JPH0612334B2 - 自動化された分光光度計 - Google Patents
自動化された分光光度計Info
- Publication number
- JPH0612334B2 JPH0612334B2 JP24246885A JP24246885A JPH0612334B2 JP H0612334 B2 JPH0612334 B2 JP H0612334B2 JP 24246885 A JP24246885 A JP 24246885A JP 24246885 A JP24246885 A JP 24246885A JP H0612334 B2 JPH0612334 B2 JP H0612334B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- measurement
- spectrophotometer
- samples
- parameters
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/251—Colorimeters; Construction thereof
- G01N21/253—Colorimeters; Construction thereof for batch operation, i.e. multisample apparatus
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 イ 産業上の利用分野 本発明は多数の試料を自動的に順次測定して行くように
なつている分光光度計に関する。
なつている分光光度計に関する。
ロ 従来の技術 分光光度計による測定では一つの試料について、測定波
長，スペクトル表示の波長範囲，波長走査速度等の測定
のパラメータを設定した後、試料をセツトして測定を行
う。こゝで試料が幾つかあつて夫々について異る測定パ
ラメータを設定する場合、一つの試料の測定終了を待つ
て次の試料の測定パラメータを設定し次の試料をセツト
すると云う一連の操作を繰返せねばならない。このよう
な方式ではオペレータは全試料の測定終了まで拘束され
ることになり、大へん非能率である。このため試料の自
動切換用の付属装置を持つた分光光度計も提供されてい
るが、この装置でも試料交換の手間は省けても、測定パ
ラメータが試料毎に異る場合、試料交換毎にパラメータ
の設定を行わねばならないからオペレータが拘束を受け
る程度は上例とさ程変らない。外部コンピユータによつ
て操作可能な分光光度計では、パラメータの設定と試料
交換を外部コンピユータによつて行うシステムを作るこ
とも可能であるが、この場合、処理手順をコンピユータ
言語によつてプログラムする必要があり、繁雑であると
共に高価でもある。
長，スペクトル表示の波長範囲，波長走査速度等の測定
のパラメータを設定した後、試料をセツトして測定を行
う。こゝで試料が幾つかあつて夫々について異る測定パ
ラメータを設定する場合、一つの試料の測定終了を待つ
て次の試料の測定パラメータを設定し次の試料をセツト
すると云う一連の操作を繰返せねばならない。このよう
な方式ではオペレータは全試料の測定終了まで拘束され
ることになり、大へん非能率である。このため試料の自
動切換用の付属装置を持つた分光光度計も提供されてい
るが、この装置でも試料交換の手間は省けても、測定パ
ラメータが試料毎に異る場合、試料交換毎にパラメータ
の設定を行わねばならないからオペレータが拘束を受け
る程度は上例とさ程変らない。外部コンピユータによつ
て操作可能な分光光度計では、パラメータの設定と試料
交換を外部コンピユータによつて行うシステムを作るこ
とも可能であるが、この場合、処理手順をコンピユータ
言語によつてプログラムする必要があり、繁雑であると
共に高価でもある。
ハ 発明が解決しようとする問題点 複数個の試料を自動的に切換えると共に各試料について
各別に測定パラメータを自動的に設定し得るようにし
て、オペレータの時間的な負担を解消しようとするもの
である。
各別に測定パラメータを自動的に設定し得るようにし
て、オペレータの時間的な負担を解消しようとするもの
である。
ニ 問題点解決のための手段 複数の試料を保持できる試料ホルダと、その試料ホルダ
上の任意の試料を測定光路内に移動させる試料切換装置
と、一測定における一連の測定パラメータの種々な組合
せを指定コードを付して格納しておくメモリと、試料ホ
ルダ上の試料番号に対して任意の測定パラメータの組合
のコードを指定しておくことにより、試料ホルダ上の試
料を順次指定した測定パラメータによつて測定して行く
制御手段行を備えた分光光度計を提供する。
上の任意の試料を測定光路内に移動させる試料切換装置
と、一測定における一連の測定パラメータの種々な組合
せを指定コードを付して格納しておくメモリと、試料ホ
ルダ上の試料番号に対して任意の測定パラメータの組合
のコードを指定しておくことにより、試料ホルダ上の試
料を順次指定した測定パラメータによつて測定して行く
制御手段行を備えた分光光度計を提供する。
ホ 作用 予め各試料について測定パラメータの組合せのコードを
指定しておけば、一試料の測定終了毎に試料切換装置に
よつて次の試料が測定位置に移動せられ、その試料に対
して指定された測定パラメータがメモリから続出され
て、そのメモリ内容に従つて測定が行われる。従つてオ
ペレータは始めに複数の試料の試料切換装置への装填
と、各試料毎の測定パラメータの組合せのコードの指定
操作を行つておけば、装置は自動的に全試料について所
定の測定パラメータによる測定が行われ、オペレータが
装置動作に介入する必要がなく、オペレータの負担が大
幅に軽減される。
指定しておけば、一試料の測定終了毎に試料切換装置に
よつて次の試料が測定位置に移動せられ、その試料に対
して指定された測定パラメータがメモリから続出され
て、そのメモリ内容に従つて測定が行われる。従つてオ
ペレータは始めに複数の試料の試料切換装置への装填
と、各試料毎の測定パラメータの組合せのコードの指定
操作を行つておけば、装置は自動的に全試料について所
定の測定パラメータによる測定が行われ、オペレータが
装置動作に介入する必要がなく、オペレータの負担が大
幅に軽減される。
ヘ 実施例 第１図は本発明の一実施例を示す。光源１から出た光は
分光器２によつて分光され、分光器出射光の光路内に試
料が置かれ、試料透過光は光検出器３で電気信号に変換
され、その信号はＡ／Ｄコンバータ４でＡ／Ｄ変換され
てマイクロコンピユータＣＰＵに読込まれて処理され
る。試料Ｓは試料ホルダ５に載置される。試料ホルダ５
は６個の試料セルが搭載できるようになつており、試料
切換機構６により図で上下方向で駆動され、その駆動制
御はＣＰＵが行つており、任意の試料セルを分光器２の
出射光の光路内に位置させる。ＣＰＵはまた、分光器２
の波長切換動作をも制御している。７は分光器の波長駆
動機構で、マイクロコンピユータＣＰＵによつて制御さ
れている。８はメモリで一連の測定パラメータが一つの
ファイルとして２０組、１から２０のフアイル番号を付
して格納してある。第２図は表示装置９に表示されたメ
モリ８内の測定パラメータフアイル中の或るフアイル番
号のフアイルの中身を示すパターンである。このパター
ンで第１列はフアイル番号、２列目以下が一連の測定パ
ラメータが表示されている。第３図は測定ステップ（Ｍ
ＥＳ ＳＴＥＰ）の設定状態の表示装置９における表示
パターンで、測定ステツプはメモリ８内の測定ステツプ
格納エリヤに格納されている。こゝで測定ステツプと云
うのは測定の順番で、第３図のパターンでＣＥＬＬＮ
Ｏ、と云う欄は試料ホルダ５上の試料セルの順位番号で
あり、ＰＡＲＡＭ、ＦＩＬＥＮＯと記された欄は各測定
ステツプにおける測定パラメータの組合せのフアイル番
号である。このフアイル番号の中にＯと記されたものが
あるが、これはベースラインデータ集収を意味する。こ
の実施例は単光束型分光光度計であるので、溶媒のみの
試料をセツトして透過率１００％のベースラインのデー
タを集収してメモリしておき、次に被測定試料を測定し
て、上記ベースラインのデータで割算して被測定試料の
透過率を求める構成であるので、フアイル番号の０を指
定することによつて１００％透過率のベースラインデー
タを集収するようにＣＰＵのプログラムが組んであるの
である。第３図のパターンは１番目の測定では試料ホル
ダ５上の１番目のセルを分光光度計の光路上に進めて、
ベースラインデータを集収せよと云うことを示してい
る。つまり１番目の試料セルに溶媒のみのブランク試料
が入れてあるのである。２番目の測定は試料ホルダ上２
番目のセルの試料についてフアイル番号１で指定される
測定を行うと云うことである。第３番、第４番の測定は
何れも３番目のセル内の試料についての測定で、３番目
の試料についてはフアイル番号２と３の測定を行うこと
を示している。もちろん６個の試料について２０ステツ
プも測定も行わない場合が多い。この場合ステツプ番号
の欄は或る番号以下全部０にしておく。ステツプ番号０
は測定終了を意味するようにプログラムが組んであるの
である。第１図に戻つて１０はＣＰＵの動作プログラム
を書込んだＲＯＭである。
分光器２によつて分光され、分光器出射光の光路内に試
料が置かれ、試料透過光は光検出器３で電気信号に変換
され、その信号はＡ／Ｄコンバータ４でＡ／Ｄ変換され
てマイクロコンピユータＣＰＵに読込まれて処理され
る。試料Ｓは試料ホルダ５に載置される。試料ホルダ５
は６個の試料セルが搭載できるようになつており、試料
切換機構６により図で上下方向で駆動され、その駆動制
御はＣＰＵが行つており、任意の試料セルを分光器２の
出射光の光路内に位置させる。ＣＰＵはまた、分光器２
の波長切換動作をも制御している。７は分光器の波長駆
動機構で、マイクロコンピユータＣＰＵによつて制御さ
れている。８はメモリで一連の測定パラメータが一つの
ファイルとして２０組、１から２０のフアイル番号を付
して格納してある。第２図は表示装置９に表示されたメ
モリ８内の測定パラメータフアイル中の或るフアイル番
号のフアイルの中身を示すパターンである。このパター
ンで第１列はフアイル番号、２列目以下が一連の測定パ
ラメータが表示されている。第３図は測定ステップ（Ｍ
ＥＳ ＳＴＥＰ）の設定状態の表示装置９における表示
パターンで、測定ステツプはメモリ８内の測定ステツプ
格納エリヤに格納されている。こゝで測定ステツプと云
うのは測定の順番で、第３図のパターンでＣＥＬＬＮ
Ｏ、と云う欄は試料ホルダ５上の試料セルの順位番号で
あり、ＰＡＲＡＭ、ＦＩＬＥＮＯと記された欄は各測定
ステツプにおける測定パラメータの組合せのフアイル番
号である。このフアイル番号の中にＯと記されたものが
あるが、これはベースラインデータ集収を意味する。こ
の実施例は単光束型分光光度計であるので、溶媒のみの
試料をセツトして透過率１００％のベースラインのデー
タを集収してメモリしておき、次に被測定試料を測定し
て、上記ベースラインのデータで割算して被測定試料の
透過率を求める構成であるので、フアイル番号の０を指
定することによつて１００％透過率のベースラインデー
タを集収するようにＣＰＵのプログラムが組んであるの
である。第３図のパターンは１番目の測定では試料ホル
ダ５上の１番目のセルを分光光度計の光路上に進めて、
ベースラインデータを集収せよと云うことを示してい
る。つまり１番目の試料セルに溶媒のみのブランク試料
が入れてあるのである。２番目の測定は試料ホルダ上２
番目のセルの試料についてフアイル番号１で指定される
測定を行うと云うことである。第３番、第４番の測定は
何れも３番目のセル内の試料についての測定で、３番目
の試料についてはフアイル番号２と３の測定を行うこと
を示している。もちろん６個の試料について２０ステツ
プも測定も行わない場合が多い。この場合ステツプ番号
の欄は或る番号以下全部０にしておく。ステツプ番号０
は測定終了を意味するようにプログラムが組んであるの
である。第１図に戻つて１０はＣＰＵの動作プログラム
を書込んだＲＯＭである。
上述実施例は単光束分光光度計を用いたものであるが、
本発明が二光束分光光度計でも適用できるものであるこ
とは云うまでもない。また試料切換えの手段は実施例の
よう直進型であつても、円板を回転させる型であつても
よい。
本発明が二光束分光光度計でも適用できるものであるこ
とは云うまでもない。また試料切換えの手段は実施例の
よう直進型であつても、円板を回転させる型であつても
よい。
ト 効果 本発明分光光度計は上述したような構成で、複数の試料
について異つた測定パラメータによる測定を任意の組合
せで実行でき、その実行は測定の前にオペレータが測定
操作をしておくことで以後自動的に進行するので、オペ
レータの操作上の負担が大幅に軽減される。また特殊な
用法として、分光光度計自体の検査データをとる際など
に、上の機能を利用することで、必要な一連の検査デー
タを自動的に集収することができ、検査工数の低減を得
ることができる。
について異つた測定パラメータによる測定を任意の組合
せで実行でき、その実行は測定の前にオペレータが測定
操作をしておくことで以後自動的に進行するので、オペ
レータの操作上の負担が大幅に軽減される。また特殊な
用法として、分光光度計自体の検査データをとる際など
に、上の機能を利用することで、必要な一連の検査デー
タを自動的に集収することができ、検査工数の低減を得
ることができる。
第１図は本発明の一実施例装置のブロツク図、第２図は
同実施例におけるメモリ内のパラメータフアイルの内容
を表示装置に表示させたパターンの図、第３図は同じく
測定ステツプの表示パターンの図である。
同実施例におけるメモリ内のパラメータフアイルの内容
を表示装置に表示させたパターンの図、第３図は同じく
測定ステツプの表示パターンの図である。
Claims (1)
- 【請求項１】複数の試料の任意の一つを測定位置に移動
させる試料切換装置と、一測定における一連の測定パラ
メータの種々な組合せを指定コードを付して格納してお
くメモリと、試料切換装置上の試料番号に対して任意の
測定パラメータの指定コードを指定しておくことによ
り、試料切換装置上の試料を順次指定された測定パラメ
ータによつて測定して行く制御手段を備えた自動化され
た分光光度計
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24246885A JPH0612334B2 (ja) | 1985-10-28 | 1985-10-28 | 自動化された分光光度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24246885A JPH0612334B2 (ja) | 1985-10-28 | 1985-10-28 | 自動化された分光光度計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62100644A JPS62100644A (ja) | 1987-05-11 |
| JPH0612334B2 true JPH0612334B2 (ja) | 1994-02-16 |
Family
ID=17089528
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24246885A Expired - Lifetime JPH0612334B2 (ja) | 1985-10-28 | 1985-10-28 | 自動化された分光光度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0612334B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009293977A (ja) * | 2008-06-03 | 2009-12-17 | Hitachi High-Technologies Corp | 分光光度計および分光光度計の検定方法 |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0631408Y2 (ja) * | 1988-03-15 | 1994-08-22 | 株式会社イーオス | 成分分析計における被測定物の較正情報自動認識装置 |
| US5116122A (en) * | 1991-03-14 | 1992-05-26 | Shimadzu Corporation | Spectrophotometer |
| US8316314B2 (en) * | 2010-06-30 | 2012-11-20 | Thermo Electron Scientific Instruments Llc | Intelligent multi-functional macros language for analytical measurements |
-
1985
- 1985-10-28 JP JP24246885A patent/JPH0612334B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009293977A (ja) * | 2008-06-03 | 2009-12-17 | Hitachi High-Technologies Corp | 分光光度計および分光光度計の検定方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62100644A (ja) | 1987-05-11 |
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