JPH03100401A - プリント基板の外観検査装置 - Google Patents

プリント基板の外観検査装置

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JPH03100401A
JPH03100401A JP1238456A JP23845689A JPH03100401A JP H03100401 A JPH03100401 A JP H03100401A JP 1238456 A JP1238456 A JP 1238456A JP 23845689 A JP23845689 A JP 23845689A JP H03100401 A JPH03100401 A JP H03100401A
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JP
Japan
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data
image data
difference
cameras
component
Prior art date
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Pending
Application number
JP1238456A
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English (en)
Inventor
Satoru Emoto
哲 江本
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は部品が実装されたプリント基板の外観検査装
置に関し、特に画像処理を用いた外観検査袋装置に関す
るものである。
3、発明の詳細な説明 〔概要〕 画像処理を用いた外観検査装置に関し、部品が実装され
たプリント基板の外観検査において、半田付の状態に係
わらず正確な部品実装位〔従来の技術〕 プリント基板への部品実装は部品実装機によって自動的
に行うようになっている。実装機による部品の実装はフ
ットプリントの設計上の位置と実際の位置とのずれを補
正した上で、出来る限り正確な位置に実装されるように
なっているのであるが、それでもプリント基板の状態に
よっては位置ずれが生じることがある。また、半田付処
理の間に位置ずれが生じたり、あるいは、部品欠落が生
じたりすることがある。
そこで、従来、部品実装後に外観検査を行い、上記のよ
うに部品欠落があったり、あるいは位置ずれが許容範囲
外であるものについては不良品としている。
上記外観検査は、例えば第4図に示すように、プリント
基板1の真上に配置されたCOD等の撮像素子を内臓し
たカメラ3によってプリント基板1の全面を撮像し、こ
れによって得られる画像信号をAD変換し、得られたデ
ータをメモリに記憶する(ステップSll→S12→5
13)。その後第5図に破線゛で示すようにマスク処理
によって各部品2の半田付部分2S及びフットプリント
4とその周囲の限られたエリアEk (kは各エリアを
区別するサフィックスであって、図中では1゜2・・)
を抽出する(ステップ514)。
次に上記のように抽出された各エリアEkを順次読み出
して(例えばkの値の小さい順に読み出して)、部品2
の半田付部分2Sのエツジの位置Pi、P2を算出しく
ステップ515)、予めROM等に入力されている基準
パターンの上記エツジPI、P2の位置との差が許容の
範囲内であるか否かをパターンマツチングによって検出
しくステップ516)、許容の範囲内であれば良品とし
、範囲外であれば不良品と判定するのである(ステップ
517)。
上記工程において部品の半田付部2Sとフットプリント
部4との輪郭をそこに出来る影、すなわち画像の濃度に
よって判別して、上記エツジP1゜P2を検出し、その
位置に対して上記演算処理を行うようにしている。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかしながら、上記半田付部2Sでの半田の付着状態は
必ずしも該半田付部2Sの輪郭が明確に浮き上がる状態
とはなっておらず、例えば、半田付部2Sを半田が被っ
てしまうとそこから得られる画像からは半田付部2Sの
輪郭を明確に判別できないことがある。従って、この場
合には正確な部品2の位置を検出できなかったり、ある
いは検出不能になったりすることがあり、正常に部品実
装が為されていながら不良品として検出されることがあ
る。
この発明は上記従来の事情に鑑みて提案されたものであ
って、部品が実装されたプリント基板の外観検査におい
て、半田付の状態に係わらず正確な部品実装位置を検出
できるプリント基板の外観検査方法を提供することを目
的とするものである。
〔課題を解決するための手段〕
この発明は上記目的を達成するために以下の手段を採用
している。すなわち、第1図に示すように、部品実装後
のプリント基板の状態を画像処理にて判定するプリント
基板の外観検査方法において、被検査部品2に対し対象
となる位置に設けた2つのカメラ3a、3bより得られ
るそれぞれの画像データDa、Dbより差画像データD
cを得、該差画像データDcと基準パターンデータDs
とを比較することによって被検査部品2の実装状態の良
否を判定するようにしたものである。
〔作用〕
2つのカメラ3a、3bは異なる視角で同じ部分を撮像
している。従って、部品2が実装されている場合には2
つのカメラ3a、3bからの画像データDa、Dbは左
右の画像が少しづつ異なるので上記2種の画像データD
a、DbO差をとると差画像データDcが得られる。そ
の差画像データDcに対して基準パターンデータDsと
のパターンマツチングを行うことによって外観の良否が
判定できる。一方、被検査部品2が欠落している場合に
は2つのカメラ3a、3bは同一平面を撮像しているこ
とになり、画像データDa、Dbは略同じであるので両
データDa、Dbの差に対応する差画像データDcは得
られないことになる。
〔実施例〕
第1図はこの発明の手順を示すフロー図であり、第2図
はこの発明を実施する装置の概念図である。
プリント基板1面の垂線Eに対称の角度α及び所定高さ
h(例えばα=±15度、h=350〜400fl)を
保って2台のカメラ3a、3bが配置される。この状態
で、先ず、左側カメラ3aから特定の部品2に対して2
台のカメラ3a、3bの対称性が保たれる範囲(例えば
10n+”:部品点数で最大10個程度)の小エリアB
k(kは小エリアを区分するためのサフィックスで図中
には1゜2・・)づつ順次プリント基板1全体について
の画像データDaがフレームメモリ4aを介して演算回
路5のメモリ6に取り込まれる。この演算回路5でプリ
ント基板1上の特定の形状(例えば特定のビア)の予め
定めた座標上での位置を算出し、その形状が上記座標上
の基準の位置に来るように画像全体をシフトし〔ステッ
プ5l(Sla−3lb−3IC))、その後該画像デ
ータDaをメモリ6に記憶させておく。右側カメラ3b
からの画像データDbに対しても上記左側カメラ3aか
らの画像データDaと同様に上記特定形状の位置算出、
画像シフトが行われ、メモリ6に記憶される〔ステップ
S3 (S3 a−433b→S3 c))。
この後上記左右の画像データDa、Dbの差が取られ(
ステップS4)、これによって左右画像の差画像に対応
する差画像データDcが得られたことになる。
第3図(b) (C)は第3図(a)に実線で示したよ
うな部品2とその周辺のフットプリント4等を含むエリ
アについての左右画像データDa、Dbと差画像データ
Dcとの関係を示すものである。左右のカメラ3a、3
bの視角が異なっているので画像データDa、Dbは双
方が異なり、部品2が実装されていると第3図(b)に
示すように差画像データDCが現れることになる。一方
、部品欠落があると左右のカメラ3a、3bは単に部品
2が実装される予定の平面を撮像していることになり、
両者の画像データDa、Dbは略同じとなって第3図(
C)に示すのうに差画像データDcは殆ど現れない。
次に、外観検査は各部品2ごとに行う必要があるところ
から、前記第3図に示したように各部品2を含む特定の
エリアFk(kは各エリアを区分するサフィックスであ
って、図中では1,2・・・)に対応する差画像データ
Dcが予め定められた順番で上記演算回路5のメモリ6
から読み出され順次判定回路7に入力される。この判定
回路には上記各部品2に対応する基準パターンデータD
S1すなわち、正確な位置に部品2が実装されたときの
差画像に対応するデータが、ROM8より上記差画像デ
ータDcを入力するときと同じ予め定められた順番で入
力されるようになっており、これによって上記差画像に
対して基準パターンとのパターンマツチングが行われる
(ステップS5)。
この工程で基準パターデータDsに対する被検査部品2
の差画像データDcの左右上下方向へのずれ量を算出し
、その量が許容範囲内であるか否かを判定し、範囲内で
あれば良品、範囲外であれば不良品ということになる。
もし部品欠落があれば、上記したように差画像は得られ
ないことになるので、もちろん不良品と判定されること
になる。
尚、上記ステップS4.S5.S6の各工程は全部品2
に対して繰り返し行われる。
〔発明の効果〕
以上説明したように、この発明は視角の異なる2台のカ
メラより得られる画像データより左右の差画像を得、こ
れと基準パターンとを比較することによってプリント基
板の外観検査を行うようになっているので、半田付部の
半田の状態に係わらず、部品の位置ずれ、あるいは部品
欠落を正確に検出することが出来る効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の手順を示すフロー図、第2図はこの
発明を実施する装置の概念図、第3図は左右画像と差画
像の概念図、第4図は従来の外観検査方法のフロー図、
第5図は部品の実装状態を示す概念図である。 図中、 2−・−一一一一部品、 3a。 3b−カメラ、 Da。 Db−・画像データ、 Dc−・差画像データ、 Ds−・・・基準パターンデータ。 第 図 本発明の手順を示すフロー図 第 図 K (a) Da Db (b) Dc 第 図 従来の外観検査方法フロー図 第4図 第 図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 〔1〕部品実装後のプリント基板の状態を画像処理にて
    判定するプリント基板の外観検査方法において、 被検査部品(2)に対し対象となる位置に設けた2つの
    カメラ(3a),(3b)より得られるそれぞれの画像
    データ(Da),(Db)より差画像データ(Dc)を
    得、該差画像データ(Dc)と基準パターンデータ(D
    s)とを比較することによって被検査部品(2)の実装
    状態の良否を判定することを特徴とするプリント基板の
    外観検査装置。
JP1238456A 1989-09-13 1989-09-13 プリント基板の外観検査装置 Pending JPH03100401A (ja)

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JP1238456A JPH03100401A (ja) 1989-09-13 1989-09-13 プリント基板の外観検査装置

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Publications (1)

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JPH03100401A true JPH03100401A (ja) 1991-04-25

Family

ID=17030495

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JP1238456A Pending JPH03100401A (ja) 1989-09-13 1989-09-13 プリント基板の外観検査装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110926358A (zh) * 2018-09-20 2020-03-27 株式会社斯库林集团 三维形状测量装置、三维形状测量方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110926358A (zh) * 2018-09-20 2020-03-27 株式会社斯库林集团 三维形状测量装置、三维形状测量方法
CN110926358B (zh) * 2018-09-20 2021-08-20 株式会社斯库林集团 三维形状测量装置、三维形状测量方法

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