JPH03132004A - Fe―Ta―C系磁性膜および磁気ヘッド - Google Patents
Fe―Ta―C系磁性膜および磁気ヘッドInfo
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- JPH03132004A JPH03132004A JP27091689A JP27091689A JPH03132004A JP H03132004 A JPH03132004 A JP H03132004A JP 27091689 A JP27091689 A JP 27091689A JP 27091689 A JP27091689 A JP 27091689A JP H03132004 A JPH03132004 A JP H03132004A
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Landscapes
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- Thin Magnetic Films (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は磁気ディスク装置、VTRなどに用いる磁気ヘ
ッドのコア材料にかかわり、特に高飽和磁束密度、高透
磁率、低磁歪定数、耐熱性、耐食性を有する磁性膜とそ
れを用いた磁気ヘッドに関するものである。
ッドのコア材料にかかわり、特に高飽和磁束密度、高透
磁率、低磁歪定数、耐熱性、耐食性を有する磁性膜とそ
れを用いた磁気ヘッドに関するものである。
[従来の技術]
近年、磁気記録技術の進歩は著しく、家庭用VTRの分
野では小型、軽量化のために、また磁気ディスク装置の
分野では大容量化のために、記録密度の高密度化が進め
られている。このような高密度化のためには高保磁力の
記録媒体に十分書き込むことが可能な記録磁界を発生で
きる高飽和磁束密度を有する磁気ヘッド用の磁性膜が必
要となる。
野では小型、軽量化のために、また磁気ディスク装置の
分野では大容量化のために、記録密度の高密度化が進め
られている。このような高密度化のためには高保磁力の
記録媒体に十分書き込むことが可能な記録磁界を発生で
きる高飽和磁束密度を有する磁気ヘッド用の磁性膜が必
要となる。
また、磁気ヘッド用の材料は記録再生効率の向上の点か
ら高透磁率を有することが必要であり、記録再生特性の
安定化のためには磁歪定数を零近傍に制御することが望
ましい。さらに、磁気ヘッド作製プロセスにおいては、
信頼性を確保するためにガラス溶着等を用いることが多
いので、加熱処理により特性劣化が生じないように、高
温における安定性向上も必要である。
ら高透磁率を有することが必要であり、記録再生特性の
安定化のためには磁歪定数を零近傍に制御することが望
ましい。さらに、磁気ヘッド作製プロセスにおいては、
信頼性を確保するためにガラス溶着等を用いることが多
いので、加熱処理により特性劣化が生じないように、高
温における安定性向上も必要である。
このような材料としては、従来からFe−Al−3i系
合金(センダスト)やGo系アモルファス合金等が開発
されており、磁気ヘッドに適用されている(特開昭60
−74110号等参照)。
合金(センダスト)やGo系アモルファス合金等が開発
されており、磁気ヘッドに適用されている(特開昭60
−74110号等参照)。
また最近では、Fe−C系の多層膜2Co系およびFe
系の組成変調窒化膜2Co−TaC膜、Fe−M−C膜
(ただし、M=Ti、Zr、Hf・・・)等、上記条件
を満たす材料の探索がさかんに行われつつある(「儒学
技法J MR−88−55゜P 9 (1988年)、
「日本金属学会春季大会1989年一般講演概要J(
12B)、 「儒学技法JMR89−11〜14J、P
9(1989年)等参照)。
系の組成変調窒化膜2Co−TaC膜、Fe−M−C膜
(ただし、M=Ti、Zr、Hf・・・)等、上記条件
を満たす材料の探索がさかんに行われつつある(「儒学
技法J MR−88−55゜P 9 (1988年)、
「日本金属学会春季大会1989年一般講演概要J(
12B)、 「儒学技法JMR89−11〜14J、P
9(1989年)等参照)。
[発明が解決しようとする課題]
しかし、Fe−Al−5i系合金は飽和磁束密度がIT
程度と低いことが問題であり2CO系アモルファス膜は
耐熱温度が高くても500℃程度であり、高信頼性のガ
ラスを用いることができない。Fe−C系多層膜は主に
イオンビームスパッタ法を用いるため作製法が難しく量
産には適さない。組成変調窒化膜2Co−Ta−C,F
e−M−C(M=T i、 Z r、 Hf =−)
膜も耐熱温度が600〜650℃程度であり、より一層
の向上が必要である。
程度と低いことが問題であり2CO系アモルファス膜は
耐熱温度が高くても500℃程度であり、高信頼性のガ
ラスを用いることができない。Fe−C系多層膜は主に
イオンビームスパッタ法を用いるため作製法が難しく量
産には適さない。組成変調窒化膜2Co−Ta−C,F
e−M−C(M=T i、 Z r、 Hf =−)
膜も耐熱温度が600〜650℃程度であり、より一層
の向上が必要である。
本発明の目的は上述した従来技術の欠点を解消し、高飽
和磁束密度、高透磁率、低磁歪定数をもち、耐熱性に優
れる磁性膜及びそれを用いた磁気ヘッドを提供すること
である。
和磁束密度、高透磁率、低磁歪定数をもち、耐熱性に優
れる磁性膜及びそれを用いた磁気ヘッドを提供すること
である。
[課題を解決するための手段]
本発明は、原子比でTa5〜15%2C8〜20%及び
残部Feよりなる磁性膜において、該磁性膜の組織中に
bcc構造のFe、TaC,およびTa□Cの結晶が共
存していることを特徴とするものであり、さらにその磁
性膜を用いることを特徴とする磁気ヘッドである。
残部Feよりなる磁性膜において、該磁性膜の組織中に
bcc構造のFe、TaC,およびTa□Cの結晶が共
存していることを特徴とするものであり、さらにその磁
性膜を用いることを特徴とする磁気ヘッドである。
[作用コ
bcc構造のFe(以後α−Feと記す)とTaC,T
a2Cの結晶が共存することりにより、αFeの結晶粒
が微細化されるため、高透磁率、低保磁力の良好な軟磁
気特性が得られる。これは微結晶化により異方性の分散
が小さくなったため、あるいは結晶磁気異方性の効果が
低減されたためと推察される。また、FeとTaC,T
a2Cに分離しているためFeの磁気モーメントの減少
も少なく高飽和磁束密度が得られる。
a2Cの結晶が共存することりにより、αFeの結晶粒
が微細化されるため、高透磁率、低保磁力の良好な軟磁
気特性が得られる。これは微結晶化により異方性の分散
が小さくなったため、あるいは結晶磁気異方性の効果が
低減されたためと推察される。また、FeとTaC,T
a2Cに分離しているためFeの磁気モーメントの減少
も少なく高飽和磁束密度が得られる。
さらに、TaC,Ta2Cの微結晶がFeの結晶粒の成
長を抑制するため、ヘッドのガラス溶着時に加わるよう
な熱処理を施しても軟磁気特性は劣化しない。
長を抑制するため、ヘッドのガラス溶着時に加わるよう
な熱処理を施しても軟磁気特性は劣化しない。
Ta2CがTaCへ完全に変化せず、Ta2Cが残存す
る場合の方が良好な軟磁性が得られる。この理由は明ら
かではないが、TaICを含んだ方が、膜中の歪の効果
による軟磁性の劣化が少ないためではないかと思われる
。
る場合の方が良好な軟磁性が得られる。この理由は明ら
かではないが、TaICを含んだ方が、膜中の歪の効果
による軟磁性の劣化が少ないためではないかと思われる
。
[実施例]
(実施例1)
本発明の磁性膜の形成には通常のRFマグネトロンスパ
ッタ装置を用いた。Fe(純度99.99%)のターゲ
ット上にTa(純度99.9%)のペレットを配置した
複合ターゲットをAr(純度99.999%)とCH4
(純度99.9%)の混合ガスを用いてスパッタを行っ
た。Ta2Cの量は、Taペレットの数及びCH4ガス
の分圧を変えることにより変化させた。
ッタ装置を用いた。Fe(純度99.99%)のターゲ
ット上にTa(純度99.9%)のペレットを配置した
複合ターゲットをAr(純度99.999%)とCH4
(純度99.9%)の混合ガスを用いてスパッタを行っ
た。Ta2Cの量は、Taペレットの数及びCH4ガス
の分圧を変えることにより変化させた。
スパッタ条件は、以下の通りとした。
排気到達真空度 2 X 10−”Torr以下投
入電力 4.5W/扇 ガス圧(全圧) 4 X I O−’Torr基
板 結晶化ガラス 基板温度 加熱なし 膜厚 2土拳・!− 以上の条件で作製した磁性膜の組成は、EPMAによっ
て分析した。膜の飽和磁束密度及び保磁力はVSM(印
加磁場500e)、透磁率はベクトルインピーダンスメ
ータ、磁歪定数は光で二法により測定した。
入電力 4.5W/扇 ガス圧(全圧) 4 X I O−’Torr基
板 結晶化ガラス 基板温度 加熱なし 膜厚 2土拳・!− 以上の条件で作製した磁性膜の組成は、EPMAによっ
て分析した。膜の飽和磁束密度及び保磁力はVSM(印
加磁場500e)、透磁率はベクトルインピーダンスメ
ータ、磁歪定数は光で二法により測定した。
また、この磁性膜の耐熱性はN2雰囲気中で所定の温度
に加熱後、室温で透磁率を測定し、透磁率が1000以
下となる温度の高低によって判定した。
に加熱後、室温で透磁率を測定し、透磁率が1000以
下となる温度の高低によって判定した。
第1図に、600℃の熱処理を施した場合の透磁率(5
MH2)と膜組成の関係を示す。第1図より明らかなよ
うに、原子比でTa5〜15%2C8〜20%及び残部
Feなる組成で、μ6MH2>1000の特性が得られ
た。さらに望ましくは、原子比でTa6〜13%2C9
〜15%、及び残部Feなる組成とすれば、μ5xH3
> 2000となることがわかった。
MH2)と膜組成の関係を示す。第1図より明らかなよ
うに、原子比でTa5〜15%2C8〜20%及び残部
Feなる組成で、μ6MH2>1000の特性が得られ
た。さらに望ましくは、原子比でTa6〜13%2C9
〜15%、及び残部Feなる組成とすれば、μ5xH3
> 2000となることがわかった。
第1表には、種々の組成の膜の最適熱処理条件での磁気
特性を示す。また、耐熱性としてμbMH2が1000
以下となる温度を示した。なお、すべての温度範囲でμ
6MH□が1000以上にならないものについてはX印
で示した。原子比でTa5〜15%、08〜20%及び
残部Feなる組成で、Bs=1.3〜1.8T、ILb
MHz= l OOO〜3500、Hc=0.2〜1.
ooe、λ=−2〜+2XIO−’の特性を示し、耐熱
温度も600℃以上である。特に、F e、、、、Ta
1.1c11.4 (at%)の膜については、耐熱性
は700℃にまで達した。
特性を示す。また、耐熱性としてμbMH2が1000
以下となる温度を示した。なお、すべての温度範囲でμ
6MH□が1000以上にならないものについてはX印
で示した。原子比でTa5〜15%、08〜20%及び
残部Feなる組成で、Bs=1.3〜1.8T、ILb
MHz= l OOO〜3500、Hc=0.2〜1.
ooe、λ=−2〜+2XIO−’の特性を示し、耐熱
温度も600℃以上である。特に、F e、、、、Ta
1.1c11.4 (at%)の膜については、耐熱性
は700℃にまで達した。
第2図に2C量をほぼ12%一定とした場合のTa量と
透磁率μfiMH2の関係を示す。また、第3図にはT
a量をほぼ9%一定とした場合のCmとμ5MH2の関
係を示す。各々、熱処理温度は600℃である。
透磁率μfiMH2の関係を示す。また、第3図にはT
a量をほぼ9%一定とした場合のCmとμ5MH2の関
係を示す。各々、熱処理温度は600℃である。
第2図では、Ta量が5〜15%の範囲でμ3.4sz
> 1000が得られ、第3図では2C量が8〜第 表 20%でμ5M)lア)1000が得られる。
> 1000が得られ、第3図では2C量が8〜第 表 20%でμ5M)lア)1000が得られる。
第2図、第3図の組成領域1.n、m、rv、v。
■について、as−depo状態と600℃熱処理後の
X線回折パターンを第4図に示す。
X線回折パターンを第4図に示す。
μs、、loz> 1000の値を示した組成領域II
、 rVにおいては、as−depo状態では、Ta2
Cの結晶による回折ピークが見られるものの、Feにつ
いてはアモルファスに特有のブロードなパターンが見ら
れるのみである。これはTa2Cを生成していないTa
とCがFeに侵入型で固溶しているためである。一方、
熱処理を行った場合には、α−Feのピークが見られる
ようになり、TaっCの他にTaCのピークも見られる
。α−Feの回折ピークの半値幅より結晶粒径を求める
と、50〜100人程度となる。したがって、この状態
ではα−Feの微細結晶とTatG及びTaCが共存し
ていることになる、T a2Cの方がTaCより生成エ
ネルギーが小さいため、a 5−dep。
、 rVにおいては、as−depo状態では、Ta2
Cの結晶による回折ピークが見られるものの、Feにつ
いてはアモルファスに特有のブロードなパターンが見ら
れるのみである。これはTa2Cを生成していないTa
とCがFeに侵入型で固溶しているためである。一方、
熱処理を行った場合には、α−Feのピークが見られる
ようになり、TaっCの他にTaCのピークも見られる
。α−Feの回折ピークの半値幅より結晶粒径を求める
と、50〜100人程度となる。したがって、この状態
ではα−Feの微細結晶とTatG及びTaCが共存し
ていることになる、T a2Cの方がTaCより生成エ
ネルギーが小さいため、a 5−dep。
状態ではTa□Cのみが生じるが、熱処理によりT a
x CとFeに侵入型で固溶しているCが結合しTa
Cが生じる。TaCとTa2Cの結晶粒は電子顕微鏡観
察の結果、α−Feよりもさらに小さいことがわかった
。このTaCとT a2Cの多くの微結晶が、Feの結
晶粒の成長を抑えることにより軟磁性膜が得られる。
x CとFeに侵入型で固溶しているCが結合しTa
Cが生じる。TaCとTa2Cの結晶粒は電子顕微鏡観
察の結果、α−Feよりもさらに小さいことがわかった
。このTaCとT a2Cの多くの微結晶が、Feの結
晶粒の成長を抑えることにより軟磁性膜が得られる。
組成領域1.TVでは、as−depo状態ですでにα
−Feの結晶が生成されている。アモルファス状態から
の結晶化でないと均一な結晶該の生成が起こらず、良好
な微結晶組織になりにくいため、この領域では軟磁性が
得られないものと考えられる。
−Feの結晶が生成されている。アモルファス状態から
の結晶化でないと均一な結晶該の生成が起こらず、良好
な微結晶組織になりにくいため、この領域では軟磁性が
得られないものと考えられる。
逆にTaやCが多い領域■、■では、熱処理後において
もFeの結晶は微細化されているが軟磁性は得られない
。磁歪が零からずれていること、C,TaがFeに多量
に侵入しひずみが大きいこと、FeとTaあるいはCの
化合物が生成していること等の可能性が考えられるが、
今のところはっきりしない。
もFeの結晶は微細化されているが軟磁性は得られない
。磁歪が零からずれていること、C,TaがFeに多量
に侵入しひずみが大きいこと、FeとTaあるいはCの
化合物が生成していること等の可能性が考えられるが、
今のところはっきりしない。
以上述べたように、Ta量及びCmには最適量が存在し
、Ta5〜15%、08〜20%でμ〉1000が得ら
れる。この組成領域では、as−depo状態の膜は、
FeのアモルファスとTa。
、Ta5〜15%、08〜20%でμ〉1000が得ら
れる。この組成領域では、as−depo状態の膜は、
FeのアモルファスとTa。
Cの結晶からなってお番ハ熱処理によってα−Feの微
結晶とTa2C,TaCが共存する組織となり、良好な
軟磁性が得られる。
結晶とTa2C,TaCが共存する組織となり、良好な
軟磁性が得られる。
(実施例2)
次に本発明によるFeTaC膜を磁気ヘッドに応用した
例を示す。
例を示す。
第5図は本発明の磁性膜を適用した磁気へラドコアの一
例を示す外観斜視図であり、第6図はその記録媒体対向
面を示す拡大平面図である。この磁気ヘッドコアを第7
図に示すようなCaTie。
例を示す外観斜視図であり、第6図はその記録媒体対向
面を示す拡大平面図である。この磁気ヘッドコアを第7
図に示すようなCaTie。
のスライダーにガラスで固定し、ジンバルに取り付はハ
ードディスクドライブ用の磁気ヘッドとして評価した。
ードディスクドライブ用の磁気ヘッドとして評価した。
第8図は、本発明による磁性膜を用いた磁気ヘッド、F
e−Al−5i膜を用いた磁気ヘッドを用いて測定した
媒体保磁力と限界記録密度、D、。
e−Al−5i膜を用いた磁気ヘッドを用いて測定した
媒体保磁力と限界記録密度、D、。
(KFCI)の関係を示す。Bsが1,7Tと大きいF
e−Ta−C膜を用いた場合、媒体保磁力が15000
e以上と大きくなっても磁気コア先端が飽和せずに強い
記録磁界が発生できるため十分に記録が可能であり、媒
体保磁力の増加とともにり6.も増加する。一方、Fe
−Al−3i膜を用いた場合は、媒体保磁力が1500
0e以上となるとり6.が減少してしまう。
e−Ta−C膜を用いた場合、媒体保磁力が15000
e以上と大きくなっても磁気コア先端が飽和せずに強い
記録磁界が発生できるため十分に記録が可能であり、媒
体保磁力の増加とともにり6.も増加する。一方、Fe
−Al−3i膜を用いた場合は、媒体保磁力が1500
0e以上となるとり6.が減少してしまう。
したがって、本発明のFe−Ta−C系磁性膜を用いた
磁気ヘッドを用いることにより、20000eの保磁力
をもつ媒体にも十分に書き込みが可能であることが確か
められた。また、保磁力10000eの媒体を用い、再
生出力を比較したところ、Fe−Ta−C膜とFe−A
l−5i膜を用いた場合で差は見られなかった。
磁気ヘッドを用いることにより、20000eの保磁力
をもつ媒体にも十分に書き込みが可能であることが確か
められた。また、保磁力10000eの媒体を用い、再
生出力を比較したところ、Fe−Ta−C膜とFe−A
l−5i膜を用いた場合で差は見られなかった。
[発明の効果]
以上説明したごとく、本発明によるFeを主成分とする
Fe−TaC系磁性膜は、高飽和磁束密度(1,3〜1
.8T)、高透磁率(1000以上)。
Fe−TaC系磁性膜は、高飽和磁束密度(1,3〜1
.8T)、高透磁率(1000以上)。
低保磁力(10e以下)、低磁歪定数(−2XIO−’
〜2X10−“)、高耐熱性(600℃以上)という磁
気ヘッド材料に必要な特性を兼ね備えている。
〜2X10−“)、高耐熱性(600℃以上)という磁
気ヘッド材料に必要な特性を兼ね備えている。
したがって、この磁性膜を磁気ヘッド磁極として用いた
場合、0.2tm程度の薄膜にしても磁気飽和を起こす
ことなく、磁極の先端に強い磁界を発生させることがで
き、超高密度磁気記録を達成することができる。
場合、0.2tm程度の薄膜にしても磁気飽和を起こす
ことなく、磁極の先端に強い磁界を発生させることがで
き、超高密度磁気記録を達成することができる。
また、本発明の磁性膜は、通常のRFマグネトロンスパ
ッタ法で成膜可能であるため、製造方法が簡単であり製
造コストも安く、かつ高い信頼性も確保できる利点があ
る。
ッタ法で成膜可能であるため、製造方法が簡単であり製
造コストも安く、かつ高い信頼性も確保できる利点があ
る。
第1図は、本発明のF e −T a−C膜の組成と透
磁率の関係を示す特性図、第2図はTa組成と透磁率の
関係を示す特性図、第3図はC組成と透磁率の関係を示
す特性図、第4図はFe−Ta−C膜のX線回折パター
ン、第5図は本発明を適用した磁気ヘッドの一例を示す
外観斜視図、第6図はその磁気記録媒体対向面を示す拡
大平面図、第7図は磁気コアを埋め込んだ磁気ヘッドの
外観斜視図、第8図はFe−Ta−Cv、を用いたヘッ
ドを用いて測定した媒体保磁力と限界記録密度の関係を
示す特性図である。 1:磁気コア部、2:磁気コア部、3:FeTa−C系
磁性膜、4:磁気ギャップ、5ニガラス、6:磁気コア
、7:スライダー、8:ガラス5 0 5 Ta (a t ’/e ) 第 図 C(at’10) 第3図 (a)組成領域 ■ ■ (C) 組成領域 111、■ 6 第 図 媒体保磁力 Hc(Oe) 第 図
磁率の関係を示す特性図、第2図はTa組成と透磁率の
関係を示す特性図、第3図はC組成と透磁率の関係を示
す特性図、第4図はFe−Ta−C膜のX線回折パター
ン、第5図は本発明を適用した磁気ヘッドの一例を示す
外観斜視図、第6図はその磁気記録媒体対向面を示す拡
大平面図、第7図は磁気コアを埋め込んだ磁気ヘッドの
外観斜視図、第8図はFe−Ta−Cv、を用いたヘッ
ドを用いて測定した媒体保磁力と限界記録密度の関係を
示す特性図である。 1:磁気コア部、2:磁気コア部、3:FeTa−C系
磁性膜、4:磁気ギャップ、5ニガラス、6:磁気コア
、7:スライダー、8:ガラス5 0 5 Ta (a t ’/e ) 第 図 C(at’10) 第3図 (a)組成領域 ■ ■ (C) 組成領域 111、■ 6 第 図 媒体保磁力 Hc(Oe) 第 図
Claims (2)
- (1)原子比でTa5〜15%、C8〜20%及び残部
Feよりなる磁性膜において、該磁性膜の組織中にbc
c構造のFeとTaC,Ta_2Cの結晶が共存してい
ることを特徴とするFe−Ta−C系磁性膜。 - (2)請求項1記載のFe−Ta−C系磁性膜を用いた
ことを特徴とする磁気ヘッド。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP27091689A JPH03132004A (ja) | 1989-10-18 | 1989-10-18 | Fe―Ta―C系磁性膜および磁気ヘッド |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP27091689A JPH03132004A (ja) | 1989-10-18 | 1989-10-18 | Fe―Ta―C系磁性膜および磁気ヘッド |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03132004A true JPH03132004A (ja) | 1991-06-05 |
Family
ID=17492777
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP27091689A Pending JPH03132004A (ja) | 1989-10-18 | 1989-10-18 | Fe―Ta―C系磁性膜および磁気ヘッド |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03132004A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1996027187A1 (fr) * | 1995-02-27 | 1996-09-06 | Hitachi, Ltd. | Support d'enregistrement magnetique et dispositif de stockage magnetique |
-
1989
- 1989-10-18 JP JP27091689A patent/JPH03132004A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1996027187A1 (fr) * | 1995-02-27 | 1996-09-06 | Hitachi, Ltd. | Support d'enregistrement magnetique et dispositif de stockage magnetique |
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