JPH03113347A - データ処理機能つき分光光度計 - Google Patents

データ処理機能つき分光光度計

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JPH03113347A
JPH03113347A JP25276789A JP25276789A JPH03113347A JP H03113347 A JPH03113347 A JP H03113347A JP 25276789 A JP25276789 A JP 25276789A JP 25276789 A JP25276789 A JP 25276789A JP H03113347 A JPH03113347 A JP H03113347A
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Toshiaki Fukuma
福間 俊明
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は多数の試料の自動切換えと測定データについて
のデータ処理の機能を備えた分光光度計に関する。
(従来の技術) 従来から分光光度計では付属装置として自動試料交換装
置が提供されている。分光測定では多数の同種試料を分
析する場合のように測定波長とか測定値の処理を一定に
しておいて試料だけ交換すればよい場合もあるが、多種
の試料を扱う場合は、試料毎に測定波長が異り、測定値
に対するデータ処理の仕方も異るのが一般的である。
しかし従来の分光光度計では制御機能は測定データの処
理については幾つかの決まった処理パターンから一つを
選択できるに過ぎず波長設定も各試料毎に予め設定して
おくことができないため、自動試料交換機能を活用して
分析能率を上げ得る場合が大へん限られたものとなり、
多種の試料の分析に当ってはマニュアル操作が多くなり
、より高度の自動化を実現するためには、別にコンピュ
ータを導入する必要があって経済面でも問題があった。
(発明が解決しようとする課8) 分光光度計において、多種試料の分析およびデータ処理
の能率向上を計るものである。
(課題を解決するための手段) 試料切換え機構上の試料番号に対応させて測定波長を設
定する手段、測定値に識別符号を設定する手段、データ
処理の演算に用いられる係数の値をその識別符号と共に
設定する手段、データ処理の演算式をそのデータ処理に
用いられる測定データの識別符号および係数の識別符号
の間の数式として設定する手段、試料切換え機構を駆動
し、上記波長設定手段に設定された試料番号に対応する
波長位置に分光器を駆動する手段、試料切換え機構上の
各試料毎に設定された波長における測定値をその測定値
に対し設定された識別符号に対応させて記憶するメモリ
、上記メモリ内のデータと上記係数設定手段により設定
された係数を上記数式設定手段に設定された数式を構成
する測定値および係数の識別符号に応じて上記メモリよ
り読出し、上記設定された数式に従ってデータ処理を行
う演算手段を分光光度計に付設した。
(作用) 試料切換え機構上の各試料位置に番号を与えておき、そ
の番号と対応させて波長を設定することで、試料切換え
と連動させて分光器を試料毎に所定の波長位置に駆動さ
せることができる。このようにして得られる測定値には
予め識別符号が設定しであるので、その識別符号と共に
測定値をメモリに格納することで、以後のデータ処理は
この識別符号により必要な測定値を読出すことができる
。データ処理に必要な係数も識別符号を与えであるので
、識別符号により所定の係数を読和すことができる。デ
ータ処理の演算式は上記識別符号間の数式として設定さ
れているので、各データ処理の演算毎に上記識別符号に
より必要なデータを読み出して演算を実行することがで
きる。従ってデータ処理の内容は固定されたものでなく
、オペレータが自由に設定し、試料毎にデータ処理演算
を行わせることが可能となる。
(実施例) 第1図に本発明の一実施例を示す。図で1は光源、2は
分光器で、分光器2から出射される単色光が試料セルに
入射せしめられる。3は試料切換え機構で、試料セル0
1〜C4を保持した枠とその駆動機構よりなり、試料切
換え用パルスモータPMIで駆動される。分光器2の出
射光は試料セル01〜C4のうち光路上に位置せしめら
れた一つを透過して光検出器4に入射する。光検出器4
の出力はアンプAMPおよびA/D変換器ADを経てメ
モリMに格納される。PM2は分光器駆動用パルスモー
タでCPUよりの制御信号により、分光器の波長切換え
を行う。DSPは表示用CRT、にはCPUのキーボー
ドである。
第2図、第3図にオペレータがCPUに分析動作の制御
内容を入力するときのDSPの表示画面を示す。CPU
の初期設定で自動分析を選択すると第2図に示す表がD
SP画面に表示される。この表でCELLの欄は試料切
換え機構にセットされた試料セルの識別符号でこの欄の
01〜C4と第1図の01〜C4は対応している。その
他のλおよびkの欄はオペレータが入力する。λは測定
を行う波長で例えば500nm、600nm等に相当す
るnm単位の波長値を入力する。kの欄は夫々対応する
セルの指定波長における測定値に掛算する係数を設定す
る。A−にの欄は各測定値に夫々の係数を掛算した結果
を指示するために設定する符号である。図でセルC4の
段の各欄にBSBと記入されているのはセルC4にブラ
ンク試料(液媒だけ)を入れたことを示し、ブランク指
定しておくと、各段の試料の測定値から、ブランク指定
された試料の測定値を引算する処理が自動的に行われる
ことになる。第2図に示す画面への記入が終ると、DS
Pの画面は第3図のような画面に変る。この画面には演
算式を設定せよと云うメツセージが表示されている。画
面上段の記号は演算記号でその下の三角印はカーソルで
あり、オペレータは演算式に応じてカーソルを移動させ
、所望の演算記号の下に持って行って入カキ−を押すこ
とにより演算記号が順次CPUに入力されて演算式が構
成される。画面のカーソルより下は空白になっており、
−格下の枠内に設定した/1j′jX式が表示される。
空白部分には演算に必要な係数がその識別符号と数値と
で表示される。つまりオペレータは空白部に係数識別符
号Kl、に2・・・とその具体的数字2.654等と記
入し、その後枠内に Kl  (AI−A2)/A3 と云うように演算式を記入することによりデータ処理の
演算式がCPUに入力される。上式でに1は第3図面面
のKlであり、Al、A2.A3等は第2図の画面のA
1−A3等で、各番号の測定値に第2図面面で設定した
各係数を掛けた値を上記演算式のA1−A3の所に代入
して計算せよと云うことを意味する。例えば第2図に示
す設定によれば上記演算は、各セルの各指定波長での測
定値をa1〜a4とすると 2.6541 (al−A4)−0,5X (A2−A
4)! +0.7 (A3−A4 ’ )である。こ\
でA4はC4の波長500nm、a4′は600nmの
測定値である。
上の説明では4種の試料について唯一のデータ処理演算
が設定できるだけであるように見えるが、演算式は第2
図の画面のAl−A4を用いた関数として設定され、 Fl (KIAI) F2 (K2A2) と云うように試料別に設定できるものである。また測定
波長も第2図の表でCELLの欄に同じセル番号を入れ と云うように入力することにより一つの試料につき2以
上の測定波長を設定することもできる。
上述のようにして各試料について測定波長、必要な係数
、データ処理の演算式の設定終了後、CPUに分析開始
の指示を与えることにより、CPUは第2図に示した表
に従い、試料切換え機構を駆動し、分光器の波長設定を
行って、測定値を取込み、指定された係数k1.に2等
を掛算した値を設定された識別符号A1.A2等と共に
メモリMに記憶させ、測定終了後、設定された演算式に
従い、メモリ内の上記データを読出してデータ処理を行
い、その結果をプリンタ等の出力装置Pに出力する。
(発明の効果) 従来の分光光度計では自動試料交換装置を備えていても
、試料毎に異る測定波長を設定できず、データ処理内容
も予め制御装置に格納されている幾つかの決った演算か
ら選択できるだけで、各種の試料の色々な測定に対して
柔性が欠けていたが、本発明によれば、試料毎に測定波
長を設定でき、データ処理の演算内容も固定したもので
なくオペレータが自由に構成できるから、自動試料交換
機能を効率的に使うことができ、各種試料に対し、自由
な分析を行うことができて、分光光度計の試料に対する
柔軟性が増大する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例装置の構成を示すブロック図
、第2図は分析動作の内容を設定する場合の第1段Ig
測定スケジュールを入力する際の表示装置画面、第3図
は同じ(第2段階のデータ処理の内容を入力する際の表
示画面の図である。 1・・・光源、2・・・分光器、3・・・試料切換え機
構、4・・・光検出器、PMI、PM2・・・パルスモ
ータ、M・・・メモリ、DSP・・・表示装置、K・・
・キーボード、P・・・出力装置。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 試料切換え機構上の試料番号に対応させて測定波長を設
    定する手段、測定値に識別符号を設定する手段、データ
    処理の演算に用いられる係数の値をその識別符号と共に
    設定する手段、データ処理の演算式をそのデータ処理に
    用いられる測定データの識別符号および係数の識別符号
    の間の数式として設定する手段、試料切換え機構を駆動
    し、上記波長設定手段に設定された試料番号に対応する
    波長位置に分光器を駆動する手段、試料切換え機構上の
    各試料毎に設定された波長における測定値をその測定値
    に対し設定された識別符号に対応させて記憶するメモリ
    、上記メモリ内のデータと上記係数設定手段により設定
    された係数を上記数式設定手段に設定された数式を構成
    する測定値および係数の識別符号に応じて上記メモリよ
    り読み出し、上記設定された数式に従ってデータ処理を
    行う演算手段を備えたことを特徴とするデータ処理機能
    つき分光光度計。
JP1252767A 1989-09-27 1989-09-27 データ処理機能つき分光光度計 Expired - Fee Related JPH0612336B2 (ja)

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JPH03113347A true JPH03113347A (ja) 1991-05-14
JPH0612336B2 JPH0612336B2 (ja) 1994-02-16

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0843299A (ja) * 1994-07-28 1996-02-16 Ket Kagaku Kenkyusho:Kk 成分分析計の光学的測定装置

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5930213A (ja) * 1982-08-14 1984-02-17 Kazuo Okano 再録音防止を施した録音の方法

Patent Citations (1)

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JPS5930213A (ja) * 1982-08-14 1984-02-17 Kazuo Okano 再録音防止を施した録音の方法

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JPH0843299A (ja) * 1994-07-28 1996-02-16 Ket Kagaku Kenkyusho:Kk 成分分析計の光学的測定装置

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JPH0612336B2 (ja) 1994-02-16

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