JPH0412624B2 - - Google Patents

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JPH0412624B2
JPH0412624B2 JP58138642A JP13864283A JPH0412624B2 JP H0412624 B2 JPH0412624 B2 JP H0412624B2 JP 58138642 A JP58138642 A JP 58138642A JP 13864283 A JP13864283 A JP 13864283A JP H0412624 B2 JPH0412624 B2 JP H0412624B2
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JP
Japan
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clamp
socket
contact
integrated circuit
base
Prior art date
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Application number
JP58138642A
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English (en)
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JPS5950551A (ja
Inventor
Eru Gurifuin Uenderu
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
UERUZU EREKUTORONIKUSU Inc
Original Assignee
UERUZU EREKUTORONIKUSU Inc
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Publication date
Application filed by UERUZU EREKUTORONIKUSU Inc filed Critical UERUZU EREKUTORONIKUSU Inc
Publication of JPS5950551A publication Critical patent/JPS5950551A/ja
Publication of JPH0412624B2 publication Critical patent/JPH0412624B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K7/00Constructional details common to different types of electric apparatus
    • H05K7/02Arrangements of circuit components or wiring on supporting structure
    • H05K7/10Plug-in assemblages of components, e.g. IC sockets
    • H05K7/1007Plug-in assemblages of components, e.g. IC sockets with means for increasing contact pressure at the end of engagement of coupling parts
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R13/00Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
    • H01R13/62Means for facilitating engagement or disengagement of coupling parts or for holding them in engagement

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は集積回路素子特に小型の集積回路素
子テスト用のソケツトに関する。
最近では、電子機器業界において小型の集積回
路素子(SO)が広く使用されている。このSOパ
ツケージは標準的な二重インラインパツケージ
(DIP)より小型である。SOは他の進積回路素子
に比べ回路基板への組み付けが容易であると共に
小型であるという利点を有している。
進積回路素子のテストは加熱状態における性能
および電気的特性について行なわれるが、テスト
は統計的もしくは個々に行なわれる。SOは小型
であるのでその取扱いが困難である。従来のソケ
ツトはヒンジ付の頂部もしくはキヤツプを有し、
このキヤツプによつてSOをソケツトに固定する
ものである。この場合、手を使つて各SOを個々
にソケツト内に挿着する必要があり、さらに、ピ
ンセツトを使用してSOのリードをソケツト内に
挿入しなくてはならない場合も多い。SOを挿着
したら、ソケツトのヒンジ付頂部を閉止する必要
がある。この方法は手間がかかると共に人偽的操
作であるため正確さを欠く。このようなソケツト
は大型であるため、プリント基板または電源に取
着する場合に広い場所を必要とする。
SO等の集積回路素子に適用可能な新規なソケ
ツトについて以下説明する。
この発明のソケツトは1つまたは複数のクラン
プを有する。このクランプはソケツトのベースに
回動可能に取着され、開位置と閉位置の間を回動
する。各クランプにはコンタクトが取着される。
クランプが閉位置にあるとき、このコンタクトは
ベース上に装着したSOのリードと接触する。各
コンタクトはプリント基板に接続される。
このソケツトは多数のリードを有するSOを装
着し得るように形成される。また、このソケツト
は複数のSOを装着できる。このソケツトをプリ
ント基板上の端から端まで配設すれば、細長い集
積回路素子用に使用することもできるし、基板上
のソケツトの密度を高くすることもできる。
この発明の目的は安価で使用性に優れた集積回
路素子テスト用のソケツトを提供することであ
る。
この発明の別の目的は一枚のプリント基板上で
多数使用可能な集積回路素子テスト用のソケツト
を提供することである。
この発明の別の目的はテスト時の通気性に優れ
た集積回路素子テスト用のソケツトを提供するこ
とである。
この発明の別の目的は自動着脱装置への適用が
容易な集積回路素子テスト用のソケツトを提供す
ることである。
この発明の別の目的はプローブテストおよび固
定リードテストが可能で、しかも集積回路素子の
マーキングが容易な集積回路素子テスト用のソケ
ツトを提供することである。
この発明のさらに別の目的は次の図面に基づい
た説明から明らかになるであろう。
次にこの発明の一実施例を図面に従つて説明す
る。ここに開示する実施例はこの発明を余すとこ
ろなく表現するものではない。すなわち、この発
明はここに開示される実施例のみに制限されるも
のではない。ここではこの発明の最も好ましい実
施例を開示して、当業者の利用の便をはかつた。
第1図ないし第7図にソケツト8を示す。この
ソケツト8はベース10を有する。このベース1
0は上面12、下面14および側面16,18よ
り成る。上面12の中央部には凹部20が形成さ
れ、この凹部20内に素子が装着される。凹部2
0は底壁21と側壁23とから成る。側壁23に
は溝28が離間して形成されるが、この溝28は
上面12まで達している。
ベース10には縦方向のチヤネル29が形成さ
れる。このチヤネル29は上面12と側面16,
18との交差部に形成される。チヤネル29の湾
曲した底部31内には、クランプ30が回動可能
に支持される。各クランプ30の外側の側面には
溝33が形成される。これらの溝33はベース1
0の側面16,18に形成した溝35と整合す
る。各溝33には開口34が形成される。この開
口34はクランプ30を貫通すると共に側壁23
から上面12にかけて形成した溝28と整合す
る。ベース10およびクランプ30はプラスチツ
クもしくは非導電材で形成される。
クランプ30およびベース10に形成されて相
互に整合する所定の数の溝28,33,35には
導電性かつ可撓性で形成保持性のリード36が挿
着される。各リード36はコンタクト38と接触
する。このコンタクト38は開口34に挿通され
る。なお、第1図および第7図に示すように、リ
ード36によつてクランプ30が閉位置に付勢さ
れると、コンタクト38は溝28内において上面
12と隣接して位置する。クランプ30は第6図
に示すように開位置に移動可能である。開位置に
おいては、クランプ30およびコンタクト38は
上面12に対して外側へ延出し、それに伴つてリ
ード36は撓む。リード36にはそれぞれタブ3
7が形成される。このタブ37が溝35の側壁面
と係合して結合することによつて、リード36が
ベース10に固定される。ソケツト8に装着され
るIC(集積回路)素子22は本体および本体の両
側面から延出するリード26より成る。IC素子
22に形成されるリード26の数はそのIC素子
22の寸法および用途によつて異る。クランプ3
0には傾斜させた頂面40を形成するのが望まし
い。このようにクランプ30の頂面40を傾斜さ
せておけば、オープニングツールを使用してクラ
ンプ30を開位置にし、IC素子22を着脱する
ことができる。IC素子22の本体24は凹部2
0内に装着される。このときリード26はベース
10に形成された各溝28内に装着される。リー
ド26の脚部は上面上に載置されるが、本体24
は底壁21から離間させてあるので通気可能であ
る。リード36によつてクランプ30が閉位置に
移行して、各クランプ30が閉止されるときに、
コンタクト38はリード26上をスライドするの
で、リード26上の酸化皮膜は除去される。クラ
ンプ30に形成した開口34はフレアー状に形成
してあるので、コンタクト38とリード26との
係合時にコンタクト38は屈曲可能である。クラ
ンプ30が閉位置にあるとき、IC素子22は凹
部20内に固定されているので、IC素子の電気
的テストを行なうことができる。リード36は下
面14から下方に突出しているので、適宜屈曲さ
せてプリント基板にハンダ付け可能である。クラ
ンプ30を開位置にすれば、IC素子を取りはず
すことができる。クランプ30の底部31には突
起41が突設される。この突起41は側面16,
18の内側に形成されたキヤビテイ42内に嵌装
され、クランプ30の回動時のストツパとして作
用する。
IC素子22はソケツト8内に固定されるが、
テスト時にこのIC素子22の冷却が迅速に行な
い得るように保持されている。下面14には貫通
孔45が形成される。この貫通孔45は底壁21
まで達し、IC素子22の冷却能を高めている。
さらに、テスト終了後クランプ30を開位置にし
てから、必要に応じてこの貫通孔45内に棒を挿
通して、IC素子22をソケツト8から押し出す
ことも可能である。
この発明の別の実施例を第8図に示す。図のソ
ケツト8′はクウオドパツク(quad−pack)型の
IC素子52に使用されるものである。ソケツト
8′の中央部にはIC素子52の本体54を収納す
るための凹部20′が形成される。IC素子52の
リード56は本体54の4つの側面から延出す
る。このリード56は側壁23′および上面1
2′の対向側に位置する溝28′内に挿着される。
ベース10′の4つの側面にはそれぞれクランプ
30′が回動可能に取着される。このクランプ3
0′にはリード36′が取着される。クランプ3
0′およびリード36′の操作方法は、第1図ない
し第7図に示したクランプ30およびリード36
の場合と同様である。
この発明は前記実施例に制限されるものではな
く、特許請求の範囲内であればどのように変更す
ることも可能である。
【図面の簡単な説明】
第1図はクランプが閉止位置にある場合におけ
る、この発明のソケツトの斜視図、第2図はクラ
ンプを分離して示した第1図のソケツトの部分斜
視図、第3図は第1図のソケツトに集積回路素子
を装着した状態におけるこのソケツトの斜視図、
第4図は第1図のソケツトの一部切欠側面図、第
5図は第3図のソケツトの平面図、第6図はクラ
ンプが閉位置にある場合におけるソケツトの断面
図、第7図は第4図の7−7線断面図、第8図は
この発明の別の実施例におけるソケツトの斜視図
である。 8,8′……ソケツト、10,10′……ベー
ス、12,12′……上面、14……下面、16,
18……側面、20,20′……凹部、21……
底壁、24,54……本体、26,36,36′,
56……リード、28,28′……溝、30,3
0′……クランプ、38……コンタクト、40…
…頂面、41……突起。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 本体と本体から延出するリードとから成る集
    積回路素子をテストするためのソケツトであつ
    て、ベースと、第1のクランプと、第1の付勢部
    材と、導電性の第1のコンタクトとから成り、前
    記ベースが上面と、下面と、離間した側面とから
    成り、前記上面は前記集積回路素子のリードを前
    記上面上に載置させた状態で前記集積回路素子を
    収容し、前記第1のクランプは前記ベースの前記
    側面に隣接した位置に回動可能に取着され、前記
    第1のクランプは開位置と閉位置の間で移動可能
    であり、前記開位置においては前記第1のクラン
    プが前記上面の外側に延出し、前記閉位置におい
    ては前記第1のクランプが前記上面に隣接し、前
    記第1の付勢部材は前記第1のクランプおよび前
    記ベースと接触して前記第1のクランプを前記閉
    位置に付勢し、前記第1のコンタクトは前記第1
    のクランプに取着され、前記第1のクランプが閉
    位置にある場合には、前記集積回路素子のリード
    と前記第1のコンタクトが接触し、前記ソケツト
    と前記集積回路素子のリードとの間が電気的に導
    通されることを特徴とするソケツト。 2 前記上面に集積回路素子装着用の凹部が形成
    され、前記凹部が前記集積回路本体に適合し、前
    記上面には対向する溝が離間させて形成してあ
    り、前記溝は前記凹部まで達し、この溝内に前記
    集積回路素子のリードが挿着されることを特徴と
    する特許請求の範囲第1項記載のソケツト。 3 前記第1の付勢部材が前記それぞれの第1の
    コンタクトの導電性延長部を構成することを特徴
    とする特許請求の範囲第1項記載のソケツト。 4 前記第1の付勢部材が前記ベースを貫通し
    て、前記ソケツトと電源とを接続するためのリー
    ドを構成することを特徴とする特許請求の範囲第
    3項記載のソケツト。 5 前記凹部の底壁は前記上面と下面との間に位
    置することを特徴とする特許請求の範囲第3項記
    載のソケツト。 6 第2のクランプと、第2の付勢部材と、導電
    性の第2のコンタクトとをさらに有し、前記第2
    のクランプは前記第1のクランプと対向側の側面
    に隣接させて前記ベースに回動可能に取着され、
    前記第2のクランプは開位置と閉位置の間で移動
    可能であり、前記開位置においては前記第2のク
    ランプが前記上面の外側に延出し、前記閉位置に
    おいては前記第2のクランプが前記上面に隣接
    し、前記第2の付勢部材は前記第2のクランプお
    よび前記ベースと接触して前記第2のクランプを
    前記閉位置に付勢し、前記第2のコンタクトは前
    記第2のクランプに取着され、前記第2のクラン
    プが閉位置にある場合には、前記集積回路素子の
    リードと前記第2のコンタクトが接触し、前記ソ
    ケツトと前記集積回路素子のリードとの間が電気
    的に導通されることを特徴とする特許請求の範囲
    第1項記載のソケツト。 7 前記第2の付勢部材が前記それぞれの第2の
    コンタクトの導電性延長部を構成し、かつ前記第
    2の付勢部材が前記ベースを貫通して、前記ソケ
    ツトと電源とを接続するためのリードを構成する
    ことを特徴とする特許請求の範囲第6項記載のソ
    ケツト。 8 前記第1および第2のクランプの一方が少な
    くとも2個のコンタクトおよびそのコンタクトに
    付随するリードを有することを特徴とする特許請
    求の範囲第7項記載のソケツト。 9 前記第1および第2のクランプの頂面を傾斜
    させ、オープニングツールを使用して前記各クラ
    ンプを閉位置側へ付勢可能にしたことを特徴とす
    る特許請求の範囲第8項記載のソケツト。 10 前記各クランプに前記ベースと係合可能な
    突起を形成して、クランプの開位置側への回動を
    制限するためのストツパとして作用させることを
    特徴とする特許請求の範囲第6項記載のソケツ
    ト。
JP58138642A 1982-08-17 1983-07-27 集積回路素子テスト用のソケット Granted JPS5950551A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US06/408,868 US4461525A (en) 1982-08-17 1982-08-17 Integrated circuit test socket
US408868 1989-09-18

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5950551A JPS5950551A (ja) 1984-03-23
JPH0412624B2 true JPH0412624B2 (ja) 1992-03-05

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ID=23618108

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JP58138642A Granted JPS5950551A (ja) 1982-08-17 1983-07-27 集積回路素子テスト用のソケット

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