JPH03113815A - 磁気ヘッドの磁区構造制御方法 - Google Patents
磁気ヘッドの磁区構造制御方法Info
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- JPH03113815A JPH03113815A JP24933189A JP24933189A JPH03113815A JP H03113815 A JPH03113815 A JP H03113815A JP 24933189 A JP24933189 A JP 24933189A JP 24933189 A JP24933189 A JP 24933189A JP H03113815 A JPH03113815 A JP H03113815A
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 16
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Landscapes
- Magnetic Heads (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
本発明は高密度磁気記録を達成するための磁気ヘッドに
係り、特にトラック幅が狭い垂直磁気記録用あるいは面
内磁気記録用の薄膜磁気ヘッドに関する。
係り、特にトラック幅が狭い垂直磁気記録用あるいは面
内磁気記録用の薄膜磁気ヘッドに関する。
【従来の技術1
磁気ヘッドの磁極磁性膜に加工を施して磁区構造を制御
するといった公知例は、例えば特開昭59−17860
9に記載されている。これは、磁極磁性膜の端部に、ト
ラック幅方向にほぼ平行な切り欠けを入れて磁区構造を
制御するといったものである。しかし磁極磁性膜をこの
ような構造にすると、切り欠けの周辺に90″磁壁がで
きるといった問題が生ずる。この90″磁壁は記録再生
動作時に不規則な動きを伴うため、再生出力変動の原因
となる。また切り欠けの角度や大きさによって磁性膜の
磁気特性が大幅に変動するため、実際のヘッドに適用す
ることは非常に難しいといった問題がある。 (発明が解決しようとする課題] 本発明の目的は、トラック幅を狭小化した際にも8力変
動、および再生出力の低下をもたらすことのない磁極磁
性膜の磁区構造制御方法を提供することにある。 【課題を解決するための手段】 上記目的は、磁気ヘッドを構成する磁極磁性膜のトラッ
ク幅方向に浅い溝を周期的に設け、再生動作時に起こる
90°磁壁、および180°磁壁の不規則な動きを抑制
することにより達成される。
するといった公知例は、例えば特開昭59−17860
9に記載されている。これは、磁極磁性膜の端部に、ト
ラック幅方向にほぼ平行な切り欠けを入れて磁区構造を
制御するといったものである。しかし磁極磁性膜をこの
ような構造にすると、切り欠けの周辺に90″磁壁がで
きるといった問題が生ずる。この90″磁壁は記録再生
動作時に不規則な動きを伴うため、再生出力変動の原因
となる。また切り欠けの角度や大きさによって磁性膜の
磁気特性が大幅に変動するため、実際のヘッドに適用す
ることは非常に難しいといった問題がある。 (発明が解決しようとする課題] 本発明の目的は、トラック幅を狭小化した際にも8力変
動、および再生出力の低下をもたらすことのない磁極磁
性膜の磁区構造制御方法を提供することにある。 【課題を解決するための手段】 上記目的は、磁気ヘッドを構成する磁極磁性膜のトラッ
ク幅方向に浅い溝を周期的に設け、再生動作時に起こる
90°磁壁、および180°磁壁の不規則な動きを抑制
することにより達成される。
【作用】
磁気ヘッドの磁極磁性膜に、本発明による磁区構造制御
用の浅い溝(グループ)が設けられている場合と設けら
れていない場合における磁区構造の違いを、垂直記録用
単磁極ヘッドの主磁極膜を例にとって説明する。 第
1図はトラック幅が100μm、および50μmの主磁
極膜の磁区構造を、ビッタ−法によりwA察した結果を
示した図である。グループを施す前の主磁極膜の異方性
磁界Hkは2,10eであった。この結果から磁極磁性
膜に浅い溝を設けると、トラック幅に対する還流磁区の
大きさを小さくできることがわかる。 一方、第2図は、グループが設けられている磁性膜と設
けられていない磁性膜の磁化過程の違いを説明するため
の図である。磁極磁性膜にグループが設けられていない
と、外部磁界が印加された場合、磁界と同じ方向に磁化
を持つ還流磁区が大きく成長する。またこの還流磁区の
大きさは膜内で一様でないため、外部磁界の印加に伴い
180゜磁壁も動くようになる。これに対し磁極磁性膜
にグループが設けられている場合は、外部磁界印加に伴
う還流磁区の成長が抑制されると同時に180°磁壁も
動きにくくなるため、安定した再生出力が得られるよう
になる。このようにグループが設けられている磁性膜の
磁化変化は、a壁移動が抑制されるため磁化回転が主流
となる。この結果として高密度、高周波領域での再生特
性を向上させることができるようになる。
用の浅い溝(グループ)が設けられている場合と設けら
れていない場合における磁区構造の違いを、垂直記録用
単磁極ヘッドの主磁極膜を例にとって説明する。 第
1図はトラック幅が100μm、および50μmの主磁
極膜の磁区構造を、ビッタ−法によりwA察した結果を
示した図である。グループを施す前の主磁極膜の異方性
磁界Hkは2,10eであった。この結果から磁極磁性
膜に浅い溝を設けると、トラック幅に対する還流磁区の
大きさを小さくできることがわかる。 一方、第2図は、グループが設けられている磁性膜と設
けられていない磁性膜の磁化過程の違いを説明するため
の図である。磁極磁性膜にグループが設けられていない
と、外部磁界が印加された場合、磁界と同じ方向に磁化
を持つ還流磁区が大きく成長する。またこの還流磁区の
大きさは膜内で一様でないため、外部磁界の印加に伴い
180゜磁壁も動くようになる。これに対し磁極磁性膜
にグループが設けられている場合は、外部磁界印加に伴
う還流磁区の成長が抑制されると同時に180°磁壁も
動きにくくなるため、安定した再生出力が得られるよう
になる。このようにグループが設けられている磁性膜の
磁化変化は、a壁移動が抑制されるため磁化回転が主流
となる。この結果として高密度、高周波領域での再生特
性を向上させることができるようになる。
本実施例では1本発明による磁気ヘッドの磁区構造制御
方法を垂直記録用単磁極ヘッドの主磁極膜に適用してそ
の効果を確認した。以下、本発明の実施例を第3図以下
により説明する。第3図はグループの形成方法を説明す
るための図である。 まず主磁極膜となる膜厚0.3μmのCoZrNb非晶
質合金(2)を機械研磨を施したセラミクス基板(1)
上にスパッタ法により形成する。スパッタ後主磁極膜(
2)を、磁化困難軸方向にそって任意のトラック幅にパ
ターニングする。パタニング後磁性膜上に再度フォトレ
ジストを塗布し、露光した後グループとなる領域以外の
レジストを除去する。その後Arイオン雰囲気中でミリ
ングを施すことにより任意の深さのグループ(3)が形
成される。第4図に本発明の実施例であるグループを施
した主磁極膜の概略図を示す。本実施例ではグループの
幅を3μm、間隔を25μm、深さを0.1μmとした
。 第5図は本実施例において記録再生特性の評価用に用い
た垂直記録用単磁極ヘッドの概略図である。グループが
施された主磁極膜(4)は、機械研磨の施されたセラミ
ック基板(5)とのあいだに挾められ、巻線(6)の施
されたフェライトよりなる補助磁極(7)上に固定され
る。その後ヘツド先端は、主磁極膜が任意の長さLにな
るまで研磨されヘッド加工が終了する。 本実施例で作製された単磁極ヘッドの記録再生特性は、
Co−Cr/N1−Fs二層膜垂直記録媒体を用いて評
価した。この媒体は5.25インチのフレキシブル媒体
で、Co−Cr層厚みは150nm、Ni−Fe層厚み
は550nm、一方、Co−Cr1の膜垂直方向の保磁
力Haは6800eである。なお測定に用いた単磁極ヘ
ッドは、主磁極膜の磁化困難方向の異方性磁界Hkが2
.10e、5.40eでグループのないもの(タイプA
、タイプC)、および異方性磁界Hkが2.10eでグ
ループあり(タイプB)の三種類である。 主磁極長り
をパラメータとして再生出力の比較を行った結果を第6
@に示す。この図は記録と再生を数回繰り返し、測定さ
れる出力の最大値と最小値をプロットした結果を示して
いる。 この図から、異方性磁界Hkが大きくグループの無い主
磁極をもつタイプCは、Hkが小さくグループの無いタ
イプAやグループのあるタイプBより出力が安定してい
るが、低記録密度領域(20kBPI)および高記録密
度領域(セカンドピーク弁150kBPI)共に再生出
力が低いことがわかる。これは大きなトラック幅方向の
異方性磁界のために磁化回転が抑制されているためであ
ると考えられる。これに対し、共に異方性磁界Hkが小
さく、グループの無いタイプAとグループのあるタイプ
Bとの再生出力を比較すると、20kBPI程度の低い
記録密度領域ではほとんど違いがあられれていないが、
セカンドピーク(150kBPr)では、グループのあ
るタイプBがグループの無いタイプAよりも高く、シか
も安定していることがわかる。このように磁気ヘッドを
構成する磁極磁性膜に浅いグループを形成して磁区構造
を制御すことにより、再生出力を下げることなく記録再
生動作を安定に行えるようになることが確かめられた。 【発明の効果) 本発明によれば、トラック幅が5μm以下でも再生効率
が高く、かつ再生出力が安定した磁気ヘッドが得られる
ので、特に記憶容量が大きくかつデータの高速度転送を
必要とする磁気ディスク装置用ヘッドとして有効である
。
方法を垂直記録用単磁極ヘッドの主磁極膜に適用してそ
の効果を確認した。以下、本発明の実施例を第3図以下
により説明する。第3図はグループの形成方法を説明す
るための図である。 まず主磁極膜となる膜厚0.3μmのCoZrNb非晶
質合金(2)を機械研磨を施したセラミクス基板(1)
上にスパッタ法により形成する。スパッタ後主磁極膜(
2)を、磁化困難軸方向にそって任意のトラック幅にパ
ターニングする。パタニング後磁性膜上に再度フォトレ
ジストを塗布し、露光した後グループとなる領域以外の
レジストを除去する。その後Arイオン雰囲気中でミリ
ングを施すことにより任意の深さのグループ(3)が形
成される。第4図に本発明の実施例であるグループを施
した主磁極膜の概略図を示す。本実施例ではグループの
幅を3μm、間隔を25μm、深さを0.1μmとした
。 第5図は本実施例において記録再生特性の評価用に用い
た垂直記録用単磁極ヘッドの概略図である。グループが
施された主磁極膜(4)は、機械研磨の施されたセラミ
ック基板(5)とのあいだに挾められ、巻線(6)の施
されたフェライトよりなる補助磁極(7)上に固定され
る。その後ヘツド先端は、主磁極膜が任意の長さLにな
るまで研磨されヘッド加工が終了する。 本実施例で作製された単磁極ヘッドの記録再生特性は、
Co−Cr/N1−Fs二層膜垂直記録媒体を用いて評
価した。この媒体は5.25インチのフレキシブル媒体
で、Co−Cr層厚みは150nm、Ni−Fe層厚み
は550nm、一方、Co−Cr1の膜垂直方向の保磁
力Haは6800eである。なお測定に用いた単磁極ヘ
ッドは、主磁極膜の磁化困難方向の異方性磁界Hkが2
.10e、5.40eでグループのないもの(タイプA
、タイプC)、および異方性磁界Hkが2.10eでグ
ループあり(タイプB)の三種類である。 主磁極長り
をパラメータとして再生出力の比較を行った結果を第6
@に示す。この図は記録と再生を数回繰り返し、測定さ
れる出力の最大値と最小値をプロットした結果を示して
いる。 この図から、異方性磁界Hkが大きくグループの無い主
磁極をもつタイプCは、Hkが小さくグループの無いタ
イプAやグループのあるタイプBより出力が安定してい
るが、低記録密度領域(20kBPI)および高記録密
度領域(セカンドピーク弁150kBPI)共に再生出
力が低いことがわかる。これは大きなトラック幅方向の
異方性磁界のために磁化回転が抑制されているためであ
ると考えられる。これに対し、共に異方性磁界Hkが小
さく、グループの無いタイプAとグループのあるタイプ
Bとの再生出力を比較すると、20kBPI程度の低い
記録密度領域ではほとんど違いがあられれていないが、
セカンドピーク(150kBPr)では、グループのあ
るタイプBがグループの無いタイプAよりも高く、シか
も安定していることがわかる。このように磁気ヘッドを
構成する磁極磁性膜に浅いグループを形成して磁区構造
を制御すことにより、再生出力を下げることなく記録再
生動作を安定に行えるようになることが確かめられた。 【発明の効果) 本発明によれば、トラック幅が5μm以下でも再生効率
が高く、かつ再生出力が安定した磁気ヘッドが得られる
ので、特に記憶容量が大きくかつデータの高速度転送を
必要とする磁気ディスク装置用ヘッドとして有効である
。
第1図、第2図は本発明の詳細な説明するための磁構造
の概略図である。第3図、第4図は本発明によるグルー
プ作製方法、およびグループの施さ九た主磁極膜の概略
図を示す6第5図は本実施例で使用した垂直磁気記録用
単磁極ヘッドの概略図である。第6図は本発明による効
果を説明するための図である。 符号の説明 1.5・・・セラミクス基板、2,4・・・主磁極膜、
3・・・グループ、6・・・コイル、7・・・補助磁極
。
の概略図である。第3図、第4図は本発明によるグルー
プ作製方法、およびグループの施さ九た主磁極膜の概略
図を示す6第5図は本実施例で使用した垂直磁気記録用
単磁極ヘッドの概略図である。第6図は本発明による効
果を説明するための図である。 符号の説明 1.5・・・セラミクス基板、2,4・・・主磁極膜、
3・・・グループ、6・・・コイル、7・・・補助磁極
。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、磁気ヘッドの磁気回路を構成する磁性膜に浅い溝を
設けることにより、磁性膜の磁区構造を制御することを
特徴とする磁気ヘッドの磁区構造制御方法。 2、特許請求の範囲第1項記載の磁気ヘッドの磁区構造
制御方法において、磁極磁性膜に一定間隔の浅い溝を、
エッチング法により形成することを特徴とする磁区構造
制御方法。3、特許請求の範囲第1項記載の磁気ヘッド
の磁区構造制御方法において、磁極磁性膜の異方性磁界
が2Oe程度であることを特徴とする磁区構造制御方法
。 4、特許請求の範囲第1項記載の磁気ヘッドの磁区構造
制御方法において、磁極磁性膜に設けられる浅い溝の深
さが、磁極磁性膜厚の1/3程度であることを特徴とす
る磁区構造制御方法。 5、特許請求の範囲第1項記載の磁気ヘッドの磁区構造
制御方法において、磁極磁性膜に設けられる浅い溝の間
隔は、トラック幅に対して1/4程度であることを特徴
とする磁区構造制御方法。 6、特許請求の範囲第1項記載の磁気ヘッドの磁区構造
制御方法において、磁極磁性膜に設けられる浅い溝の幅
は、溝間隔の1/8程度であることを特徴とする磁区構
造制御方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24933189A JPH03113815A (ja) | 1989-09-27 | 1989-09-27 | 磁気ヘッドの磁区構造制御方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24933189A JPH03113815A (ja) | 1989-09-27 | 1989-09-27 | 磁気ヘッドの磁区構造制御方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03113815A true JPH03113815A (ja) | 1991-05-15 |
Family
ID=17191424
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP24933189A Pending JPH03113815A (ja) | 1989-09-27 | 1989-09-27 | 磁気ヘッドの磁区構造制御方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03113815A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002207071A (ja) * | 2001-01-10 | 2002-07-26 | Tohoku Ricoh Co Ltd | 磁気検知素子及びこの素子を用いた方位検知システム |
SG112009A1 (en) * | 2003-11-28 | 2005-06-29 | Toshiba Kk | Magnetic recording head, head suspension assembly, magnetic recording apparatus, composite head, and magnetic recording and reproducing apparatus |
JP2006302489A (ja) * | 2005-04-21 | 2006-11-02 | Headway Technol Inc | 垂直磁気記録用薄膜磁気ヘッド及びその製造方法 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60164914A (ja) * | 1984-02-08 | 1985-08-28 | Fujitsu Ltd | 薄膜磁気ヘツド |
JPS63230318A (ja) * | 1987-03-02 | 1988-09-26 | オーエンス−イリノイ・プラスチツク・プロダクツ・インコーポレーテツド | 支持なしで立つ部分結晶二軸延伸ヒートセツト中空ポリエチレンテレフタレート容器を製造する方法 |
-
1989
- 1989-09-27 JP JP24933189A patent/JPH03113815A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60164914A (ja) * | 1984-02-08 | 1985-08-28 | Fujitsu Ltd | 薄膜磁気ヘツド |
JPS63230318A (ja) * | 1987-03-02 | 1988-09-26 | オーエンス−イリノイ・プラスチツク・プロダクツ・インコーポレーテツド | 支持なしで立つ部分結晶二軸延伸ヒートセツト中空ポリエチレンテレフタレート容器を製造する方法 |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002207071A (ja) * | 2001-01-10 | 2002-07-26 | Tohoku Ricoh Co Ltd | 磁気検知素子及びこの素子を用いた方位検知システム |
JP4575602B2 (ja) * | 2001-01-10 | 2010-11-04 | 東北リコー株式会社 | 磁気検知素子 |
SG112009A1 (en) * | 2003-11-28 | 2005-06-29 | Toshiba Kk | Magnetic recording head, head suspension assembly, magnetic recording apparatus, composite head, and magnetic recording and reproducing apparatus |
JP2006302489A (ja) * | 2005-04-21 | 2006-11-02 | Headway Technol Inc | 垂直磁気記録用薄膜磁気ヘッド及びその製造方法 |
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