JPH0294072A - エラーレート測定方法 - Google Patents

エラーレート測定方法

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JPH0294072A
JPH0294072A JP24539888A JP24539888A JPH0294072A JP H0294072 A JPH0294072 A JP H0294072A JP 24539888 A JP24539888 A JP 24539888A JP 24539888 A JP24539888 A JP 24539888A JP H0294072 A JPH0294072 A JP H0294072A
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JP24539888A
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Toru Katsurai
徹 桂井
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花若 増生
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貴美 吉田
Yoichi Matsudo
松戸 陽一
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明は、光磁気ディスクにおけるエラーレートの測定
方法に関するものである。
〈従来の技術〉 現在、光磁気ディスクにおける記録フォーマットには、
ISO規格により、データの20バイトごとに再同期信
号を挿入することか定められている。このため、データ
のエラーレートを測定するためには、読み出されたシリ
アルデータがらこの再同期信号を除いた後、基準データ
(書込みブタ)との比較を行なう方法が取られている。
第2図はこのような従来のエラーレート測定装置の一例
を示す構成図、第3図はその動作状態を示す波形図であ
る6図において、1は光磁気ディスクから読み出された
シリアルデータSrから再同期信号を検出し、これに対
応したウィンドウ信号Swを発生する再同期信号検出回
路、2はこのウィンドウ信号Swによりデータラッチ用
のクロックCLKをマスクし、ラッチ信号sしを発生ず
るラッチ信号発生回路、3はこのラッチ信号SLにより
読取りデータをラッチする読取りデータラッチ回路、4
は光磁気ディスクに書き込んだ基準データDw(書込み
データ)を記憶する基準データメモリ、5は読取りデー
タラッチ回路3にラッチされた読取りデータDrを基準
データメモリ4に記憶された基準データDwと比較して
、データエラーを検出する比較回路、6は比較回路5に
より発生されたエラー信号Seをカウントするカウンタ
である。
このように構成されたエラーレート測定装置では、ウィ
ンドウ信号Swにより、読み出されたシリアルデータS
rから再同期信号の部分を除くことかでき、再同期信号
に影響されることなく、エラーレートを測定することか
できる。
〈発明が解決しようとする課題〉 しかしながら、このようなエラーレート測定装置では、
シリアルデータSrから再同期信号か検出されていると
きは問題はないか、傷などの影響により、再同期信号か
検出されなかった場合には、第4図に示すように、再同
期信号の部分が読取りデータとしてラッチされてし・ま
い、それ以降のデータの順序(タイミング)がずれて、
正しいエラレートの測定かできなくなってしまう。
本発明は、上記のような従来方法の欠点をなくし、再同
期信号を検出することなく、簡単な構成で、エラーレー
トを正確に測定することのできるエラーレート測定方法
を実現することを目的としたものである。
く課題を解決するための手段〉 本発明のエラーレート測定方法は、データ長は再同期信
号と等しく内容か異なるダミー信号を所定の間隔で比較
の基準となる基準データ中に挿入して比較データを作り
、再同期信号を含む読取りデータをそのままこの比較デ
ータと比較してエラー発生数を測定するとともに、この
エラー発生数から前記基準データ中に挿入したダミー信
号の数を減算して真の工・ラー発生数を求めるようにし
たものである。
く作 用〉 このように、基準データ中にタミー信号を挿入して比較
データを作ると、再同期信号を含む読取りデータをその
ままこの比較データと比較することができて、再開′期
信号を検出する必要がなくなり、簡単な構成で、エラー
レートを正確に測定することかできる。
〈実施例〉 以下、図面を用いて、本発明のエラーレート測定方法を
説明する。
第1図は本発明のエラーレート測定方法を実行するため
のエラーレート測定装置の一実施例を示す構成図である
。図において、前記第2図と同様のものは、同一符号を
付して示す。7は基準デタDw中に所定の間隔(例えば
、20バイト)でダミー信号を挿入して比較データDc
を作り、記憶する比較データメモリ、8はカウンタ6に
計数されたエラー発生数から基準データDw中に挿入し
たダミー信号の数を減算して、真のエラー発生数を求め
る減算回路である。ここで、基準データDw中に挿入さ
れるダミー信号は、データ長が再同期信号と等しく、内
容か異な為ものである。また、読取りデータラッチ回路
3には、光磁気ディスクから読み出されたシリアルデー
タSrがそのまま読取りデータDrとしてラッチされ、
比較回路5は、再同期信号を含む読取りデータDrを比
較データDcと比較して、エラーを検出することになる
このように構成されたエラーレート測定装置では、読取
りデータDrと比較データDcとは同じ形となるので、
再同期信号の有無などを気にせす、順次比較動作を行な
うことができる。さらに、ダミー信号は再同期信号とは
内容か異なっているので、比較回路5においては常にエ
ラーとして検出される。このため、カウンタ6に計数さ
れるエラ(エラー信号Se)の数ぼ、タミー信号の数だ
け多くなる。
ここで、1セクタに挿入される再同期信号の数は規格に
より定められているので、カウンタ6に計数されたエラ
ーの数からその数(例えば、1024バイト/セクタの
場合には59個)を減算すれば、再同期信号に影響され
ることなく、真のエラー発生数を求めることができる。
〈発明の効果〉 以上説明したように、本発明のエラーレート測定方法で
は、データ長は再同期信号と等しく内容が異なるダミー
信号を所定の間隔で比較の基準となる基準データ中に挿
入して比較データを作り、再同期信号を含む読取りデー
タをそのままこの比較データと比較してエラー発生数を
測定するとともに、このエラー発生数から前記基準デー
タ中に挿入したダミー信号の数を減算して真のエラー発
生数を求めるようにしているので、再同期信号を含む読
取りデータをそのままこの比較データと比較することか
でき、再同期信号を検出することなく、簡単な構成で、
エラーレートを正確に測定することかできる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明のエラーレート測定方法を実行するため
のエラーレート測定装置の一実施例を示す構成図、第2
図は従来のエラーレート測定装置の一例を示す構成図、
第3図および第4図はその動作状態を示す波形図である
。 1・・・再同期信号検出回路、2・・・ラッチ信号発生
回路、3・・・読取りデータラッヂ回路、4・・・基準
ブタメモリ、5・・・比較回路、6・・・カウンタ、7
・・・比較データメモリ、8・・・減算回路。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. データ長は再同期信号と等しく内容が異なるダミー信号
    を所定の間隔で比較の基準となる基準データ中に挿入し
    て比較データを作り、再同期信号を含む読取りデータを
    そのままこの比較データと比較してエラー発生数を測定
    するとともに、このエラー発生数から前記基準データ中
    に挿入したダミー信号の数を減算して真のエラー発生数
    を求めることを特徴とするエラーレート測定方法。
JP24539888A 1988-09-29 1988-09-29 エラーレート測定方法 Expired - Lifetime JPH0789430B2 (ja)

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JP24539888A JPH0789430B2 (ja) 1988-09-29 1988-09-29 エラーレート測定方法

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JPH0294072A true JPH0294072A (ja) 1990-04-04
JPH0789430B2 JPH0789430B2 (ja) 1995-09-27

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ID=17133061

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112567658A (zh) * 2018-08-09 2021-03-26 Lg 电子株式会社 用于在无线通信系统中改善终端的测量性能的方法及其装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112567658A (zh) * 2018-08-09 2021-03-26 Lg 电子株式会社 用于在无线通信系统中改善终端的测量性能的方法及其装置
CN112567658B (zh) * 2018-08-09 2023-09-01 Lg 电子株式会社 用于在无线通信系统中改善终端的测量性能的方法及其装置

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