JPH03123818A - アナログ出力機器の診断装置 - Google Patents
アナログ出力機器の診断装置Info
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- JPH03123818A JPH03123818A JP1262058A JP26205889A JPH03123818A JP H03123818 A JPH03123818 A JP H03123818A JP 1262058 A JP1262058 A JP 1262058A JP 26205889 A JP26205889 A JP 26205889A JP H03123818 A JPH03123818 A JP H03123818A
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- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 claims abstract description 16
- RRLHMJHRFMHVNM-BQVXCWBNSA-N [(2s,3r,6r)-6-[5-[5-hydroxy-3-(4-hydroxyphenyl)-4-oxochromen-7-yl]oxypentoxy]-2-methyl-3,6-dihydro-2h-pyran-3-yl] acetate Chemical compound C1=C[C@@H](OC(C)=O)[C@H](C)O[C@H]1OCCCCCOC1=CC(O)=C2C(=O)C(C=3C=CC(O)=CC=3)=COC2=C1 RRLHMJHRFMHVNM-BQVXCWBNSA-N 0.000 abstract description 4
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 10
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000002405 diagnostic procedure Methods 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
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- Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
- Testing And Monitoring For Control Systems (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の目的〕
（産業上の利用分野）
の診断装置に関する。
（従来の技術）
第５図はプロセス入出力機器の診断装置の構成図である
。プロセス入出力機器はバルブ１に開閉操作信号を与え
るもので、ＣＰＵ （中央処理装置）２が備えられ、こ
のＣＰＵ２にバス３を介してＲＯＭ４．ＲＡＭ５．パル
ス幅変調回路６．リードバック用′８７及びＶ／Ｉ（電
圧／電流）診断ステータス８が接続されている。又、パ
ルス幅変調回路６の出力端子にはホトカプラ９を介して
出力用フィルタ回路１０及びＶ／Ｉ変換回路１１が直列
に接続されている。そして、このＶ／Ｉ変換回路１１か
ら出力される電流信号がバルブ１に送られるとともに同
電流信号がＶ／Ｉ診断ステータス８に送られるようにな
っている。一方、出力用フィルタ回路１０と同一の時定
数を持ったリードバック用フィルタ回路１２が備えられ
、パルス幅変調回路６から出力されるパルス幅変調信号
がこのリードバック用フィルタ回路１２によりフィルタ
処理されてリードバック回路７に送られるようになって
いる。
。プロセス入出力機器はバルブ１に開閉操作信号を与え
るもので、ＣＰＵ （中央処理装置）２が備えられ、こ
のＣＰＵ２にバス３を介してＲＯＭ４．ＲＡＭ５．パル
ス幅変調回路６．リードバック用′８７及びＶ／Ｉ（電
圧／電流）診断ステータス８が接続されている。又、パ
ルス幅変調回路６の出力端子にはホトカプラ９を介して
出力用フィルタ回路１０及びＶ／Ｉ変換回路１１が直列
に接続されている。そして、このＶ／Ｉ変換回路１１か
ら出力される電流信号がバルブ１に送られるとともに同
電流信号がＶ／Ｉ診断ステータス８に送られるようにな
っている。一方、出力用フィルタ回路１０と同一の時定
数を持ったリードバック用フィルタ回路１２が備えられ
、パルス幅変調回路６から出力されるパルス幅変調信号
がこのリードバック用フィルタ回路１２によりフィルタ
処理されてリードバック回路７に送られるようになって
いる。
このような構成であれば、ＣＰＵ２からバルブ１の開閉
指令Ｍがパルス幅変調回路６に発せられると、パルス幅
変調回路６はこの開閉指令Ｍに応じたパルス幅変調信号
を送出する。このパルス幅変調信号はホトカブラ９を通
り、次の出力用フィルタ回路１０でフィルタ処理され、
さらにＶ／１変換回路１１で電流信号に変換されてバル
ブ１に送られる。この結果、バルブ１は開閉指令に応じ
て開閉する。
指令Ｍがパルス幅変調回路６に発せられると、パルス幅
変調回路６はこの開閉指令Ｍに応じたパルス幅変調信号
を送出する。このパルス幅変調信号はホトカブラ９を通
り、次の出力用フィルタ回路１０でフィルタ処理され、
さらにＶ／１変換回路１１で電流信号に変換されてバル
ブ１に送られる。この結果、バルブ１は開閉指令に応じ
て開閉する。
かかるプロセス入出力機器において診断を行う場合、Ｃ
ＰＵ２はＲＯＭ４に記憶された第６図に示す診断流れ図
のプログラムを読み出して診断を実行する。ＣＰＵ２は
ステップｓ１において開閉指令Ｍを発する。そうすると
、パルス幅変調回路６は開閉指令Ｍに応じたパルス幅変
調信号を出力する。このパルス幅変調信号はホトカプラ
９を通り、次の出力用フィルタ回路１０でフィルタ処理
され、さらにＶ／Ｉ変換回路１１で電流信号に変換され
てバルブ１に送られる。これと同時にパルス幅変調信号
はリードバック用フィルタ回路１２でフィルタ処理され
てリードバック回路７に送られる。ここで、出力用フィ
ルタ回路１０の時定数は１００ｓｅｃ程度であり、フィ
ルタ出力が整定するまで同時間かかる。従って、ＣＰＵ
２はステップＳ２においてリードバック可能な時間（例
えば出力用フィルタ回路１０の時定数１００ｓｅｃの２
〜３倍の時間）以上待ち、この時間の経過後にステップ
Ｓ３においてリードバック回路及びＶ／Ｉ診断ステータ
ス８に読み込み指令を発する。これらリードバック回路
及びＶ／Ｉ診断ステータス８によりリードバック用フィ
ルタ回路１２のフィルタ出力Ｍｒ及びＶ／Ｉ変換回路１
１の電流出力Ｍｓが読み込まれると、ＣＰＵ２はフィル
タ出力Ｍｒ及び電流出力Ｍｓから診断を行う。
ＰＵ２はＲＯＭ４に記憶された第６図に示す診断流れ図
のプログラムを読み出して診断を実行する。ＣＰＵ２は
ステップｓ１において開閉指令Ｍを発する。そうすると
、パルス幅変調回路６は開閉指令Ｍに応じたパルス幅変
調信号を出力する。このパルス幅変調信号はホトカプラ
９を通り、次の出力用フィルタ回路１０でフィルタ処理
され、さらにＶ／Ｉ変換回路１１で電流信号に変換され
てバルブ１に送られる。これと同時にパルス幅変調信号
はリードバック用フィルタ回路１２でフィルタ処理され
てリードバック回路７に送られる。ここで、出力用フィ
ルタ回路１０の時定数は１００ｓｅｃ程度であり、フィ
ルタ出力が整定するまで同時間かかる。従って、ＣＰＵ
２はステップＳ２においてリードバック可能な時間（例
えば出力用フィルタ回路１０の時定数１００ｓｅｃの２
〜３倍の時間）以上待ち、この時間の経過後にステップ
Ｓ３においてリードバック回路及びＶ／Ｉ診断ステータ
ス８に読み込み指令を発する。これらリードバック回路
及びＶ／Ｉ診断ステータス８によりリードバック用フィ
ルタ回路１２のフィルタ出力Ｍｒ及びＶ／Ｉ変換回路１
１の電流出力Ｍｓが読み込まれると、ＣＰＵ２はフィル
タ出力Ｍｒ及び電流出力Ｍｓから診断を行う。
しかしながら、このような診断装置では出力用フィルタ
回路１０の時定数以上の時間が経過しなければ、ＣＰＵ
２は次の開閉指令を発して診断を行うことができない。
回路１０の時定数以上の時間が経過しなければ、ＣＰＵ
２は次の開閉指令を発して診断を行うことができない。
つまり、出力用フィルタ回路１０の時定数より短い時間
間隔でＣＰＵ２から開閉指令を発しても、これら開閉指
令のパルス幅変調信号は出力用フィルタ回路１０で平均
化されて開閉指令に応じた値として現れないからである
。
間隔でＣＰＵ２から開閉指令を発しても、これら開閉指
令のパルス幅変調信号は出力用フィルタ回路１０で平均
化されて開閉指令に応じた値として現れないからである
。
このため、開閉指令の変更は出力用フィルタ回路１０の
時定数以上の時間が経過しなければできない。
時定数以上の時間が経過しなければできない。
（発明が解決しようとする課題）
以上のように出力用フィルタ回路１０の時定数以上の時
間が経過しなければ、ＣＰＵ２は次の開閉指令を発して
診断を行うことができない。
間が経過しなければ、ＣＰＵ２は次の開閉指令を発して
診断を行うことができない。
そこで本発明は、出力用フィルタ回路の時定数以上の時
間が経過しなくても次の開閉指令を発して診断を行うこ
とができるアナログ出力機器の診断装置を提供すること
を目的とする。
間が経過しなくても次の開閉指令を発して診断を行うこ
とができるアナログ出力機器の診断装置を提供すること
を目的とする。
［発明の構成］
（課題を解決するための手段）
本発明は、中央処理装置から発せられる指令をパルス幅
変調信号に変換しこのパルス幅変調信号を出力用フィル
タ、回路を通して対象機器に与えるアナログ出力機器の
診断装置において、出力用フィルタ回路と同一機能を有
しパルス幅変調信号をフィルタ処理するリードバック用
フィルタ回路と、中央処理装置から発せられる指令のう
ち今回発せられた指令と前回発せられた指令との変化分
を求めこの変化分が診断許容範囲内であるかを判断する
診断判断手段と、この診断判断手段により診断許容範囲
内であると判断されるとリードバック用フィルタ回路の
出力信号と出力用フィルタ回路の出力信号とを受けて診
断処理を実行する診断手段とを備えて上記目的を達成し
ようとするアナログ出力機器の診断装置である。
変調信号に変換しこのパルス幅変調信号を出力用フィル
タ、回路を通して対象機器に与えるアナログ出力機器の
診断装置において、出力用フィルタ回路と同一機能を有
しパルス幅変調信号をフィルタ処理するリードバック用
フィルタ回路と、中央処理装置から発せられる指令のう
ち今回発せられた指令と前回発せられた指令との変化分
を求めこの変化分が診断許容範囲内であるかを判断する
診断判断手段と、この診断判断手段により診断許容範囲
内であると判断されるとリードバック用フィルタ回路の
出力信号と出力用フィルタ回路の出力信号とを受けて診
断処理を実行する診断手段とを備えて上記目的を達成し
ようとするアナログ出力機器の診断装置である。
（作用）
このような手段を備えたことにより、今回中央処理装置
から発せられた指令と前回発せられた指令との変化分が
診断判断手段により求められ、この変化分が診断許容範
囲内であると判断されると、診断手段はリードバック用
フィルタ回路の出力信号と出力用フィルタ回路の出力信
号とを受けて診断処理を実行する。
から発せられた指令と前回発せられた指令との変化分が
診断判断手段により求められ、この変化分が診断許容範
囲内であると判断されると、診断手段はリードバック用
フィルタ回路の出力信号と出力用フィルタ回路の出力信
号とを受けて診断処理を実行する。
（実施例）
以下、本発明の一実施例について図面を参照して説明す
る。なお、第５図と同一部分には同一符号を付してその
詳しい説明は省略する。
る。なお、第５図と同一部分には同一符号を付してその
詳しい説明は省略する。
第１図はアナログ出力機器の診断装置の構成図である。
ＲＯＭ４には第２図に示す診断流れ図に従ったプログラ
ムが記憶されている。従って、ＣＰＵ２０はこのプログ
ラムを実行することにより次のような各機能を有するも
のとなる。すなわち、今回発せられた指令と前回発せら
れた指令との変化分を求めこの変化分が診断許容範囲内
であるかを判断する診断判断機能と、この診断判断機能
により診断許容範囲内であると判断されるとリードバッ
ク用フィルタ回路の出力信号と出力用フィルタ回路の出
力信号とを受けて診断処理を実行する診断機能とである
。
ムが記憶されている。従って、ＣＰＵ２０はこのプログ
ラムを実行することにより次のような各機能を有するも
のとなる。すなわち、今回発せられた指令と前回発せら
れた指令との変化分を求めこの変化分が診断許容範囲内
であるかを判断する診断判断機能と、この診断判断機能
により診断許容範囲内であると判断されるとリードバッ
ク用フィルタ回路の出力信号と出力用フィルタ回路の出
力信号とを受けて診断処理を実行する診断機能とである
。
次に上記の如く構成された装置の作用について説明する
。
。
ＣＰＵ２０はステップｆｌにおいて開閉指令Ｍを発する
。そうすると、パルス幅変調回路６は開閉指令Ｍに応じ
たパルス幅変調信号を出力する。このパルス幅変調信号
はホトカブラ９を通り、次の出力用フィルタ回路１０で
フィルタ処理され、ざらにＶ／１変換回路１１で電流信
号に変換されてバルブ１に送られる。これと同時にパル
ス幅変調信号はリードバック用フィルタ回路１２により
出力用フィルタ回路１０と同一の時定数でフィルタ処理
されてリードバック回路７に送られる。なお、出力用フ
ィルタ回路１０の時定数は１００ｍ５ｅｃ程度である。
。そうすると、パルス幅変調回路６は開閉指令Ｍに応じ
たパルス幅変調信号を出力する。このパルス幅変調信号
はホトカブラ９を通り、次の出力用フィルタ回路１０で
フィルタ処理され、ざらにＶ／１変換回路１１で電流信
号に変換されてバルブ１に送られる。これと同時にパル
ス幅変調信号はリードバック用フィルタ回路１２により
出力用フィルタ回路１０と同一の時定数でフィルタ処理
されてリードバック回路７に送られる。なお、出力用フ
ィルタ回路１０の時定数は１００ｍ５ｅｃ程度である。
そして、ＣＰＵ２０は開閉指令Ｍを５０ｍ５ｅｃ毎に発
し、これら開閉指令Ｍのパルス幅変調信号がホトカブラ
９を通り、次の出力用フィルタ回路１０でフィルタ処理
され、さらにＶ／Ｉ変換回路１１で電流信号に変換され
てバルブ１に送られる。又、このときＣＰＵ２０はそれ
ぞれ発した各開閉指令ＭをＲＡＭ５に記憶する。
し、これら開閉指令Ｍのパルス幅変調信号がホトカブラ
９を通り、次の出力用フィルタ回路１０でフィルタ処理
され、さらにＶ／Ｉ変換回路１１で電流信号に変換され
てバルブ１に送られる。又、このときＣＰＵ２０はそれ
ぞれ発した各開閉指令ＭをＲＡＭ５に記憶する。
ここで、ＣＰＵ２０は開閉指令Ｍを発した後にステップ
ｆ２及びｆ３において今回発せられた開閉指令Ｍｋと前
回発せられた開閉指令Ｍｉ−，とを読み出してこれら開
閉指令Ｍ、と開閉指令Ｍ ｋ−１との差分を求め、次に
この差分を前回水められた開閉指令ＭｋとＭｋ−２とに
よる変化分に加算して出力変化分を求める。次にＣＰＵ
２０はステップｆ４において出力変化分が診断許容範囲
内であるかを判断する。例えば、この差分の診断許容範
囲は前回発せられた開閉指令Ｍ８−１に対して５％以内
である。この判断により出力変化分が診断許容範囲内で
あると判断されるとリードバック用フィルタ回路１２の
出力信号ＭｒとＶ／Ｉ変換回路１１の出力信号Ｍｓとを
受けて診断処理を実行する。
ｆ２及びｆ３において今回発せられた開閉指令Ｍｋと前
回発せられた開閉指令Ｍｉ−，とを読み出してこれら開
閉指令Ｍ、と開閉指令Ｍ ｋ−１との差分を求め、次に
この差分を前回水められた開閉指令ＭｋとＭｋ−２とに
よる変化分に加算して出力変化分を求める。次にＣＰＵ
２０はステップｆ４において出力変化分が診断許容範囲
内であるかを判断する。例えば、この差分の診断許容範
囲は前回発せられた開閉指令Ｍ８−１に対して５％以内
である。この判断により出力変化分が診断許容範囲内で
あると判断されるとリードバック用フィルタ回路１２の
出力信号ＭｒとＶ／Ｉ変換回路１１の出力信号Ｍｓとを
受けて診断処理を実行する。
このように上記一実施例においては、今回ＣＰＵ２０か
ら発せられた開閉指令と前回発せられた開閉指令との変
化分を求め、この変化分が診断許容範囲内であると判断
すると、リードバック用フィルタロ路７の出力信号Ｍｒ
とＶ／Ｉ変換回路１１の出力信号Ｍｓとを受けて診断処
理を実行するようにしたので、順次発せられる各開閉指
令の変化が診断許容範囲内で少なければ出力用フィルタ
回路１０の時定数以下の時間毎でも診断を実行できる。
ら発せられた開閉指令と前回発せられた開閉指令との変
化分を求め、この変化分が診断許容範囲内であると判断
すると、リードバック用フィルタロ路７の出力信号Ｍｒ
とＶ／Ｉ変換回路１１の出力信号Ｍｓとを受けて診断処
理を実行するようにしたので、順次発せられる各開閉指
令の変化が診断許容範囲内で少なければ出力用フィルタ
回路１０の時定数以下の時間毎でも診断を実行できる。
これにより、ＣＰＵ２０から発する開閉指令Ｍの周期を
任意に例えば出力用フィルタ回路の時定数よりも短く設
定でき、かつこの開閉指令Ｍの周期が一定でなくても診
断ができる。
任意に例えば出力用フィルタ回路の時定数よりも短く設
定でき、かつこの開閉指令Ｍの周期が一定でなくても診
断ができる。
なお、本発明は上記一実施例に限定されるものでなくそ
の主旨を逸脱しない範囲で変形しても良い。例えば、第
３図の開閉指令の出力処理の流れ図に示すように開閉指
令の変化分を常時求めてＲＡＭ５に記憶し、任意に設定
した診断周期毎に第４図に示す診断流れ図のプログラム
を実行して変化分が診断許容範囲内であれば診断処理を
実行するようにしても良い。
の主旨を逸脱しない範囲で変形しても良い。例えば、第
３図の開閉指令の出力処理の流れ図に示すように開閉指
令の変化分を常時求めてＲＡＭ５に記憶し、任意に設定
した診断周期毎に第４図に示す診断流れ図のプログラム
を実行して変化分が診断許容範囲内であれば診断処理を
実行するようにしても良い。
［発明の効果］
以上詳記したように本発明によれば、出力用フィルタ回
路の時定数以上の時間が経過しなくても次の開閉指令を
発して診断を行うことができるアナログ出力機器の診断
装置を提供できる。
路の時定数以上の時間が経過しなくても次の開閉指令を
発して診断を行うことができるアナログ出力機器の診断
装置を提供できる。
第１図は本発明に係わるアナログ出力機器の診断装置の
一実施例を示す構成図、第２図は同装置の診断流れ図、
第３図及び第４図は本発明の詳細な説明するための診断
流れ図、第５図及び第６図は従来装置前を説明するため
の図である。 １・・・バルブ、４・・・ＲＯＭ、５・・・ＲＡＭ、６
・・・パルス幅変調回路、７・・・リードバック回路、
８・・・Ｖ／Ｉ診断ステータス、９・・・ホトカブラ、
１０・・・出力用フィルタ回路、１１・・・Ｖ／Ｉ変換
回路、１２・・・リードバック用フィルタ回路。
一実施例を示す構成図、第２図は同装置の診断流れ図、
第３図及び第４図は本発明の詳細な説明するための診断
流れ図、第５図及び第６図は従来装置前を説明するため
の図である。 １・・・バルブ、４・・・ＲＯＭ、５・・・ＲＡＭ、６
・・・パルス幅変調回路、７・・・リードバック回路、
８・・・Ｖ／Ｉ診断ステータス、９・・・ホトカブラ、
１０・・・出力用フィルタ回路、１１・・・Ｖ／Ｉ変換
回路、１２・・・リードバック用フィルタ回路。
Claims (1)
- 中央処理装置から発せられる指令をパルス幅変調信号
に変換しこのパルス幅変調信号を出力用フィルタ回路を
通して対象機器に与えるアナログ出力機器の診断装置に
おいて、前記出力用フィルタ回路と同一機能を有し前記
パルス幅変調信号をフィルタ処理するリードバック用フ
ィルタ回路と、前記中央処理装置から発せられる指令の
うち今回発せられた指令と前回発せられた指令との変化
分を求めこの変化分が診断許容範囲内であるかを判断す
る診断判断手段と、この診断判断手段により診断許容範
囲内であると判断されると前記リードバック用フィルタ
回路の出力信号と前記出力用フィルタ回路の出力信号と
を受けて診断処理を実行する診断手段とを具備したこと
を特徴とするアナログ出力機器の診断装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1262058A JPH03123818A (ja) | 1989-10-09 | 1989-10-09 | アナログ出力機器の診断装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1262058A JPH03123818A (ja) | 1989-10-09 | 1989-10-09 | アナログ出力機器の診断装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03123818A true JPH03123818A (ja) | 1991-05-27 |
Family
ID=17370448
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1262058A Pending JPH03123818A (ja) | 1989-10-09 | 1989-10-09 | アナログ出力機器の診断装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03123818A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06160130A (ja) * | 1992-11-17 | 1994-06-07 | Kubota Corp | プラント設備の故障原因診断装置 |
| JP2008210006A (ja) * | 2007-02-23 | 2008-09-11 | Mitsubishi Electric Corp | アナログ出力デバイス |
| JP2008541285A (ja) * | 2005-05-18 | 2008-11-20 | ボツシュ レックスロス ディ．エス．アイ． | 可動機械、特に、公共事業用機械、農業用機械又は荷役機械用のリモート制御装置 |
-
1989
- 1989-10-09 JP JP1262058A patent/JPH03123818A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06160130A (ja) * | 1992-11-17 | 1994-06-07 | Kubota Corp | プラント設備の故障原因診断装置 |
| JP2008541285A (ja) * | 2005-05-18 | 2008-11-20 | ボツシュ レックスロス ディ．エス．アイ． | 可動機械、特に、公共事業用機械、農業用機械又は荷役機械用のリモート制御装置 |
| JP2008210006A (ja) * | 2007-02-23 | 2008-09-11 | Mitsubishi Electric Corp | アナログ出力デバイス |
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