JPH0290685A - 半導体受光素子 - Google Patents

半導体受光素子

Info

Publication number
JPH0290685A
JPH0290685A JP63245059A JP24505988A JPH0290685A JP H0290685 A JPH0290685 A JP H0290685A JP 63245059 A JP63245059 A JP 63245059A JP 24505988 A JP24505988 A JP 24505988A JP H0290685 A JPH0290685 A JP H0290685A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
semiconductor
substrate
small
diffusion region
light receiving
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP63245059A
Other languages
English (en)
Inventor
Atsuhiko Kusakabe
日下部 敦彦
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP63245059A priority Critical patent/JPH0290685A/ja
Publication of JPH0290685A publication Critical patent/JPH0290685A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Light Receiving Elements (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は光通信や光情報処理に於て用いられる半導体受
光素子に関する。
〔従来の技術〕
化合物半導体受光素子は光通信や光情報処理用の高感度
受光器として実用化が進められている。特にアバランシ
ェフォトダイオード(以下APD)はブレイクダウン電
圧近傍に於て電子もしくは正孔のなだれ増倍による内部
電流利得を持つため高い受信感度が得られる。一方大容
量長距離光通信用の波長1,55μmに対する半導体受
光素子の材料としてI nGaAsが広く使われている
。このI nGaAs系APDの構造の一例を第2図に
示す。APDは受光部15の周辺での局所的なブレイク
ダウンを防ぎ受光面内の均一な増倍を実現するために、
受光部15の周辺にガードリング(以下GR)7を持つ
。このため接合容量はGRの分だけ大きくなる。APD
の応答速度を速くするためにはこの接合容量を小さくす
る必要がある。そこで接合容量を小さくするためには車
受光径化により、拡散領域6を小さくする必要がある。
しかし車受光径化によりファイバーとの結合が困難にな
るため、裏面にレンズ形成を行ない集光させることによ
り車受光径化を行なった裏面入射型受光素子が発表され
ている。
〔発明が解決しようとする課題〕
上記した従来例では裏面に基板をエツチングして形成し
たマイクロレンズを用いて光吸収層に集光している。マ
イクロレンズをエツチングにより形成しているため製作
が困難であり、レンズの曲率が変化したり偏心により集
光位置が変化するために拡散領域を小さくすることがで
きない。またレンズではNAを太くすることができない
ので受光径を大きくすることができない。さらに、裏面
に凹凸ができるためにその後のプロセスが困難であると
いう欠点がある。
本発明はこのような問題点を解決し、接合容量の小さい
半導体受光素子を実現することを目的としている。
〔課題を解決するための手段〕
本発明の受光素子は、pn接合を有する半導体層を半導
体基板上に備え、前記半導体基板裏面の受光部にフレネ
ルレンズを設けた構成となっている。
〔作用〕
本発明はフレネルレンズを用いることにより曲面レンズ
よりも大口径化と短焦点化が実現でき、レンズの曲率変
化による焦点のばらつきが小さいため拡散領域の小口径
化が可能となる。
また、マイクロレンズと異なり基板裏面が凸にならない
ため、フレネルレンズ形成後の製造工程も容易に実行で
きる。
〔実施例〕
以下、本発明の実施例について第1図を参照して説明す
る。n−InP基板1上にn−InPnツバ1フフ I nGaAs層4、n−InP増倍層5を順次エピタ
キシャル成長を行い、n−InP増倍層5の上に保護膜
をつけBe+イオン注入によってGR7の形成を行なっ
た後、GR中央に20μmφのP+拡散領域を形成する
。次に鏡面研磨を行なったn−InP基板にフォトレジ
ストを塗布し、乾燥後フレネルゾーンプレートのパター
ンを露光によってレジスト上に形成する。その後硫酸,
過酸化水素水を用いてレジスト上のフレネルゾーンプレ
ートパターンをn−InP基板1上に転写し、レジスト
除去後シリコン窒化膜を用いてARコート9を行う。こ
の様りこして作製したAPDは、入射光13をフレネル
レンズ12によって集光させるためP+拡散領域6を小
口径化できる。この結果、結合容量を小さくすることが
でき高速応答が可能となる。またフレネルレンズはNA
を大きくすることができるため、素子の厚みよりも短い
焦点距離でレンズの大口径化(〉80μm)が可能であ
り、ファイバーとの結合が容易となる。またレンズと比
べ裏面が平坦となるためその後の製造プロセスも容易で
ある。
本発明はPINホトダイオード等、APD以外のフォト
ダイオードにおいてもフレネルレンズと小口径拡散領域
を用いることにより高速応答及び低容量化,容易なファ
イバーとの結合ができる。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明は、裏面入射型の受光素子の
受光部にフレネルレンズを形成することにより、受光部
の大口径化によるファイバーとの結合が容易に行え、フ
レネルレンズで入射光を集光することによって拡散領域
を小口径化にすることができ高速応答が可能となる。ま
たレンズと比べ平坦であるため製造プロセスが容易とな
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例の半導体受光素子を示す図、第
2図は従来例を示す図である。 1・・・n−InP基板、2・・・n−InPバッファ
層、3−1l−InGaAs光吸収層、4 −・− n
 −InGaAsPJl、5−n − I n P増倍
層、6・・・P+拡散領域、7・・・ガードリング、9
・・・ARコート膜、12・・・フレネルレンズ、13
・・・入射光、15・・・受光部。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. pn接合を有する半導体層を半導体基板上に備え、前記
    半導体基板裏面の受光部にフレネルレンズを備えている
    ことを特徴とする半導体受光素子。
JP63245059A 1988-09-28 1988-09-28 半導体受光素子 Pending JPH0290685A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63245059A JPH0290685A (ja) 1988-09-28 1988-09-28 半導体受光素子

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63245059A JPH0290685A (ja) 1988-09-28 1988-09-28 半導体受光素子

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0290685A true JPH0290685A (ja) 1990-03-30

Family

ID=17127975

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63245059A Pending JPH0290685A (ja) 1988-09-28 1988-09-28 半導体受光素子

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0290685A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2000049449A1 (en) * 1999-02-16 2000-08-24 Intel Corporation Lens system for photodetectors
CN102207569A (zh) * 2011-06-07 2011-10-05 中国科学院微电子研究所 一种制作位相型波带片的方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62260105A (ja) * 1986-05-06 1987-11-12 Matsushita Electric Ind Co Ltd レンズの製造方法
JPS6333877A (ja) * 1986-07-29 1988-02-13 Omron Tateisi Electronics Co 光半導体装置
JPS63124583A (ja) * 1986-11-14 1988-05-28 Hitachi Ltd 受光素子の製造方法
JPS63161680A (ja) * 1986-12-25 1988-07-05 Mitsubishi Electric Corp 半導体受光素子

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62260105A (ja) * 1986-05-06 1987-11-12 Matsushita Electric Ind Co Ltd レンズの製造方法
JPS6333877A (ja) * 1986-07-29 1988-02-13 Omron Tateisi Electronics Co 光半導体装置
JPS63124583A (ja) * 1986-11-14 1988-05-28 Hitachi Ltd 受光素子の製造方法
JPS63161680A (ja) * 1986-12-25 1988-07-05 Mitsubishi Electric Corp 半導体受光素子

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2000049449A1 (en) * 1999-02-16 2000-08-24 Intel Corporation Lens system for photodetectors
CN102207569A (zh) * 2011-06-07 2011-10-05 中国科学院微电子研究所 一种制作位相型波带片的方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI353066B (en) Inverted planar avalanche photodiode
KR0184687B1 (ko) 고체촬상장치 및 그 제조방법
US9577121B2 (en) Tetra-lateral position sensing detector
JPH04226073A (ja) 固体撮像装置およびその製造方法
US6781211B2 (en) Photodiode having an active region shaped in a convex lens
KR100278983B1 (ko) 고체촬상소자
JP2970545B2 (ja) モノリシックレンズの製造方法
JPH0290685A (ja) 半導体受光素子
US20020102498A1 (en) Method for forming biconvex microlens of image sensor
JPS63269580A (ja) 光検出器
JPH03152978A (ja) 半導体受光素子
JPH04263475A (ja) 半導体受光素子及びその製造方法
JPH0653537A (ja) 半導体受光素子
JP2650389B2 (ja) 受光素子とその製造方法
JPS6386481A (ja) 高感度横型受光素子
JPH0497574A (ja) 半導体受光素子
JPH02105585A (ja) 半導体受光素子
JPS63224372A (ja) 半導体受光素子の製造方法
JPS63161680A (ja) 半導体受光素子
JPH0382085A (ja) 半導体受光素子及びその製造方法
JPS61154184A (ja) 受光素子
CN115692291A (zh) 一种基于牛顿环的光电探测器贴装方法及系统
JPS5967671A (ja) 発光受光素子
JPH05136446A (ja) 半導体受光素子
JPS6193671A (ja) 光検出装置