JPH0311432A - 情報処理装置の試験方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は情報処理装置の試験方式に関し、特に各試験工
程毎に異なる試験項目と手順を登録したテーブルを用い
て試験プログラムにより異なる温湿度環境下にある試験
工程で連続して行う試験方式に好適な情報処理装置の試
験方式に関する。

〔従来の技術〕

ワークステーション等の情報処理装置の製造工程におけ
る量産検査ラインは、エージング槽内の複数検査工程を
含んでいるため、操作員の介入は不可能である。また、
上記エージング槽内の各試験工程では、温度等の環境条
件を変化させる必要があり、このため、試験プログラム
は、無人状態で、工程毎に所定の試験を実行する機能が
必要であった。

従来の、この種の自動試験方式としては、例えば、特開
昭６２−２４７４３４号公報に開示されている技術が知
られていた。この技術は、診断プログラムモニタ内に、
自動運転モードのフラグを設け、プログラムの実行手順
を規定することにより、一般診断プログラムを自動的に
実行するようにしだものである。

〔発明が解決しようとする課題〕

上記従来技術は、一般診断プログラムを自動的に実行す
るようにしたものではあるが、試験工程が複数ではなく
、しかも、各工程に合せて試験内容硬変えることはでき
なかった。また、工程移動に伴なう電源のオン・オフの
繰り返しに正しく追従する機能は備えられていなかった
。

これに関しては、本出願人が、先に特願昭６３−２３４
４４３号［情報処理装置の試験方式」により提案した方
式がある。本発明は、これを更に改良したものであり、
被試験システムが、試験工程毎の電源オンを契機として
、予め定められた試験項目を実施し、被試験システムの
ハングアップや各工程毎の通電時間の誤差等により、各
工程毎の試験項目が保証されない場合が起こらないよう
にした、情報処理装置の試験方式を提供することを目的
とするものである。

これについてより詳細に説明する。第４図はここで対象
とする情報処理装置の検査ラインの概念図である。図中
、ｌは温度等の環境を変化させ得る環境変化槽、２は低
温槽、３は温度変化槽、４は高温槽、５はコンベアライ
ン、６は検査対象となる情報処理装置を示している。ま
た、電源オン・オフの状態レベルが示されており、工程
２では電圧変動のＯレベル、低レベル、高レベルへの変
化が示されている。

なお、検査ラインは、組立工程の後にコンベアライン５
で連続しており、第１工程の初期試験工程、環境変化槽
１内で実施される複数の試験工程（環境・エージング試
験工程）、および、最終確認工程から成っている。また
、検査ラインの後方には、梱包工程がある。上記初期試
験工程、最終確認工程では、操作員が立会い、また、初
期試験工程では試験プログラム媒体のセットおよび簡易
試験による初期試験も行われる。更に、最終確認工程で
は環境変化槽ｌ内での試験結果が判別され、試験対象機
器６の選別が行われる。

上記環境・エージング試験工程における試験では、環境
変化槽１内の単位時間毎に分かれた複数工程を、試験対
象機器６が自動的に流れている。

コンベアライン５上の試験対象機器６には、工程の移動
に伴なって、プログラムまたは機械操作による電源オン
・オフが行われる。各工程にわたって、予め、第５図に
示す如く試験項目が設定されており、各試験項目内の試
験内容も詳細に定められており、電圧変化も試験項目に
含まれている。

第５図（ａ）は、試験工程毎の試験項目を示しており、
同図（ｂ）は、上述の試験項目を試験手順に従って登録
した試験手順テーブルの一例を示すものである。また、
図中のポインタは、試験手順テーブル中の、次に実行す
べき項目のテーブルアドレスを登録しであるものである
。このポインタは試験が終了する毎に次の試験を示すテ
ーブルアドレスに更新され、ある工程が終了し、電源が
オフになっても、次工程で電源がオンになれば、次工程
の試験が開始できる如く構成されていた。

この方式では、予め設定された時間内で試験が終了する
ことを前提としているが、環境条件や被試験機器の特性
により、試験時間が変化する可能性についての配慮はさ
れていなかった。このために、上の例で、例えば、工程
ｌのＢの試験時間が増大し、工程ｌの定められた時間内
に試験が終了しなかった場合には、工程ｌの試験が正し
く実行されないだけでなく、次の工程２で、本来工程１
で実行すべき試験Ｃが実行されるという問題が生ずる場
合がある。以下、順次、工程と試験項目がずれ、複数工
程の長時間にわたる試験全体を無意味にしてしまう可能
性があった。

本発明の目的は、従来の技術における上述の如き問題を
解消し、被試験システムが、試験工程毎の電源オンを契
機として、予め定められた試験項目の実行開始を保証す
るようにした、情報処理装置の試験方式を提供すること
にある。また、本発明の他の目的は、試験時刻等を記録
して、環境条件による試験結果を解析し易くした、情報
処理装置の試験方式を提供することにある。

〔課題を解決するための手段１ 本発明の上記目的は、試験プログラムを有する複数の情
報処理装置を対象とし、各試験工程毎に異なる試験項目
と手順を登録したテーブルを用いて試験プログラムによ
り異なる温湿度環境下にある試験工程で連続して試験を
行う方式において、電源投入回数ポインタを不揮発性の
読み書き可能な記録媒体上に設けるとともに、前記テー
ブル上の各試験工程の先頭試験項目の位置を示す試験手
順補正テーブルを設けて、該補正テーブルにより各試験
工程の開始試験項目を補正して試験を行うことを特徴と
する情報処理装置の試験方式によって達成される。

［作用］ 本発明に係る情報処理装置の試験方式においては、試験
プログラムは、電源オンを契機として参照更新する′電
源投入回数ポインタから各工程の試験項目を補正するテ
ーブルによって、複数の試験項目を実行する。これによ
り、各工程での試験項目の開始位起が確定され、被試験
システムのハングアップによる試験時間の超過等が発生
した場合でも、各工程間のテーブルのずれが起きない。

従って、変化させる環境下での規定した試験項目が操作
員の介入なしに、正確に実行できる。

また、試験プログラムは、試験の開始および終了結果の
メツセージとともに、試験項目の開始時刻あるいは異常
発生時刻をその都度蓄積し、記録媒体に記録することに
より、すべての試験工程の終了後、各工程毎の正常また
は異常結果が正確に判定できる。

［実施例］ 以下、本発明の実施例を図面に基づいて詳細に説明する
。なお、以下の説明においては、対象とする検査ライン
として、先に第４図に示した検査ラインを対象とするも
のとする。なお、この検査ラインは、前述の如く、第１
工程の初期試験工程と、環境変化槽ｌ内で実施される複
数の試験工程（環境・エージング試験工程）と、最後の
、システムの確認を行う最終確認工程とから成っている
。

試験プログラムでは、どの環境条件で、どの試験項目を
実行するかを定めており、このため、各工程の先頭試験
項目を予め登録しておき、工程の途中で異常があり、当
該試験項目が全部終了していなくても、次工程では、そ
の工程における先頭試験項目から試験を開始できるよう
にしている。

また、最終確認工程では、規定の環境下で、試験結果が
どの工程でどのような状態になったかを解析することが
可能にするために、試験結果の情報とともに、試験の開
始時刻または異常発生時刻も蓄積している。

第２図は、本実施例における試験対象の情報処理システ
ムの構成図である。本情報処理システムは、自ら試験対
象である中央処理装置７と、これに含まれる主メモリ８
．命令解析装置９１時計機構１０．電圧変動機構１１お
よびこれに接続される電源部１２．不揮発性メモリ１３
．被試験機器１４群から成っている。主メモリ７内には
、システムのＩＸオン時、被試験機器１４内のプログラ
ム格納機器１５から、固定ディスク、フレキシブルディ
スク等のプログラム媒体１６内に格納されている試験プ
ログラム＋７．前述の試験手順テーブル１８．後述する
試験手順補正用テーブル１９、更に、以前の電源投入回
数ポインタ２１等がロードされる。また、中央処理装置
７に接続された不揮発性メモリ口内には、環境変化槽１
内での工程の正常終了回数２０が格納される。上述の不
揮発性メモリ１３内の工程の正常終了回数２０と、プロ
グラム媒体１６内の電源投入回数ポインタ２１は、前述
の初期試験工程でイニシャライズされる。

第３図は、本実施例において用いられるテーブル、ポイ
ンタ等の構成を示す図である。本実施例においては、主
メモリ７内に、前述の試験手順テーブルに加えて、各工
程と当該工程の試験手順テーブルの先頭アドレスを登録
した試験手順補正テーブルを有しており、また、不揮発
性メモリ１３内に、電源投入回数すなわち工程番号を登
録するエリア（試験正常終了回数）２０を有しているこ
とは、前述の通りである。上述の試験手順補正テーブル
は各工程での試験項目の補正を行うためのものであり、
試験手順テーブル内の当該工程の最初に開始する試験項
目を示すアドレスを登録している。

これにより、電源投入回数から当該工程が何番目のもの
かを判断して、その試験手順テーブルの先頭を見つけ出
す構造になっている。

上述の如く構成された本実施例の動作を、７第１図に示
した動作フローチャートに従って、以下に説明する。

まず、前述の不揮発性メモリ１３内の工程の正常終了回
数２０と、プログラム媒体１６内の電源投入回数ポイン
タ２１が、前述の初期試験工程でイニシャライズされる
。環境変化槽ｌ内での環境・エージング試験工程に入る
と、電源オンにより、電源投入回数ポインタ２１を参照
・更新しくステップ３１）、更新された電源投入回数ポ
インタ２１の値と、試験手順補正テーブルに設定された
回数（工程）とが−致するものをサーチする（ステップ
３２）。一致するものがあれば、試験手順補正テーブル
のそのテーブルアドレスから、実行すべき試験手順テー
ブルの該当アドレスを取出す（ステップ３３）。そして
、試験手順テーブルの該当アドレスから、順次、試験を
取出し実行する（ステップ３４）。なお、この試験は、
試験手順テーブルの終了フラグが表われるまで実行する
。

上記試験手順テーブルの終了フラグは、通常ま工程の通
電時間内で見つかる如く、予め計算して格納されている
ものである。また、当該工程での各試験の開始メツセー
ジと開始時間を主メモリ８に蓄積して行き、すべての試
験が正常終了したならばこれをメツセージロギング部２
４に格納する６また、前述の不揮発性メモリ１３内の工
程の正常終了回数２０を更新する。異常終了した項目が
ある場合には、上述の正常終了回数２０の更新は行わず
、前記メツセージ情報とともに、異常終了のメツセージ
および発生時刻を格納する。

操作員は、上述の不揮発性メモリ１３内の工程の正常終
了回数２０が、環境変化槽１内での工程数と等しいが否
かをチエツクすること、および、上記各メツセージを表
示または印字等により出力することによって、試験結果
を即時に判定することが可能である。

本実施例によれば、電源投入回数による工程の実施時刻
や試験開始時刻、更には、異常発生時刻等が一目で確認
できるため、環境変化とシステムの相対関係での異常等
の解析が、きわめて容易になるという効果がある。

なお、上記実施例は、本発明の一例として示したもので
あり、本発明はこれに限定されるべきものではない。例
えば、試験手順テーブル、試験手順補正テーブルの作成
形式、または、電源投入回数ポインタ、試験正常終了回
数の格納場所等は、自由に変更することが可能である。

〔発明の効果〕

以上、詳細に述べた如く、本発明によれば、試験プログ
ラムを有する複数の情報処理装置を対象とし、各試験工
程毎に異なる試験項目と手順を登録したテーブルを用い
て試験プログラムにより異なる温湿度環境下にある試験
工程で連続して試験を行う方式において、電源投入回数
ポインタを不揮発性の読み書き可能な記録媒体上に設け
るとともに、前記テーブル上の各試験工程の先頭試験項
目の位置を示す試験手順補正テーブルを設けて、該補正
テーブルにより各試験工程の開始試験項目を補正して試
験を行うようにしたので、被試験システムが、試験工程
毎のＩ！！源オジオン機として、予め定められた試験項
目の実行開始を保証するようにした情報処理装置の試験
方式を実現できるという顕著な効果を奏するものである
。

【図面の簡単な説明】

第１（２）は本発明の一実施例の動作を示す動作フロー
チャート、第２図は実施例における試験対象の情報処理
システムの構成図、第３図は実施例において用いられる
テーブル、ポインタ等の構成を示す図、第４図は情報処
理装置の検査ラインの概念図、第５図は従来技術におけ
る試験工程毎の試験項目および試験手順テーブルの一例
を示す図である。 １：環境変化槽、５：コンベアライン、６：情報処理装
置、７：中央処理装置、８：主メモリ、９：命令解析装
置、１３：不揮発性メモリ、１４：被試験機器、１６：
プログラム媒体、１７：試験プログラム、１８：試験手
順テーブル、１９：試験手順補正用テーブル、２０：試
験正常終了回数、２１　：　１！源投入回数ポインタ。 第 １ 図 第 図 第 ３ 電源投入回数 試験手順 補正チーフル アドレス 試験手順テーブル 時 間 試験 ＢＣ ＦＧＨ 図 試験子ｊ賃チ 工程１ 試験 ＢＣ ＦＧＨ

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １．試験プログラムを有する複数の情報処理装置を対象
   とし、各試験工程毎に異なる試験項目と手順を登録した
   テーブルを用いて試験プログラムにより異なる温湿度環
   境下にある試験工程で連続して試験を行う方式において
   、電源投入回数ポインタを不揮発性の読み書き可能な記
   録媒体上に設けるとともに、前記テーブル上の各試験工
   程の先頭試験項目の位置を示す試験手順補正テーブルを
   設けて、該補正テーブルにより各試験工程の開始試験項
   目を補正して試験を行うことを特徴とする情報処理装置
   の試験方式。