JPH0612336B2 - データ処理機能つき分光光度計 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は多数の試料の自動切換えと測定データについて
のデータ処理の機能を備えた分光光度計に関する。

（従来の技術） 従来から分光光度計では付属装置として自動試料交換装
置が提供されている。分光測定では多数の同種試料を分
析する場合のように測定波長とか測定値の処理を一定に
しておいて試料だけ交換すればよい場合もあるが、多種
の試料を扱う場合は、試料毎に測定波長が異り、測定値
に対するデータ処理の仕方も異るのが一般的である。

しかし従来の分光光度計では制御機能は測定データの処
理については幾つかの決まった処理パターンから一つを
選択できるに過ぎず波長設定も各試料毎に予め設定して
おくことができないため、自動試料交換機能を活用して
分析能率を上げ得る場合が大へん限られたものとなり、
多種の試料の分析に当ってはマニュアル操作が多くな
り、より高度の自動化を実現するためには、別にコンピ
ュータを導入する必要があって経済面でも問題があっ
た。

（発明が解決しようとする課題） 分光光度計において、多種試料の分析およびデータ処理
の能率向上を計るものである。

（課題を解決するための手段） 試料切換え機構上の試料番号に対応させて測定波長を設
定する手段、測定値に識別符号を設定する手段、データ
処理の演算に用いられる係数の値をその識別符号と共に
設定する手段、データ処理の演算式をそのデータ処理に
用いられる測定データの識別符号および係数の識別符号
の間の数式として設定する手段、試料切換え機構を駆動
し、上記波長設定手段に設定された試料番号に対応する
波長位置に分光器を駆動する手段、試料切換え機構上の
各試料毎に設定された波長における測定値をその測定値
に対し設定された識別符号に対応させて記憶するメモ
リ、上記メモリ内のデタと上記係数設定手段により設定
された係数を上記数式設定手段に設定された数式を構成
する設定値および係数の識別符号に応じて上記メモリよ
り読出し、上記設定された数式に従ってデータ処理を行
う演算手段を分光光度計に付設した。

（作用） 試料切換え機構上の各試料位置に番号を与えておき、そ
の番号と対応させて波長を設定することで、試料切換え
と連動させて分光器を試料毎に所定の波長位置に駆動さ
せることができる。このようにして得られる測定値には
予め識別符号が設定してあるので、その識別符号と共に
測定値をメモリに格納することで、以後のデータ処理は
この識別符号により必要な測定値を読出すことができ
る。データ処理に必要な係数も識別符号を与えてあるの
で、識別符号により所定の係数を読出すことができる。
データ処理の演算式は上記識別符号間の数式として設定
されているので、各データ処理の演算毎に上記識別符号
により重要なデータを読み出して演算を実行することが
できる。従ってデータ処理の内容は固定されたものでな
く、オペレータが自由に設定し、試料毎にデータ処理演
算を行わせることが可能となる。

（実施例） 第１図に本発明の一実施例を示す。図で１は光源、２は
分光器で、分光器２から出射される単色光が試料セルに
入射せしめられる。３は試料切換え機構で、試料セルＣ
１〜Ｃ４を保持した枠とその駆動機構よりなり、試料切
換え用パルスモータＰＭ１で駆動される。分光器２の出
射光は試料セルＣ１〜Ｃ４のうち光路上に位置せしめら
れた一つを透過して光検出器４に入射する。光検出器４
の出力はアンプＡＭＰおよびＡ／Ｄ変換器ＡＤを経てメ
モリＭに格納される。ＰＭ２は分光器駆動用パルスモー
タでＣＰＵよりの制御信号により、分光器の波長切換え
を行う。ＤＳＰは表示用ＣＲＴ、ＫはＣＰＵのキーボー
ドである。

第２図，第３図にオペレータがＣＰＵに分析動作の制御
内容を入力するときのＤＳＰの表示画面を示す。ＣＰＵ
の初期設定で自動分析を選択すると第２図に示す表がＤ
ＳＰ画面に表示される。この表でＣＥＬＬの欄は試料切
換え機構にセットされた試料セルの識別符号でこの欄の
Ｃ１〜Ｃ４と第１図のＣ１〜Ｃ４は対応している。その
他のλおよびｋの欄はオペレータが入力する。λは測定
を行う波長で例えば５００ｎｍ，６００ｎｍ等に相当す
るｎｍ単位の波長値を入力する。ｋの欄は夫々対応する
セルの指定波長における測定値に掛算する係数を設定す
る。Ａ・ｋの欄は各測定値に夫々の係数を掛算した結果
を指示するために設定する符号である。図でセルＣ４の
各欄にＢＳＢと記入されているのはセルＣ４にブランク
試料（液媒だけ）を入れたことを示し、ブランク指定し
ておくと、各段の試料の測定値から、ブランク指定され
た試料の測定値を引算する処理が自動的に行われること
になる。第２図に示す画面への記入が終ると、ＤＳＰの
画面は第３図のような画面に変る。この画面には演算式
を設定せよと云うメッセージが表示されている。画面上
段の記号は演算記号でその下の三角印はカーソルであ
り、オペレータは演算式に応じてカーソルを移動させ、
所望の演算記号の下に持って行って入力キーを押すこと
により演算記号が順次ＣＰＵに入力されて演算式が構成
される。画面のカーソルより下は空白になっており、一
番下の枠内に設定した演算式が表示される。空白部分に
は演算に必要な係数がその識別符号と数値とで表示され
る。つまりオペレータは空白部に係数識別符号Ｋ１，Ｋ
２…とその具体的数字２．６５４等と記入し、その後枠
内に Ｋ１（Ａ１−Ａ２）／Ａ３ と云うように演算式を記入することによりデータ処理の
演算式がＣＰＵに入力される。上式でＫ１は第３図画面
のＫ１であり、Ａ１，Ａ２，Ａ３等は第２図の画面のＡ
１〜Ａ３等で、各番号の測定値に第２図画面で設定した
各係数を掛けた値を上記演算式のＡ１〜Ａ３の所に代入
して計算せよと云うことを意味する。例えば第２図に示
す設定によれば上記演算は、各セルの各指定波長での測
定値をａ１〜ａ４とすると ２．６５４｛（ａ１−ａ４）−０．５×（ａ２−ａ４）｝÷０．７（ａ３−ａ
４′） である。こゝでａ４はＣ４の波長５００ｎｍ，ａ４′は
６００ｎｍの測定値である。

上の説明では４種の試料について唯一のデータ処理演算
が設定できるだけであるように見えるが、演算式は第２
図の画面のＡ１〜Ａ４を用いた関数として設定され、 Ｆ１（Ｋ１Ａ１） Ｆ２（Ｋ２Ａ２） と云うように試料別に設定できるものである。また測定
波長も第２図の表でＣＥＬＬの欄に同じセル番号を入れ と云うように入力することにより一つの試料につき２以
上の測定波長を設定することもできる。

上述のようにして各試料について測定波長，必要な係
数，データ処理の演算式の設定終了後、ＣＰＵに分析開
始の指示を与えることにより、ＣＰＵは第２図に示した
表に従い、試料切換え機構を駆動し、分光器の波長設定
を行って、測定値を取込み、指定された係数ｋ１，ｋ２
等を掛算した値を設定された識別符号Ａ１，Ａ２等と共
にメモリＭに記憶させ、測定終了後、設定された演算式
に従い、メモリ内の上記データを読出してデータ処理を
行い、その結果をプリンタ等の出力装置Ｐに出力する。

（発明の効果） 従来の分光光度計では自動試料交換装置を備えていて
も、試料毎に異る測定波長を設定できず、データ処理内
容も予め制御装置に格納されている幾つかの決った演算
から選択できるだけで、各種の試料の色々な測定に対し
て柔性が欠けていたが、本発明によれば、試料毎に測定
波長を設定でき、データ処理の演算内容も固定したもの
でなくオペレータが自由に構成できるから、自動試料交
換機能を効率的に使うことができ、各種試料に対し、自
由な分析を行うことができて、分光光度計の試料に対す
る柔軟性が増大する。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例装置の構成を示すブロック
図、第２図は分析動作の内容を設定する場合の第１段階
測定スケジュールを入力する際の表示装置画面、第３図
は同じく第２段階のデータ処理の内容を入力する際の表
示画面の図である。 １……光源、２……分光器、３……試料切換え機構、４
……光検出器、ＰＭ１，ＰＭ２……パルスモータ、Ｍ…
…メモリ、ＤＳＰ……表示装置、Ｋ……キーボード、Ｐ
……出力装置。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】試料切換え機構上の試料番号に対応させて
   測定波長を設定する手段、測定値に識別符号を設定する
   手段、データ処理の演算に用いられる係数の値をその識
   別符号と共に設定する手段、データ処理の演算式をその
   データ処理に用いられる測定データの識別符号および係
   数の識別符号の間の数式として設定する手段、試料切換
   え機構を駆動し、上記波長設定手段に設定された試料番
   号に対応する波長位置に分光器を駆動する手段、試料切
   換え機構上の各試料毎に設定された波長における測定値
   をその測定値に対し設定された識別符号に対応させて記
   憶するメモリ、上記メモリ内のデータと上記係数設定手
   段により設定された係数を上記数式設定手段に設定され
   た数式を構成する測定値および係数の識別符号に応じて
   上記メモリより読み出し、上記設定された数式に従って
   データ処理を行う演算手段を備えたことを特徴とするデ
   ータ処理機能つき分光光度計。