JPS62104146A - 無リ−ド型チツプ支持具組立体のための試験用ソケツト - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （発明が属する技術分野） 本発明は、試験を行なうエレクトロニツクス素子との電
気的接触を維持して確保するだめの試験用ソケットに関
し、特に支持具に収容されたリード線のないチップのた
めの試験用ソケットに関する。

（従来の技術およびその問題点） 製造工程中にリード線のない集積回路チップを保持する
ため、かかるチップのための種々の支持装置が開発され
ている１、このようなり一ド線のないチップの支持具の
１つが１９８４．年４月２４日発行に発行され現在本発
明ＯＪ受人に譲渡された本発明者の米国特許第４．４４
．１，３０９号において記載されている。

し、か１７、こねら・ｈｔ持具は、印刷１回路板上に恒
久的に取付けられた入手可能な試験用ソケットと共用で
きるものではない。このような試験用ソケットは、チッ
プの表面上の接触パッドと電気的な接触状態を確保して
、チップ回路が働かされ、その性能が試験ソケットの接
点を介して監視される種々の試験シーケンスを可能にす
る接触装置を有する。現在入手可能な支持具および試験
用ソケットにおいては、最初にチップを支持具から取外
して試験用ソケットに「裸の」状態で挿入し、次いでも
しこれ以上の処理が必要とされる場合は、試験の後でソ
ケットから取外して支持具に再び挿入しなければならな
い。このため、試験サイクＡ・に余分な工程を生じてコ
ストの増加および効率の低下を伴い、またチップの余計
な取扱いのためこれを破損する可能性を増大する。

（問題を解決する手段） 従来技術と関連する上記の諸問題に鑑み、本発明の目的
は、リード線のない集積回路チップを支持具内に収容さ
れたまま収容することができ、これによりソケットに対
する装填に先立ってチソー、ｌを支持具から取外す必要
を除いたチップのための斬新な改善された試験用ソケッ
トの提供にある。

別の目的は、チップおよびその支持具を確実に保持して
、チップの接触パッドに対する確実な電気的接続状態を
確保する如き試験用ソケットの提供にある。

上記および他の目的は、露出したチップの接触パッドを
ベースに向って下方に向けて支持具内に収容されたり一
ド線のないチップを収受するだめのベース部材を含む試
験用ソケットを提供することにより本発明において達成
される。ばねで偏倚された複数の接触部材が、ベース内
から上方に延長してチップ上の各接触パッドと電気的な
接触状態を確保している。クランプが前記ベースに対し
て枢着され、ベースに対する支持具の頂部の装着を可能
にする開口位置と、この支持具をベース内に固定する閉
鎖位置との間で枢動する。複数の離間された突出部材が
前記ベースから上方へ延在し、前記クランプと共働して
、チップの接触パッドを試験用ソケットの接触部材と係
合させ゛て支持具を試験用ソケット内に取外し自在に緊
締する。

望ましい実施態様においては、前記クランプは上部の係
合面を有する回転自在な部材を含み、前記突出部材は支
持具の収受領域の周囲で前記ベースから上方へ延長する
ブラケットを含んでいる。

このブラケットの略々下方を向いた支持面は、クランプ
が回転させられる時クランプの係合上面により係合され
、確実な電気的接続がチップの接触パッドに対して確立
される完全に閉鎖した位置までクランプを押し下げる。

相互に係合したクランプとブラケット面はクランプの回
転面に対して相互に傾斜しており、このためクランプが
支持面の下方で回転させられる時クランプを下方に押し
やる。クランプが係合する上面が、クランプの胴部から
外方に張出す１組のアーム上に形成されている。この上
部アーム面は、クランプの時計方向または反時計方向の
回転運動を生じるよう緊締作用が生じるように、アーム
の側壁面間の中間位置から下方に向って先細形状を呈す
る。クランプは。

支持具の開口を貫通して延長し、チップの上側に対して
直接当接する柱体を有する。

クランプは、ベースに対して枢動してクランプを開口位
置と閉鎖位置との間に運動させる枢動部材上に載置され
ることが望ましい。クランプの回転運動を容易にするた
め指の握シがクランプに設けられている。クランプは、
チップのだめの周囲温度ソースを提供する開口を有する
。

本発明の他の特徴および目的については、図面に関して
望ましい実施態様の以下の詳細な記述から当業者には明
らかになるであろう。

（実施例） 本発明により構成される無リード型チップの支持具組立
体のための試験用ソケットの分解図が第１図に示されて
いる。この試験用ソケットは、その・ぜ−スから突出す
る接点と整合するフットプリント・パッドを有する印刷
回路板上に取付けられるためのものである。良好な電気
的接触を確実にするため、試験用ソケットの接点は印刷
回路板上の各パッドに対してハンダ付けされることが望
ま（、い。この試験用ソケットは、無リード型チップの
支持具組立体を収受するための凹部４のあるベース部材
２を含み、この組立体は無リード型の集積回路チップと
、チップを収容する支持具とを含んでいる。第１図の試
験用ソケットは、米国特許第４，４４４，３０９号に示
された形式の無リード型チップの支持具を収容するよう
に構成され、支持具が前記凹部４内に丁度嵌合して、実
質的な側方の運動を生じないように凹部壁面により保持
されている。図に示された姿勢では、このチップ支持具
は、チップの接触パッドが前記凹部４の床部に向って下
方を向くように凹部内に定置されることになる。

本文に用いられる用語「下方」および「上方」とは単な
る記述の目的のためのものであり、試験用ソケットは他
のある角度の姿勢に反転されあるいは操作することがで
き、し７かも依然として貞好に機能し得ることが理解さ
れよう。

ベース２の中心部における凹部の床部には開口６が設け
られ、チップを試験用ソケットの下側で周囲の雰囲気お
よび温度に対して蕗呈する。試験用ソケットのベースは
、凹部４の床部から上方に延在しかつ凹部の全長にわた
り延びる（開口６を除いて）一連の仕切り８を有する。

隣接する仕切りは、その内部にばねで偏倚される接触部
材１０が配置される間隙によシ分離される。試験される
無リード型チップの各接触パット９に対するソケットに
は別の接触部材ばね１０が設けられている。各接触ばね
は、仕切り８の高さよシ上方に延長してチップの接触バ
ンドと物理的な接触と電気的な接触を確立する頭部１２
と、隣接する仕切り間に位置されこれら仕切りの上方に
前記頭部を保持するばね圧力を生じるばね部分１４と、
印刷回路板と係合するように前記試験用ソケットのベー
スを貫通して延長するピン１６とを有する。接触はねは
、それぞればね鋼の針金の１本の連続部分から形成され
ることが望ましい。

４つのブラケット１８．２０．２２．２４がベース２と
一体に成形され、これから前記凹部４の反対側で上方に
延長している。各ブラケットはその頂部において、前に
説明したように凹部内でチップ支持具を緊締するため使
用される支持面を形成するようにくシ抜かれている。前
記支持具の凹部の反対側で相互に整合されているブラケ
ット２０．２２は、それぞれ、前記凹部に向って内方に
突出しかつ支持具が試験用ソケット内に装填される時チ
ップ支持具の周囲における対応する切込みに嵌合する形
状を呈し、これにより支持具を凹部４内のその適正な位
置に案内する下部の案内部材２６を有する。

前記ベース部材と共働して支持具のクランプを開口位置
と緊締位置との間に運動させる枢着部材２８は、試験用
ソケットのベースにおける凹部４の両側で各スロット３
２に対して嵌合するだめの１対の距離を隔てて下垂する
タブ３０を有する。保持用の枢着ピン３６が、スロット
３２の両側においてベースの開口を貫通し、また前記枢
着部材のタブの開口３８をも貫通して枢着部材２８を前
記ベース上に保持して、この枢着部材が自由に略々９０
°の円弧にわたって枢動する状態に置く。枢着ピン３６
はねじを設けてベース部材の対応するねじと螺合させ、
あるいは他の方法でベースの所定位置に保持することも
できる。

枢着部材のタブ３０は、これからリング４２が同じ面内
に延長するバー４０により結合されている。チップの支
持具を試験用ソケットに緊締し、ばねの接触部材１０と
の確実な接触状態を確保するためこのチップを下方に押
圧するためクランプ４４が設けられている。クランプ４
４は、これから柱体４８が下垂する。

心部の胴部４６を有する。組立てられた状態では、柱体
４８は枢着部材のリングの開口５ｏを貫通して延長し、
ナツト５２が開口５０の下方の柱体に捕捉されてクラン
プを枢着部材に保持する。クランプは更に。

中心部の胴部から側方に張出す１対０アーム５４を含ん
でいる。各アームは、前記胴部から側方に張出した１対
の側壁面を有する。このアームの上面は、前記側壁面間
に定置する中間の頂点５８から下方に向ってテーバ状を
呈し２、テーパ状のアームの上面は、更知詳細に以下に
説明するようにクランプが回転される時、ベースのブラ
ケットを係合してチップおよび支持具を所定位置に確実
に緊締する係合面を提供する。指の握り部６ｏが、クラ
ンプが容易に把握されて緊締作用を生じるよう手によっ
て回転させることかできるように、中心部の胴部から上
方に延長している。内孔６２が、指の握り、中心部の胴
部および柱体を貫通して延長し、緊締された支持具に保
持されたチップに対する周囲温度ソースを提供する。

第２図、第３図および第４図は、チップ収容しかつ第１
図の試験用ソケット内に緊締された無リード型チップの
支持具を示している。米国特許第４．４４４，３０９号
に示されたものとして例示される支持具は、無リード型
チップを収受する中心部６４と、この中心部の反対側に
沿って延びる１対の翼部６６とを有する。この翼部は、
案内部材２６に対して整合して試験用ソケットのベース
の凹部４内に前記支持具を両側に定置する切欠き６８を
有する。無リード型チップ７０は、その接触パッドを図
に示された姿勢において試験用ソケットのベースの床部
下向って下方に向けて支持具内に保持される。チップ支
持具は、クランプの柱体４８が貫通してチップの上面と
直接接触する開口を有する。柱体４８は、クランプが緊
締される時チップに対して下向きに当り、チップを押下
げて接触ばね１０とその各チップの接触パッドとの間に
確実な電気的な接触状態を確保する。種々の部品は、支
持具が仕切シ８の上面に突当ってクランプに過大なトル
クを及ぼすことを防止するような寸法が与えられている
。第４図に示されるように接触ばねのピア１６は、印刷
回路板と接続するため試験用ソケットのベースの底部の
開口を貫通している。

緊締機構のこれ以上の詳細は第５図に示されている。ク
ランプは、アーム５４が対向位置関係にある１対の突出
するブラケット１８．２０．２２．２４の下方に置かれ
るように枢着部材２８の内部で回転可能である。第５図
に示されるように、アーム５４の１つがブラケット１８
の位置まで回転させられ、反対側のアームはブラケット
２２にある。ブラケットの上部は、望ましくは約２°の
小さな角度でブラケットの側方（クランプのアーム５４
がブラケットと係合するように回転させられる方向）に
向って上方に傾斜した下方を向いた支持面７１を形成す
るようにくシ抜かれている。第５図に矢印７２によシ示
されるように、アーム５４は円弧を左から右へ横切って
ブラケットと接触状態になる。ブラケットの反対側の支
持面７１は、この支持面がクランプのアームが生じるど
んな方向に対しても上方に類似角度で傾斜させられてい
る。一方、クランプの上部の係合面は、ブラケットに対
して同様な角度で下方に傾斜している。アームの係合面
は中間の頂角５８から両側壁面に向って下方にテーバ状
を呈しているため、アームがブラケットと係合するよう
に時計方向または反時計方向のどちらに回転させられる
かに拘らず、この面は約４°の正味の傾斜量でブラケッ
トの支持面７１と係合することが判るであろう。クラン
プおよびその各ブラケットのどちらかのアーム間のこの
ような相互の傾斜が、ブラケットの下方で徐々に回転さ
せられる時クランプ胴部を下方に強制する。クランプの
下方への運動は、更に、柱体４８を介してチップ支持具
内部の無リード型チップに対し伝達され、これを下方に
押圧してチップの接触パッドとソケットのばね接点との
間に確実な係合状態を確立する。

第６図乃至第８図は、無リート９型チツプのパッドとの
接触状態を確保する際の接触ばね１ｏの作用を示してい
る。チップの支持具が試験用ソケットに対して挿入され
る前に、接触ばねは第７図に示されるように弛緩状態に
置かれ、その頭部１２が線７４により示される無リード
型チップの最終的位置の上方に突出している。支持具が
試験用ソケットに挿入されて緊締されると、チップは接
触ばねに抗して下方に押圧され、これらばねを第６図お
よび第８図に示される位置まで下方に撓める。この位置
においては、支持具が仕切シ８の上面に対して突当たり
、ばね接点に対して与えられた撓みがこれら接点とその
各チップの接触パッドとの間に確実な接触状態を確立す
る。接触ばねが仕切り８により相互に絶縁されているた
め、信号は試験の目的のため接触ばねを介してチップに
対して、あるいはこれから加えることができる。

作用においては、試験用ソケットの枢着部材２８が最初
に関係位置に枢動させられて、凹部４を試験用ソケット
のベースに露呈する。無リード型チップを収容する支持
具はこの時ベース部材の略々上方から凹部に対して装填
され、ここで案内部材２６によって適正位置に置かれる
。次いで、クランプ柱体４８が支持具の開口を介してそ
の接触パッドが下方を向いたチップの上面まで延長する
ように枢着部材２８は枢動されて閉じられる。次にクラ
ンプ上の指の握り６０が把握され、クランプを時計方向
または反時計方向のいずれかに回転するように回転され
る。反対側のクランプのアーム５４は直径方向の反対位
置にあるブラケット１８と係合し、クランプのアームに
おける上部の係合面とブラケットの支持面との間の角度
をもった係合状態の結果として、クランプの連続する回
転運動により柱体４８を下側の無リード型チップに対し
て下方に押圧する。支持具がは−、スの仕切り８の上面
に突当たるまでクランプの回転運動が継続し、この時チ
ップと試験用ソケットの接触はねとの間に確実な電気的
な接続状態が確立される。この時、チップの回路を付勢
するため試験信号が各接触はねに対して加えることがで
き、その結果もまた接触ばね上に読出される。

無リード型チップの支持具を収容することができる簡単
かつ取扱いが容易であるが耐久性に富みかつ信頼性のあ
る試験用ソケットについて示し記述した。当業者には多
くの変更例および代替例が着想されるであろうため、本
発明は頭書の特許請求の範囲に照して限定されるべきも
のである。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明により構成されるリード線のないチップ
支持具のための試験用ソケットを示す分解斜視図、第２
図はり−ド線のないチップ支持具を所定位置に緊締する
閉鎖位置における試験用ソケットを示す斜視図、第３図
は第２図に示された試験用ソケットおよびリート９線の
ないチップ支持具を示す平面図、第４図は第３図の線４
−４に関する断面図、第５図は試験用ソケットの緊締横
溝の部分を示す部分拡大断面図、第６図は第４図Ｏ線６
−６に関する左側の部分側面図、および＄７図および第
８図は支持具におけるリード線のないチップとの接触前
および接触中の試験用ソケットの電気的接点の１つをそ
れぞれ示す断面図である。 １０・・・接触部材、１２・・・頭部、１４・・・ばね
部分、１６・・・ピン、１８・・・ブラケット、２０・
・・ブラケット、２２・・・ブラケット、２４・・・ブ
ラケット、２６・・・案内部材、２８・・・枢着部材、
３０・・・タブ、３２・・・スロット、３６・・・枢着
ピン、３８・・・開口、　４０・・・バー、４２・・・
リング、４４・・・クランプ、４６・・・中上・部の胴
部、４８・・・柱体、５０・・・開口、５２・・・ナツ
ト、５４・・・アーム、５８・・・頂点、６０・・・指
の握り部、６４・・・中心部、６６・・・翼部、６８・
・・切欠き、７０・・・無リード型チップ、７１・・・
支持面。 （外５名）

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、無リード型チップ（７０）と、無リード型チップを
   収容する支持具であつて、探針検査のため無リード型チ
   ップの接触パッドを露出させた状態で腔部内に前記チッ
   プを保持するようになつた支持具（６４、６６）とを備
   えてなる無リード型チップ支持具組立体、のための試験
   用ソケットにおいて、（前記チップの接触パッドを下方
   に向けた基準姿勢において） ベース部材（２）であつて、露出したチップの接触パッ
   ドをベース部材に向つて下方に向けてベース部材の略々
   上方から装填されたチップ支持具組立体を収受するため
   の支持具収受領域（４）を有するベース部材と、 該ベース部材に対して取付けられ、前記支持具における
   チップの各接触パッドと電気的な接触状態を確保する手
   段（１０）と、 前記ベース部材に対して枢着され、ベース部材に対する
   チップ支持具組立体の頂部装填を可能にする開口位置と
   チップ支持具組立体に被さる閉鎖位置との間で枢動する
   クランプ手段（２８、４４）と、前記ベース部材により
   支持され、かつ前記クランプ手段と共働して、前記の電
   気的な接触状態を確保する手段にチップの接触パッドが
   係合するように所定位置に前記チップ支持具組立体を取
   外し自在に緊締する手段（１８、２０、２２、２４）と
   を設けてなることを特徴とする試験用ソケット。 ２、前記チップ支持具の収受領域が前記ベース部材に凹
   部（４）を有し、該凹部はその側壁面がチップ支持具組
   立体の側方の実質的な運動を阻止するような寸法となつ
   ていることを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の試
   験用ソケット。 ３、前記クランプ手段が、係合上面を有する回転可能な
   クランプ部材（４４）を有し、該クランプ手段と共働す
   る前記手段が、前記支持具収受領域の周囲で前記ベース
   部材から上方に延長する複数の離間された突出部材（１
   ８、２０、２２、２４）を含み、該突出部材は、前記ク
   ランプ手段が前記チップ支持具組立体上のクランプ手段
   を更に緊密に閉鎖するよう回転される時クランプ手段の
   係合上面により係合される略々下方を向いた支持面（７
   １）を有することを特徴とする特許請求の範囲第１項記
   載の試験用ソケット。 ４、前記突出部材（１８、２０、２２、２４）が前記支
   持面（７１）を形成するくり抜き部分を有することを特
   徴とする特許請求の範囲第３項記載の試験用ソケツト。 ５、前記クランプの係合上面および突出部材の支持面が
   、該支持面の下方で回転される時クランプを下方に押下
   げるようにクランプの回転面に対して相互に傾斜してい
   ることを特徴とする特許請求の範囲第４項記載の試験用
   ソケット。 ６、前記クランプが中心部の胴部（４６）と、該胴部か
   ら側方に張出した１対のアーム（５４）とを有し、前記
   クランプの係合上面が前記アームの上面に形成されてい
   ることを特徴とする特許請求の範囲第３項記載の試験用
   ソケット。 ７、前記アーム（５４）の各々が前記胴部から側方に張
   出した１対の側壁面（５６）を有し、該アームの上面が
   前記側壁面間の中間位置（５８）から下方に向つてテー
   パ状を呈し、前記突出部材の支持面（７１）が、前記ク
   ランプの時計方向および反時計方向の両回転運動がその
   アームを各支持面と係合させてクランプを下にあるチッ
   プ支持具組立体に向つて下方に押圧させるようにテーパ
   状アームに対する形状を呈することを特徴とする特許請
   求の範囲第６項記載の試験用ソケット。 ８、前記クランプが更に、該クランプを回転させるため
   前記の中心部の胴部から上方にかつ前記アームの内側に
   延在する指の握り部（６０）を含むことを特徴とする特
   許請求の範囲第７項記載の試験用ソケット。 ９、前記クランプ手段が、下にあるチップ支持具の腔部
   に侵入して該腔部に保持されたチップに対して当接当接
   する如き寸法であることを特徴とする特許請求の範囲第
   １項記載の試験用ソケット。 １０、前記クランプ手段が、前記チップに対する周囲温
   度ソースを提供するように前記チップの支持面に対して
   延長する貫通孔（６）を有することを特徴とする特許請
   求の範囲第９項記載の試験用ソケット。