次通
過し原稿に照射される。そして、この照射された光は原
稿面にて反射され、第2の窓部を通過して光電変換素子
に入光される。すると、入光された光量に対応した電流
あるいは電圧が出力され、原稿面の情報を読取ることが
できる。
そして、このような動作を副走査方向に繰り返すことに
より、原稿面の2次元の情報が密着イメージセンサによ
り検出できる。
(発明が解決しようとする課′;A) しかし、例えば上述したような構成の密着イメージセン
サでは、光源から照射される光の全てが良好にzlの窓
部、第2の窓部を順次通過するのではなく、例えば第2
の窓部を通過することなく第2の遮光層の光電変換素子
側にて反射される光も存在する。
そして、このような第2の遮光層にて反射される不所望
な光の一部は光電変換素子に照射されることもあり、実
際原稿面で反射される反射光よりも大きな光量が光電変
換素子に入光することになる。
このように不所望な光が光電変換素子に入光することは
、密着イメージセンサの解像度の低下を招き、正確な原
稿面の情報の読取りにとっては大きな弊害となる。
本発明の目的は、上記課題に鑑みなされたもので、光電
変換素子に入光する不所望な光を十分に除去することに
より、高い解像度にて正確な原稿面の情報の読取りを可
能とする密着イメージセンサを提供することを目的とし
たものである。
[発明の構成] (課題を解決するための手段) 本発明の密着イメージセンサは、情報を読取るべき原稿
に光を照射し、その反射光を基板上に配列される光電変
換素子にて電気信号に変換する密着イメージセンサであ
って、反射光が光電変換素子に照射されるような窓部を
有する遮光層を光電変換素子上に備え、遮光層は光電変
換素子側か光電変換素子反対側に比べて窒素含有率の高
い窒化アルミニウムにて構成されていることを特徴とす
るものである。
(作 用) 本発明者等は、窒化アルミニウムの性質について種々検
討した結果、次のような性質を見い出した。
即ち、窒化アルミニウム(AIN  >は窒素の含有m
xを変化させることにより、種々の性質に変化するもの
であり、窒素の含有Qxが0≦xく0.2の範囲では高
い導電性と高い反射率を有し、0.2≦X≦0.6の範
囲では高い熱伝導性、熱吸収性と1〜2%程度の低い反
射率を有し、また更に0.8<x≦1とすることにより
、透明で高硬度。
高抵抗な性質を有するということである。
そして、本発明者等は、特にこのような窒化アルミニウ
ムの性質を密着イメージセンサの遮光層として旨く利用
した。
このようにして成された密着イメージセンサの特に遮光
層の構成は、光電変換素子側の遮光層の窒素含有量を、
光電変換素子反対側に比べて高くするというものである
光電変換素子側に設置される遮光層の窒素含有量は高い
ため、光反射率の低い膜となる。このため、光電変換素
子側に反射される不所望な光を防ぎ、原稿濃度に忠実な
反射光が光電変換素子に照射されるため、従来に比べて
高い解像度を確保することができる。
また、光電変換素子反対側に設置される遮光層の窒素含
有量は低いため、導電性の高い膜となる。
これにより、光電変換素子を電気的にシールドすること
により、密着イメージセンサ上を原稿が走行することに
より帯電しても、光電変換素子が静電破壊されることを
充分に防ぐことができる。
(実 施 例) 以下、本発明の一実施例の密着イメージセンサとして、
原稿と密着センサとの間に光学系を設置することなく、
密着イメージセンサ上に原稿を走行させて使用する密着
センサについて図面を参照して説明する。
第1図は本実施例の密着イメージセンサ(1)の概略断
面図を示すもので、この密着イメージセンサ(1)は次
のような構成となっている。
ガラスから成る透明絶縁性基板(11)上に、各光電変
換素子(41)に1対1で対応する第1の透光用窓部(
23)を有してクロム(Cr)により形成される第1の
遮光層(21)が設置され、この上に酸化シリコン(S
 i02 )から成る第1の透明絶縁層(31)が設置
されている。
そして、第1の透光用窓部(23)に隣接する第1の透
明絶縁層(31)上に、アモルファスシリコン(a−3
t)を一対の電極で積層挟持して成るサンドイッチ構造
の光電変換素子(41)が主走査方向に凌数配列され、
この光電変換素子(41)を含む全面にわたって酸化シ
リコン(S i02 )から成る第2の透明絶縁層(5
1)が設置されている。
また、第1の遮光層(21)の第1の透光用窓部(23
)に1対1で対応し、第1の透光用窓部(23)よりも
光電変換素子(41)側に若干大きな第2の透光用窓部
(63)を有する2層構造の第2の遮光層(61)が第
2の透明絶縁層(51)上に接着剤層(55)を介して
設置されている。この第2の遮光層(61)は窒化アル
ミニウム(AIN  )によって構成されるもので、光
電変換素子(41)に近い側には窒素の含有mxが0.
6の窒化アルミニウムが遮光部層(Blb)として設置
され、光電変換素子(41)の反対面には窒素の含有W
kxが0の窒化アルミニウムが導電部層([1la)と
して設置されている。この導電部層(61a)は光電変
換素子(41)を電気的にシールドするために第1の遮
光層(21)と接続されている。
この第2の遮光層(61)の遮光部層(Blb)は、窒
化アルミニウムの窒素の含有量が0.6であるため、黒
色で1〜2%と非常に低い反射率と、高い熱伝導性、熱
吸収性を有し、導電部層(81a)は95%と高い光反
射率と高い導電性を有するものとなった。
更に、第2の遮光層(61)上には保護ガラス(71)
が設置されて密着イメージセンサ(,1)は構成されて
いる。
上記した構成の密着イメージセンサ(1)は次のように
動作する。
原稿(91・)が保護ガラス(71)上を副走査方向に
走行してくると、透明絶縁性基板(1t)裏面に設置さ
れる発光素子(図示せず)からの光(Ll)は、第1の
透光用窓部(23)および第2の透光用窓部(63)を
通過して原稿(91)面に照射される。そして、原稿(
91)面で反射された光(Ll)は再び第2の透光用窓
部(63)を通過して光電変換素子(41)に入射され
、原稿(91)面に形成される情報が電気信号に変化さ
れる。
例えば、第1の透光用窓部(23)および第2の透光用
窓部(B3)を通過し、読取るべき原稿(91)面以外
の領域に照射される不所望な光(L2)は、原稿(91
)面にて反射光されても第2の遮光層(61)の上層(
61a)で反射されて光電変換素子(41)へ入射され
ることが阻止される。
また、例えば第1の透光用窓部(23)を通過するが第
2の透光用窓部(63)を通過できない不所望な光(L
3)では、第2の遮光層(61)の下層(Olb)によ
り光電変換素子(41)側に反射されることがない。
次に、上述した密着イメージセンサ(1)の、特に第2
の遮光層(61)の製造について説明する。
この密着イメージセンサ(1)は、光電変換素子(41
)が形成された透明絶縁性基板(11)と第2の遮光層
(61)が形成された保護ガラス(71)が透明なエポ
キシ系の接着剤層(55)によって接着設置されて構成
されるものである。
従って、第2の遮光層(6I)の製造に当っては、保護
ガラス(71)上に、金属アルミニウム(A1)をター
ゲットとし、スパッタリングガスとしてアルゴン(A「
)ガスを、反応ガスとして窒素(N2)ガスを用いてス
パッタリングを行った。
まず、窒素(N2)ガスを導入しない状態でスパッタリ
ングを行ない第2の遮光層(61)の導電部層(81a
)を形成した後に、窒素(N2)ガスを導入してスパッ
タリングすることにより窒素の含有faxが0.6であ
る窒化アルミニウムを遮光部層(Blb)として形成し
た。
そして、各光電変換素子(41)に対応する第2の透光
用窓部(B3)をエツチングして形成することにより、
第2の遮光層(61)が容易に形成された。
ここでは導電部層(81a)及び遮光部層(Blb)を
個々に形成したが、例えば、スパッタリングの時間と共
に窒素(N2)ガスの流量を0から0.6へと除々に増
加させることにより、導電部層(61a)と遮光部層(
61b)が連続して成る第2の遮光層(61)としても
良い。
以上詳述したように、本実施例の密着イメージセンサ(
1)では、光電変換素子(41)側では反射率が低い窒
化アルミニウム(AIN  )が第2の遮光層(61)
として設置されているため、不所望な光が第2の遮光層
(61)にて反射し、光電変換索子(41)に入射され
ることがなく、高い解像度で正確な情報の読取りを行う
ことができた。
また、この第2の遮光層(61)の保護ガラス(71)
側には、第1の遮光層(21)と接続される導電性が高
い導電部層(61a)が形成されているため、原稿と保
護ガラス(71)の接触により保護ガラス(71)が帯
電しても、光電変換素子(41)は電気的にシールドさ
れているため、絶縁破壊されるといったこともない。
更に、この窒化アルミニウム(AIN)によって形成さ
れる第2の遮光層(61)の遮光部層(Blb)は熱吸
収性、熱伝導性に非常に優れているため、上述したよう
な透明絶縁性基板(11)裏面から光を照射する密着イ
メージセンサ(1)であっても、第2の遮光層(61)
が熱により劣化することがない。このため、密着イメー
ジセンサ(1)の解像度が使用時間等により変化するこ
ともなく、特に上述した密着イメージセンサ(1)には
最適である。
本実施例では、アモルファスシリコン(a −5i)を
一対の電極で積層挟持して成るサンドイッチ構造の光電
変換素子(41)を用いたが、この他にもカドニウム・
サルファイド (Cd S)等のII−Vl族化合物半導体、カッパ・
インジウム・ダイセレナイド(Cu I n S e 
2 )等のカルコパイライト型半導体等を用いたもので
あっても良い。
第2図は本発明の他の実施例の密着イメージセンサ(1
01)の概略断面図を示すもので、第1の実施例の密着
イメージセンサ(1)と同一箇所は同一符号を付して説
明を省略する。
本実施例の密着イメージセンサ(101)は、透明絶縁
性基板(11)上に2つの光源(図示せず)からの光を
透光させる2つの第1の透光用窓部(25)。
(27)が原稿の走行方向に形成されて成る第1の遮光
層(21)が設置されている。そして、この第1の透光
用窓部(25) 、 (27)間の°第1の遮光層(2
1)上に原稿の走行方向に対して垂直な方向に複数の光
電変換素子(41)が配設され、この光電変換素子(4
1)を被覆するように第2の透明絶縁層(51)が設置
されている。更に、光電変換素子(41)よりも大きい
第2の透光用窓部(25)が光電変換素子(41)上に
相当する領域に形成されるように第2の遮光層(61)
が接着剤層(55)を介して設置されている。
この第2の遮光層(61)は、光電変換素子(41)側
から保護部層(61c)、遮光部層(81b)、導電部
層(81a)の3層構造となっている。保護部層(OL
c)は窒素の含有量xが1である窒化アルミニウムによ
って構成され、遮光部層(61b)は窒素の含有量Xが
0.6である窒化アルミニウムによって構成されている
。更に、導電部層<81a)は窒素の含有量Xが0で構
成されている。
このような構成の密着イメージセンサ(101)であっ
ても、上述した密着イメージセンサ(1)と同様に、第
2の遮光層(61)の遮光部層(61b)は窒素の含有
ff1xが0.6で構成されているため、反射率が1〜
2%と非常に低くなる。従って、光源から直接箱2の遮
光層(61)に照射される光があっても、第2の遮光層
(61)の導電部層(61b)が低反射率に形成されて
いるため、反射されて光電変換素子(41)に照射され
ることがない。このように不所望な光が光電変換素子(
41)に照射されることがないため、高い解像度を得る
ことができる。また、この第2の遮光層(61)の最も
光電変換素子(41)側に形成される保護部層((il
c)の窒化アルミニウム(AIN  )は透明で高い絶
縁性と高い硬度を有するため、前述の密着イメージセン
サ(1)に比べて高い耐久性とすることができる。
そして、第2の遮光層(81)の光電変換素子(41)
反対側に形成される導電部層<eta)は、窒素含有f
f1xが0で高い導電性を有しており、第1の遮光層(
21)に電気的に接続されているため、原稿の走行にと
もない保護ガラスが帯電しても光電変換素子(41)は
電気的にシールドされているため静電破壊されるといっ
たこともない。
このように第2の遮光層(61)を窒素濃度の異なる3
層構造の窒化アルミニウム(AIN  )によって構成
することにより、高い解像度が得られることは勿論のこ
と、高い耐久性をも確保することができた。
二こでは第2の遮光層(61)を3層構造としたが、第
2の遮光層(81)製造時に窒素ガス濃度を0から徐々
に増加させることにより、連続した第2の遮光層(61
)を形成するものであっても良い。
また、本実施例の密着イメージセンサ(101)では、
光電変換素子(41)の両側から光(Lll)と光(L
12)が照射されるため、むらなく正確に原稿面の情報
を読取ることができる。
次に、本発明の他の実施例の密着イメージセンサ(20
1)について、第3図を参照して説明する。
第3図は、この密着イメージセンサ(201)の概略断
面図を示すもので、第1の実施例の密着イメージセンサ
(1)と同一箇所は同一符号を付して説明を省略する。
本実施例の密着イメージセンサ(201)は、透明絶縁
性基板(11)上に光源(図示せず)からの光を透光さ
せる第1の透光用窓部(25)が原稿の走行方向に形成
されて成る第1の遮光層(21)が設置されている。そ
して、この第1の透光用窓部(25)に隣接する第1の
遮光層(21)上に原稿の走行方向に対して垂直な方向
に複数の光電変換素子(41)が配設され、この光電変
換素子(41)を被覆するように第2の透明絶縁層(5
りが設置されている。更に、光電変換素子(41)より
も大膚い第2の透光用窓部(25)が光電変i素子(4
1)上部近傍に相当する領域に形成されるよう第2の遮
光層(61)が設置されている。
この第2の遮光層(61)は、光電変換素子(41)側
から遮光部層(131b)、導電部層(81a)の2層
構造となっている。この遮光部層(61b)は、窒素の
含有量Xが′0.2〜0.6である窒化アルミニウムに
よって構成されており、1〜2%の低い反射率となって
いる。導電部層(61a)は窒素の含有i1xが0,2
よりも小さく構成されでおり、高い導電率を有している
そして、更に保護部層(61c)窒素の含有量Xが1で
構成されてる窒化アルミニウムが、この遮光部層(et
b)上に保護部Jii(81c)として設置されている
この密着イメージセンサ(201)は、前述した密着イ
メージセンサ(1)、(101)とは異なり、透明絶縁
性基板(11)上に第1の遮光層(21)、第1の透明
絶縁層(31)、光電変換素子(41)、そして第2の
透明絶縁層(51)を順次設置した後、第2の透明絶縁
層(51)上に、金属アルミニウム(AI)をターゲッ
トとし、スパッタリングガスとしてアルゴン(Ar)ガ
スを、反応ガスとして窒素(N2)ガスを用いてスパッ
タリングを行った。そして、徐々に窒素ガス濃度を減少
させることにより、遮光部層(atb) 、導電部層(
61a)の2層構造を有する第2の遮光WII(61)
を形成した。
そして、フォトリソグラフィ技術を用い、第2の遮光層
(61)に第2の透光用窓部(25)を形成した後に、
第2の遮光層(61)上に窒化アルミニウム(AIN 
 )をスパッタリングにより設置して密着イメージセン
サ(201)とした。
このような構成の密着イメージセンサ(201)であっ
ても、上述した密着イメージセンサ(1)と同様に、第
2の゛遮光層(81)の遮光部層<61b)は反射率が
1〜2%と非常に低いため、光源から直接第2の遮光層
(61)に照射される光があっても、第2の遮光層(6
I)の遮光部層(6tlb)が設置されているため光電
変換素子(41)に照射されることがない。
このため、本実施例の密着イメージセンサ(201)で
は、高い解像度を得ることができる。
また、この第2の遮光層(61)の導電部層(61a)
では、高い導電性が確保されているため、原稿の走行に
ともない密着イメージセンサ(201)が帯電し静電破
壊されるといったこともない。
そして、本実施例の密着イメージセンサ(201)では
、前述した密着イメージセンサ(Lot)が原稿の摺動
に対する保護の目的で保護ガラス(71)が設置されて
いるのに対し、第2の遮光層(61)上に窒素の含1m
Xが1で構成される窒化アルミニウム(AIN  )が
保護ガラス(71)の代りに保護部層(81c)として
設置されている。
このような構成とすることにより、従来に比べて密着イ
メージセンサ(201)の光電変換素子(41)から原
稿(91)までの距離を小さくすることができ、精度の
高い原稿の読み取りが可能となると共に、コストの低廉
化も可能となる。
〔発明の効果] 上述したように、本発明の密着イメージセンサでは窒化
アルミニウム(AIN  )を遮光層として使用するこ
とにより、原稿の読取り領域以外の原稿面での反射光が
光電変換素子に入射されること、あるいは光源からの光
が直接遮光層で反射され光電変換素子に入射されるとい
った種々の不所望な光を遮光層にて防ぐと共に、遮光層
の原稿読取り側の導電率が高いため、原稿の走行により
密着イメージセンサが帯電しても、光電変換素子部分が
静電破壊されることを防ぐことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例に係る密着イメージセンサの
概略断面図、第2図は本発明の他の実施例に係る密着イ
メージセンサの概略断面図、第3図は本発明の他の実施
例に係る密着イメージセンサの概略断面図を示すもので
ある。 (1)、(101) 、(201)・・・密着イメージ
センサ(11)・・・透明絶縁性基板 (21)・・・第1の遮光層 (23)・・・第1の透光用窓部 (31)・・・第1の透明絶縁層 (41)・・・光電変換素子 (51)・・・第2の透明絶縁層 (61)・・・第2の遮光層 (63)・・・第2の透光用窓部 (71)・・・保護ガラス

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  情報を読取るべき原稿に光を照射し、その反射光を基
    板上に設置される光電変換素子にて電気信号に変換する
    密着イメージセンサにおいて、前記反射光が前記光電変
    換素子に照射されるような窓部を有する遮光層を前記光
    電変換素子上に備え、前記遮光層は前記光電変換素子側
    が前記光電変換素子反対側に比べて窒素含有率の高い窒
    化アルミニウムにて構成されていることを特徴とする密
    着イメージセンサ。
JP1273785A 1989-10-23 1989-10-23 密着イメージセンサ Pending JPH03136369A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016166392A (ja) * 2015-03-10 2016-09-15 株式会社神戸製鋼所 光吸収導電膜および光吸収導電膜形成用スパッタリングターゲット

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JP2016166392A (ja) * 2015-03-10 2016-09-15 株式会社神戸製鋼所 光吸収導電膜および光吸収導電膜形成用スパッタリングターゲット

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