JPH03129499A - 信号測定プロープ - Google Patents
信号測定プロープInfo
- Publication number
- JPH03129499A JPH03129499A JP2263700A JP26370090A JPH03129499A JP H03129499 A JPH03129499 A JP H03129499A JP 2263700 A JP2263700 A JP 2263700A JP 26370090 A JP26370090 A JP 26370090A JP H03129499 A JPH03129499 A JP H03129499A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- probe
- ground
- signal
- conductor
- arm
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000000523 sample Substances 0.000 title claims abstract description 140
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims abstract description 26
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 20
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract 2
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 7
- 230000001012 protector Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000011888 foil Substances 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 229910001369 Brass Inorganic materials 0.000 description 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004677 Nylon Substances 0.000 description 1
- 239000004952 Polyamide Substances 0.000 description 1
- 239000004743 Polypropylene Substances 0.000 description 1
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001297 Zn alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- PDYXSJSAMVACOH-UHFFFAOYSA-N [Cu].[Zn].[Sn] Chemical compound [Cu].[Zn].[Sn] PDYXSJSAMVACOH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052790 beryllium Inorganic materials 0.000 description 1
- ATBAMAFKBVZNFJ-UHFFFAOYSA-N beryllium atom Chemical compound [Be] ATBAMAFKBVZNFJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- DMFGNRRURHSENX-UHFFFAOYSA-N beryllium copper Chemical compound [Be].[Cu] DMFGNRRURHSENX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010951 brass Substances 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 229920001778 nylon Polymers 0.000 description 1
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 1
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 1
- 229920002647 polyamide Polymers 0.000 description 1
- 229920005597 polymer membrane Polymers 0.000 description 1
- 229920000098 polyolefin Polymers 0.000 description 1
- -1 polypropylene Polymers 0.000 description 1
- 229920001155 polypropylene Polymers 0.000 description 1
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 1
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 1
- 125000000391 vinyl group Chemical group [H]C([*])=C([H])[H] 0.000 description 1
- 229920002554 vinyl polymer Polymers 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/06788—Hand-held or hand-manipulated probes, e.g. for oscilloscopes or for portable test instruments
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
- H01R11/00—Individual connecting elements providing two or more spaced connecting locations for conductive members which are, or may be, thereby interconnected, e.g. end pieces for wires or cables supported by the wire or cable and having means for facilitating electrical connection to some other wire, terminal, or conductive member, blocks of binding posts
- H01R11/11—End pieces or tapping pieces for wires, supported by the wire and for facilitating electrical connection to some other wire, terminal or conductive member
- H01R11/18—End pieces terminating in a probe
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Arrangements For Transmission Of Measured Signals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、信号測定プローブ、特に、信号プローブ端及
び接地プローブ端間の距離が調整可能な低インダクタン
スの信号測定プローブに関する。
び接地プローブ端間の距離が調整可能な低インダクタン
スの信号測定プローブに関する。
[従来の技術及び発明が解決しようとする課題]第6図
は、従来のプローブ(10)を示す。信号は、信号プロ
ーブ端(12)、信号プローブ端(12)を絶縁する絶
縁体(14)、信号プローブ端(12)を電磁干渉から
遮蔽する導電シールド(16)から成る信号プローブで
測定される。
は、従来のプローブ(10)を示す。信号は、信号プロ
ーブ端(12)、信号プローブ端(12)を絶縁する絶
縁体(14)、信号プローブ端(12)を電磁干渉から
遮蔽する導電シールド(16)から成る信号プローブで
測定される。
信号導体(図示せず)は、信号プローブ端(12)と電
気的に接触し、シールド(16)を通って、プローブ把
持部(22)内に延びる。接地プローブは、回路接地個
所と接触し、測定信号の基準を決めるために使用される
接地プローブ端(18)で構成される。接地プローブ端
(18)は、絶縁体(20)により絶縁される。接地導
体(図示せず)は、接地プローブ端(18)と電気的に
接触し、絶縁体(20)を通って、プローブ把持部(2
2)内に延びる。信号導体及びシールド(16)は、被
シールド・ケーブル(26)を形成する。ケーブル保護
部(24)は、被シールド・ケーブル(26)がプロー
ブ把持部(22)から出る個所で過度に摩耗するのを防
止するために使用される。従来のプローブ(10)は、
接地プローブ端(18)と直列なインダグタンスを比較
的に低くするように作ることができるが、接地プローブ
端(18)及び信号プローブ端(12)間の距離は固定
されている。したがって、従来のプローブ(10)は、
所望の測定個所が、都合の良い接地個所から固定距離よ
り離れていた場合、測定に使用できない。
気的に接触し、シールド(16)を通って、プローブ把
持部(22)内に延びる。接地プローブは、回路接地個
所と接触し、測定信号の基準を決めるために使用される
接地プローブ端(18)で構成される。接地プローブ端
(18)は、絶縁体(20)により絶縁される。接地導
体(図示せず)は、接地プローブ端(18)と電気的に
接触し、絶縁体(20)を通って、プローブ把持部(2
2)内に延びる。信号導体及びシールド(16)は、被
シールド・ケーブル(26)を形成する。ケーブル保護
部(24)は、被シールド・ケーブル(26)がプロー
ブ把持部(22)から出る個所で過度に摩耗するのを防
止するために使用される。従来のプローブ(10)は、
接地プローブ端(18)と直列なインダグタンスを比較
的に低くするように作ることができるが、接地プローブ
端(18)及び信号プローブ端(12)間の距離は固定
されている。したがって、従来のプローブ(10)は、
所望の測定個所が、都合の良い接地個所から固定距離よ
り離れていた場合、測定に使用できない。
第7図は他の従来のプローブ(28)を示す。
第6図のプローブの様に、プローブ(28)は、信号プ
ローブ端(12)、絶縁体(14)及び導電シールド(
16)から成る信号プローブ部を含む。また、 IIZ
”リードと呼ばれる接地プローブ部は、回路接地個所に
接触し、絶縁体(20’)により絶縁された測定信号の
基準を決めるために使用される接地プローブ端(18°
)から成る。ただし、プローブ(28)では、接地プロ
ーブ部はシールド(16)と電気的に接触するだけでな
く、その軸の回りをプローブ把持部(22)に対し自由
に回転する。したがって、信号プローブ端(12)及び
接地プローブ端(18’)間の距離は固定されず、接地
プローブ部が回転して、中心軸から離れる距離により決
まる異なる個所に設定できる。
ローブ端(12)、絶縁体(14)及び導電シールド(
16)から成る信号プローブ部を含む。また、 IIZ
”リードと呼ばれる接地プローブ部は、回路接地個所に
接触し、絶縁体(20’)により絶縁された測定信号の
基準を決めるために使用される接地プローブ端(18°
)から成る。ただし、プローブ(28)では、接地プロ
ーブ部はシールド(16)と電気的に接触するだけでな
く、その軸の回りをプローブ把持部(22)に対し自由
に回転する。したがって、信号プローブ端(12)及び
接地プローブ端(18’)間の距離は固定されず、接地
プローブ部が回転して、中心軸から離れる距離により決
まる異なる個所に設定できる。
従来のプローブ(28)は、接地プローブ端(18′)
と直列なインダクタンスを比較的に低くするように作る
ことができる。しかし、接地プローブ部の動きの自由性
のために、実際の使用上、従来のプローブ(28)は、
特に片手では操作が困難である。更に、信号プローブ端
(12)及び接地プローブ端(18’)間の距離範囲に
も限界がある。
と直列なインダクタンスを比較的に低くするように作る
ことができる。しかし、接地プローブ部の動きの自由性
のために、実際の使用上、従来のプローブ(28)は、
特に片手では操作が困難である。更に、信号プローブ端
(12)及び接地プローブ端(18’)間の距離範囲に
も限界がある。
したがって、従来のプローブ(28)は、測定に使用す
るのに便利な場合があり、所望の測定個所が都合のよい
接地個所から大きく離れている場合には、全く測定でき
ない。
るのに便利な場合があり、所望の測定個所が都合のよい
接地個所から大きく離れている場合には、全く測定でき
ない。
したがって、本発明の目的は、信号プローブ端及び接地
プローブ端の距離が広い範囲で調節可能であり、片手で
簡単に測定できる低インダクタンスの信号測定プローブ
の提供にある。
プローブ端の距離が広い範囲で調節可能であり、片手で
簡単に測定できる低インダクタンスの信号測定プローブ
の提供にある。
[課題を解決するための手段及び作用]本発明の信号測
定プローブは、測定しようとする回路個所に配置するた
めの信号プローブ端及び隣接する接地導体又は導電シー
ルドを有する信号プローブ軸部と、都合のよい接地個所
に配置するための接地プローブ端を有する接地プローブ
腕部とを含む、接地プローブ腕部は、丁番により信号プ
ローブ軸部に取り付けられる。丁番により、接地プロー
ブ腕部は、0〜約135°角度で、コンパスの様に回転
できる。信号プローブ軸部の接地導体及び接地プローブ
腕部の接地プローブ端部は、導電箔のモノリシックな可
撓性のより線(ストランド)から成る低インダクタンス
接地導線により電気的に接続される。
定プローブは、測定しようとする回路個所に配置するた
めの信号プローブ端及び隣接する接地導体又は導電シー
ルドを有する信号プローブ軸部と、都合のよい接地個所
に配置するための接地プローブ端を有する接地プローブ
腕部とを含む、接地プローブ腕部は、丁番により信号プ
ローブ軸部に取り付けられる。丁番により、接地プロー
ブ腕部は、0〜約135°角度で、コンパスの様に回転
できる。信号プローブ軸部の接地導体及び接地プローブ
腕部の接地プローブ端部は、導電箔のモノリシックな可
撓性のより線(ストランド)から成る低インダクタンス
接地導線により電気的に接続される。
信号プローブ端及び接地プローブ端間の距離は、広いレ
ンジで調整可能であり、プローブは片手で簡単に操作で
きる。
ンジで調整可能であり、プローブは片手で簡単に操作で
きる。
本発明の信号測定プローブは、信号プローブ端及び信号
プローブ端に隣接する導体を有する信号プローブ軸部と
、接地プローブ端を有する接地プローブ腕部と、接地プ
ローブ腕部を信号プローブ軸部に回転可能に取り付ける
回転取り付け部材と、信号プローブ軸部の導体及び接地
プローブ腕部の接地プローブ端を電気的に相互接続する
低インダクタンスの導線とを具えることを特徴とする。
プローブ端に隣接する導体を有する信号プローブ軸部と
、接地プローブ端を有する接地プローブ腕部と、接地プ
ローブ腕部を信号プローブ軸部に回転可能に取り付ける
回転取り付け部材と、信号プローブ軸部の導体及び接地
プローブ腕部の接地プローブ端を電気的に相互接続する
低インダクタンスの導線とを具えることを特徴とする。
[実施例コ
第3図は、回路板(5)の様な通常の測定環境で使用す
る場合の本発明によるプローブ(30)を示す。回路板
(5)上の信号は、信号プローブ端(12)、信号プロ
ーブ端(12)を絶縁する絶縁体(14)、及び信号プ
ローブ端(12)を電磁干渉から遮蔽する導電シールド
(16)から成る信号プローブ軸部く35)により測定
される。
る場合の本発明によるプローブ(30)を示す。回路板
(5)上の信号は、信号プローブ端(12)、信号プロ
ーブ端(12)を絶縁する絶縁体(14)、及び信号プ
ローブ端(12)を電磁干渉から遮蔽する導電シールド
(16)から成る信号プローブ軸部く35)により測定
される。
導電シールド(16)は、信号プローブ軸部(35)の
長さ方向に延びる。絶縁された信号導体(図示せず)は
、信号プローブ端(12)と電気的に接触し、これも信
号プローブ軸部(35)の長さ方向に延びる。プローブ
把持部(32)は、導電シールド(16)の全長を覆い
、突状部(33)まで延びる。突状部(33)は、シー
ルド(16)の電圧及び接地電位間で誘電体の表面に沿
って電気伝導が生じる距離即ちアーク・クリ−ページ距
離を増加させる。導電シールドが接地電位に対し、フロ
ーティングしている場合、このことは重要である。
長さ方向に延びる。絶縁された信号導体(図示せず)は
、信号プローブ端(12)と電気的に接触し、これも信
号プローブ軸部(35)の長さ方向に延びる。プローブ
把持部(32)は、導電シールド(16)の全長を覆い
、突状部(33)まで延びる。突状部(33)は、シー
ルド(16)の電圧及び接地電位間で誘電体の表面に沿
って電気伝導が生じる距離即ちアーク・クリ−ページ距
離を増加させる。導電シールドが接地電位に対し、フロ
ーティングしている場合、このことは重要である。
接地プローブ腕部(38)は、回路の接地個所に接触し
、測定信号の基準を決めるために使用される接地プロー
ブ端(40)を含む。接地プローブ腕部(38)は、接
地プローブ腕部(38)をプローブ把持部(32)に取
り付ける丁番(36まで延びる。丁番(36)は、ボル
ト(39)及びナツト(図示せず)により固定される。
、測定信号の基準を決めるために使用される接地プロー
ブ端(40)を含む。接地プローブ腕部(38)は、接
地プローブ腕部(38)をプローブ把持部(32)に取
り付ける丁番(36まで延びる。丁番(36)は、ボル
ト(39)及びナツト(図示せず)により固定される。
導電シールド(16)に電気的に接続された環状つ
ば部(42)は、低インダクタンス接地導線(34によ
り接地プローブ端(40)に電気的に接続される。低イ
ンダクタンス接地導線(34)は、導amのモノリシッ
クな可撓性のより線であり、■インチ当たり20ナノヘ
ンリーの最大自己インダクタンスを有する。この様な低
インダクタンス接地導線は、1989年1月13日に発
行されたスチーブン・E・ツアーによるパ低インダクタ
ンス接地導線″と題する米国特許筒4. 838. 8
02号明細書に開示されている。低インダクタンス接地
導線は、ポリアミド又はポリマ膜の眉間に挾まれた平ら
な可撓性の銅製帯状片により製造される。低インダクタ
ンス接地導線(34)及び環状つば部(42)は、シー
ルド(16)の端部及び接地プローブ端部(40)にで
きるだけ近接して取り付けられることが望ましく、また
、接地導体(34)は、導線のインダクタンスを最小に
するためにワイアではなく、箔により製造されることが
望ましい。
ば部(42)は、低インダクタンス接地導線(34によ
り接地プローブ端(40)に電気的に接続される。低イ
ンダクタンス接地導線(34)は、導amのモノリシッ
クな可撓性のより線であり、■インチ当たり20ナノヘ
ンリーの最大自己インダクタンスを有する。この様な低
インダクタンス接地導線は、1989年1月13日に発
行されたスチーブン・E・ツアーによるパ低インダクタ
ンス接地導線″と題する米国特許筒4. 838. 8
02号明細書に開示されている。低インダクタンス接地
導線は、ポリアミド又はポリマ膜の眉間に挾まれた平ら
な可撓性の銅製帯状片により製造される。低インダクタ
ンス接地導線(34)及び環状つば部(42)は、シー
ルド(16)の端部及び接地プローブ端部(40)にで
きるだけ近接して取り付けられることが望ましく、また
、接地導体(34)は、導線のインダクタンスを最小に
するためにワイアではなく、箔により製造されることが
望ましい。
信号導体及びシールド(16)は、被シールド・ケーブ
ル(26)を形成する。従来のケーブルと同様に、ケー
ブル保護部(24)は、被シールド・ケーブル(26)
がプローブ把持部(32)から出る個所での過度の摩耗
を防止するために使用される。
ル(26)を形成する。従来のケーブルと同様に、ケー
ブル保護部(24)は、被シールド・ケーブル(26)
がプローブ把持部(32)から出る個所での過度の摩耗
を防止するために使用される。
接地プローブ腕部(38)は、約135°の角度にわた
って自由に回転できるように、丁番により信号プローブ
軸部(35)に取り付けられる。
って自由に回転できるように、丁番により信号プローブ
軸部(35)に取り付けられる。
接地プローブ腕部(38)が回転することにより、接地
個所に近接した回路個所の測定、及び接地個所から離れ
た回路個所の測定が可能になり、その測定範囲は信号プ
ローブ軸部(35)及び接地プローブ腕部(38)の長
さによってのみ制限される。信号測定プローブ(30)
のコンパスの様な構造により、操作者は片手で簡単に測
定をすることができる。
個所に近接した回路個所の測定、及び接地個所から離れ
た回路個所の測定が可能になり、その測定範囲は信号プ
ローブ軸部(35)及び接地プローブ腕部(38)の長
さによってのみ制限される。信号測定プローブ(30)
のコンパスの様な構造により、操作者は片手で簡単に測
定をすることができる。
信号測定プローブ(30)の部分切り取り図である第2
図は、導電シールド(16)に対する環状つば部(42
)の位置及び丁番(36)のつめ軍構造を示す。環状つ
ば部(42)は、信号プローブ端(12)に近接した導
電シールド(16)を囲み、低インダクタンス接地導線
(34)を介した接地プローブ端(40)までの接地導
線長を最短に維持するようにする。丁番(36)の部分
的切り欠き図は、つめ車丁番を形成する突起領域を示す
。プローブ軸部に対する接地プローブ腕部(38)の角
度は、ボルト(39)及び蝶ナツト(37)(第3図)
で丁番を固定することにより保持できる。プローブ把持
部(32)、突状部分(33)、突状部に接触するケー
ブル保護部(24)は、部分切り取り図に示されている
。
図は、導電シールド(16)に対する環状つば部(42
)の位置及び丁番(36)のつめ軍構造を示す。環状つ
ば部(42)は、信号プローブ端(12)に近接した導
電シールド(16)を囲み、低インダクタンス接地導線
(34)を介した接地プローブ端(40)までの接地導
線長を最短に維持するようにする。丁番(36)の部分
的切り欠き図は、つめ車丁番を形成する突起領域を示す
。プローブ軸部に対する接地プローブ腕部(38)の角
度は、ボルト(39)及び蝶ナツト(37)(第3図)
で丁番を固定することにより保持できる。プローブ把持
部(32)、突状部分(33)、突状部に接触するケー
ブル保護部(24)は、部分切り取り図に示されている
。
第3図は、丁番(36)を詳細に示すための第2図の線
2−2に沿った断面図である。突起部を有する丁番の中
央可動部は、接地プローブ腕部(38)と結合され、丁
番(36)の2個の外側固定部分は、プローブ把持部(
32)に結合される結合突起部を有する。これらの部分
は、共に結合され、ボルト(39)及び蝶ナツト(37
)の様な応力調整手段により固定されるつめ本式丁番を
形成する。
2−2に沿った断面図である。突起部を有する丁番の中
央可動部は、接地プローブ腕部(38)と結合され、丁
番(36)の2個の外側固定部分は、プローブ把持部(
32)に結合される結合突起部を有する。これらの部分
は、共に結合され、ボルト(39)及び蝶ナツト(37
)の様な応力調整手段により固定されるつめ本式丁番を
形成する。
第4図は、環状つば部(42)を詳細に示す。
プローブ把持部〈32)は、環状つば部(42)を固定
するへり部(31)を有する。プローブ把持部(32)
を通過して延びる環状つば部の部分は、半田付けの様な
適当な手段により低インダクタンス接地導線(34)に
取り付けられる。第5図は、第4@の線4−4に沿った
プローブ把持部(32)及び環状つば部(42)の断面
図である。
するへり部(31)を有する。プローブ把持部(32)
を通過して延びる環状つば部の部分は、半田付けの様な
適当な手段により低インダクタンス接地導線(34)に
取り付けられる。第5図は、第4@の線4−4に沿った
プローブ把持部(32)及び環状つば部(42)の断面
図である。
環状つば部(42)は、プローブ把持部(32)の孔(
29a)及び細長い開口(29b)を介して挿入され、
固定される。−度、挿入されると、環状つば部(42)
は広がり、へり部(31)により制止される。
29a)及び細長い開口(29b)を介して挿入され、
固定される。−度、挿入されると、環状つば部(42)
は広がり、へり部(31)により制止される。
最高の性能を得るために、信号プローブ端(12)及び
接地プローブ端(40)は、金めっきされたベリリウム
銅で作ることが望ましい。図示する様な堅いビンとして
、プランジャー・ビン又はばね負荷ビンの様な市販され
たものを代用してもよい。絶縁体(14)は、ガラスを
充填したポリカーボン又はポリプロピレンで作られる。
接地プローブ端(40)は、金めっきされたベリリウム
銅で作ることが望ましい。図示する様な堅いビンとして
、プランジャー・ビン又はばね負荷ビンの様な市販され
たものを代用してもよい。絶縁体(14)は、ガラスを
充填したポリカーボン又はポリプロピレンで作られる。
プローブ把持部(32)及び接地プローブ腕部(38)
は、ガラスを充填したナイロン・プラスチックで作られ
る。理想的には、環状つば部(42)はベリリウム鋼で
作られる。導電シールド(16)は真鍮であり、銅−錫
一亜鉛合金でめっきされる。
は、ガラスを充填したナイロン・プラスチックで作られ
る。理想的には、環状つば部(42)はベリリウム鋼で
作られる。導電シールド(16)は真鍮であり、銅−錫
一亜鉛合金でめっきされる。
ケーブル保護部(24)は、ゴム、可撓性ビニール又は
ゴムを加えたオレフィン重合体で作られる。
ゴムを加えたオレフィン重合体で作られる。
以上の好適な実施例及び説明は、本発明を限定するもの
ではなく、種々の変更及び変形が可能である。例えば、
プローブ把持部(32)、丁番(36)及び接地プロー
ブ腕部(38)の形状及び大きさは、本発明の要旨を逸
脱することなく変更が可能である。
ではなく、種々の変更及び変形が可能である。例えば、
プローブ把持部(32)、丁番(36)及び接地プロー
ブ腕部(38)の形状及び大きさは、本発明の要旨を逸
脱することなく変更が可能である。
[発明の効果コ
信号プローブ端及び接地プローブ端間の距離は、広いレ
ンジで調整可能であり、プローブは片手で簡単に操作で
きる。
ンジで調整可能であり、プローブは片手で簡単に操作で
きる。
第1図は本発明の信号測定プローブを示す側面図、第2
図は第1図の信号測定プローブの部分切り取り図、第3
図は第2図の線2−2に沿った丁番のl!yr面図、第
4図は環状っは部を示す部分切り(16)は接地導体、
(34)は接地導線、 (35)は信号プローブ軸部
、 (38)は接地プローブ腕部、 (4o)は接地プ
ローブ端を示す。
図は第1図の信号測定プローブの部分切り取り図、第3
図は第2図の線2−2に沿った丁番のl!yr面図、第
4図は環状っは部を示す部分切り(16)は接地導体、
(34)は接地導線、 (35)は信号プローブ軸部
、 (38)は接地プローブ腕部、 (4o)は接地プ
ローブ端を示す。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 信号プローブ端及び該信号プローブ端に隣接する導体を
有する信号プローブ軸部と、 接地プローブ端を有する接地プローブ腕部と、該接地プ
ローブ腕部を上記信号プローブ軸部に回転可能に取り付
ける回転取り付け部材と、上記信号プローブ軸部の上記
導体及び上記接地プローブ腕部の上記接地プローブ端を
電気的に相互接続する低インダクタンスの導線と を具えることを特徴とする信号測定プローブ。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US415825 | 1989-10-02 | ||
US07/415,825 US4923407A (en) | 1989-10-02 | 1989-10-02 | Adjustable low inductance probe |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03129499A true JPH03129499A (ja) | 1991-06-03 |
Family
ID=23647360
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2263700A Pending JPH03129499A (ja) | 1989-10-02 | 1990-10-01 | 信号測定プロープ |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4923407A (ja) |
JP (1) | JPH03129499A (ja) |
DE (1) | DE4028943A1 (ja) |
GB (1) | GB2236629A (ja) |
Families Citing this family (39)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5175493A (en) * | 1991-10-11 | 1992-12-29 | Interconnect Devices, Inc. | Shielded electrical contact spring probe assembly |
US5264788A (en) * | 1992-06-12 | 1993-11-23 | Cascade Microtech, Inc. | Adjustable strap implemented return line for a probe station |
DE4319643C1 (de) * | 1993-06-14 | 1995-01-19 | Beha C Gmbh | Gerät zum Prüfen und/oder Messen von elektrischen Größen |
US5717328A (en) * | 1996-07-10 | 1998-02-10 | Hewlett-Packard Company | Method and apparatus for using a miniature probe as a hand held probe |
US5935160A (en) | 1997-01-24 | 1999-08-10 | Cardiac Pacemakers, Inc. | Left ventricular access lead for heart failure pacing |
US6252391B1 (en) * | 1998-08-28 | 2001-06-26 | International Business Machines Corporation | High frequency probe |
US6276956B1 (en) * | 1999-04-12 | 2001-08-21 | Sencore, Inc. | Dual point test probe for surface mount type circuit board connections |
US6445202B1 (en) | 1999-06-30 | 2002-09-03 | Cascade Microtech, Inc. | Probe station thermal chuck with shielding for capacitive current |
US6798229B2 (en) * | 2000-05-11 | 2004-09-28 | Brian D. Butler | Wide-bandwidth coaxial probe |
DE10039928B4 (de) * | 2000-08-16 | 2004-07-15 | Infineon Technologies Ag | Vorrichtung zum automatisierten Testen, Kalibrieren und Charakterisieren von Testadaptern |
US6965226B2 (en) | 2000-09-05 | 2005-11-15 | Cascade Microtech, Inc. | Chuck for holding a device under test |
US6914423B2 (en) | 2000-09-05 | 2005-07-05 | Cascade Microtech, Inc. | Probe station |
DE20021685U1 (de) | 2000-12-21 | 2001-03-15 | Rosenberger Hochfrequenztechnik GmbH & Co, 83413 Fridolfing | Hochfrequenz-Tastspitze |
JP3716232B2 (ja) * | 2001-09-25 | 2005-11-16 | オルファ株式会社 | ラチェット機構付きのコンパスおよびコンパスカッター |
US6822463B1 (en) | 2001-12-21 | 2004-11-23 | Lecroy Corporation | Active differential test probe with a transmission line input structure |
US6831452B2 (en) * | 2002-04-16 | 2004-12-14 | Agilent Technologies, Inc. | Systems and methods for wideband single-end probing of variabily spaced probe points |
US6828768B2 (en) * | 2002-04-16 | 2004-12-07 | Agilent Technologies, Inc. | Systems and methods for wideband differential probing of variably spaced probe points |
US6856129B2 (en) * | 2002-07-09 | 2005-02-15 | Intel Corporation | Current probe device having an integrated amplifier |
US20040207417A1 (en) * | 2003-04-16 | 2004-10-21 | Barr Andrew Harvey | Electronic probe with positionable tip |
US7492172B2 (en) | 2003-05-23 | 2009-02-17 | Cascade Microtech, Inc. | Chuck for holding a device under test |
US6937039B2 (en) * | 2003-05-28 | 2005-08-30 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Tip and tip assembly for a signal probe |
US7250626B2 (en) | 2003-10-22 | 2007-07-31 | Cascade Microtech, Inc. | Probe testing structure |
US7321234B2 (en) * | 2003-12-18 | 2008-01-22 | Lecroy Corporation | Resistive test probe tips and applications therefor |
US7262614B1 (en) | 2005-02-10 | 2007-08-28 | Lecroy Corporation | Planar on edge probing tip with flex |
US7187188B2 (en) | 2003-12-24 | 2007-03-06 | Cascade Microtech, Inc. | Chuck with integrated wafer support |
US7212018B2 (en) * | 2004-10-21 | 2007-05-01 | Lecroy Corporation | Dual tip probe |
US7535247B2 (en) | 2005-01-31 | 2009-05-19 | Cascade Microtech, Inc. | Interface for testing semiconductors |
US7656172B2 (en) | 2005-01-31 | 2010-02-02 | Cascade Microtech, Inc. | System for testing semiconductors |
US20060267605A1 (en) * | 2005-05-27 | 2006-11-30 | Yang Kei-Wean C | Differential measurement probe having a ground clip system for the probing tips |
US9140724B1 (en) | 2006-01-06 | 2015-09-22 | Lecroy Corporation | Compensating resistance probing tip optimized adapters for use with specific electrical test probes |
US9404940B1 (en) | 2006-01-06 | 2016-08-02 | Teledyne Lecroy, Inc. | Compensating probing tip optimized adapters for use with specific electrical test probes |
US7671613B1 (en) | 2006-01-06 | 2010-03-02 | Lecroy Corporation | Probing blade conductive connector for use with an electrical test probe |
KR101188288B1 (ko) * | 2007-09-18 | 2012-10-05 | 삼성전자주식회사 | 반도체 소자 검사 장치 |
US7804314B2 (en) * | 2008-02-19 | 2010-09-28 | Siemens Industry, Inc. | Adjustable electrical probes for circuit breaker tester |
US8319503B2 (en) | 2008-11-24 | 2012-11-27 | Cascade Microtech, Inc. | Test apparatus for measuring a characteristic of a device under test |
CN102053175B (zh) * | 2009-11-10 | 2014-12-10 | 北京普源精电科技有限公司 | 一种用于显示电变量装置的探头 |
TWI465723B (zh) * | 2010-06-11 | 2014-12-21 | Hon Hai Prec Ind Co Ltd | 波形測試裝置及其使用方法 |
US9261535B2 (en) * | 2013-03-13 | 2016-02-16 | SanDisk Technologies, Inc. | Active probe adaptor |
EP4187260A1 (en) * | 2021-11-26 | 2023-05-31 | Sensepeek AB | Ground tuning switch |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR358934A (fr) * | 1905-10-27 | 1906-03-12 | Emile Fauvin | Compas de connexion et sa combinaison avec les appareils de mesures électriques |
US2685673A (en) * | 1949-07-28 | 1954-08-03 | Rca Corp | High frequency test probe |
US2790144A (en) * | 1953-08-31 | 1957-04-23 | Electronic Instr Co Inc | A. c.-d. c. testing device |
US2912647A (en) * | 1956-03-02 | 1959-11-10 | Rca Corp | Testing probes |
CH364040A (fr) * | 1960-04-19 | 1962-08-31 | Ipa Anstalt | Dispositif de détection pour vérifier si un élément d'une installation électrique est sous tension |
US3373358A (en) * | 1964-04-30 | 1968-03-12 | Sperry Rand Corp | Pantograph probe system for testing electrical circuits |
DE3005255A1 (de) * | 1980-02-13 | 1981-08-20 | Rausch & Pausch, 8672 Selb | Hochspannungspruefer |
JPH0448542Y2 (ja) * | 1985-05-16 | 1992-11-16 | ||
US4714436A (en) * | 1986-12-15 | 1987-12-22 | John Fluke Mfg. Co., Inc. | Test clip with grounding adaptor for cable connector |
US4838802A (en) * | 1987-07-08 | 1989-06-13 | Tektronix, Inc. | Low inductance ground lead |
-
1989
- 1989-10-02 US US07/415,825 patent/US4923407A/en not_active Expired - Fee Related
-
1990
- 1990-08-14 GB GB9017756A patent/GB2236629A/en not_active Withdrawn
- 1990-09-12 DE DE4028943A patent/DE4028943A1/de not_active Withdrawn
- 1990-10-01 JP JP2263700A patent/JPH03129499A/ja active Pending
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US4923407A (en) | 1990-05-08 |
GB2236629A (en) | 1991-04-10 |
GB9017756D0 (en) | 1990-09-26 |
DE4028943A1 (de) | 1991-04-11 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPH03129499A (ja) | 信号測定プロープ | |
CN105340026B (zh) | 导体组件 | |
US9739820B2 (en) | Conductor assembly | |
JPS5827066A (ja) | 電気測定用プロ−ブ | |
JP5123424B2 (ja) | 切替装置を備えたプローブ | |
JPH04230865A (ja) | 電気試験プローブ | |
JPH0325183Y2 (ja) | ||
JP2674265B2 (ja) | Cvケーブル用プレハブ型接続部の部分放電検出方法 | |
JPH08146046A (ja) | 非接触型電圧プローブ装置 | |
CN211576151U (zh) | 一种用于架空输电线路的招弧角专用测量工具 | |
JPH0637337Y2 (ja) | プロ−ブ装置 | |
US20230236226A1 (en) | Voltage detection probe and electrode mounting tool | |
JPH0668520B2 (ja) | 電力線電位測定装置 | |
JPS5853762A (ja) | テストプロ−ブ組立体 | |
JP3280502B2 (ja) | ケーブル端末部 | |
JP2953210B2 (ja) | 光ファイバ温度センサ | |
JP2942029B2 (ja) | 避雷碍子の不良検出器 | |
JPH0432616Y2 (ja) | ||
JPH02150774A (ja) | 可動高電圧体の物理量測定システムにおけるシールド方法 | |
JPS6011494Y2 (ja) | プロ−ブ | |
JP2002100657A (ja) | 半導体測定装置 | |
CN111272131A (zh) | 一种用于架空输电线路的招弧角专用测量工具 | |
JP3401187B2 (ja) | バイパスケーブル | |
JP2532266Y2 (ja) | 電力ケーブルプレハブ接続部 | |
JP2021177148A (ja) | センサ |