JPH0311104B2 - - Google Patents

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Publication number
JPH0311104B2
JPH0311104B2 JP61063875A JP6387586A JPH0311104B2 JP H0311104 B2 JPH0311104 B2 JP H0311104B2 JP 61063875 A JP61063875 A JP 61063875A JP 6387586 A JP6387586 A JP 6387586A JP H0311104 B2 JPH0311104 B2 JP H0311104B2
Authority
JP
Japan
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support
clamp
chip
test socket
tip
Prior art date
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Expired - Lifetime
Application number
JP61063875A
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English (en)
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JPS62104146A (ja
Inventor
Deii Mooton Junia Uiriamu
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
PURESHIJON MONORISHITSUKUSU Inc
Original Assignee
PURESHIJON MONORISHITSUKUSU Inc
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Filing date
Publication date
Application filed by PURESHIJON MONORISHITSUKUSU Inc filed Critical PURESHIJON MONORISHITSUKUSU Inc
Publication of JPS62104146A publication Critical patent/JPS62104146A/ja
Publication of JPH0311104B2 publication Critical patent/JPH0311104B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K7/00Constructional details common to different types of electric apparatus
    • H05K7/02Arrangements of circuit components or wiring on supporting structure
    • H05K7/10Plug-in assemblages of components, e.g. IC sockets
    • H05K7/1053Plug-in assemblages of components, e.g. IC sockets having interior leads
    • H05K7/1061Plug-in assemblages of components, e.g. IC sockets having interior leads co-operating by abutting
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/04Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • G01R1/0433Sockets for IC's or transistors
    • G01R1/0483Sockets for un-leaded IC's having matrix type contact fields, e.g. BGA or PGA devices; Sockets for unpackaged, naked chips

Description

【発明の詳細な説明】 (発明が属する技術分野) 本発明は、試験を行なうエレクトロニツクス素
子との電気的接触を維持して確保するための試験
用ソケツトに関し、特に支持具に収容されたリー
ド線のないチツプのための試験用ソケツトに関す
る。
(従来の技術およびその問題点) 製造工程中にリード線のない集積回路チツプを
保持するため、かかるチツプのための種々の支持
装置が開発されている。このようなリード線のな
いチツプの支持具の1つが1984年4月24日発行に
発行され現在本発明の譲受人に譲渡された本発明
者の米国特許第4444309号において記載されてい
る。しかし、これらの支持具は、印刷回路板上に
恒久的に取付けられた入手可能な試験用ソケツト
と共用できるものではない。このような試験用ソ
ケツトは、チツプの表面上の接触パツドと電気的
な接触状態を確保して、チツプ回路が働かされ、
その性能が試験ソケツトの接点を介して監視され
る種々の試験シーケンスを可能にする接触装置を
有する。現在入手可能な支持具および試験用ソケ
ツトにおいは、最初にチツプを支持具から取外し
て試験用ソケツトに「裸の」状態で挿入し、次い
でもしこれ以上の処理が必要とされる場合は、試
験の後でソケツトから取外して支持具に再び挿入
しなければならない。このため、試験サイクルに
余分な工程を生じてコストの増加および効率の低
下を伴ない、またチツプの余計な取扱いのための
これを破損する可能性を増大する。
(問題を解決する手段) 従来技術と関連する上記の諸問題に鑑み、本発
明の目的は、リード線のない集積回路チツプを支
持具内に収容されたまま収容することができ、こ
れによりソケツトに対する装填に先立つてチツプ
を支持具から取外す必要を除いたチツプのための
斬新な改善された試験用ソケツトの提供にある。
別の目的は、チツプおよびその支持具を確実に
保持して、チツプの接触パツドに対する確実な電
気的接続状態を確保する如き試験用ソケツトの提
供にある。
上記および他の目的は、露出したチツプの接触
パツドをベースに向つて下方に向けて支持具内に
収容されたリード線のないチツプを収受するため
のベース部材を含む試験用ソケツトの提供するこ
とにより本発明において達成される。ばねで偏倚
された複数の接触部材が、ベース内から上方に延
長してチツプ上の各接触パツドと電気的な接触状
態を確保している。クランプが前記ベースに対し
て枢着され、ベースに対する支持具の頂部の装着
を可能にする開口位置と、この支持具をベース内
に固定する閉鎖位置との間で枢動する。複数の離
間された突出部材が前記ベースから上方へ延在
し、前記クランプと共働して、チツプの接触パツ
ドを試験用ソケツトの接触部材と係合させて支持
具を試験用ソケツト内に取外し自在に緊締する。
望ましい実施態様においては、前記クランプは
上部の係合面を有する回転自在な部材を含み、前
記突出部材は支持具の収受領域の周囲で前記ベー
スから上方へ延長するブラケツトを含んでいる。
このブラケツトの略々下方を向いた支持面は、ク
ランプが回転させられる時クランプの係合上面に
より係合され、確実な電気的接続がチツプの接触
パツドに対して確立される完全に閉鎖した位置ま
でクランプを押し下げる。相互に係合したクラン
プとブラケツト面はクランプの回転面に対して相
互に傾斜しており、このためクランプが支持面の
下方で回転させられる時クランプを下方に押しや
る。クランプが係合する上面が、クランプの胴部
から外方に張出す1組のアーム上に形成されてい
る。この上部アーム面は、クランプの時計方向ま
たは反時計方向の回転運動を生じるよう緊締作用
が生じるように、アームの側壁面間の中間位置か
ら下方に向つて先細形状を呈する。クランプは、
支持具の開口を貫通して延長しチツプの上側に対
して直接当接する柱体を有する。
クランプは、ベースに対して枢動してクランプ
を開口位置と閉鎖位置との間に運動させる枢動部
材上に載置されることが望ましい。クランプの回
転運動を容易にするため指の握りがクランプに設
けられている。クランプは、チツプのための周囲
温度ソースを提供する開口を有する。
本発明の他の特徴および目的については、図面
に関して望ましい実施態様の以下の詳細な記述か
ら当業者には明らかになるであろう。
(実施例) 本発明により構成される無リード型チツプの支
持具組立体のための試験用ソケツトの分解図が第
1図に示されている。この試験用ソケツトは、そ
のベースから突出する接点と整合するフツトプリ
ント・パツドを有する印刷回路板上に取付けられ
るためのものである。良好な電気的接触を確実に
するため、試験用ソケツトの接点は印刷回路板上
の各パツドに対してハンダ付けされることが望ま
しい。この試験用ソケツトは、無リード型チツプ
の支持具組立体を収受するための凹部4のあるベ
ース部材2を含み、この組立体は無リード型の集
積回路チツプと、チツプを収容する支持具とを含
んでいる。第1図の試験用ソケツトは、米国特許
第4444309号に示された形式の無リード型チツプ
の支持具を収容するように構成され、支持具が前
記凹部4内に丁度嵌合して、実質的な側方の運動
を生じないように凹部壁面により保持されてい
る。図に示された姿勢では、このチツプ支持具
は、チツプの接触パツドが前記凹部4の床部に向
つて下方を向くように凹部内に定置されることに
なる。本文に用いられる用語「下方」および「上
方」とは単なる記述の目的のためのものであり、
試験用ソケツトは他のある角度の姿勢に反転され
あるいは操作することができ、しかも依然として
良好に機能し得ることが理解されよう。
ベース2の中心部における凹部の床部には開口
6が設けられ、チツプを試験用ソケツトの下側で
周囲の雰囲気および温度に対して露呈する。試験
用ソケツトのベースは、凹部4の床部から上方に
延在しかつ凹部の全長にわたり延びる(開口6を
除いて)一連の仕切り8を有する。隣接する仕切
りは、その内部にばねで偏倚される接触部材10
が配置される間隙により分離される。試験される
無リード型チツプの各接触パツドに対するソケツ
トには別の接触部材ばね10が設けられている。
各接触ばねは、仕切り8の高さより上方に延長し
てチツプの接触パツドと物理的な接触と電気的な
接触を確立する頭部12と、隣接する仕切り間に
位置されこれら仕切りの上方に前記頭部を保持す
るばね圧力を生じるばね部分14と、印刷回路板
と係合するように前記試験用ソケツトのベースを
貫通して延長するピン16とを有する。接触ばね
は、それぞればね鋼の針金の1本の連続部分から
形成されることが望ましい。
4つのブラケツト18,20,22,24がベ
ース2と一体に成形され、これから前記凹部4と
反対側で上方に延長している。各ブラケツトはそ
の頂部において、前に説明したように凹部内でチ
ツプ支持具を緊締するため使用される支持面を形
成するようにくり抜かれている。前記支持具の凹
部の反対側で相互に整合されているブラケツト2
0,22は、それぞれ、前記凹部に向つて内方に
突出しかつ支持具が試験用ソケツト内に装填され
る時チツプ支持具の周囲における対応する切込み
に嵌合する形状を呈し、これにより支持具を凹部
4内のその適正な位置に案内する下部の案内部材
26を有する。
前記ベース部材と共働して支持具のクランプを
開口位置と緊締位置との間に運動させる枢着部材
28は、試験用ソケツトのベースにおける凹部4
の両側で各スロツト32に対して嵌合するための
1対の距離を隔てて下垂するタブ30を有する。
保持用の枢着ピン36が、スロツト32の両側に
おいてベースの開口を貫通し、また前記枢着部材
のタブの開口38をも貫通して枢着部材28を前
記ベース上に保持して、この枢着部材が自由に
略々90°の円弧にわたつて枢動する状態に置く。
枢着ピン36はねじを設けてベース部材の対応す
るねじと螺合させ、あるいは他の方法でベースの
所定位置に保持することもできる。
枢着部材のタブ30は、これからリング42が
同じ面内に延長するバー40により結合されてい
る。チツプの支持具を試験用ソケツトに緊締し、
ばねの接触部材10との確実な接触状態を確保す
るためこのチツプを下方に押圧するためクランプ
44が設けられている。クランプ44は、これか
ら柱体48が下垂する。心部の胴部46を有す
る。組立てられた状態では、柱体48は枢着部材
のリングの開口50を貫通して延長し、ナツト5
2が開口50の下方の柱体に捕捉されてクランプ
を枢着部材に保持する。クランプは更に、中心部
の胴部から側方に張出す1対のアーム54を含ん
でいる。各アームは、前記胴部から側方に張出し
た1対の側壁面を有する。このアームの上面は、
前記側壁面間に定置する中間の頂点58から下方
に向つてテーパ状を呈し、テーパ状のアームの上
面は、更に詳細に以下に説明するようにクランプ
が回転される時、ベースのブラケツトを係合して
チツプおよび支持具を所定位置に確実に緊締する
係合面を提供する。指の握り部60が、クランプ
が容易に把握されて緊締作用を生じるよう手によ
つて回転させることができるように、中心部の胴
部から上方に延長している。内孔62が、指の握
り、中心部の胴部および柱体を貫通して延長し、
緊締された支持具に保持されたチツプに対する周
囲温度ソースを提供する。
第2図、第3図および第4図は、チツプ収容し
かつ第1図の試験用ソケツト内に緊締された無リ
ード型チツプの支持具を示している。米国特許第
4444309号に示されたものとして例示される支持
具は、無リード型チツプを収受する中心部64
と、この中心部の反対側に沿つて延びる1対の翼
部66とを有する。この翼部は、案内部材26に
対して整合して試験用ソケツトのベースの凹部4
内に前記支持具を両側に定置する切欠き68を有
する。無リード型チツプ70は、その接触パツド
を図に示された姿勢において試験用ソケツトのベ
ースの床部に向つて下方に向けて支持具内に保持
される。チツプ支持具は、クランプの柱体48が
貫通してチツプの上面と直接接触する開口を有す
る。柱体48は、クランプが緊締される時チツプ
に対して下向きに当り、チツプを押下げて接触ば
ね10とその各チツプの接触パツドとの間に確実
な電気的な接触状態を確保する。種々の部品は、
支持具の仕切り8の上面に突当つてクランプに過
大なトルクを及ぼすことを防止するような寸法が
与えられている。第4図に示さされるように接触
ばねのピン16は、印刷回路板と接続するため試
験用ソケツトのベースの底部の開口を貫通してい
る。
緊締機構のこれ以上の詳細は第5図に示されて
いる。クランプは、アーム54が対向位置関係に
ある1対の突出するブラケツト18,20,2
2,24の下方に置かれるように枢着部材28の
内部で回転可能である。第5図に示されるよう
に、アーム54の1つがブラケツト18の位置ま
で回転させられ、反対側のアームはブラケツト2
2にある。ブラケツトの上部は、望ましくは約2°
の小さな角度でブラケツトの側方(クランプのア
ーム54がブラケツトと係合するように回転させ
られる方向)に向つて上方に傾斜した下方を向い
た支持面71を形成するようにくり抜かれてい
る。第5図に矢印72により示されるように、ア
ーム54は円弧を左から右へ横切つてブラケツト
の接触状態になる。ブラケツトの反対側の支持面
71は、この支持面がクランプのアームが生じる
どんな方向に対しても上方に類似角度で傾斜させ
られている。一方、クランプの上部の係合面は、
ブラケツトに対して同様な角度で下方に傾斜して
いる。アームの係合面は中間の頂角58から両側
壁面に向つて下方にテーパ状を呈しているため、
アームがブラケツトと係合するように時計方向ま
たは反時計方向のどちらに回転させられるかに拘
らず、この面は約4°の正味の傾斜量でブラケツト
の支持面71と係合することが判るであろう。ク
ランプおよびその各ブラケツトのどちらかのアー
ム間のこのような相互の傾斜が、ブラケツトの下
方で徐々に回転させられる時クランプ胴部を下方
に強制する。クランプの下方への運動は、更に、
柱体を介してチツプ支持具内部の無リード型チツ
プに対し伝達され、これを下方に押圧してチツプ
の接触パツドとソケツトのばね接点との間に確実
な係合状態を確立する。
第6図乃至第8図は、無リード型チツプのパツ
ドとの接触状態を確保する際の接触ばね10の作
用を示している。チツプの支持具が試験用ソケツ
トに対して挿入される前に、接触ばねは第7図に
示されるように弛緩状態に置かれ、その頭部12
が線74により示される無リード型チツプの最終
的位置の上方に突出している。支持具が試験用ソ
ケツトに挿入されて緊締されると、チツプは接触
ばねに抗して下方に押圧され、これらばねを第6
図および第8図に示される位置まで下方に撓め
る。この位置においては、支持具が仕切り8の上
面に対して突当たり、ばね接点に対して与えられ
た撓みがこれら接点とその各チツプの接触パツド
との間に確実な接触状態を確立する。接触ばねが
仕切り8により相互に絶縁されているため、信号
は試験の目的のため接触ばねを介してチツプに対
して、あるいはこれから加えることができる。
作用においては、試験用ソケツトの枢着部材2
8が最初に関係位置に枢動させられて、凹部4を
試験用ソケツトのベースに露呈する。無リード型
チツプを収容する支持具はこの時ベース部材の
略々上方から凹部に対して装填され、ここで案内
部材26によつて適正位置に置かれる。次いで、
クランプ柱体48が支持具の開口を介してその接
触パツドが下方を向いたチツプの上面まで延長す
るように枢着部材28は枢動されて閉じられる。
次にクランプ上の指の握り60が把握され、クラ
ンプを時計方向または反時計方向のいずれかに回
転するように回転される。反対側のクランプのア
ーム54は直径方向の反対位置にあるブラケツト
18と係合し、クランプのアームにおける上部の
係合面とブラケツトの支持面との間の角度をもつ
た係合状態の結果として、クランプの連続する回
転運動により柱体48を下側の無リード型チツプ
に対して下方に押圧する。支持具がベースの仕切
り8の上面に突当たるまでクランプの回転運動が
継続し、この時チツプと試験用ソケツトの接触ば
ねとの間に確実な電気的な接続状態が確立され
る。この時、チツプの回路を付勢するため試験信
号が各接触ばねに対して加えることができ、その
結果もまた接触ばね上に読出される。
無リード型チツプを支持具を収容することがで
きる簡単かつ取扱いが容易であるが耐久性に富み
かつ信頼性のある試験用ソケツトについて示し記
述した。当業者には多くの変更例および代替例が
着想されるであろうため、本発明は頭書の特許請
求の範囲に照して限定されるべきものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明により構成されるリード線のな
いチツプ支持具のための試験用ソケツトを示す分
解斜視図、第2図はリード線のないチツプ支持具
を所定位置に緊締する閉鎖位置における試験用ソ
ケツトを示す斜視図、第3図は第2図に示された
試験用ソケツトおよびリード線のないチツプ支持
具を示す平面図、第4図は第3図の線4−4に関
する断面図、第5図は試験用ソケツトの緊締機構
の部分を示す部分拡大断面図、第6図は第4図の
線6−6に関する左側の部分側面図、および第7
図および第8図は支持具におけるリード線のない
チツプとの接触前および接触中の試験用ソケツト
の電気的接点の1つをそれぞれ示す断面図であ
る。 10……接触部材、12……頭部、14……ば
ね部分、16……ピン、18……ブラケツト、2
0……ブラケツト、22……ブラケツト、24…
…ブラケツト、26……案内部材、28……枢着
部材、30……タブ、32……スロツト、36…
…枢着ピン、38……開口、40……バー、42
……リング、44……クランプ、46……中心部
の胴部、48……柱体、50……開口、52……
ナツト、54……アーム、58……頂点、60…
…指の握り部、64……中心部、66……翼部、
68……切欠き、70……無リード型チツプ、7
1……支持面。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 無リード型チツプ70と、無リード型チツプ
    を収容する支持具であつて、探針検査のため無リ
    ード型チツプの接触パツドを露出させた状態で腔
    部内に前記チツプを保持するようになつた支持具
    64,66とを備えてなる無リード型チツプ支持
    具組立体、のための試験用ソケツトにおいて、
    (前記チツプの接触パツドを下方に向けた基準姿
    勢において) ベース部材2であつて、露出したチツプの接触
    パツドをベース部材に向つて下方に向けてベース
    部材の略々上方から装填されたチツプ支持具組立
    体を収受するための支持具収受領域4を有するベ
    ース部材と、 該ベース部材に対して取付けられ、前記支持具
    におけるチツプの各接触パツドと電気的な接触状
    態を確保する手段10と、 前記ベース部材に対して枢着され、ベース部材
    に対するチツプ支持具組立体の頂部装填を可能に
    する開口位置とチツプ支持具組立体に被さる閉鎖
    位置との間で枢動するクランプ手段28,44
    と、 前記ベース部材により支持され、かつ前記クラ
    ンプ手段と共働して、前記の電気的な接触状態を
    確保する手段にチツプの接触パツドが係合するよ
    うに所定位置に前記チツプ支持具組立体を取外し
    自在に緊締する手段18,20,22,24とを
    設けてなることを特徴とする試験用ソケツト。 2 前記チツプ支持具の収受領域が前記ベース部
    材に凹部4を有し、該凹部はその側壁面がチツプ
    支持具組立体の側方の実質的な運動を阻止するよ
    うな寸法となつていることを特徴とする特許請求
    の範囲第1項記載の試験用ソケツト。 3 前記クランプ手段が、係合上面を有する回転
    可能なクランプ部材44を有し、該クランプ手段
    と共働する前記手段が、前記支持具収受領域の周
    囲で前記ベース部材から上方に延長する複数の離
    間された突出部材18,20,22,24を含
    み、該突出部材は、前記クランプ手段が前記チツ
    プ支持具組立体上のクランプ手段を更に緊密に閉
    鎖するよう回転される時クランプ手段の係合上面
    により係合される略々下方を向いた支持面71を
    有することを特徴とする特許請求の範囲第1項記
    載の試験用ソケツト。 4 前記突出部材18,20,22,24が前記
    支持面71を形成するくり抜き部分を有すること
    を特徴とする特許請求の範囲第3項記載の試験用
    ソケツト。 5 前記クランプの係合上面および突出部材の支
    持面が、該支持面の下方で回転される時クランプ
    を下方に押下げるようにクランプの回転面に対し
    て相互に傾斜していることを特徴とする特許請求
    の範囲第4項記載の試験用ソケツト。 6 前記クランプが中心部の胴部46と、該胴部
    から側方に張出した1対のアーム54とを有し、
    前記クランプの係合上面が前記アームの上面に形
    成されていることを特徴とする特許請求の範囲第
    3項記載の試験用ソケツト。 7 前記アーム54の各々が前記胴部から側方に
    張出した1対の側壁面56を有し、該アームの上
    面が前記側壁面間の中間位置58から下方に向つ
    てテーパ状を呈し、前記突出部材の支持面71
    が、前記クランプの時計方向および反時計方向の
    両回転運動がそのアームを各支持面と係合させて
    クランプを下にあるチツプ支持具組立体に向つて
    下方に押圧させるようにテーパ状アームに対する
    形状を呈することを特徴とする特許請求の範囲第
    6項記載の試験用ソケツト。 8 前記クランプが更に、該クランプを回転させ
    るため前記の中心部の胴部から上方にかつ前記ア
    ームの内側に延在する指の握り部60を含むこと
    を特徴とする特許請求の範囲第7項記載の試験用
    ソケツト。 9 前記クランプ手段が、下にあるチツプ支持具
    の腔部に侵入して該腔部に保持されたチツプに対
    して当接当接する如き寸法であることを特徴とす
    る特許請求の範囲第1項記載の試験用ソケツト。 10 前記クランプ手段が、前記チツプに対する
    周囲温度ソースを提供するように前記チツプの支
    持面に対して延長する貫通孔6を有することを特
    徴とする特許請求の範囲第9項記載の試験用ソケ
    ツト。
JP61063875A 1985-10-30 1986-03-20 無リ−ド型チツプ支持具組立体のための試験用ソケツト Granted JPS62104146A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US06/792,805 US4683423A (en) 1985-10-30 1985-10-30 Leadless chip test socket
US792805 1985-10-30

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS62104146A JPS62104146A (ja) 1987-05-14
JPH0311104B2 true JPH0311104B2 (ja) 1991-02-15

Family

ID=25158120

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP61063875A Granted JPS62104146A (ja) 1985-10-30 1986-03-20 無リ−ド型チツプ支持具組立体のための試験用ソケツト

Country Status (3)

Country Link
US (1) US4683423A (ja)
EP (1) EP0221620A1 (ja)
JP (1) JPS62104146A (ja)

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