JPH0290685A - 半導体受光素子 - Google Patents
半導体受光素子Info
- Publication number
- JPH0290685A JPH0290685A JP63245059A JP24505988A JPH0290685A JP H0290685 A JPH0290685 A JP H0290685A JP 63245059 A JP63245059 A JP 63245059A JP 24505988 A JP24505988 A JP 24505988A JP H0290685 A JPH0290685 A JP H0290685A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- semiconductor
- substrate
- small
- diffusion region
- light receiving
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 18
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 14
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 abstract description 10
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N Sulfuric acid Chemical compound OS(O)(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 4
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 abstract description 3
- MHAJPDPJQMAIIY-UHFFFAOYSA-N Hydrogen peroxide Chemical compound OO MHAJPDPJQMAIIY-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 2
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 abstract description 2
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 abstract description 2
- 238000000576 coating method Methods 0.000 abstract description 2
- 238000005468 ion implantation Methods 0.000 abstract description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 2
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 abstract description 2
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 2
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 abstract 1
- 238000000098 azimuthal photoelectron diffraction Methods 0.000 description 6
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 5
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 4
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 4
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 4
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 4
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 4
- 229910000530 Gallium indium arsenide Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 2
- 230000010365 information processing Effects 0.000 description 2
- 230000031700 light absorption Effects 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Light Receiving Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は光通信や光情報処理に於て用いられる半導体受
光素子に関する。
光素子に関する。
化合物半導体受光素子は光通信や光情報処理用の高感度
受光器として実用化が進められている。特にアバランシ
ェフォトダイオード(以下APD)はブレイクダウン電
圧近傍に於て電子もしくは正孔のなだれ増倍による内部
電流利得を持つため高い受信感度が得られる。一方大容
量長距離光通信用の波長1,55μmに対する半導体受
光素子の材料としてI nGaAsが広く使われている
。このI nGaAs系APDの構造の一例を第2図に
示す。APDは受光部15の周辺での局所的なブレイク
ダウンを防ぎ受光面内の均一な増倍を実現するために、
受光部15の周辺にガードリング(以下GR)7を持つ
。このため接合容量はGRの分だけ大きくなる。APD
の応答速度を速くするためにはこの接合容量を小さくす
る必要がある。そこで接合容量を小さくするためには車
受光径化により、拡散領域6を小さくする必要がある。
受光器として実用化が進められている。特にアバランシ
ェフォトダイオード(以下APD)はブレイクダウン電
圧近傍に於て電子もしくは正孔のなだれ増倍による内部
電流利得を持つため高い受信感度が得られる。一方大容
量長距離光通信用の波長1,55μmに対する半導体受
光素子の材料としてI nGaAsが広く使われている
。このI nGaAs系APDの構造の一例を第2図に
示す。APDは受光部15の周辺での局所的なブレイク
ダウンを防ぎ受光面内の均一な増倍を実現するために、
受光部15の周辺にガードリング(以下GR)7を持つ
。このため接合容量はGRの分だけ大きくなる。APD
の応答速度を速くするためにはこの接合容量を小さくす
る必要がある。そこで接合容量を小さくするためには車
受光径化により、拡散領域6を小さくする必要がある。
しかし車受光径化によりファイバーとの結合が困難にな
るため、裏面にレンズ形成を行ない集光させることによ
り車受光径化を行なった裏面入射型受光素子が発表され
ている。
るため、裏面にレンズ形成を行ない集光させることによ
り車受光径化を行なった裏面入射型受光素子が発表され
ている。
上記した従来例では裏面に基板をエツチングして形成し
たマイクロレンズを用いて光吸収層に集光している。マ
イクロレンズをエツチングにより形成しているため製作
が困難であり、レンズの曲率が変化したり偏心により集
光位置が変化するために拡散領域を小さくすることがで
きない。またレンズではNAを太くすることができない
ので受光径を大きくすることができない。さらに、裏面
に凹凸ができるためにその後のプロセスが困難であると
いう欠点がある。
たマイクロレンズを用いて光吸収層に集光している。マ
イクロレンズをエツチングにより形成しているため製作
が困難であり、レンズの曲率が変化したり偏心により集
光位置が変化するために拡散領域を小さくすることがで
きない。またレンズではNAを太くすることができない
ので受光径を大きくすることができない。さらに、裏面
に凹凸ができるためにその後のプロセスが困難であると
いう欠点がある。
本発明はこのような問題点を解決し、接合容量の小さい
半導体受光素子を実現することを目的としている。
半導体受光素子を実現することを目的としている。
本発明の受光素子は、pn接合を有する半導体層を半導
体基板上に備え、前記半導体基板裏面の受光部にフレネ
ルレンズを設けた構成となっている。
体基板上に備え、前記半導体基板裏面の受光部にフレネ
ルレンズを設けた構成となっている。
本発明はフレネルレンズを用いることにより曲面レンズ
よりも大口径化と短焦点化が実現でき、レンズの曲率変
化による焦点のばらつきが小さいため拡散領域の小口径
化が可能となる。
よりも大口径化と短焦点化が実現でき、レンズの曲率変
化による焦点のばらつきが小さいため拡散領域の小口径
化が可能となる。
また、マイクロレンズと異なり基板裏面が凸にならない
ため、フレネルレンズ形成後の製造工程も容易に実行で
きる。
ため、フレネルレンズ形成後の製造工程も容易に実行で
きる。
以下、本発明の実施例について第1図を参照して説明す
る。n−InP基板1上にn−InPnツバ1フフ I nGaAs層4、n−InP増倍層5を順次エピタ
キシャル成長を行い、n−InP増倍層5の上に保護膜
をつけBe+イオン注入によってGR7の形成を行なっ
た後、GR中央に20μmφのP+拡散領域を形成する
。次に鏡面研磨を行なったn−InP基板にフォトレジ
ストを塗布し、乾燥後フレネルゾーンプレートのパター
ンを露光によってレジスト上に形成する。その後硫酸,
過酸化水素水を用いてレジスト上のフレネルゾーンプレ
ートパターンをn−InP基板1上に転写し、レジスト
除去後シリコン窒化膜を用いてARコート9を行う。こ
の様りこして作製したAPDは、入射光13をフレネル
レンズ12によって集光させるためP+拡散領域6を小
口径化できる。この結果、結合容量を小さくすることが
でき高速応答が可能となる。またフレネルレンズはNA
を大きくすることができるため、素子の厚みよりも短い
焦点距離でレンズの大口径化(〉80μm)が可能であ
り、ファイバーとの結合が容易となる。またレンズと比
べ裏面が平坦となるためその後の製造プロセスも容易で
ある。
る。n−InP基板1上にn−InPnツバ1フフ I nGaAs層4、n−InP増倍層5を順次エピタ
キシャル成長を行い、n−InP増倍層5の上に保護膜
をつけBe+イオン注入によってGR7の形成を行なっ
た後、GR中央に20μmφのP+拡散領域を形成する
。次に鏡面研磨を行なったn−InP基板にフォトレジ
ストを塗布し、乾燥後フレネルゾーンプレートのパター
ンを露光によってレジスト上に形成する。その後硫酸,
過酸化水素水を用いてレジスト上のフレネルゾーンプレ
ートパターンをn−InP基板1上に転写し、レジスト
除去後シリコン窒化膜を用いてARコート9を行う。こ
の様りこして作製したAPDは、入射光13をフレネル
レンズ12によって集光させるためP+拡散領域6を小
口径化できる。この結果、結合容量を小さくすることが
でき高速応答が可能となる。またフレネルレンズはNA
を大きくすることができるため、素子の厚みよりも短い
焦点距離でレンズの大口径化(〉80μm)が可能であ
り、ファイバーとの結合が容易となる。またレンズと比
べ裏面が平坦となるためその後の製造プロセスも容易で
ある。
本発明はPINホトダイオード等、APD以外のフォト
ダイオードにおいてもフレネルレンズと小口径拡散領域
を用いることにより高速応答及び低容量化,容易なファ
イバーとの結合ができる。
ダイオードにおいてもフレネルレンズと小口径拡散領域
を用いることにより高速応答及び低容量化,容易なファ
イバーとの結合ができる。
以上説明したように本発明は、裏面入射型の受光素子の
受光部にフレネルレンズを形成することにより、受光部
の大口径化によるファイバーとの結合が容易に行え、フ
レネルレンズで入射光を集光することによって拡散領域
を小口径化にすることができ高速応答が可能となる。ま
たレンズと比べ平坦であるため製造プロセスが容易とな
る。
受光部にフレネルレンズを形成することにより、受光部
の大口径化によるファイバーとの結合が容易に行え、フ
レネルレンズで入射光を集光することによって拡散領域
を小口径化にすることができ高速応答が可能となる。ま
たレンズと比べ平坦であるため製造プロセスが容易とな
る。
第1図は本発明の実施例の半導体受光素子を示す図、第
2図は従来例を示す図である。 1・・・n−InP基板、2・・・n−InPバッファ
層、3−1l−InGaAs光吸収層、4 −・− n
−InGaAsPJl、5−n − I n P増倍
層、6・・・P+拡散領域、7・・・ガードリング、9
・・・ARコート膜、12・・・フレネルレンズ、13
・・・入射光、15・・・受光部。
2図は従来例を示す図である。 1・・・n−InP基板、2・・・n−InPバッファ
層、3−1l−InGaAs光吸収層、4 −・− n
−InGaAsPJl、5−n − I n P増倍
層、6・・・P+拡散領域、7・・・ガードリング、9
・・・ARコート膜、12・・・フレネルレンズ、13
・・・入射光、15・・・受光部。
Claims (1)
- pn接合を有する半導体層を半導体基板上に備え、前記
半導体基板裏面の受光部にフレネルレンズを備えている
ことを特徴とする半導体受光素子。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63245059A JPH0290685A (ja) | 1988-09-28 | 1988-09-28 | 半導体受光素子 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63245059A JPH0290685A (ja) | 1988-09-28 | 1988-09-28 | 半導体受光素子 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0290685A true JPH0290685A (ja) | 1990-03-30 |
Family
ID=17127975
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63245059A Pending JPH0290685A (ja) | 1988-09-28 | 1988-09-28 | 半導体受光素子 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0290685A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2000049449A1 (en) * | 1999-02-16 | 2000-08-24 | Intel Corporation | Lens system for photodetectors |
CN102207569A (zh) * | 2011-06-07 | 2011-10-05 | 中国科学院微电子研究所 | 一种制作位相型波带片的方法 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62260105A (ja) * | 1986-05-06 | 1987-11-12 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | レンズの製造方法 |
JPS6333877A (ja) * | 1986-07-29 | 1988-02-13 | Omron Tateisi Electronics Co | 光半導体装置 |
JPS63124583A (ja) * | 1986-11-14 | 1988-05-28 | Hitachi Ltd | 受光素子の製造方法 |
JPS63161680A (ja) * | 1986-12-25 | 1988-07-05 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体受光素子 |
-
1988
- 1988-09-28 JP JP63245059A patent/JPH0290685A/ja active Pending
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62260105A (ja) * | 1986-05-06 | 1987-11-12 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | レンズの製造方法 |
JPS6333877A (ja) * | 1986-07-29 | 1988-02-13 | Omron Tateisi Electronics Co | 光半導体装置 |
JPS63124583A (ja) * | 1986-11-14 | 1988-05-28 | Hitachi Ltd | 受光素子の製造方法 |
JPS63161680A (ja) * | 1986-12-25 | 1988-07-05 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体受光素子 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2000049449A1 (en) * | 1999-02-16 | 2000-08-24 | Intel Corporation | Lens system for photodetectors |
CN102207569A (zh) * | 2011-06-07 | 2011-10-05 | 中国科学院微电子研究所 | 一种制作位相型波带片的方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TWI353066B (en) | Inverted planar avalanche photodiode | |
KR0184687B1 (ko) | 고체촬상장치 및 그 제조방법 | |
US9577121B2 (en) | Tetra-lateral position sensing detector | |
JPH04226073A (ja) | 固体撮像装置およびその製造方法 | |
US6781211B2 (en) | Photodiode having an active region shaped in a convex lens | |
KR100278983B1 (ko) | 고체촬상소자 | |
JP2970545B2 (ja) | モノリシックレンズの製造方法 | |
JPH0290685A (ja) | 半導体受光素子 | |
US20020102498A1 (en) | Method for forming biconvex microlens of image sensor | |
JPS63269580A (ja) | 光検出器 | |
JPH03152978A (ja) | 半導体受光素子 | |
JPH04263475A (ja) | 半導体受光素子及びその製造方法 | |
JPH0653537A (ja) | 半導体受光素子 | |
JP2650389B2 (ja) | 受光素子とその製造方法 | |
JPS6386481A (ja) | 高感度横型受光素子 | |
JPH0497574A (ja) | 半導体受光素子 | |
JPH02105585A (ja) | 半導体受光素子 | |
JPS63224372A (ja) | 半導体受光素子の製造方法 | |
JPS63161680A (ja) | 半導体受光素子 | |
JPH0382085A (ja) | 半導体受光素子及びその製造方法 | |
JPS61154184A (ja) | 受光素子 | |
CN115692291A (zh) | 一种基于牛顿环的光电探测器贴装方法及系统 | |
JPS5967671A (ja) | 発光受光素子 | |
JPH05136446A (ja) | 半導体受光素子 | |
JPS6193671A (ja) | 光検出装置 |