JPH0298194A - 集積回路 - Google Patents

集積回路

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Publication number
JPH0298194A
JPH0298194A JP25063588A JP25063588A JPH0298194A JP H0298194 A JPH0298194 A JP H0298194A JP 25063588 A JP25063588 A JP 25063588A JP 25063588 A JP25063588 A JP 25063588A JP H0298194 A JPH0298194 A JP H0298194A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
region
wiring
integrated circuit
insulating layer
Prior art date
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Pending
Application number
JP25063588A
Other languages
English (en)
Inventor
Shinji Uejima
上島 紳二
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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  • Printing Elements For Providing Electric Connections Between Printed Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、集積回路に関し、特に配線層の平坦な集積回
路に関する。
[従来の技術] 従来、この種の集積回路は、第3図に示すようになって
いた。
即ち、信号の配線を行なう際に、まず絶縁層上に全屈や
ポリシリコン等により信号の配線パターン8を引き、更
にその上に絶縁層を重ねるようにしており、この配線パ
ターン8上に重ねた絶縁層の上に更に配線層を作るよう
にしていた。
[発明が解決しようとする課題] 上述した従来の集積回路にあっては、絶縁層4上に配線
パターン8を引き、その上に絶縁層を重ねることとして
いたため、配線パターン8により絶縁層の表面に凹凸が
できてしまうために、その上に配線層を作る際に凹凸に
より配線が細いと切れてしまうこととなり、配線を細く
できないなど集積回路の微細化への問題、信頼性の低下
等の欠点があった。
[課題を解決するための手段] 本発明は、上記課題を解決するためになしたもので、そ
の解決手段として本発明の集積回路は、素子領域を有す
るサブストリートと、該サブストリート上に形成したス
ルーホール付きの絶縁層と、該絶縁層上に形成した半導
体層とを備え、該半導体層は不純物拡散により電気的に
分離したN型配線領域とP型分離層領域とを備える構成
としている。
[実施例] 次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
第1図は本発明の一実施例に係る集積回路を示す斜視図
であり、第2図はその断面図であるにの集積回路は、サ
ブストリート6と、絶縁層4と、半導体層3とを備える
サブストリート6は、その上面側に面一に素子領域5を
有している。
絶縁層4は、サブストリート6上に形成しである。この
絶縁層4には、スルーホール7が形成して適宜の位置で
素子領域と接続可源となっている。
半導体層3は、絶縁層4上に形成してあり、この絶縁層
4によってサブストリート6の素子領域5と絶縁される
ようになっている。この半導体層3は配線層とされるも
ので、不純物拡散により電気的に分離したN型配線領域
lとP型分離層領域2とを備える。
即ち、素子領域5上にN型配線領域lを絶縁するための
絶縁層4を設け、N型配線領域lと素子領域5の素子と
を接続するためのスルーホール6をあける。また、絶縁
層4の上に配線層とするための半導体層3(ポリシリコ
ン等)を形成し、この半導体層3の配線とすべき部分に
型不純物を拡散しN型配線領域1をつくり、他の部分に
P型不純物を拡散しP型分離層領域2をつくる。P型分
離層領域2には、P型のサブストリート6に印加する集
積回路の最低電位と同様の電位を印加する。これにより
N型配線領域1は、他の配線領域と分離される。この配
線は、半導体層3の中に拡散により作られているために
、配線層としての表面の凹凸を少なくすることができる
[発明の効果] 以上説明したように本発明の集積回路は、素子領域を有
するサブストリートと、該サブストリート上に形成した
スルーホール付きの絶縁層と、該絶縁層上に形成した半
導体層とを備え、該半導体層は不純物拡散により電気的
に分離したN型配線領域とP型分#層領域とを備える構
成としたため、配線層の表面の平坦化、及び平坦化がな
し得、これにより集積回路の信頼性の向上、微細化がで
きる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例に係る集積回路を示す斜視図
、第2図はその断面図、第3図は従来の集積回路の配線
パターンを示す斜視図である。 l二N型配線領域 2:P要分gI層領域 4:絶縁層 5:素子領域 6:サブストリート 7:スルーホール 8:配線パターン

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  素子領域を有するサブストリートと、該サブストリー
    ト上に形成したスルーホール付きの絶縁層と、該絶縁層
    上に形成した半導体層とを備え、該半導体層は不純物拡
    散により電気的に分離したN型配線領域とP型分離層領
    域とを備えることを特徴とする集積回路。
JP25063588A 1988-10-04 1988-10-04 集積回路 Pending JPH0298194A (ja)

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