JPH0294717A - 光回線終端装置試験方式 - Google Patents

光回線終端装置試験方式

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JPH0294717A
JPH0294717A JP63244012A JP24401288A JPH0294717A JP H0294717 A JPH0294717 A JP H0294717A JP 63244012 A JP63244012 A JP 63244012A JP 24401288 A JP24401288 A JP 24401288A JP H0294717 A JPH0294717 A JP H0294717A
Authority
JP
Japan
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test
signal
optical line
center
point
Prior art date
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Pending
Application number
JP63244012A
Other languages
English (en)
Inventor
Takeyuki Tentou
天藤 丈幸
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
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Publication of JPH0294717A publication Critical patent/JPH0294717A/ja
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  • Monitoring And Testing Of Exchanges (AREA)
  • Maintenance And Management Of Digital Transmission (AREA)
  • Optical Communication System (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕 本発明は、高速デジタル専用サービスを提供する光回線
終端装置に係り、特に本装置の試験を行うに好適な、試
験方式に関する。
【従来の技術〕
従来の装置は、施設−37−2rデジタル回線終端装置
の建設について」にて述べられている様に試験を行うに
特定の試験装置を用いて試験を行っていた。本装置は、
一般に通信回線ユーザ宅内に設置される。この装置をユ
ーザ宅設置時には。 試験装置をユーザ宅まで持ち込み試験する必要がある。 〔発明が解決しようとする課題〕 上記従来技術では、光回線終端装置の障害発生時障害箇
所の検出を、サービスを提供するセンタ(電話局等)か
ら完全に行う事が困難であった。 このため、光回線終端装置が故障しているのか、この他
の部分が故障しているのかを切り分けるにはこれら試験
に関する試験器を、光回線終端装置の設置場所、すなわ
ちユーザ宅まで持ち込み試験する必要があった。この事
は、ユーザ宅での保守時間の増大、試験器を、ある一定
の保全エリア内に準備するなどの問題があった。 本発明は、上記の問題点を解消することにある。 〔課題を解決するための手段〕 上記の目的は、光回線終端装置内に、試験信号発生器、
試験信号検出器、試験アクセススイッチ及び試験制御器
を持たせることによって達成される。 〔作用〕 光回線終端装置の動作について説明する。第2図は、本
装置の試験方式の原理図を示したものである。電話局等
からきた回線を通ってきたユーザへ向かう信号0PTI
Nは、光電変換部を通り、ユーザ側インタフェース部を
介して、ユーザ(端末等)に渡される。またユーザから
回線へ向かう信号DATAINは、ユーザ側インタフェ
ース部へ入力されたのち光電変換部へ渡され回線へ○P
TOUTとして出力される。本装置を試験する場合、光
電変換部とユーザインタフェース部を一括して行うため
に次に試験パスを設定する。第1図に示す様に、0PT
INと0PTOUTを接続し。 DATAOUTと、DATA I Nを、SW(スイッ
チ)1によりおりかえす。第1図のA点より試験信号を
入力し、光電変換部、ユーザインタフェース部を通過し
全パスを経由した信号を、チエツクする。試験制御部は
、これら一連の動作とパスの設定、試験結果の判定を行
うものである。 験された結果は、TSTCONTから結果信号をM P
 X 1にて多重化し、DPTOUTとしてセンタに送
出する。センタではこの結果を知る事により、光回線終
端装置の試験結果を知る事ができる。 遠隔試験は、TSTDを、3のセレクタによりDS信号
に挿入する事により上り方向のパス試験又、DR倍信号
、8のセレクタによりPTNDETにひきこむ事により
下り方向の試験を行う、TSTDを、7のセレクタによ
りDR倍信号挿入しSWIにてDATAOUTをDAT
AI Nに折り返し、DS信号をPTNDETに引き込
む事で、ユーザインタフェース部の試験が可能である。 」二記に述べた。遠隔試験を行う事により、光回線終端
装置及びその周辺部のいずれの箇所が故障なのか、知る
事が可能である。 〔実施例〕 以下本発明の実施例を第1図により説明する。 装置試験時における試験信号の流れを説明する。 まず試験信号は、PTNGEN(試験信号発生部)で発
生される。この信号TSTDは、5EL(−1!レクタ
)にて、通常時の信号DSの替りに、MPxlに入力さ
れる。MPXIでは、光回線側のインタフェースに合致
するフレームが作成される。 M P X 1を経由した後にElo <電気光変換部
)で光信号に変換されこの信号(○PTOUT)を0P
TINへ接続する。0PTINは、O/E(光電気変換
部)で電気信号に戻り、DMPXI。 FSYNCIで、光回線側のフレームが、解かれ、DR
倍信号出力される。このDR倍信号、MPX2で、ユー
ザ側フレームに組み込まれ、I FTX部でユーザ側と
合致する信号に変換される。この信号(DATAOUT
)は、SWIに入力され、DATAINの替りに、IF
RX部で、装置内の電気信号(NRZTTL信号)に戻
される。DMX2,5YNC2&、−おいて、SWlの
出力信号のフレームが解かれ、DS信号として出力され
る。 と記に述べた如く、TSTD信号は、装置内を一周して
DS信号として戻ってくる。このDS信号は、PTND
ET (試験信号検出器)へ入力されP T N G 
E Nから出力した試験信号と合致するか否かを判定す
る。上記の動作では、信号が、装置を巡回するために、
MPXIのクロックは、SW3により、CLKIから、
内部発振器出力CLK2に切り替えられる。通常は、M
PXIのクロックは、CLKIが、SW3にて選択され
ている。 TSTCONT (試験制御部)は、上記に述べた動作
における各部のスイッチSW1〜3の制御を行うもので
ある。 以上は、光回線終端装置全体の試験方法を述べたが、次
に、センタ側で、光回線終端装置を遠隔試験する動作に
ついて述べる。センタからの遠隔制御は、下り方向の信
号DRに含まれる遠隔制御信号を、TSTCONTで解
読し、光回線終端装置内の制御を行う。またこの遠隔試
験によって○PTINのデータの内に、試験制御部を、
動作させる制御データを持たせる事によって、センタか
ら試験制御部を制御する。 センタと光回線終端装置を接続した状態で、第1図のA
点より試験信号を入力する事によりセンタにて上り方向
(ユーザ宅よりセンタへの向き)のパスの試験が可能に
なる。また、センタ側で試験信号を入力し、光回線終端
装置のB点にてこの信号を試験信号検出部へひきこむと
、下り方向(センタよりユーザ宅への向き)のパス試験
が可能である。又B点より試験信号をSW2により入力
L S W 1 ニテ、 D A T A OU Tを
DATA I Nに折り返し、A点にて試験信号検出部
へ引き込むことにより、装置内のユーザインタフェース
部の試験が可能である。 以上の試験は、センタからの遠隔試験が可能であり、こ
の試験結果は、上り回線の信号内に結果を挿入する事に
よりセンタにて知る事が可能となる。 〔発明の効果〕 本発明によれば、光回線終端装置に、自己診断機能を有
し、ユーザ宅内での試験に特定の試験器を必要としない
。 装置内に自己診断機能を有する事で、試験時間及び試験
結果判定時間を短縮し、保守時間を短縮する事で、稼動
率を高め、装置の信頼性を高める)】(ができる。 診断機能を装置内に持つ事で、保守者の介在を少なくし
、保守者は、はとんど専門的な知識を必要としない。又
、センタからの遠隔試験が可能となり、故障箇所の判定
は、センタにて行える。各種試験の組み合わせにて、障
害箇所の推定は、人間を介在する事なく、計算機等によ
る自動化も可能である。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の一実施例を示すブロック図、第2図
は、本発明の試験方法の原理説明図である。 2・・・SWI  試験パス設定スイッチ。 3.7.8・・・SEL  試験パス設定セレクタ、4
・・・PTNDET  試験信号検出器、5・・・PT
NGEN  試験信号発生器、6・・・TSTCNT 
 試験制御部。 躬 1 区 第 2国

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、光回線側を終端する光電変換部と、ユーザ側(端末
    側)を終端するユーザ側インタフェース部から成る光回
    線終端装置において、試験信号発生部と、試験信号検出
    部と、試験パスを設定するスイッチ及びこれら各部を制
    御する試験制御部を設けこれらを、センタ等で遠隔制御
    することを特徴とする、光回線終端装置試験方式。
JP63244012A 1988-09-30 1988-09-30 光回線終端装置試験方式 Pending JPH0294717A (ja)

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JP63244012A JPH0294717A (ja) 1988-09-30 1988-09-30 光回線終端装置試験方式

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JP63244012A Pending JPH0294717A (ja) 1988-09-30 1988-09-30 光回線終端装置試験方式

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2005003714A1 (ja) * 2003-07-07 2005-01-13 Anritsu Corporation 光線路の障害探索をユーザ光端末側から行う光線路の試験システム

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2005003714A1 (ja) * 2003-07-07 2005-01-13 Anritsu Corporation 光線路の障害探索をユーザ光端末側から行う光線路の試験システム
US7167237B2 (en) 2003-07-07 2007-01-23 Anritsu Corporation Test system for optical line which carries out fault search for optical line from user optical terminal side

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