JPH03135717A - 距離測定装置 - Google Patents

距離測定装置

Info

Publication number
JPH03135717A
JPH03135717A JP27410289A JP27410289A JPH03135717A JP H03135717 A JPH03135717 A JP H03135717A JP 27410289 A JP27410289 A JP 27410289A JP 27410289 A JP27410289 A JP 27410289A JP H03135717 A JPH03135717 A JP H03135717A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
objective lens
distance measuring
microscope
image
objective
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP27410289A
Other languages
English (en)
Inventor
Hideji Ueda
秀司 植田
Shozo Ueno
省三 上野
Seiichi Uchimura
内村 清一
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP27410289A priority Critical patent/JPH03135717A/ja
Publication of JPH03135717A publication Critical patent/JPH03135717A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Measurement Of Optical Distance (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、線径が数十ミクロンの線などの微小対象物の
高さバラツキなどを測定する距離測定装置に関するもの
である。
従来の技術 距離測定装置には、三角測距の原理を応用した測距セン
サーや、超音波の伝搬時間を測定して距離を測定する方
法が実用化されている。特に、サブミクロンの精度が要
求される場合には、三角測距センサーが有効である。以
下図面を参照しながら、上記の距離測定装置について説
明する。
第3図は、三角測距の原理を応用したり距離センサーの
ブロック図である。図において、31は対象物、32は
LEDまたはレーザ光源、33は集光レンズ、34は結
像レンズ、35はPSD(ポジションセンスディテクタ
ー)、36はPSDの受光部、37は電圧形である。
以上のように構成された距離センサーについて以下その
動作を説明する。32の光源から発光された光は33の
集光レンズにより数十ミクロンのビーム径に集光される
。上記のビームは31の対象物の表面に当たり反射され
る。上記反射光の一部は34の結像レンズを経て35の
PSDに入力される。35のPSDは36の受光部に入
力された光の位置に比例した電圧を発生するように作ら
れているので、3Iの対象物が実線の位置にある時、ビ
ームがAの位置に入力されているとすると、31の対象
物が破線の位置に(るとビームはBの位置に入力される
。ビームの位置がΔからBに変化することにより、35
のPSDが発生する電圧が変化するので、電圧の変化量
を検出することにより31の対象物の位置の変化量を算
出することができる。
発明が解決しようとする課題 しかしながら上記のような構成では、レーザのビーム径
が通常数十ミクロンまでしか絞ることができないため、
例えば、径が十数ミクロンしかないような線の高さバラ
ツキをサブミクロン精度で測定するような場合には、レ
ーザのビーム径の方が大きいため、線の上面との距離を
正しく測定することができないという問題点を有してい
た。
本発明は、上記問題点に鑑み、大きさが数ミクロン程度
の対象物の距離をサブミクロンの精度で測定する距離測
定装置を提供するものである。
課題を解決するための手段 上記問題点を解決するために、本発明の距離測定装置は
、対物レンズを光軸方向に移動可能とした顕微鏡光学系
と、顕微鏡の映像を捕らえる撮像装置と、撮像装置の映
像信号を処理する画像処理装置と、画像処理装置の処理
結果にしたがい上記の対物レンズを駆動する対物レンズ
アクチュエータ部と、上記の対物レンズの位置を検出す
る対物レンズ位置検出装置と、対象物を照明する明視野
照明装置とからなり、上記の画像処理装置は、撮像装置
の映像信号を2階調以上のデジタル映像信号に変換する
A/D変換部と、デジタル映像信号を蓄えるフレームメ
モリー部と、フレームメモノーのデータを処理する中央
演算部と、上記対物レンズアクチュエータおよび対物レ
ンズ位置検出装置を制御するI/O部からなる。
作   用 本発明は上記した構成によって、照明装置により照明さ
れた対象物を、顕微鏡により拡大し、顕微鏡に取り付け
られた撮像装置によって捕らえられた顕微鏡画像が、撮
像装置の映像信号を処理する画像処理装置に入力され、
A/D変換部でデジタルデータに変換された後、フレー
ムメモリーに蓄えられる。この画像をもとに、対象物に
焦点の合っている度合を中央演算部で計算し、その結果
をもとに、中央演算部からI/O部を通して対物レンズ
アクチュエータ制御部に対して、より焦点が合う方向に
対物レンズを移動させるように指令が出される。対物レ
ンズが移動した後、再び撮像装置の映像を処理すること
により、対象物の焦点の合っている度合を確認する。こ
れらの処理を繰り返すことにより、合焦点位置を検出す
る。
このようにして、対象物に焦点があった状態で、対物レ
ンズ位置検出装置により対物レンズの位置を読み取り、
基準位置と比較することによって対物レンズの相対位置
(または、基準位置から対象物までの距l1l)を決定
する。
上記の処理において、焦点の合っている度合を計算する
場所は顕微鏡視野内の任意の箇所に設定できるので、例
えば、数ミクロンの対象物のみに注目して計算すること
もできる。従って、非常に小さな物に対しても焦点を合
わせることができ、距離測定も可能となる。
実施例 以下、本発明の一実施例の距離測定装置について、図面
を参照しながら説明する。
第1図は本発明の第一の実施例における距離測定装置の
ブロック図を示すものであり、第1図において、10は
対象物である線径が十数ミクロンの線状電極、11は照
明装置、12はハーフミラ−13は対物レンズ、14は
対物レンズ支持部、15は対物レンズ移動ガイド、16
は電歪素子、17は電流電源、18はテレビカメラ、1
9は画像処理装置、20は8ビットA/D変換部、21
は8ビツトフレームメモリー 22はメモリー付きCP
U、23はI/O部、24は静電容量型ギャップセンサ
ー、25は静電容量型ギャップセンサーのコントローラ
である。
以上のように構成された距離測定装置について、以下第
1図を用いてその動作を説明する。
第1図において、10の対象物は、11の照明装置及び
12のハーフミラ−により明視野照明される。その映像
は、13の対物レンズにより数十倍に拡大され、18の
テレビカメラに写される。
18のテレビカメラの映像信号は19の画像処理装置に
入力される。19の画像処理装置では、入力された映像
信号が20の8ビットA/D変換部でデジタル画像デー
タに変換され、21のフレームメモリーに蓄えられる。
22のCPUは21に蓄えられたデジタル画像データを
画像処理することにより、対象物の焦点の合っている度
合を判断し、焦点があっていない場合は、より焦点が合
うように13の対物レンズを移動させる。そのために、
22のCPUは23のI/O部を通じて17の直流電源
に対して指令を出す。17の直流電源はその指令に従っ
て16の電歪素子に加える電圧を変化させる。16の電
歪素子は17の直流電源から加えられる電圧が変化する
ことによりその電圧変化に相当した分だけ収縮する。1
6の電歪素子の収縮により、15の対物レンズ移動ガイ
ドに取り付けられた14の対物レンズ支持部及び13の
対物レンズが移動することにより、13の対物レンズと
10の対象物との距離が変化する。これにより10の対
象物の焦点の合い具合が変化する。
この一連の処理を繰り返すことにより、13の対物レン
ズが合焦点位置にきたことを22のCPUが判断すると
、22のCPUは23のI/O部を通じて、25の静電
容量型ギャップセンサーのコントローラと24の静電容
量型ギャップセンサーから対物レンズの位置を読み取る
。上記の処理により、10の対象物に焦点があっている
ときの13の対物レンズの位置を測定することにより、
基準位置(24の静電容量型ギャップセンサーの原点位
置)から10の対象物までの距離を測定することができ
る。
第2図は、本発明の第一の実施例の応用例を示す概略図
である。第2図において、30は第1図に示した本発明
の第一の実施例の距離測定装置、31は移動テーブル、
32は基準ボード、33は規制棒、34は線状電極であ
る。
30の距離測定装置には50倍の対物レンズが使用され
ている。34の線状電極は線幅が10数ミクロンである
。32の基準ボード上に33の規制棒が固定されており
、その上に35の線状電極が張られている。34の規制
棒により34の線状電極の高さが揃えられているが、3
4の線状電極のたわみ等により高さがバラついてしまう
。そこで、30の距離測定装置により34の線状電極の
高さバラつきを測定する。31の移動テーブルを移動し
ながら、30の距離測定装置で34の線状電極の距離を
測定し、すべての線状電極の距離を測定した後、距離の
バラつきを高さバラつきとする。
この方法によれば、それぞれの線状電極の距離向に移動
可能とした顕微鏡として50倍の対物レンズと無限遠補
正金属顕微鏡を用い、顕微鏡の映像を捕らえる撮像装置
にテレビカメラを用い、テレビカメラのアナログ映像信
号を処理する画像処理装置と、上記の対物レンズを光軸
方向に駆動する対物レンズアクチュエータ部として、電
歪素子を用いたアクチュエータを用い、上記の対物レン
ズの移動量を検出する対物レンズ位置検出装置として静
電容量型ギャップセンサーを用い、対象物を照明する照
明装置として明視野照明を用い、上記の画像処理装置に
は、A/D変換部に8ビツトA/D変換器を用い、デジ
タル映像信号を蓄えるとフレームメモリー部と、フレー
ムメモリーのデータを処理する中央演算部と、上記の対
物レンズアクチュエータを制御および対物レンズ位置検
出装置を制御するI/O部により構成する。このような
構成により、 CD  対物レンズを光軸方向に駆動する対物レンズア
クチュエータ部として、電歪素子を用いたアクチュエー
タを用いることにより、装置を小型化することができる
(2)対物レンズに焦点深度の浅い50倍の対物レンズ
を用い、画像処理装置内部で画像データを8ビツトのデ
ジタルデータとして画像処理することにより、対象物の
距離を精度1ミクロン以下で測定することができる。
(3)対象物を照明する照明装置として明視野照明を用
いることにより、断面が円形の線材との距離を測定する
ことができる。
といった特徴がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例における距離測定装置のブロッ
ク図、第2図は同実施例の応用例を示す概略図、第3図
は従来の距離測定装置のブロック図である。 10・・・・・・対象物である線径が十数ミクロンの線
状電極、11・・・・・・照明装置、12・・・・・・
ノ1−フミラー 13・・・・・・対物レンズ、14・
・・・・・対物レンズ支持部、15・・・・・・対物レ
ンズ移動ガイド、16・・・・・・電歪素子、17・・
・・・・直流電源、18・・・・・・テレビカメラ、1
9・・・・・・画像処理装置、20・・・・・・8ビッ
トA/D変換部、21・・・・・・8ビツトフレームメ
モリー、22・・・・・・メモリー付きCPU、23・
・・・・・I/O部、24・・・・・・静電容量型ギャ
ップセンサー25・・・・・・静電容量型ギャップセン
サーのコントローラ。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)対物レンズを光軸方向に移動可能とした顕微鏡光
    学系と、顕微鏡の映像を捕らえる撮像装置と、撮像装置
    の映像信号を処理する画像処理装置と、上記の対物レン
    ズを光軸方向に駆動する対物レンズアクチュエータ部と
    、上記の対物レンズの位置を検出する対物レンズ位置検
    出装置と、対象物を照明する照明装置とからなり、前記
    画像処理装置は、撮像装置の映像信号を2階調以上のデ
    ジタル映像信号に変換するA/D変換部と、デジタル映
    像信号を蓄えるフレームメモリー部と、フレームメモリ
    ーのデータを処理する中央演算部と、上記対物レンズア
    クチュエータおよび対物レンズ位置検出装置を制御する
    I/O部からなる距離測定装置。
  2. (2)対物レンズは顕微鏡に固定して、顕微鏡全体を光
    軸方向に移動する構成とした請求項1記載の距離測定装
    置。
  3. (3)顕微鏡の映像を捕らえる撮像装置に1次元のイメ
    ージセンサーを用いた請求項1記載の距離測定装置。
JP27410289A 1989-10-20 1989-10-20 距離測定装置 Pending JPH03135717A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP27410289A JPH03135717A (ja) 1989-10-20 1989-10-20 距離測定装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP27410289A JPH03135717A (ja) 1989-10-20 1989-10-20 距離測定装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH03135717A true JPH03135717A (ja) 1991-06-10

Family

ID=17537030

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP27410289A Pending JPH03135717A (ja) 1989-10-20 1989-10-20 距離測定装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH03135717A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0534512U (ja) * 1991-10-11 1993-05-07 株式会社ミツトヨ 光学式変位計

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62170924A (ja) * 1986-01-22 1987-07-28 Nippon Kogaku Kk <Nikon> 自動合焦装置
JPS62247202A (ja) * 1986-03-31 1987-10-28 Nippon Keisoku Kogyo Kk 缶蓋の溝深さ測定方法及び装置
JPS62261907A (ja) * 1986-05-09 1987-11-14 Disco Abrasive Syst Ltd オ−トフオ−カスによる厚さ等の計測方法

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62170924A (ja) * 1986-01-22 1987-07-28 Nippon Kogaku Kk <Nikon> 自動合焦装置
JPS62247202A (ja) * 1986-03-31 1987-10-28 Nippon Keisoku Kogyo Kk 缶蓋の溝深さ測定方法及び装置
JPS62261907A (ja) * 1986-05-09 1987-11-14 Disco Abrasive Syst Ltd オ−トフオ−カスによる厚さ等の計測方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0534512U (ja) * 1991-10-11 1993-05-07 株式会社ミツトヨ 光学式変位計

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7301133B2 (en) Tracking auto focus system
JP2586902B2 (ja) 表面プロフィール測定装置および方法
JPS6314426A (ja) 表面輪郭決定装置
JP2016031535A (ja) オートフォーカスシステム、距離測定システム、オートフォーカス方法及びオートフォーカスシステム較正方法
EP1147446A1 (en) Automatic on-the-fly focusing for continuous image acquisition in high-resolution microscopy
JPH0150844B2 (ja)
US6556307B1 (en) Method and apparatus for inputting three-dimensional data
US11193757B2 (en) Image pick-up device, image measurement apparatus, non-contact displacement-detecting device and non-contact profile-measuring device
WO1992017805A1 (en) Apparatus for sensing automatic focusing
KR101652356B1 (ko) 광학적 웨이퍼 검사 장치
KR101652355B1 (ko) 광학적 웨이퍼 검사 장치
JPH09218355A (ja) 走査型レーザ顕微鏡
JPH03135717A (ja) 距離測定装置
JP3847422B2 (ja) 高さ測定方法及びその装置
JPH11132713A (ja) 測距装置および自動焦点制御撮影装置および凹凸検出装置
JPH02114113A (ja) 平面度測定機能付き顕微鏡装置
JP2002323426A (ja) 走査型プローブ顕微鏡
JPH07208917A (ja) 自動焦点合わせ方法及び装置
JP7198731B2 (ja) 撮像装置、及びフォーカス調整方法
KR100190688B1 (ko) 레이저 광을 이용한 카메라 촛점 조정장치
JP2004257732A (ja) 穴測定装置
EP0545519A2 (en) Non-contact measuring method for step difference and device therefor
JP4684646B2 (ja) オートフォーカス方法
JP2003075118A (ja) 走査型レーザ顕微鏡
JP2003036118A (ja) 外観検査装置