JPH0312973A - 非晶質薄膜太陽電池 - Google Patents
非晶質薄膜太陽電池Info
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- JPH0312973A JPH0312973A JP1148034A JP14803489A JPH0312973A JP H0312973 A JPH0312973 A JP H0312973A JP 1148034 A JP1148034 A JP 1148034A JP 14803489 A JP14803489 A JP 14803489A JP H0312973 A JPH0312973 A JP H0312973A
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Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
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- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
Landscapes
- Photovoltaic Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、非晶質薄膜太陽電池に関する。
グロー放電プラズマを用いて形成される非晶質シリコン
(アモルファスシリコン)太陽電池は、通常、第3図に
示す基本構造を有する。すなわち、図中8は、ガラスか
らなる基板であり、このガラス基板8上には透明電極9
か成膜されている。この透明電極9は、ITo(インジ
ウムInと錫Snの混合酸化物)、酸化錫SnO2ある
いは酸化亜鉛ZnOなとの利付より構成され、それぞれ
、スパッタリング、熱CVDあるいは真空蒸着等の手法
により、薄膜化される。透明電極9の上には、グロー放
電を用いたプラズマCVD法により、p層コ0.1層1
1.0層12か順次形成される。
(アモルファスシリコン)太陽電池は、通常、第3図に
示す基本構造を有する。すなわち、図中8は、ガラスか
らなる基板であり、このガラス基板8上には透明電極9
か成膜されている。この透明電極9は、ITo(インジ
ウムInと錫Snの混合酸化物)、酸化錫SnO2ある
いは酸化亜鉛ZnOなとの利付より構成され、それぞれ
、スパッタリング、熱CVDあるいは真空蒸着等の手法
により、薄膜化される。透明電極9の上には、グロー放
電を用いたプラズマCVD法により、p層コ0.1層1
1.0層12か順次形成される。
例えば、1層]1の形成は、以下の要領で行う。
チャンバー内に基板8を設置し、予備排気した後、水素
H2あるいはアルゴンArなどで希釈したシランSiH
4を所定圧力導入し、電極間に高周波電界を負荷してグ
ロー放電プラズマを形成し、所定時間成膜する。9層1
0.0層12も同様にして形成するが、シランSiH4
とともに、価電子制御用のドーピングガスとしてそれぞ
れ、ジボランB2H6、フォスフインPH3を導入する
。また、9層10の場合、光学的禁制帯幅を拡大する目
r白で、シランSiH4とともにメタンCH4、あるい
はアセチレンC2H7などの炭化水素系のガスを導入す
ることもある。9層1−0sx層11.0層12の膜厚
は、成膜条件にも依るが一般的には、それぞれ、100
〜20OA、4000〜8000人、300〜500八
程度である。
H2あるいはアルゴンArなどで希釈したシランSiH
4を所定圧力導入し、電極間に高周波電界を負荷してグ
ロー放電プラズマを形成し、所定時間成膜する。9層1
0.0層12も同様にして形成するが、シランSiH4
とともに、価電子制御用のドーピングガスとしてそれぞ
れ、ジボランB2H6、フォスフインPH3を導入する
。また、9層10の場合、光学的禁制帯幅を拡大する目
r白で、シランSiH4とともにメタンCH4、あるい
はアセチレンC2H7などの炭化水素系のガスを導入す
ることもある。9層1−0sx層11.0層12の膜厚
は、成膜条件にも依るが一般的には、それぞれ、100
〜20OA、4000〜8000人、300〜500八
程度である。
n層]−2の上には、アルミニウムAβからなる金属電
極13か、真空蒸着法あるいはスクリーン印刷法などに
より形成される。
極13か、真空蒸着法あるいはスクリーン印刷法などに
より形成される。
従来技術による非晶質薄膜太陽電池では下記の問題点が
ある。太陽電池の変換効率を上げるためには、より多く
の入射光を、光吸収層であるi層]]に導入し、かつ、
発生した電子及び正孔を効率良く外部回路に取り出す素
子設計か必要である。
ある。太陽電池の変換効率を上げるためには、より多く
の入射光を、光吸収層であるi層]]に導入し、かつ、
発生した電子及び正孔を効率良く外部回路に取り出す素
子設計か必要である。
この目的のためには、窓側9層]0は、光学的禁制帯幅
か大きくかつ導電率が大きいことか望ましい。光学的禁
制帯幅を拡げるため、−船釣には前記したように、原料
ガスに炭化水素系のガスを混入1−非晶質炭化珪素(ア
モルファスシリコンカーバイド)とする。一方、導電率
を増大させるためには、ドーピングガスであるジボラン
B2H6の流量比を増大させる。しかし、この場合、導
電率の増大とともに光学的禁制帯幅が減少するという問
題を生ずる。
か大きくかつ導電率が大きいことか望ましい。光学的禁
制帯幅を拡げるため、−船釣には前記したように、原料
ガスに炭化水素系のガスを混入1−非晶質炭化珪素(ア
モルファスシリコンカーバイド)とする。一方、導電率
を増大させるためには、ドーピングガスであるジボラン
B2H6の流量比を増大させる。しかし、この場合、導
電率の増大とともに光学的禁制帯幅が減少するという問
題を生ずる。
ジボランB 2 H6流量比を一定に保ったまま導電率
を増大させる手法として微結晶の析出かある。
を増大させる手法として微結晶の析出かある。
すなわち、原料ガスの水素希釈量を増大し成膜時の高周
波電界を強くすることにより、核形成を促進し、非晶質
層中に一部微結晶を析出させるとp層の導電率が増大す
る。
波電界を強くすることにより、核形成を促進し、非晶質
層中に一部微結晶を析出させるとp層の導電率が増大す
る。
しかしこの手法の場合には、以下の問題点かある。
すなわち、9層10を成膜する際、透明電極9を成膜し
た基板は、水素プラズマに接触する。透明電極9は、I
TO,酸化錫SnO2などの酸化物より構成されている
ため、水素プラズマ中では活性な水素ラジカルにより還
元され、金属インジウムInあるいは金属錫Snが形成
される。このインジウムInあるいは錫Snは、p層あ
るいはi層に拡散混入して不純物となるため太陽電池の
特性か劣化する。
た基板は、水素プラズマに接触する。透明電極9は、I
TO,酸化錫SnO2などの酸化物より構成されている
ため、水素プラズマ中では活性な水素ラジカルにより還
元され、金属インジウムInあるいは金属錫Snが形成
される。このインジウムInあるいは錫Snは、p層あ
るいはi層に拡散混入して不純物となるため太陽電池の
特性か劣化する。
微結晶析出のための成膜条件は水素プラズマをより活性
化するものであり、従来の成膜条件に比′3 べ、透明電極の還元がより促進されるという問題点があ
る。すなわぢ、非晶質薄膜太陽電池の成膜においては、
各層の膜質自体の向上はもちろんであるが下地材料への
影響も考慮しなければならな(1゜ 本発明は、上記の問題点を解決するためになされたもの
であり微結晶層を含むp層を形成する際の透明電極の還
元を抑制し、良好な特性を有する非晶質薄膜太陽電池を
提供することを目的とする。
化するものであり、従来の成膜条件に比′3 べ、透明電極の還元がより促進されるという問題点があ
る。すなわぢ、非晶質薄膜太陽電池の成膜においては、
各層の膜質自体の向上はもちろんであるが下地材料への
影響も考慮しなければならな(1゜ 本発明は、上記の問題点を解決するためになされたもの
であり微結晶層を含むp層を形成する際の透明電極の還
元を抑制し、良好な特性を有する非晶質薄膜太陽電池を
提供することを目的とする。
本発明に係る非晶質薄膜太陽電池は、ガラス基板上に、
透明電極、p層、1層、n層を順に積層させた非晶質薄
膜太陽電池において、透明電極とp層の間に金属あるい
は金属珪化物よりなる層を介装させると共に、上記p層
に微結晶を混入させたことを特徴とする。
透明電極、p層、1層、n層を順に積層させた非晶質薄
膜太陽電池において、透明電極とp層の間に金属あるい
は金属珪化物よりなる層を介装させると共に、上記p層
に微結晶を混入させたことを特徴とする。
(1)透明電極上にごく薄い金属層を形成した後、順次
、p、i、n層を形成するため透明電極が直接、水素プ
ラズマに接触することがない。したがって透明電極の還
元が抑制され、インジウムIn錫Snなどの金属不純物
の非晶質層への拡散混入か軽減される。
、p、i、n層を形成するため透明電極が直接、水素プ
ラズマに接触することがない。したがって透明電極の還
元が抑制され、インジウムIn錫Snなどの金属不純物
の非晶質層への拡散混入か軽減される。
(2)p層には微結晶を含み高い導電率を有する非晶質
(アモルファスンリコンカーバイ]・)を用いているた
め、従来の素子に比べ、直列抵抗が減少する。
(アモルファスンリコンカーバイ]・)を用いているた
め、従来の素子に比べ、直列抵抗が減少する。
この結果、素子のダイオード特性が改善され、素子特性
が向上する。
が向上する。
本発明の実施例を第1図〜第2図に示す。
第1図において、透明電極2付のガラス基板コは、トリ
クロロエチレン、アセトン及びメタツル中で順次超音波
洗浄した。なお本実施例では、透明電極2として酸化錫
SnO2(膜厚600〇人)を用いた。
クロロエチレン、アセトン及びメタツル中で順次超音波
洗浄した。なお本実施例では、透明電極2として酸化錫
SnO2(膜厚600〇人)を用いた。
基板洗浄後、電子ビーム蒸着装置により金属層3を形成
した。本実施例では、金属層3として白金Ptを用いた
。白金ptは、電気抵抗が小さく、かつ仕事関数が大き
な金属であるため、p形半導体と接合を形成した場合、
ンヨットキー障壁の高さか低くなり、界面の電気的特性
が改善される。
した。本実施例では、金属層3として白金Ptを用いた
。白金ptは、電気抵抗が小さく、かつ仕事関数が大き
な金属であるため、p形半導体と接合を形成した場合、
ンヨットキー障壁の高さか低くなり、界面の電気的特性
が改善される。
金属層3の効果は、その膜厚に依存することが予想され
るため、本実施例では、金属層3の膜厚を変化させて素
子を形成した。
るため、本実施例では、金属層3の膜厚を変化させて素
子を形成した。
金属層3を形成した後平行平板電極型プラズマCVD装
置により9層4.1層5.0層6を順次成膜した。各層
の成膜条件は下記の通りとした。
置により9層4.1層5.0層6を順次成膜した。各層
の成膜条件は下記の通りとした。
本実施例では9層4を非晶質炭化珪素(アモルファスシ
リコンカーバイド)とするための炭素源としてメタンC
H4を用いた。9層4の成膜では、従来の成膜条件に比
べ、水素H2の流量比を増大させるとともに、放電電力
を高くして、微結晶化を促進した。9層4.1層5.0
層6の膜厚はそれぞれ、150人、5000人、400
八とした。
リコンカーバイド)とするための炭素源としてメタンC
H4を用いた。9層4の成膜では、従来の成膜条件に比
べ、水素H2の流量比を増大させるとともに、放電電力
を高くして、微結晶化を促進した。9層4.1層5.0
層6の膜厚はそれぞれ、150人、5000人、400
八とした。
n層成膜後電子ビーム蒸着装置を用いて金属電極7とし
て、アルミニウム八ρを2000人形成した。
て、アルミニウム八ρを2000人形成した。
製作した素子についてソーラーシミュレータ(スペクト
ルAM]、、5、照射強度100m1l cm −2)
を用いて素子特性を評価した。第2図にその結果を示す
。第2図は、金属層3を設けていない従来型の素子の特
性を100とした場合の相対値を示すものである。第2
図の横軸は、金属層3における入射光の透過率損失を表
わしており金属層3の膜厚に対応する値である。第2図
に示すとおり、開放電圧■。Cは金属層3の膜厚にはほ
とんど依存しないことかわかる。短絡電流ISCは金属
層3の膜厚の増加に伴って減少するが、金属層3での入
射光の透過率損失か約3%以下であれば、その減少は非
常に小さい。一方、曲線因子1? 、 P 、は金属層
3を設けることにより、従来型の素子に比べ]0%以」
二向上した。これらの結果、透過率損失が約10%以下
の白金層を設けることにより、従来型の素子に比べ変換
効率か改善されることかわかった。特に透過率損失か0
.4〜3%の白金層の場合、その効果が著しい。
ルAM]、、5、照射強度100m1l cm −2)
を用いて素子特性を評価した。第2図にその結果を示す
。第2図は、金属層3を設けていない従来型の素子の特
性を100とした場合の相対値を示すものである。第2
図の横軸は、金属層3における入射光の透過率損失を表
わしており金属層3の膜厚に対応する値である。第2図
に示すとおり、開放電圧■。Cは金属層3の膜厚にはほ
とんど依存しないことかわかる。短絡電流ISCは金属
層3の膜厚の増加に伴って減少するが、金属層3での入
射光の透過率損失か約3%以下であれば、その減少は非
常に小さい。一方、曲線因子1? 、 P 、は金属層
3を設けることにより、従来型の素子に比べ]0%以」
二向上した。これらの結果、透過率損失が約10%以下
の白金層を設けることにより、従来型の素子に比べ変換
効率か改善されることかわかった。特に透過率損失か0
.4〜3%の白金層の場合、その効果が著しい。
本発明は前述のように構成されているので、以下に記載
するような効果を奏する。
するような効果を奏する。
(1)本発明によればp層に微結晶を含む非晶質炭化珪
素(アモルファスシリコンカーバイド)を用いているた
め、p層の導電率が増大する。この結果素子の直列抵抗
が減少し、短絡電流が増大する。
素(アモルファスシリコンカーバイド)を用いているた
め、p層の導電率が増大する。この結果素子の直列抵抗
が減少し、短絡電流が増大する。
(2)また、透明電極上に設けた薄い金属層によりp層
形成時の水素プラズマによる透明電極の還元を抑制する
とともに透明電極/p層界面の電気的特性が改善される
。(3)なお、透明電極上に形成する層としては、実施
例で説明した白金ptの他に、パラジウムPd、ニッケ
ルNi及びこれらの金属の珪化物でも同様な効果が期待
できる。
形成時の水素プラズマによる透明電極の還元を抑制する
とともに透明電極/p層界面の電気的特性が改善される
。(3)なお、透明電極上に形成する層としては、実施
例で説明した白金ptの他に、パラジウムPd、ニッケ
ルNi及びこれらの金属の珪化物でも同様な効果が期待
できる。
−
第1図は、本発明の実施例の非晶質薄膜太陽電池の構成
を示す図、第2図は、素子特性の金属層の膜厚依存性を
示す図、第3図は、従来の技術による非晶質薄膜太陽電
池の構成を示す図である。 ]・・ガラス基板、2・透明電極、3・金属層、4・・
微結晶層を含むp層、5・ 1層、6・n層、7・・金
属電極、8・・ガラス基板、9・透明電極、]0・・・
p層、11・ i層、12− n層、13・金属電極。
を示す図、第2図は、素子特性の金属層の膜厚依存性を
示す図、第3図は、従来の技術による非晶質薄膜太陽電
池の構成を示す図である。 ]・・ガラス基板、2・透明電極、3・金属層、4・・
微結晶層を含むp層、5・ 1層、6・n層、7・・金
属電極、8・・ガラス基板、9・透明電極、]0・・・
p層、11・ i層、12− n層、13・金属電極。
Claims (1)
- ガラス基板上に、透明電極、p層、i層、n層を順に積
層させた非晶質薄膜太陽電池において、透明電極とp層
の間に金属あるいは金属珪化物よりなる層を介装させる
と共に、上記p層に微結晶を混入させたことを特徴とす
る非晶質薄膜太陽電池。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1148034A JPH0312973A (ja) | 1989-06-09 | 1989-06-09 | 非晶質薄膜太陽電池 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1148034A JPH0312973A (ja) | 1989-06-09 | 1989-06-09 | 非晶質薄膜太陽電池 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0312973A true JPH0312973A (ja) | 1991-01-21 |
Family
ID=15443637
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1148034A Pending JPH0312973A (ja) | 1989-06-09 | 1989-06-09 | 非晶質薄膜太陽電池 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0312973A (ja) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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- 1989-06-09 JP JP1148034A patent/JPH0312973A/ja active Pending
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