JPS6037161A - 光電変換素子 - Google Patents

光電変換素子

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Publication number
JPS6037161A
JPS6037161A JP58144426A JP14442683A JPS6037161A JP S6037161 A JPS6037161 A JP S6037161A JP 58144426 A JP58144426 A JP 58144426A JP 14442683 A JP14442683 A JP 14442683A JP S6037161 A JPS6037161 A JP S6037161A
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JP
Japan
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light
photoelectric conversion
electrodes
layer
conductive layer
Prior art date
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Pending
Application number
JP58144426A
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English (en)
Inventor
Kohei Suzuki
公平 鈴木
Tamio Saito
斉藤 民雄
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
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Publication of JPS6037161A publication Critical patent/JPS6037161A/ja
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/02Details
    • H01L31/0216Coatings
    • H01L31/02161Coatings for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier
    • H01L31/02162Coatings for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier for filtering or shielding light, e.g. multicolour filters for photodetectors
    • H01L31/02164Coatings for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier for filtering or shielding light, e.g. multicolour filters for photodetectors for shielding light, e.g. light blocking layers, cold shields for infrared detectors

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の技術分野] 本発明は光電変換素子に関する。
[発明の技術的背景とその問題点] 光電変換素子は光量を電荷邦、導電率の変化等の電気的
i) c変換する素子であり、ファクシミリ。
複写機等の画像読取装置Cニルいられる。
この光電変換素子の構造としては例えば第1図≦ユ示す
様なものがある。第1邸1(a)は光電変換素子を示す
部分平面図、第1図(b)は同図(a)中A −A’で
切断した時の断面図である。
との光電変換素子は基板(1)上に分割された複数の電
極(2)が直線状C二配列され、とのτ[L極(2)を
恍うように光電変換層(8)が設けられ、さら≦二元電
変換If4(81上C二迭光性電極(4)が設けられた
構造をとる。
また一般C二透光性電極(4)の電気伝導度は低いので
、この導゛電性を良好とするため補助電極(6)が設け
られている。
この様な構成をとる光電変換素子においては、光を検知
する部分は電極(2)、光電変換層(8)及び透光性電
極(4)の3Mが重なりあった部分であり、この3層が
重なりあった部分のみが光を検知する部分となるように
設計される。しかしながら透光性電極(4)を電極(2
)のみと瀘なりあう様5二位置決めするのは容易ではな
く、通常マスクスパッタ法を用いて行なわれるが、この
マスクスパッタ法では200μm程度の狛腿誤走が生じ
、極めて高’AM度の製造技術をシする。このため、本
来光を検知する部分として期待されていない電極(2)
の信号引出部分(2a)と透光性市、 @(4)との重
なりあう部分が生じ、この部分も光を検知すること(二
なり、ノイズが生じてしまうという問題点があった。
また近年高精細な1iIII像読取が要求されており、
これに伴ない第1図中の電極(a)を細分割し、密度を
大きくすることが望まれている。
しかしながら第1図f二示す様なイ1b告では、′電極
(2)の信号引出部分(2a)が片・1Qll I−の
み集中し、信号引出部分(2a)の密度が高くなり実装
の面から電極(2)の!7度にFi限界があった。すな
わち光電変−ド線を導出するが、隣接する<t4号引出
部分(2a)とのショート等の問題があり、この1′;
i+j引出部分(2a)の密度は8本/rIR程度がl
il+界であり、このため電極(2)の密度も8個/ 
IIJ 8度が限界であるのでこれ以上の高鞘細化は非
電l′−は1雛なものであつfr−O 1fc高精卸1化が進むC二つれ、配紳が高密度となり
、配線相互間の静電容9が増加17、容量結合度が大き
くなる。従って、例えば光量を蓄積モードで読み出す場
合等では丙接するイ11号引出部分間の電荷のリークが
増大してしtf′)という問題点があるO [発明の目的] 本発明は以上の点を考旙凡てなされたもので、ノイズが
少なく、面精細化可能な光電変換素子を提供することを
目的とする。
[発明の概要コ 本発明し1、絶縁性基板と、前記絶縁性基板上に形成さ
れた光電変換部とを具備し、 前記光@変換部は、複数の電極と、前記電極から信号を
導出するため前記電極の配列方向に対し左右l二振り分
けて設けられた4M号引出部分と、少なくとも前記電極
上C二股けられた光電変換層と、少なくとも前記光電変
換層上【二設けられた透光性電極と、 少なくとも前記透光性電極及び前記光電変換層を覆うよ
うに形成された透光性絶縁層と、前記光電変換層と信号
引出1tjs分とが接触する部分を二照射される光を遜
蔽するようS二前記透光性絶線層上I:設けられた遮光
性導電層とを備え、前記透光性絶縁層は、前記μへ光性
導電層と透光性電極とを電気的C二接続する1cめの孔
を有することを%徴とじた光電変換素子である。
絶縁性基板としては、セラミック、ガラス等が用いられ
る。またセラミックを用いた場合、多孔性であるので表
面f;グレーズ層を設は表面を平坦化したものを用いて
も良い。
次に、光電変換部について設、明する。
電極、信号1、引出(tt4分としては、一般に用いら
れているAJ、+ Cr+ T r + V+ I n
等各紳4ijj4を蒸着法、スパッタリング法等で設け
たものが用いられる。この電極は光電変換層で変換され
fr、 ′1′(:+、気的量を検出するため(二設け
られたものであり、仏号引出部分はこの電極からの信号
を例えば基イナ4端部まで導出するために設けられたも
のである。一般C二両者一体5二形成されている。
光電変換層としては、光量を電荷@ 、導電率の変化等
の電気的祉に変換するものとして一般(二知られている
アモルファス5i(a−8i)、アモルファス8iC,
ポリSi等無機感光材料およびメロシアニン、フタロシ
アニン、ビリリウム、スクアリウム等有機色素を用いた
ものや、ポルフィリン、ルテニウムトリスビピリジン錯
体、酸化チタンとメチルビオロゲン等を用いた有機光導
電材料等を使用することができる。透光性電極としては
一般に知られているネサ膜、 ITO膜、金薄膜等の導
電性を有し光が透過するものを使用することができる。
透光性絶縁層としては、8702.A1208 + S
’ C+ 8’ 8N4等の各種無機質薄膜又は紫外線
硬化樹脂等の有機物を用いることができる。有機物を用
いる場合、Na+等の可動イオン発生源となる不純物の
含有量が少ないものを用いることが好ましい。この透光
性絶縁層は、透光性電極と遮光性導電層との電気的接続
を行なうための孔を有する。例えば上記無機物を用いた
場合はCVD法、蒸着、スパッタリングキfの通常の方
法で+S形成を行ない、エツチング、リフトオフ等の方
法で所望の形状C:形成することができる。しかしなが
ら酸又はアルカリ液を用いたエツチングに比べ、有機溶
剤等を用いるリフトオフ法の方が光電変換層、透光性電
極を劣化さ1七る恐れが少ないため好ましい。
壕だ有機物、例えば感光性樹脂の場合は、ロールコート
、スピンコード等で朽形成後%所卵の部分のみを硬化し
た後に、溶剤で除去することが可遮光性導電層は、透光
性電極の導1[11性を補ないつつ信号引出部分と光電
変換ルラとが接触している部分への光の照射を遮蔽する
ため5二設けられるものである。この遮光性導管、層は
、kJ、 A、u、 Mo、 Mn 。
Ni、 Cr、 ’Cu、 Ti、 V、 W、 Ag
、 Pd、 Pt、 In、 Pb等各種金属を用いる
ことができる。蒸着法、スパッタリング法等の通常の方
法で膜形成を行なってエツチング、リフトオフ等の方法
ζ二より所望の形状C膜形成する。
エツチング液はこの遮51L性導電層を選択的に除去す
るものを用いるが、前述と同様にリフトオフ法の方が好
ましい。
本発明の構成をとる光電変換素子では、本来光を検知す
ることを目的としていない部分、すなわち信号引出部分
と光電変換層と透光性電極とが重なり合った部分C二照
射される光を遮蔽することができるので、この部分から
生ずるノイズを減少することかできる。またこの遮蔽の
ために用いる遮光性導電層により透光性電極の゛傅電率
を補なうことができるので、従来用いられていた補助電
極を新たに設ける必要がない。
さらf二このようC;遮光性導電層を設けることによす
、信号引出部分は電極の配列方向に対し一方向のみでは
なく、左右f;振りわけて設けることができるので、信
号引出部分の密度をあけることができる。例えば、電極
を直線状C二配列し、各々の電極の信号引出部分を交互
C二左右C二ふりわけて設けることf二より、信号引出
部分の密度は従来と同数の電極ζニした場合で1/2と
なり、電極なさらに細分割できるととl二なる。従って
光電変換素子の高精細化が可能となる。
また透光性絶縁N を二より、遮光性導電層と、光電変
換層及び透光性電極は大部分が絶縁される。
従って光検知部分以外の部分からの暗電流慕二よって生
ずるノイズは極めて小さくなる。信号引出部分の形状に
もよるが、透光性絶縁層がない場合Sニルべ、暗電流は
1/10以下C二小さくすることが可能となる。また信
号引出部分と遮光性導電層との重なりあった部分C二介
在する透光性絶縁膜により得られる静電容量は、隣接す
る信号引出部分間シ:生じる配線間静電容量に比較して
例えば30倍以上大きいため、容量カップリングによる
隣接する信号引出部分間のリークが極めて低減される。
さら(=、光電変換層及び透光性′r4L極は透光性絶
縁層f二より保護されているため、外部からの酸。
アルカリ、不純物イオン等の侵入を阻止することができ
、素子の劣化、暗電流の増加等を防ぐことができる。
また光電変換素子を蓄積モードで使用する場合、電極と
透光性電極間C二信号を電荷として蓄えるため、を極−
透光性電極間の容i+1が小さいと、蓄積時間が長い場
合や、入射光景が大きい場合等は電荷が飽和し易い。し
かしながら本発明−二おける透光性絶縁層を設けること
C二より、仁の透光性絶縁層が信号引出部分と遮光性導
電層とC二よりはさまれた部分が容量として加算される
ため、新たC二容世を付加することなく必要gニルじ所
望の容量な作り出すことができる。
以上のような構成の光電変換部を基板上に形成する。仁
の時、例えば基板とは反対側から光を入射する場合は、
電極(信号引出部分を含めて)。
光電変換層、透光性電極、透光性絶帽1遮光性導電層を
順次基板上に形成すれば良い。また基板側から光を入射
する場合は、基板として所望の波長帯域の光を透過する
透明な基板を用い、遮光性導電層、透光性絶縁層、透光
性電極、光電変換1=。
電極の順5二基板上に形成すれば良い。
[発明の効果] 以上説明したように本発明C二よれば、ノイズが低減さ
れ、高梢細化可能な光電変換素子を得ることができ、密
着型イメージセンサとして好適である。また、銹光性絶
縁膜により、隣接する信号読出部分間の容量結合を小さ
くすることができるため、信号の小さい蓄積モードで使
用する密着型イメージセンサとして好適である。
[発明の実施例] 本発明の実施例を以下説明する。
第2図は本発明光電変換素子の実施例を示す図であり、
同図(a)は平面図、同図(b)は同図(a)中A −
A′にて切断したときの断面図である0セラミツク基栃
上(;グレーズ層を用いたもの又はガラスを基板(1)
と1て用いこの基板(1)上じCrを蒸着し、直線状C
二配列された製ノ数の電極(2)及びこの直線C二対し
交互に左右に振りわけられた信号引出部分(2a)を形
成する。この信号引出部分(2a)のうち透光性電極(
4)と対向しない部分(2a’)は他の部分Cニルべ幅
広C膜形成する。続いて、少なくともこの電極(2)を
恨うごとく(ニフ”ラズマCVD法C;工りa −S 
+からなる光電変換層(8)を設け、さらC二この光電
変換層(81上にITO族をスノくツタ≠リング法又は
スプレー法にて設け、エツチング法、リフトオフ法等i
二より所望の形状の透光性電極(4)とする。又、 a
’INhsr i 5 JJ −8酌=l *xクスl
)−夕5@ t 肩□、L/ !L 、+ e次いでS
 i02. Aj20B等をスパッタリング法、蒸着法
等により、光電変換層(S+、a光性電極(剣及び信号
引出部分(2a)(2a’)を覆うようじ形成し、透光
性N!X緑層(6)とする0この透光性絶縁層(6)形
成の際、リフトオフ法により電極(2)の配列方向の幅
より多少大きい間隔をおいて2本のスリットを形成し、
透光性電極(4)と遮光性導電層(5)との導通用の孔
(6a)とする。この孔(6a)は透光性電極(4)が
存在する範囲で電極(2)の配列方向(二延びた形で形
成光性等電層(5′)を形成する。この時遮光性導電層
(6′)をリフトオフ法ぎ二より、電極(2)が配列さ
れた方向にこの電極(2)幅のスリット部(5’a)を
有する形状とする。リフトオフ法は、レジストパターン
を形成して行なうが、位置合わせは数μmのオーダで可
能であり、高精度の位置合わせができる。
このような構成をとる光電変換素子では、信号引出部分
(2a)と光電変換層(8)と透光性電極(4)との爪
なりあった部分l二照射される光(hν)が、遮光性導
電E4(5) l二より遮蔽されるので、この部分から
のノイズの発生を防止できる。
捷た信号引出部分(2a)を交互(二左右C二振りわけ
て設けたことC:、より、信号引出部分(2a)の密度
を従来の1/2Iニすることができるので%電極(2)
の密度を従来のものCニル較して2倍程度1で高めるこ
とができる。従来法によれは実装の面から信号引出部分
(2a)の密度は8本/屑宥程度が限界でありこれに伴
ない電極(2)も8個/l1lIが限界であった。しか
しながら本発明のようζ二信号引出部分(2a)を左右
、4二振りわけたことにより、信号引出部分(2a)の
密度を従来と同様8本/關ししても電極(2a)は、1
6個/ IIJI程度までiノ11分割可能であるので
、例えば12個/酵程度以」二の電極(2)を設けるこ
とができ、従来の8個/1lJ8度【二比べ高精細な光
電変換素子を得ることができる。
−1:た遮光性導電膜(鴎は透光性絶縁層)の導電率を
袖なうことができるので、従来用いられていた補助電極
を新たに設ける必要がない。また密着型イメージセ/す
では、ロッドアレイレンズ等C二より光を絞って光電変
換索子C:照射するが、このよう1ニスリット部(5’
a)を有する遮光性導電層間を設けた本発明の光電変換
素子を用いれば、この遮光性導電層(i) r二より不
必要な部分に照射される光を遮断することができ、非常
区:有効である。
さらに透光性絶縁層(6)を設けたこと6二より、電極
(2j、光電変換# (81、透光性電極(4)が重な
り合つlこ光検知部分以外の光電変換層(8)は、遮光
性導電層(5′)と電気的C−絶縁されているため、光
検知部分以外から生ずる暗電流C二起因するノイズを極
めて低減することができる。また、信号引出部分(2a
)と遮光性導電層(5′)とが透光性絶縁層(0)を介
して対向する部分に生ずる容量(A)は、隣接する信号
引出部分(2a)間5二生ずる容i (B)に比べて大
きいため、この信号引出部分(2a)間の容量カップリ
ングが低減され、クロストークが小さくなる。また光電
変換素子を蓄積タイプで動作させる場合、容量(A)は
電極(2)、光電変換層(8)、透光性電極(4)によ
って形成される容i (C)に並列に接続されることに
なるため、実質的に容量(C)が大きくなったのと同様
の効果を得ることができる。従って入射光猾が大きい場
合でも電荷が飽和しI:<<、検知可能な光量領域を広
げることができる。前記容量(A)は、透光性絶縁層(
0)を介して対向する信号引出部分(2a) 、遮光性
導電層(5′)の対向面積をかえることにより変化させ
ることができるため、所望の容量(A)を容易に得るこ
とができる。このように種々の効果を生み出す透光性絶
縁層(6)は、例えば、8 A02やAJ208等の無
’jP * # ii9の場合0.2μm〜3μm程度
の厚さが好ましい。この範囲以下だとピンボールが生じ
やすく、又この範囲を越えると亀裂が生じやすい。また
あまり厚すぎると容量が形成されなくなる。
例えば信号引出部分(2a)のうち幅広の部分(2a’
)の幅を50μm、透光性乾糸イ:層(6)としてのA
4408層0.8μm厚を介して遮光性′市極(g)と
対向する部分の厚さ5+uとすると、その間に形成され
る容量は30PF程度で4)る。一方電極(2)を50
μm角(16本7.、(二相当)とすると1μm厚のa
−8iを光電変換層(8)とした場合、 0.5PF’
程度である。1個当りの容量はこの和となるため、大幅
に容量を増加することができる。またイシ号引出部分(
2a)のピッチを12577m (8本/IIJIに相
当)とすると隣接する信号引出部分(2a)間の容量は
工PF未満であり、クロストークはほとんど無視できる
本実施例では、漏れ電流を少なくしかつ容量を介して遮
光性導t tai t5′+と対向する部分(図中2a
′)は幅広とした。(2a’)部分の幅は30μm以上
程度特C二50μm以上が好ましい0またその間隔も歩
留等を考慮して(2a’)と同等程度の幅が好ましい0
本発明の構成の光電変換素子では、遮光性導X層(5′
)−二より例えば−個の電極(2)に照゛射される光を
遮蔽し、この遮蔽された電極(2)から導出される出力
を暗時出力として用いれば、いつでも容易に暗時出力を
得ることができる。
捷だ2個以上でも同様の効果を得ることは明らかである
このような構成をとれば、遮光性導電層(g)で核われ
た電極<i)は常に暗時出力を出し、環境の変化ζ:よ
り暗時出力が変化した場合でも、非常に上動である。
また特に遮光性導電層(5)で電極(2)を覆わなくて
も、比較的低温で硬化するイウ1脂で不透明シリコーン
樹脂、不透明エポキシ樹脂等を滴下、印刷、塗布等の手
段により遮光膜として設けてもよい0この場合硬化温度
は、アモルファス8i等の光電変換層の特性を変えない
ように比較的低温、例えば100℃以下程度が好ましい
。捷だ紫外線硬化型樹脂を用いれば、加熱を少しないの
で特に有効である。′1次不透明粘着テープを貼着する
ととC二よっても可能でおる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の′yt、を変換素子を示す平面図及び断
面図、82図は本発明の光電変換素子を示す平面図及び
断面図0 1・・・基板 2・・・臂1.極 2a・・・イざ号引出部分 3・・・光電変換層4・・
・透光性電極 5′・・・遮光性導電層5′a・・・ス
リット部 6・・・透光性絶縁層6a・・・孔 第1図 (cL) (!:)) 第 2 図

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)絶縁性基板と、前記絶縁性基板上lユ形成された
    光電変換部とを具備し、 前記光電変換部は、複数の電極と、前記電極から信号を
    導出するため前記電極の配列方向5二対し左右に振り分
    けて設けられた信号引出部分と、少なくとも前記電極上
    (二設けられた光電変換層と、前記光電変換層上C′″
    −設けられた透光性電極と、少なくとも前記透光性電極
    及び前記光電変換層をαうようC二形成された透光性絶
    縁層と、前記光電変換〜と信号引出部分とが接触する部
    分に照射される光を毀薮するように前記透光性絶縁層上
    に設けられた遮光性導電層とを備え、前記透光性絶縁層
    は、前記連光性導電層と透光性電極とを電気的冨二接続
    するための孔を有することを特徴とした光電変換素子。
  2. (2)前記@倹が直線状に複数個配列され、前記電極の
    信号引出部分が電極の配列方向に対し左右C二交互に導
    出され、前記遮光性導電層が1fi&に光が照射される
    スリット部を有することを%童とした特許請求の範囲第
    1項記載の光電変換素子。
  3. (3)前記孔が前記スリット部の両側C二平行してスリ
    ット状5:形成されたことを!rテ徴とする特許請求の
    範囲第2功記載の光電変換素子。
JP58144426A 1983-08-09 1983-08-09 光電変換素子 Pending JPS6037161A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6421957A (en) * 1987-07-16 1989-01-25 Fuji Xerox Co Ltd Image sensor
JPS6418754U (ja) * 1987-07-22 1989-01-30

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JPS5887862A (ja) * 1981-11-20 1983-05-25 Fuji Xerox Co Ltd 長尺一次元薄膜センサ

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