JPH0312569A - スキャンパス機能を有するｌｓｉ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野コ 本発明はスキャンパス方式を用いたＬＳＩに関し、特に
、スキャンパスデータの戻し機能を有するＬＳＩに関す
る。

［従来の技術］ 従来、故障診断にスキャンパス方式を用いたＬＳＩでは
、スキャンモード／通常モード切り換え端子、スキャン
インデータ入力端子１通常モード人力データ端子、クロ
ック人力端子、及びスキャンアウトデータ出力端子を備
えており　スキャンモード又は２１ｆ１常モ一ド時にス
キャン付レジスタに取り込まれたデータをスキャンモー
ドによりシリアルにスキャンアウトデータ出力端子より
出力している。

［発明が解決しようとする問題点〕 上述のように従来のスキャンパス方式を用いたＬＳＩを
多数用いてパッケージを設計する場合検査容易化のため
ＬＳＩのスキャンアウトデータ出力端子を他のＬＳＩの
スキャンインデータ入力端子に接続して多段回路を作り
、大規模なシフトレジスタを構成している。

ところが、上述のパッケージをファンクション試験機を
用いてスキャンモードで検査した際、パッケージが不良
であると、パッケージ内のどのＬＳＩが不良か、さらに
、どのパターンが不良なのかを特定するのに、多大な工
数、高度な論理回路の知識及び不良診断技術が必要にな
ってしまう。

つまり、不良箇所の特定が極めて難しいという問題点が
ある。

本発明の目的はパッケージにした際に不良箇所の特定が
極めて容易なスキャンパス機能を内蔵するＬＳＩを提供
することにある。

［問題点を解決するための手段］ 本発明によれば、スキャンインデータをスキャンアウト
データとして格納する複数のスキャンパス付レジスタと
１前記スキヤンインデータを入力するスキャンインデー
タ入力部と、前記スキャンアウトデータを出力するスキ
ャンアウトデータ出力部とを備えるＬＳＩにおいて、前
記スキャンアウトデータを前記スキャンアウトデータ出
力部を介して前記スキャンパス付レジスタの数だけ前記
スキャンインデータ入力部に転送する転送手段と前記ス
キャンアウトデータの転送終了を検出して転送終了信号
を送出する転送検出手段と、該転送信号を受信すると、
前記転送手段を起動する起動手段とを有することを特徴
とするスキャンパス機能を有するＬＳＩが得られる。

［実施例〕 次に　本発明について実施例によって説明する。

第１図を参照して１本発明によるスキャンパス内蔵ＬＳ
ＩＩはスキャンパス付レジスタ内蔵回路２及びスキャン
パスデータ戻し回路３を備えている。スキャンパス付レ
ジスタ内蔵回路２ては、試験ビンＴＥＳＴがハイレベル
となり、クロックビンＣＬＫからクロック信号が入力さ
れると、ＳＦＴビンがロウレベルの際　入力ビンＩＮＩ
、ＩＮ２゜ＩＮ３．　Ｉ　Ｎ　４及びＩＮ５からの入力
信号を取り込む。

一方、ＳＦＴピンがハイレベルとなると、ＳＩＮビンか
らの信号を取り込む。その後、クロックビンＣＬＫから
のクロック信号が５回人力されるとスキャンパス付レジ
スタ１４に信号が取り込まれる。

スキャンパスデータ戻し回路３では、パワーオンリセッ
ト回路９による電源のオン（ＯＮ）によってカウンター
回路１０がリセットされる。レジスタ数一致検出回路１
１はスキャンパス付レジスタ１４の数とカウンター回路
１０のカウント数とが一致した際、ハイレベルとなり、
それ以外では。

ロウレベルを出力している。ＳＦＴビンを７１イレベル
、　ＦＥＱＬＩＬビン、試験ビンＴＥＳＴをロウレベル
にするとスキャンパスデータ戻しモードとなり、出力制
御素子４のゲートが開かれる。この際、カウンター回路
１０はパワーオンリセット回路９によりリセットされて
おり、レジスタ数一致検出回路１１は、ロウレベルとな
っている。従って、レジスタ数一致検出による出力制御
回路１２はレジスタ数一致検出によってゲートが開き、
スキャナノくス付レジスタ１４からの信号がＳＩＮビン
に出力される。

次に、クロックビンＣＬＫよりクロック信号を１回人力
すると、クロック制御回路７からレジスタ数一致検出に
よってクロック信号が出力され。

前段のスキャン付レジスタ１５からの信号がＳＩＮビン
に出力される。その時、カウンター回路１０は、１つカ
ウントアツプしている。その後クロックビンＣＬＫより
クロック信号を４回入力するとスキャンパス付レジスタ
１６からの信号がＳＩＮピンに出力される。さらにクロ
ックＣＬＫよりクロック信号を１回人力するとカウンタ
ー回路１０が６となり、レジスタ数一致検出回路１１の
出力は、ハイレベルとなる。この時１出力制御回路はレ
ジスタ数一致検出によってそのゲートが閉まりＳＩＮピ
ンには、　５ＯｕＴピンからの信号が出力される。また
、レジスタ数一致検出によるクロック制御回路７もレジ
スタ数一致検出でそのゲートが閉まり１　クロック信号
を出力できなくなる。さらにＢ［：ＱＵＡＬビンからは
ロウレベルの信号が出力される。

［発明の効果］ 以上説明したように本発明では、スキャンパス機能を釘
するＬＳＩにスキャンパスデータ戻し機能を付加したか
らこのＬＳＩを多数用いてＬＳＩのスキャンアウトデー
タ出力端子及びＢＥＱＵＡＬ端子を各々別のＬＳＩのス
キャンインデータ入力端子。

ｒ’ＥＱＵＡＬ端子に接続して多段回路を作り、大規模
なシフトレジスタを構成するようにすれば、ファンクシ
ョン試験機で検査を行った時、スキャンインデータ入力
端子ですでにパッケージの各ＬＳＩに設定された信号を
読み出すことができるので。

ＣＡＤからのデータを利用することにより、パッケージ
中のどのＬＳＩが不良かを特定することができ、容易に
不良診断ができる。その結果、大幅に検査工数を削減す
ることができる効果がある。

７・・・クロック制御回路　８・・・クロックバッファ
回路、９・・・パワーオンリセット回路、１０・・・カ
ウンター回路、１１・・・レジスタ数一致検出回路、１
２・・・出力制御回路、１３・・・出力バッファ回路、
１４・・・スキャンパス付レジスタ、１５・・・スキャ
ンパス付レジスタ、１６・・・スキャンパス付レジスタ
。

【図面の簡単な説明】

第１図は２本発明の一実施例を示すブロック図である。 １・・・スキャンパス内蔵ＬＳＩ、２・・・スキャンパ
ス付レジスタ内蔵回路、３・・・スキャンパスデータ戻
し回路１４・・・出力制御素子、５・・・スキャンパス
データ戻し条件回路、６・・・クロックバッファ回路。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １、スキャンインデータをスキャンアウトデータとして
   格納する複数のスキャンパス付レジスタと、前記スキャ
   ンインデータを入力するスキャンインデータ入力部と、
   前記スキャンアウトデータを出力するスキャンアウトデ
   ータ出力部とを備えるＬＳＩにおいて、前記スキャンア
   ウトデータを前記スキャンアウトデータ出力部を介して
   前記スキャンパス付レジスタの数だけ前記スキャンイン
   データ入力部に転送する転送手段と、前記スキャンアウ
   トデータの転送終了を検出して転送終了信号を送出する
   転送検出手段と、該転送信号を受信すると、前記転送手
   段を起動する起動手段とを有することを特徴とするスキ
   ャンパス機能を有するＬＳＩ。